專利名稱：用尋址－維持混合間隔表現(xiàn)灰度的面板驅(qū)動方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種方法和裝置，用于在顯示裝置，如等離子體顯示面板(PDP)中表現(xiàn)灰度，該PDP通過順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期來顯示圖像。
背景技術：
本申請要求把于2003年8月13日在韓國專利局申請的、韓國專利申請?zhí)枮?003-56005的申請作為優(yōu)先權(quán)，其公開的內(nèi)容在此一并作為參考。
在美國專利5,541,618中已經(jīng)公開了對PDP的電極驅(qū)動方法。將面板驅(qū)動定時分成復位(即，初始化)周期，尋址(即，寫)周期，和維持(即，顯示)周期。在復位周期期間，初始化每個單元(cell)的狀態(tài)，從而相對于該單元，有效的執(zhí)行尋址。在尋址周期期間，在PDP上選擇將要打開的單元和將要關閉的單元，并且在將要打開的單元中累積壁電荷。在維持周期期間，在已尋址的單元中執(zhí)行放電，以便顯示圖像。
在美國專利5,541,618公開的方法中，在場-子場結(jié)構(gòu)中表現(xiàn)灰度的時域內(nèi)，尋址周期和維持周期是彼此分開和獨立的。換句話說，在從第一到最后掃描電極上順序地執(zhí)行尋址之后，對于所有單元同時執(zhí)行維持周期。根據(jù)該方法，僅在所有掃描線執(zhí)行過尋址后，在已經(jīng)對其進行尋址處理過的掃描線上執(zhí)行維持放電。因此，當利用常規(guī)方法表現(xiàn)灰度時，在一個單元中執(zhí)行的尋址和維持放電之間可能出現(xiàn)大的時間間隔，使維持放電不穩(wěn)定。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種面板驅(qū)動方法和裝置，用于最小化尋址周期和維持周期之間的時間間隔，從而完成可靠的維持放電。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種驅(qū)動面板的方法，包括將在面板上的單元分類成多個單元組，并利用在面板上的尋址電極，掃描電極和公共電極，在包括在每個單元組中的單元上執(zhí)行尋址和維持放電；把一個幀周期分成多個子場，將不同的灰度級分別分配給該多個子場，并選擇性地驅(qū)動子場，從而表現(xiàn)出面板上單元的可見亮度的灰度級；并在至少一個子場中的單元組上，順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期。在包括在每個單元組中的單元上執(zhí)行尋址周期之后，在包括在該單元組中單元上執(zhí)行維持周期。在一個單元組上完成維持周期之后，在另一個單元組上執(zhí)行尋址周期。當在一個單元組上執(zhí)行維持周期時，在那些已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的其他單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期。當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，提供給公共電極的偏壓在單元組中不同。在單元組中偏壓差異之中，在前一個尋址周期期間所應用的偏壓可低于在隨后的一個尋址周期期間所應用的偏壓。該方法可進一步包括在公共時間間隔內(nèi)，對于預定的時間周期，在所有單元組上共同執(zhí)行維持周期。該方法可進一步包括在校正時間間隔內(nèi)，在單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，從而使在面板上的單元令人滿意的表現(xiàn)出分配給子場的預定灰度級。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種驅(qū)動面板的方法，包括將面板上的單元分類成多個單元組，并利用在面板上的尋址電極，掃描電極和公共電極，在包括在每個單元組中的單元上執(zhí)行尋址和維持放電；把一個幀周期分成多個子場，將不同的灰度級分別分配給多個子場，并選擇性地驅(qū)動子場，從而表現(xiàn)出面板上單元的可見亮度的灰度級；利用不同的公共電極組，分別驅(qū)動單元組；并在至少一個子場中的單元組上，順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期。在包括在每個單元組中單元上執(zhí)行尋址周期之后，在包括在該單元組中的單元上執(zhí)行維持周期。在一個單元組上完成維持周期之后，在另一個單元組上執(zhí)行尋址周期。當在一個單元組上執(zhí)行維持周期時，在那些已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的其他單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期。當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，提供給公共電極組的偏壓在單元組中不同。在單元組中偏壓差異之中，在前一個尋址周期期間所應用的偏壓可低于在隨后的一個尋址周期期間所應用的偏壓?？蓪⒁粋€偏壓僅提供給一個用于驅(qū)動已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的電流組單元的公共電極組。該方法可進一步包括為在公共時間間隔內(nèi)，對于預定的時間周期，在所有單元組上共同執(zhí)行維持周期。該方法可進一步包括在校正時間間隔內(nèi)、在單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，從而使在面板上的單元令人滿意的表現(xiàn)出分配給子場的預定灰度級。
