專利名稱:電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種檢測設(shè)備,尤其涉及一種電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置。
背景技術(shù):
電子內(nèi)窺鏡是采用CMOS成像技術(shù),用于眼睛觀察無法直接目視到的物體的設(shè)備。 目前電子內(nèi)窺鏡常采用直管式,如圖1所示,探測頭3安裝在主機1的頂端,探測頭3與主 機1之間有軟管2連接,由45度側(cè)面鏡4觀察物體。該直管式電子內(nèi)窺鏡只能觀測前端或 側(cè)面的物體,而無法觀測到側(cè)后方的物體。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,提供一種電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置。本發(fā)明的目的通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置,包括探測頭和轉(zhuǎn)盤,特點是所述探測頭套入蛇骨內(nèi),所 述蛇骨尾部一圈沿周向每隔90度連接一根鋼絲,所述鋼絲的另一端均連接至轉(zhuǎn)盤。進(jìn)一步地,上述的電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置,其中,所述探測頭與蛇骨焊接固定。本發(fā)明技術(shù)方案突出的實質(zhì)性特點和顯著的進(jìn)步主要體現(xiàn)在本發(fā)明設(shè)計新穎,通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤可牽動探測頭,向一個方向彎曲170度,使用者只 要旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤,使探測頭向上下左右彎曲,從而完成360度旋轉(zhuǎn)??稍讵M小空間處,方便插入 與取出。
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明技術(shù)方案作進(jìn)一步說明圖1 現(xiàn)有技術(shù)電子內(nèi)窺鏡的構(gòu)造示意圖;圖2 本發(fā)明電子內(nèi)窺鏡的構(gòu)造示意圖。圖中各附圖標(biāo)記的含義見下表
權(quán)利要求
1.電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置,包括探測頭和轉(zhuǎn)盤,其特征在于所述探測頭套入蛇骨內(nèi), 所述蛇骨尾部一圈沿周向每隔90度連接一根鋼絲,所述鋼絲的另一端均連接至轉(zhuǎn)盤。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置,其特征在于所述探測頭與蛇骨焊 接固定。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電子內(nèi)窺鏡的檢測裝置,包括探測頭和轉(zhuǎn)盤,探測頭套入蛇骨內(nèi),蛇骨尾部一圈沿周向每隔90度連接一根鋼絲,鋼絲的另一端均連接至轉(zhuǎn)盤。通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤可牽動探測頭,向一個方向彎曲170度,使用者只要旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤,使探測頭向上下左右彎曲,從而完成360度旋轉(zhuǎn)。
文檔編號A61B1/00GK102100516SQ201010560148
公開日2011年6月22日 申請日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月25日
發(fā)明者沈趙勇 申請人:蘇州工業(yè)園區(qū)廣福汽保機電設(shè)備有限公司