還是根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種驅(qū)動面板的方法，包括將面板上的單元分類成多個單元組，并利用在面板上的尋址電極，掃描電極和公共電極，在包括在每個單元組中的單元上執(zhí)行尋址和維持放電；把一個幀周期分成多個子場，將不同的灰度級分別分配給多個子場，并選擇性地驅(qū)動子場，從而表現(xiàn)出面板上單元的可見亮度的灰度級；利用不同的公共電極組，分別驅(qū)動單元組；并在至少一個子場中的單元組上，順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期。在包括在每個單元組中單元上執(zhí)行尋址周期之后，在包括在該單元組中的單元上執(zhí)行維持周期。在一個單元組上完成維持周期之后，在另一個單元組上執(zhí)行尋址周期。當在一個單元組上執(zhí)行維持周期時，在那些已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的其他單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期。當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，分別將不同的偏壓提供給公共電極組。在提供給相應的公共電極組的不同的偏壓之中，在前一個尋址周期期間所應用的偏壓可小于在隨后的一個尋址周期期間所應用的偏壓。該方法可進一步包括在公共時間間隔內(nèi)對于預定時間周期，所有單元組上共同執(zhí)行維持周期。該方法可進一步包括在校正時間間隔內(nèi)、在單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，從而使在面板上的單元令人滿意的表現(xiàn)出分配給子場的預定灰度級。
仍然根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，這里提供一種在包括多個掃描電極組和一個或多個公共電極組的面板上，執(zhí)行尋址和維持放電的面板驅(qū)動裝置。面板驅(qū)動裝置包括子場處理器，把一個幀周期分成多個子場；信號合成器，產(chǎn)生尋址信號，從而選擇性地對在一個子場內(nèi)的面板上所有單元之中將要打開的單元進行尋址，并且產(chǎn)生維持信號，從而在尋址過的單元上執(zhí)行維持放電；和電極驅(qū)動器，根據(jù)尋址信號和維持信號選擇性地驅(qū)動子場，并驅(qū)動每個由在面板上單元分類而得的單元組，從而確定面板上單元亮度的灰度級。信號合成器在每個單元組上順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期，并產(chǎn)生尋址信號和維持信號，以便當對包括在一個單元組內(nèi)的單元進行尋址時，包括在其他單元組中的單元處于空閑狀態(tài)，并且以便當包括在一個單元組內(nèi)的單元在尋址后執(zhí)行維持周期時，在包括在其他已經(jīng)尋址過的單元組內(nèi)的單元選擇性地執(zhí)行維持周期。當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，對于相應的單元組，電極驅(qū)動器將不同的偏壓提供給一個或多個公共電極。信號合成器可進一步產(chǎn)生另一個維持信號，從而根據(jù)公共維持時間間隔內(nèi)分配給子場的灰度級，在預定的時間周期期間，在包括在所有單元組中的單元上共同執(zhí)行維持周期。信號合成器可進一步產(chǎn)生另一個維持信號，從而在亮度校正時間間隔內(nèi)，在包括在每個單元組中的單元上選擇性地執(zhí)行維持周期，以便在面板上的所有單元表現(xiàn)出分配給子場的預定灰度級。


本發(fā)明上述和其它特征和優(yōu)點將通過參考以下附圖詳細的描述優(yōu)選實施例而變得更加明顯其中圖1是可應用本發(fā)明的交流電(AC)類型的等離子顯示面板(PDP)的局部透視圖；圖2圖解說明了可應用本發(fā)明的面板上的電極的布置；圖3是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的面板驅(qū)動裝置的結(jié)構(gòu)圖；圖4圖解說明了利用多子場，在信號幀中表示灰度的方法；圖5是說明根據(jù)本發(fā)明一個實施例，利用尋址-維持混合時間間隔的面板驅(qū)動方法的原理概念圖；圖6是在圖5中說明的、根據(jù)本發(fā)明一個實施例的、可應用于AC類型PDP中的面板驅(qū)動方法的時間圖，其中對于相應的掃描電極組，提供給公共電極的偏壓在尋址周期之中是不同的。
圖7A是在圖5中說明的、根據(jù)本發(fā)明一個實施例的、可應用于AC類型PDP中的面板驅(qū)動方法的時間圖，其中通過不同的電極組，分別驅(qū)動掃描電極組；圖7B是在圖5中說明的、根據(jù)本發(fā)明一個實施例的、可應用于AC類型PDP中的面板驅(qū)動方法的時間圖，其中通過不同的電極組，分別驅(qū)動掃描電極組，并且僅將偏壓提供給相當于尋址的掃描電極組的一個公共電極組；和圖8是在圖5中說明的、根據(jù)本發(fā)明一個實施例的、可應用于AC類型PDP中的面板驅(qū)動方法的時間圖，其中通過不同的電極組，分別驅(qū)動掃描電極組，并且將不同的偏壓分別提供給公共電極組。
具體實施例方式
以下將參考附圖，詳細描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例。附圖中相同的附圖標記表示同一部件。在以下描述的實施例中，使用交流電(AC)類型的等離子顯示面板(PDP)。
圖1是應用本發(fā)明的AC類型PDP的局部透視圖。將掃描電極106和維持(即，公共)電極108成對平形的形成在第一玻璃基底100上，并且覆蓋有介電層102和保護層104。將多個尋址電極114形成在第二玻璃基底110上，并且覆蓋有絕緣層112。尋址電極114與掃描電極106和公共電極108正交。將隔板116形成在尋址電極114之間的絕緣層112上，從而平行于尋址電極114。將熒光層118形成在絕緣層112的表面上以及隔板116的側(cè)壁上。第一玻璃基底100和第二玻璃基底110彼此面對面，并在它們之間具有放電區(qū)域120。通過掃描電極106，公共電極108，尋址電極114和隔板116形成放電區(qū)域120。尋址電極114與一對掃描電極106和公共電極108的交點定義放電單元122。
圖2圖解說明可應用本發(fā)明的面板上電極的布置。將電極構(gòu)造在m×n的矩陣中。以列的形式設置尋址電極從A1到Am，以行的形式設置掃描電極從Y1到Y(jié)n和公共電極從X1到Xn。在尋址電極A2，掃描電極Y2，和公共電極X2交點上的陰影線塊，相當于圖1中顯示的放電單元122。被顯示的顯示單元通過尋址電極和掃描電極被選擇并且通過掃描電極和公共電極被激發(fā)從而執(zhí)行維持放電。
圖3是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的面板驅(qū)動裝置的結(jié)構(gòu)圖。把將由面板312顯示的模擬視頻信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù)，將該數(shù)據(jù)記錄在幀存儲器300中。當有必要并且在子場單元中輸出已分離的數(shù)字數(shù)據(jù)時，子場處理器302分隔存儲在幀存儲器300中的數(shù)字數(shù)據(jù)。例如，把用于在面板312上表示灰度級的、存儲在幀存儲器300中的單元數(shù)據(jù)的幀分成多個子場，并且輸出每個子場的數(shù)據(jù)。
信號合成器306包括復位脈沖發(fā)生器306a，寫脈沖發(fā)生器306b，和維持脈沖發(fā)生器306c，它們在復位周期，尋址周期和維持周期期間，分別產(chǎn)生將提供給尋址電極，掃描電極和公共電極的信號波形，從而驅(qū)動在面板312形成單元的尋址電極，掃描電極和公共電極。復位脈沖發(fā)生器306a產(chǎn)生初始化單元的復位信號。寫脈沖發(fā)生器306b產(chǎn)生尋址信號，用于選擇出將被打開的單元或?qū)⒈魂P閉的單元，以及尋址單元。維持脈沖發(fā)生器306c產(chǎn)生維持信號，用于對由尋址信號尋址過的單元進行放電。根據(jù)預定定時，將由信號合成器306產(chǎn)生的信號提供給Y驅(qū)動器308和X驅(qū)動器310，Y驅(qū)動器308和X驅(qū)動器310分別驅(qū)動在面板312上的掃描電極和公共電極。
把在面板312上的掃描電極分類成多個組。Y驅(qū)動器308包括多個驅(qū)動電路從308a到308h，以便逐組地驅(qū)動掃描電極。組的數(shù)目是可變的。根據(jù)組數(shù)，確定驅(qū)動掃描電極的驅(qū)動電路數(shù)。同時，X驅(qū)動器310驅(qū)動在面板312上的公共電極。定時控制器304產(chǎn)生用于操作子場控制器302和信號合成器306所需的不同的定時信號。
以下描述的根據(jù)本發(fā)明實施例的驅(qū)動方法，可在從圖1到3圖解說明的結(jié)構(gòu)和裝置中實施。
圖4圖解說明利用多個子場，在信號幀中表現(xiàn)灰度的方法。把相當于信號圖片的信號幀周期分成多個分配了不同灰度級的子場?？赏ㄟ^選擇性地操作一個或多個子場，達到預期灰度?？梢娏炼鹊鼗叶燃壟c在信號幀周期期間提供給單元的維持脈沖數(shù)成比例。換句話說，在時間領域范圍內(nèi)，把相當于信號圖片的信號幀周期分成多個子場，并且將不同的維持脈沖數(shù)分別分配給子場。接下來，選擇性地操作子場，并累加分配給選擇子場的維持脈沖，由此確定灰度級。
參考圖4，為了實現(xiàn)256灰度級顯示，通常把相當于信號圖片的信號幀周期分成8個子場，以1∶2∶4∶8∶16∶32∶64∶128的比例，將不同的維持脈沖數(shù)順序的分配給8個子場。以與上述比例大致相同的比例，將維持周期分配給8個子場。在這種情況下，當對單元進行尋址，并且在子場1周期和子場5周期期間激發(fā)單元從而執(zhí)行維持放電時，獲得相當于灰度級17的亮度。
可考慮灰度系數(shù)特性和面板特性，改變分配給8個子場的灰度級。例如，可把分配給子場4的灰度級從8下降為6，并且可把分配給子場6的灰度級從32上升為34。另外，可利用設計規(guī)格改變由信號幀分割出的子場數(shù)。
為了實現(xiàn)本發(fā)明，把在面板上的單元分類成多個組，并逐組地控制單元。在AC PDP的情況中，將掃描電極以預定的方式分類成多個組。參考圖4，將掃描電極分成從G1到Gn的“n”個組。
圖5是說明根據(jù)本發(fā)明一個實施例，利用尋址-維持混合時間間隔的面板驅(qū)動方法的原理概念圖。將一個信號幀周期分成多個子場，例如，如在圖8中所示的8個子場，將不同的灰度級分配個上述8個子場。參考圖5，在信號子場中，將面板上的單元分類成多個組，并且這些組獨立地經(jīng)歷尋址和維持放電。
將在面板上的掃描電極分類成組G1到Gn。在包括在G1到Gn每個組上的掃描電極上，順序地執(zhí)行尋址。在完成對一個組的尋址后，將維持放電脈沖提供給包括在該組中的掃描電極，以便執(zhí)行維持周期。當在包括在一個組中的掃描電極上執(zhí)行維持周期時，可在包括在另一個已經(jīng)完成尋址的組中的掃描電極上，選擇性地執(zhí)行維持周期。照此，在一個組中的單元上執(zhí)行尋址周期之后，立即在該組中的單元上執(zhí)行維持周期，并且然后，在包括在另一個沒有經(jīng)歷過尋址的組中的掃描電極上執(zhí)行尋址周期。當把面板上的掃描電極分類成多個組時，包括在每個組中的掃描電極數(shù)可能是相同或者不同的。
參考圖5，將一個子場分成復位周期R，尋址-維持混合時間間隔T1，公共維持時間間隔T2，和亮度校正時間間隔T3。虛點塊表示在尋址-維持混合時間間隔T1中的尋址周期。左斜線塊表示尋址-維持混合時間間隔T1中的維持周期。交叉線塊表示公共維持時間間隔T2中的維持周期。右斜線塊表示亮度校正時間間隔T3中的維持周期。
在復位周期R期間，將復位脈沖提供給從組G1到Gn組中的所有的掃描線，從而初始化在所有單元中的壁電荷。在尋址操作之前執(zhí)行復位周期R。由于貫穿面板執(zhí)行復位周期R，因此可達到相同的以及預期的壁電荷分布。換句話說，由于在每個子場中，在尋址-維持混合時間間隔T1前執(zhí)行的信號復位周期R，使得在所有單元中的壁電荷狀態(tài)相同。
在尋址-維持混合時間間隔T1期間，順序地將掃描脈沖提供給在第一組G1中的第一掃描電極Y11到最后一個掃描線Y1m，以便執(zhí)行第一尋址周期AG1。完成在第一組G1中的單元上的尋址之后，執(zhí)行第一維持周期S11，以便在尋址的單元中，利用預定數(shù)目的維持脈沖，激發(fā)維持放電。
在對于第一組G1的第一維持周期S11結(jié)束之后，在包括在第二組G2中的單元上執(zhí)行尋址周期AG2。在對于第二組G2的尋址周期AG2期間，可不將操作脈沖提供在其他組中的單元。然而，在對于第二組G2的尋址周期AG2內(nèi)，在將掃描脈沖提供給在第二組G2中信號掃描電極與將掃描脈沖提供給在第二組G1中隨后的一個信號掃描電極之間的時間間隙期間，可將維持脈沖提供給包括在其他組中的單元。將在對于第二組G2的尋址周期AG2期間的操作，以同樣的方式提供給其他組的尋址周期。
在對于第二組G2的尋址周期AG2結(jié)束之后，也就是，在完成對包括在第二組G2中掃描電極所進行的掃描之后，開始對于第二組G2的第一維持周期S21。這里，也對已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的第一組G1，執(zhí)行第二維持周期S12。然而，如果為第一組G1通過第一維持周期S11獲得預期的灰度級，則不為第一組G1執(zhí)行第二維持周期S12。在此時，那些沒有進行尋址過的單元保持空閑。
在對于第二組G2的第一維持周期S21結(jié)束之后，以如前面描述相同的方式，為第三組G3執(zhí)行尋址周期AG3和第一維持周期S31。在對于第三組G3的第一維持周期S31期間，可在已經(jīng)經(jīng)歷了尋址周期的第一組G1和第二組G2中，執(zhí)行維持周期S13和S22。然而，如果為第一組G1和第二組G2通過第一維持周期S11和S21獲得預期的灰度級，則可不執(zhí)行附加的維持周期S13和S22。
通過這樣的操作，在尋址周期AGn期間，將掃描脈沖順序地提供給包括在最后一組Gn中的掃描電極，而后，在最后一組Gn中執(zhí)行維持周期Sn1。當為最后一組Gn執(zhí)行維持周期Sn1時，也為其他組執(zhí)行維持周期。
參考圖5，當在一個組中的單元上執(zhí)行維持周期時，也使在那些已經(jīng)尋址過的組中的單元上，經(jīng)歷維持周期。如果假設維持脈沖數(shù)與在單元維持周期之中的數(shù)目相同，并且從單元維持周期中獲得的亮度也相同，第一組G1中單元的亮度將是第n組Gn中單元亮度的n倍。同樣，在第二組G2中的亮度將是第n組Gn中單元亮度的n-1倍。第n-1組Gn-1中單元的亮度將是第n組Gn中單元亮度的2倍。為了校正從G1組到Gn組中的亮度差異，需要一個附加維持周期。圖5中所示的亮度校正時間間隔T3符合上述需要。
在亮度校正時間間隔T3期間，在從組G1到Gn上，選擇性地執(zhí)行維持周期，從而通過在從組G1到Gn中的單元表現(xiàn)出相同的灰度級。
在公共維持時間間隔T2期間，在預定的時間周期期間，同時將維持脈沖共同提供給面板上的所有單元。當分配給每個子場的灰度級狀況，不能使尋址-維持混合脈沖T1或者尋址-維持混合脈沖T1和亮度校正時間間隔T3滿意時，可選擇性地執(zhí)行公共維持時間間隔T2。如圖5中所示，可在尋址-維持混合脈沖T1之后，執(zhí)行公共維持時間間隔T2，或者可在亮度校正時間間隔T3之后，執(zhí)行公共維持時間間隔T2。
根據(jù)分配給子場的灰度級，可在子場中選擇性地執(zhí)行公共維持時間間隔T2和亮度校正時間間隔T3。當將低灰度級分配給子場時，子場應該具有一個比較短的維持周期。當將高灰度級分配給子場時，子場應該具有一個比較長的維持周期。因此，對于低灰度級的子場可能僅包括尋址-維持混合脈沖T1，而對于高灰度級的子場可能包括尋址-維持混合脈沖T1，公共維持時間間隔T2，以及亮度校正時間間隔T3。同時，對于中間灰度級的子場可能包括尋址-維持混合脈沖T1，亮度校正時間間隔T3，而不包括公共維持時間間隔T2。
圖5表示分配給子場的灰度級為高的情況。當在尋址-維持混合脈沖T1期間維持周期的總長度與在從組G1到組Gn之間不同時，在從組G1到Gn上選擇性地執(zhí)行附加維持脈沖，以便使在面板上全部單元的亮度一致。詳細地說，在尋址-維持混合脈沖T1和公共維持時間間隔T2期間，通過在第一組G1中執(zhí)行的維持周期從S11到S1n的總量，確定在第一組G1中單元的亮度，并且在亮度校正時間間隔T3開始處，第一組G1中單元的亮度達到最高。為了時在其他組從G1到Gn中的單元具有與在第一組G1中單元相同的亮度，在第二組G2中的單元上執(zhí)行一個附加維持周期S2n(實際上，相當于第一組G1的第一維持周期S11)。在第三組G3中單元上，執(zhí)行相當于第一組G1的第一維持周期S11和第二維持周期S12的附加維持周期S3，n-1和S3，n。以這種方式，在最后一組Gn中的單元上，執(zhí)行附加維持周期Sn，2，Sn，3...，Sn，n。通過上述操作，面板上所有單元表現(xiàn)相同的亮度。
在面板上所有單元完成維持周期之后，完成信號子場的操作，然后開始隨后的一個子場的復位周期。
在圖5中，當用“S”表示維持放電部分時，可以用R→AG1→S→AG2→S→AG3→S→...S→AGn→S表示從復位周期R到尋址-維持混合脈沖T1終端的處理。換句話說，在信號復位周期R之后，在從組G1到Gn中順序地執(zhí)行尋址周期從AG1到AGn。在這種情況下，當該處理向遠離復位周期R方向進展時，也就是，當該處理靠近尋址周期AGn時，在尋址操作中產(chǎn)生的錯誤幾率增加。在被尋址之前，由于在面板上的單元中同時執(zhí)行復位周期R，使面板上所有單元具有相似的壁電荷狀態(tài)。然而，當交替地執(zhí)行尋址和維持放電時，在組中那些沒有經(jīng)歷過尋址的單元上的壁電荷放電下降。
圖6是在圖5中說明的、根據(jù)本發(fā)明一個實施例的、可應用于AC類型PDP中的面板驅(qū)動方法的時間圖。為了描述清楚，將掃描電極從Y11到Y(jié)2m分類到組G1和G2中，并且在尋址周期AG1和AG2期間，對于組G1和G2，分別將兩個不同的偏壓Ve1和Ve2提供給公共電極X1...n。
在復位周期R期間，將復位脈沖交替地提供給公共電極X1...n和掃描電極Y11到Y(jié)2m，從而消除維持放電并形成尋址放電狀態(tài)。
接下來，為第一組G1執(zhí)行尋址周期AG1。在尋址周期AG1期間，將偏壓Ve1提供給公共電極X1...n，并且同時開啟那些用于確定在第一組G1中將被顯示的單元的掃描電極Y11到Y(jié)2m和尋址電極(未示出)，由此選擇顯示單元。在為第一組G1的尋址周期AG1之后，將維持脈沖Vs交替地提供給公共電極X1...n和掃描電極從Y11到Y(jié)2m，由此對于第一組G1執(zhí)行維持放電(相當于維持周期S11)。在為第一組G1的維持周期S11之后，對于第二組G2執(zhí)行尋址周期AG2。第二組G2包括“m”個掃描電極Y21到Y(jié)2m。在尋址周期AG2之后，將維持脈沖Vs交替地提供給公共電極X1...n和掃描電極Y11到Y(jié)2m，由此為第一和第二組G1和G2執(zhí)行維持放電(相當于維持周期S12和S21)。在尋址周期AG2期間，將偏壓Ve2提供給公共電極X1...n，并且同時開啟那些用于確定在第二組G2中將被顯示的單元的掃描電極Y21到Y(jié)2m和尋址電極，由此選擇顯示單元。這里，將注意的是，在為第一組G1的尋址周期AG1期間，將偏壓Ve1提供給公共電極X1...n，并且在為第二組G2的尋址周期AG2期間，將偏壓Ve2提供給公共電極X1...n。偏壓Ve1和Ve2可以是相同或不同的。在為第一組G1的尋址周期AG1期間和在為第二組G2的尋址周期AG2期間，改變?yōu)閷ぶ纷鰷蕚涞摹⑼ㄟ^復位周期R而同時形成在面板中所有單元上的壁電荷狀態(tài)。特別的，在尋址周期AG2期間減少壁電荷余量。因此，如果偏壓Ve1和Ve2是相同的，則在尋址周期AG2中的產(chǎn)生尋址錯誤的幾率高于在尋址周期AG1中的。在尋址周期AG1和AG2期間，通過將不同的偏壓分別提供給組G1和G2，克服上述問題。換句話說，將偏壓設置為Ve1＜Ve2。
由于在復位周期R期間為尋址放電而制造的等離子的激發(fā)效應隨著時間推移而降低，所以在面板較低部分(即，第二組G2)中產(chǎn)生尋址錯誤的幾率高于在較高部分的。因此，在尋址部分A中后面的周期中，就是，在面板的較低部分中，情況變得更不利于尋址。結(jié)果是，在面板的較低部分中，產(chǎn)生低放電的幾率增加。
同時，由于尋址數(shù)據(jù)的高電平電位與掃描脈沖的低電平電位之間的差異，對顯示單元進行尋址。因此，可通過增加尋址數(shù)據(jù)的高電平電位與掃描脈沖的低電平電位之間的差異，補償由復位放電所制造的激發(fā)粒子的密度降低。參考圖6，當將在尋址周期AG2期間的尋址電壓Va2設置為高于在尋址周期AG1期間的尋址電壓Va1時，可完成該補償。另外，當將在尋址周期AG2期間的掃描脈沖的低電平電位VSC_L2設置為低于在尋址周期AG1期間的掃描脈沖的低電平電位VSC_L1時，可完成該補償。
圖7A和7B是在圖5中說明的、根據(jù)本發(fā)明其他實施例的、可應用于AC類型PDP中的面板驅(qū)動方法的時間圖。在這些實施例中，通過不同的公共電極組分別驅(qū)動掃描電極組。
參考圖7A，在尋址周期AG1和AG2期間，為了尋址，分別提供給公共電極組XG1和XG2的偏壓Ve1和Ve2是不同的，也就是Ve1＜Ve2。在復位周期R期間，將復位脈沖交替地提供給包括在公共電極組XG1和XG2中的公共電極和掃描電極從Y11到Y(jié)2m，由此消除維持放電并形成壁電荷狀態(tài)。
接下來，對于第一掃描電極組G1執(zhí)行尋址周期AG1。在尋址周期AG1期間，將偏壓Ve1提供給公共電極組XG1和XG2，并且同時開啟那些用于確定在第一掃描電極組G1中將被顯示的單元的掃描電極Y11到T2m和尋址電極，由此選擇顯示單元。在對于第一掃描電極組G1的尋址周期AG1之后，將維持脈沖Vs交替地提供給包括在公共電極組XG1和XG2中的公共電極以及掃描電極Y11到Y(jié)2m，由此對于第一掃描電極組G1執(zhí)行維持放電(相當于維持周期S11)。在對于第一掃描電極組G1的維持周期S11之后，對于第二掃描電極組G2執(zhí)行尋址周期AG2。第二掃描電極組G1包括“m”個掃描電極Y21到Y(jié)2m。在尋址周期AG2之后，將維持脈沖Vs交替地提供給包括在公共電極組XG1和XG2中的公共電極以及掃描電極Y11到Y(jié)2m，由此對于第一和第二掃描電極組G1和G2執(zhí)行維持放電(相當于維持周期S12和S21)。在尋址周期AG2期間，將偏壓Ve2提供給公共電極組XG1和XG2，并且同時開啟那些用于確定在第二組G2中將被顯示的單元的掃描電極從Y21到Y(jié)2m和尋址電極，由此選擇顯示單元。這里，將注意的是，在對于第一掃描電極組G1的尋址周期AG1期間，將偏壓Ve1提供給公共電極組XG1和XG2，并且在對于第二掃描電極組G2的尋址周期AG2期間，將偏壓Ve2提供給公共電極XG1和XG2。
偏壓Ve1和Ve2可能是相同或不同的。在對于第一掃描電極組G1的尋址周期AG1期間和在對于第二掃描電極組G2的尋址周期AG2期間，改變?yōu)閷ぶ纷鰷蕚涞摹⑼ㄟ^復位周期R而同時形成在面板上所有單元中的壁電荷狀況。特別的是，在尋址周期AG2期間減少壁電荷余量。因此，如果偏壓Ve1和Ve2是相同的，則在尋址周期AG2中的產(chǎn)生尋址錯誤的幾率高于在尋址周期AG1中的。在尋址周期AG1和AG2期間，通過將不同的偏壓分別提供給掃描電極組G1和G2，克服上述問題。換句話說，將偏壓設置為Ve1＜Ve2。當Ve1＜Ve2時，可補償降低的壁電荷余量。
參考圖7B，僅將偏壓提供給實際上尋址的公共電極組。如圖7B中所示，在對于第一掃描電極組G1的尋址周期AG1期間，將偏壓Ve1僅提供給第一公共電極組XG1，而在對于第二掃描電極組G2的尋址周期AG2期間，將偏壓Ve2僅提供給第二公共電極XG2。
如參考圖6所述的，有必要補償在面板的較低部分(即，第二掃描電極組G2)處、由復位放電所產(chǎn)生的激勵粒子密度隨時間所產(chǎn)生的遞減。當將在尋址周期AG2期間的尋址電壓Va2設置為高于在尋址周期AG1期間的尋址電壓Va1時，可完成該補償。另外，當將在尋址周期AG2期間的掃描脈沖的低電平電位VSC_L2設置為低于在尋址周期AG1期間的掃描脈沖的低電平電位VSC_L1時，可完成該補償。
圖8是在圖5中說明的、還是根據(jù)本發(fā)明另一個實施例的、可應用于AC類型PDP中的面板驅(qū)動方法的時間圖，其中通過不同的公共電極組，分別驅(qū)動掃描電極組，并且將不同的偏壓分別提供給公共電極組。
在復位周期R期間，將復位脈沖交替地提供給包括在公共電極組XG1和XG2中的公共電極以及掃描電極Y11到Y(jié)2m，由此消除維持放電并形成壁電荷狀態(tài)。
接下來，對于第一掃描電極組G1執(zhí)行尋址周期AG1。在尋址周期AG1期間，將第一偏壓Ve1提供給第一公共電極組XG1，并且將第二偏壓Ve2提供給第二公共電極組XG2。另外，同時開啟那些用于確定在第一掃描電極組G1中將被顯示的單元的掃描電極Y11到Y(jié)1m和尋址電極(未示出)，由此選擇顯示單元。在對于第一掃描電極組G1的尋址周期AG1之后，將維持脈沖Vs交替地提供給包括在公共電極組XG1和XG2中的公共電極以及掃描電極Y11到Y(jié)2m，由此對于第一掃描電極組G1執(zhí)行維持放電(相當于維持周期S11)。在對于第一掃描電極組G1的維持周期S11之后，對于第二掃描電極組G2執(zhí)行尋址周期AG2。在尋址周期AG2之后，將維持脈沖Vs交替地提供給包括在公共電極組XG1和XG2中的公共電極以及掃描電極從Y11到Y(jié)2m，由此對于第一和第二掃描電極組G1和G2執(zhí)行維持放電(相當于維持周期S12和S21)。在尋址周期AG2期間，將第一偏壓Vel提供給第一公共電極組XG1，并且將第二偏壓Ve2提供給第二公共電極組XG2。另外，同時開啟那些用于確定在第二掃描電極組G2中將被顯示的單元的掃描電極從Y21到Y(jié)2m和尋址電極，由此選擇顯示單元。這里，將注意的是，不考慮尋址周期AG1和AG2，分別將不同的偏壓Ve1和Ve2提供給公共電極組XG1和XG2。
偏壓Ve1和Ve2可能是相同或不同的。在對于第一掃描電極組G1的尋址周期AG1期間和在對于第二掃描電極組G2的尋址周期AG2期間，改變?yōu)閷ぶ纷鰷蕚涞?、通過復位周期R而同時形成在面板上所有單元中的壁電荷狀況。特別的是，在尋址周期AG2期間減少壁電荷余量。因此，如果偏壓Ve1和Ve2是相同的，則在尋址周期AG2中的產(chǎn)生尋址錯誤的幾率高于在尋址周期AG1中的。在尋址周期AG1和AG2期間，通過將不同的偏壓分別提供給掃描電極組G1和G2，克服上述問題。換句話說，將偏壓設置為Ve1＜Ve2。當Ve1＜Ve2時，可補償降低的壁電荷余量。
如參考圖6所述的，有必要補償在面板的較低部分(即，第二掃描電極組G2)處、由復位放電所產(chǎn)生的激勵粒子密度隨時間所產(chǎn)生的遞減。當將在尋址周期AG2期間的尋址電壓Va2設置為高于在尋址周期AG1期間的尋址電壓Va1時，可完成該補償。另外，當將在尋址周期AG2期間的掃描脈沖的低電平電位VSC_L2設置為低于在尋址周期AG1期間的掃描脈沖的低電平電位VSC_L1時，可完成該補償。
在圖6到8中說明的實施例中，通過在對于不同掃描電極組的尋址周期期間，將不同的偏壓分別提供給公共電極，可補償掃描電極組之間在一個尋址周期期間的壁電荷余量的差異。
在圖6到8中說明的實施例中，僅僅是為了描述的清楚，在維持周期期間產(chǎn)生三個維持脈沖。實際上，優(yōu)選的是產(chǎn)生許多維持脈沖，以致其具有足夠數(shù)量能夠充分地在尋址單元中激發(fā)維持放電。例如，當實現(xiàn)256灰度級灰度時，在維持周期期間，產(chǎn)生用于表現(xiàn)至少一個灰度級所需的多個維持脈沖。
在圖6到8中說明的實施例中，在對于第一掃描電極組G1的尋址周期AG1和維持周期S11結(jié)束之后，對于第二掃描電極組G2執(zhí)行尋址周期AG2和維持周期S21。當執(zhí)行對于第二掃描電極組G2的維持周期S21時，也執(zhí)行對于第一掃描電極組G1的維持周期S12。這里，在對于第一掃描電極組G1的尋址周期AG1之后所執(zhí)行的維持周期S11，沒有必要具有與在對于第二掃描電極組G2的尋址周期AG2之后所執(zhí)行的維持周期S12或S21相同的時間長度和相同的掃描脈沖數(shù)。
以下參考圖3，將描述運用了圖5中所說明的面板驅(qū)動方法的裝置的結(jié)構(gòu)和操作。返回參考圖3，利用信號合成器306，Y驅(qū)動器308和X驅(qū)動器310，在面板312上的單元中執(zhí)行尋址和維持放電。
圖3中所示的面板驅(qū)動裝置將面板312上的單元分類為多個組，在包括在每個組中的單元上執(zhí)行尋址和維持放電。信號合成器306在包括在每個組中的單元上順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期。信號合成器306產(chǎn)生尋址信號和維持信號，以便當對包括在一個組中的單元進行尋址時，包括在其他組中的單元處于空閑狀態(tài)，并從而當包括在一個組中的單元在進行過尋址后執(zhí)行維持周期時，在包括在已經(jīng)尋址過的其他組中的單元上，選擇性地執(zhí)行維持周期。
Y驅(qū)動器308響應于尋址信號，將一個掃描脈沖提供給包括在每個組中的掃描電極，由此執(zhí)行尋址周期。同時，將一個尋址脈沖提供給尋址電極。當Y驅(qū)動器308響應于尋址信號而順序地對組進行尋址時，在對于不同的掃描電極組的尋址周期期間，X驅(qū)動器310分別將不同的偏壓提供給公共電極，以便補償降低的壁電荷余量。在所有組完成尋址后，Y驅(qū)動器308和X驅(qū)動器310響應于維持信號，交替地將一個維持脈沖提供給包括在每個組中的單元，由此執(zhí)行維持周期。
在包括在所有組中的單元執(zhí)行尋址周期之后，信號合成器306進一步可產(chǎn)生另一個維持信號，以便在預定的時間周期期間，根據(jù)在公共維持時間間隔內(nèi)分配給子場的灰度級，在包括在所有組中的單元上共同執(zhí)行維持周期。另外，信號合成器306也可產(chǎn)生另一個維持信號，以便在亮度校正時間間隔內(nèi)，在包括在每個組中的單元上選擇性地執(zhí)行維持周期，以致在面板312上的所有單元表現(xiàn)出分配給子場的灰度級。
可將本發(fā)明應用于那些順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期的任何顯示裝置中，其中尋址周期用于選擇出將被開啟的顯示單元，維持周期用于激發(fā)選中單元從而發(fā)射光。例如，可將本發(fā)明應用于直流電(DC)類型的PDP，場致發(fā)光(EL)顯示裝置，以及例如通過順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期、利用如AC類型的PDP一樣的空間電荷顯示圖像的液晶顯示裝置。
也可將本發(fā)明具體為在計算機可讀取記錄媒體上的計算機可讀取碼。計算機可讀取記錄媒體是那些可存儲其后可由計算機讀取的程序或數(shù)據(jù)的任何數(shù)據(jù)存儲裝置。計算機可讀取記錄媒體的種情況下包括只讀存儲器(ROM)，隨機存儲器(RAM)，CD-ROM，磁帶，硬盤，軟盤，閃存，和光數(shù)據(jù)存儲裝置。這里，存儲在記錄媒體中的程序由一系列在例如具有信息處理能力從而獲得預定結(jié)果的計算機內(nèi)直接或間接使用的命令組成。因此，技術名詞“計算機”通常表示各種包括存儲器，輸入/輸出部件，和運算部件，并具有信息處理能力以便根據(jù)程序執(zhí)行預定功能的裝置。因此，面板驅(qū)動裝置實質(zhì)上是一種某種類似于受特殊領域，即面板驅(qū)動，限制的計算機。
在本發(fā)明中，包括在面板驅(qū)動裝置中的信號合成器通過包括存儲器和處理器的集成電路(IC)實現(xiàn)，并且由此，用于執(zhí)行驅(qū)動面板方法的程序可存儲在存儲器中。當面板驅(qū)動裝置驅(qū)動面板時，執(zhí)行存儲在存儲器中的程序，從而根據(jù)本發(fā)明執(zhí)行尋址和維持放電。因此，將存儲了用于執(zhí)行面板驅(qū)動方法程序的IC視為一種記錄媒體。
特別是，可經(jīng)由原理圖和在計算機上的VHSIC硬件描述語言(VHDL)建立面板驅(qū)動方法，并可經(jīng)由與計算機連接的可編程IC，例如現(xiàn)場可編程柵極陣列(FPGA)，執(zhí)行面板驅(qū)動方法。記錄媒體包括上述可編程IC。
如上所述的，在根據(jù)本發(fā)明的面板驅(qū)動方法中，將在面板上的單元分類為多個組，在子場周期期間在每個組中順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期。因此，在對單元進行尋址之后，在短時間內(nèi)在單元中激勵維持放電。由此，即使在尋址周期期間產(chǎn)生的掃描脈沖和尋址脈沖的寬度是窄的，也可獲得可靠的維持放電。因此，減少在面板上對單元尋址所需的時間，并且由此在信號TV場周期期間，可給維持放電分配更多的時間。因此，可增加顯示在面板上圖像的亮度，并且可在包括許多掃描線的大面板上表現(xiàn)出高灰度級。另外，本發(fā)明允許根據(jù)分配給其的灰度級最令人滿意的驅(qū)動子場。
在根據(jù)本發(fā)明執(zhí)行面板驅(qū)動方法中，在一單個子場中，在對于不同組的尋址周期期間，將不同的偏壓分別提供給公共電極。當在對于不同組的尋址期間分別使用不同的偏壓時，防止在交替執(zhí)行尋址和維持放電時，降低通過復位操作在單元上形成的壁電荷狀態(tài)。因此，能可靠的對單元進行尋址。
當參考實例具體表示并描述本發(fā)明時，本領域的普通技術人員可以理解各種形式上和細節(jié)上的變化并不背離下述權(quán)利要求定義的本發(fā)明的精神和范圍中。
權(quán)利要求
1.一種驅(qū)動面板的方法，包括將在面板上的單元分類為多個單元組，并在包括在每個單元組中的單元上，利用面板上的尋址電極，掃描電極，和公共電極，執(zhí)行尋址和維持放電；將一個幀周期分成多個子場，將不同的灰度級分別分配給該多個子場，并且選擇性地驅(qū)動該子場，從而在面板上表現(xiàn)單元可見亮度的灰度；和在至少一個子場內(nèi)的單元組中，順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期，其中在包括在每個單元組中的單元上執(zhí)行過尋址周期后，在包括在該單元組中的單元上執(zhí)行維持周期，其中在一個單元組完成維持周期之后，在另一個單元組上執(zhí)行尋址周期，其中當在一個單元組上執(zhí)行維持周期時，在那些已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的其他單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，和其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，提供給公共電極的偏壓在單元組之中是不同的。
2.權(quán)利要求1的方法，其中在各單元組中的偏壓差異之中，在前一個尋址周期期間所提供的偏壓低于在隨后的一個尋址周期期間所提供的偏壓。
3.權(quán)利要求1的方法，進一步包括在公共時間間隔內(nèi)對于預定時間周期，在所有單元組上共同執(zhí)行維持周期。
4.權(quán)利要求1的方法，進一步包括在校正時間間隔內(nèi)，在單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，以便使在面板上的單元令人滿意地表現(xiàn)出分配給子場的預定灰度級。
5.權(quán)利要求1的方法，其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，在前一個尋址周期期間提供給尋址電極的尋址電壓低于在隨后的一個尋址周期期間提供給尋址電極的尋址電壓。
6.權(quán)利要求1的方法，其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，提供給包括在前一個單元組中的掃描電極的掃描脈沖的低電平電位高于提供給包括在隨后的一個單元組中的掃描電極的掃描脈沖的低電平電位。
7.一種驅(qū)動面板方法，包括將在面板上的單元分類為多個組，并在包括在每個單元組中的單元上，利用面板上的尋址電極，掃描電極，和公共電極，執(zhí)行尋址和維持放電；將一個幀周期分成多個子場，將不同的灰度級分別分配給多個子場，并且選擇性地驅(qū)動子場，從而在面板上表現(xiàn)單元可見亮度的灰度；利用不同的公共電極組，分別驅(qū)動單元組；和在至少一個子場內(nèi)的單元組中，順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期，其中在包括在每個單元組中的單元上執(zhí)行過尋址周期后，在包括在該單元組中的單元上執(zhí)行維持周期，其中在一個單元組上完成維持周期之后，在另一個單元組上執(zhí)行尋址周期，其中當在一個單元組上執(zhí)行維持周期時，在那些已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的其他單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，和其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，提供給公共電極組的偏壓在單元組之中是不同的。
8.權(quán)利要求7的方法，其中在各單元組中的偏壓差異之中，在前一個尋址周期期間所提供的偏壓低于在隨后的一個尋址周期期間所提供的偏壓。
9.權(quán)利要求7的方法，其中將一個偏壓僅提供給一一個驅(qū)動已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的電流組單元的公共電極組。
10.權(quán)利要求7的方法，進一步包括在公共時間間隔內(nèi)對于預定時間周期，在所有單元組上共同執(zhí)行維持周期。
11.權(quán)利要求7的方法，進一步包括在校正時間間隔內(nèi)，在單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，以便使在面板上的單元令人滿意地表現(xiàn)出分配給子場的預定灰度級。
12.權(quán)利要求7的方法，其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，在前一個尋址周期期間提供給尋址電極的尋址電壓低于在隨后的一個尋址周期期間提供給尋址電極的尋址電壓。
13.權(quán)利要求7的方法，其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，提供給包括在前一個單元組中的掃描電極的掃描脈沖的低電平電位高于提供給包括在隨后的一個單元組中的掃描電極的掃描脈沖的低電平電位。
14.一種驅(qū)動面板方法，包括將在面板上的單元分類為多個組，并在包括在每個單元組中的單元上，利用面板上的尋址電極，掃描電極，和公共電極，執(zhí)行尋址和維持放電；將一個幀周期分成多個子場，將不同的灰度級分別分配給多個子場，并且選擇性地驅(qū)動子場，從而在面板上表現(xiàn)單元可見亮度的灰度；利用不同的公共電極組，分別驅(qū)動單元組；和在至少一個子場內(nèi)的單元組中，順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期，其中在包括在每個單元組中的單元上執(zhí)行過尋址周期后，在包括在該單元組中的單元上執(zhí)行維持周期，其中在一個單元組上完成維持周期之后，在另一個單元組上執(zhí)行尋址周期，其中當在一個單元組上執(zhí)行維持周期時，在那些已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的其他單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，和其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，分別將不同的偏壓提供給公共電極。
15.權(quán)利要求14的方法，其中在提供給相應公共電極組的不同的偏壓之中，在前一個尋址周期期間提供給公共電極組的偏壓低于在隨后的一個尋址周期期間所提供給另一個公共電極組的偏壓。
16.權(quán)利要求14的方法，進一步包括在公共時間間隔內(nèi)對于預定時間周期，在所有單元組上共同執(zhí)行維持周期。
17.權(quán)利要求14的方法，進一步包括在校正時間間隔內(nèi)，在單元組上選擇性地執(zhí)行維持周期，以便使在面板上的單元令人滿意地表現(xiàn)出分配給子場的預定灰度級。
18.權(quán)利要求14的方法，其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，在前一個尋址周期期間提供給尋址電極的尋址電壓低于在隨后的一個尋址周期期間提供給尋址電極的尋址電壓。
19.權(quán)利要求14的方法，其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，提供給包括在前一個單元組中的掃描電極的掃描脈沖的低電平電位高于提供給包括在隨后的一個單元組中的掃描電極的掃描脈沖的低電平電位。
20.一種面板驅(qū)動裝置，在包括多個掃描電極組和一個或多個公共電極組的面板上，執(zhí)行尋址和維持放電，該面板驅(qū)動裝置包括子場處理器，將一個幀周期分成多個子場；信號合成器，產(chǎn)生尋址信號，以便在一個子場內(nèi)面板上的所有單元之中選擇性地對將要打開的單元進行尋址，并產(chǎn)生維持信號，以便在尋址過的單元上執(zhí)行維持放電；和電極驅(qū)動器，根據(jù)尋址信號和維持信號，選擇性地驅(qū)動子場，并驅(qū)動由面板上單元分類出的每個單元組，以便確定在面板上單元亮度的灰度級，其中在每個單元組上信號合成器順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期，并產(chǎn)生尋址信號和維持信號，以致在對包括在一個單元中的單元進行尋址時，包括在其他單元組中的單元處于空閑狀態(tài)，并且以致當包括在一個單元組中的單元尋址后執(zhí)行維持周期時，在包括在已經(jīng)尋址過的其他單元組中的單元上，選擇性地執(zhí)行維持周期。其中當在單元組上順序地執(zhí)行尋址周期時，電極驅(qū)動器為相應的單元組，將不同的偏壓提供給一個或多個公共電極。
21.權(quán)利要求20的面板驅(qū)動裝置，其中信號合成器進一步產(chǎn)生另一個維持信號，從而根據(jù)在公共維持時間間隔內(nèi)分配給子場的灰度級，在預定時間周期期間，在包括在所有單元組中的單元上共同執(zhí)行維持周期。
22.權(quán)利要求20的面板驅(qū)動裝置，其中信號合成器進一步產(chǎn)生另一個維持信號，從而在亮度校正時間間隔內(nèi)，在包括在每個單元組中的單元上，選擇性地執(zhí)行維持周期，以便在面板上的所有單元表現(xiàn)出分配給子場的預定灰度級。
23.一種計算機-可讀取記錄媒體，存儲了用于在計算機上執(zhí)行權(quán)利要求1到19中的任何一種方法的程序。
全文摘要
一種驅(qū)動面板的方法，包括將面板上的單元分類為多個組，并對每個單元組中的單元利用面板上的尋址電極、掃描電極和公共電極執(zhí)行尋址和維持放電；將一個幀周期分成多個子場，將不同的灰度級分別分配給該多個子場，并且選擇性地驅(qū)動子場，從而在面板上表現(xiàn)單元可見亮度的灰度；并且在至少一個子場內(nèi)的單元組中，順序地執(zhí)行尋址周期和維持周期。對每個單元組中的單元執(zhí)行尋址周期后，對該單元組中的單元執(zhí)行維持周期。對一個單元組完成維持周期后，對另一個單元組執(zhí)行尋址周期。當對一個單元組執(zhí)行維持周期時，對已經(jīng)執(zhí)行過尋址周期的其他單元組選擇性地執(zhí)行維持周期。對單元組順序地執(zhí)行尋址周期時，提供給公共電極的偏壓在單元組之中是不同的。
文檔編號G09G3/20GK1598910SQ2004100899
公開日2005年3月23日 申請日期2004年8月13日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月13日
發(fā)明者姜京湖, 鄭宇埈, 金鎮(zhèn)成, 蔡升勛 申請人:三星Sdi株式會社