專利名稱：X-射線診斷裝置及獲得x-射線圖象的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明總體上涉及包括多個成像系統(tǒng)的X-射線診斷裝置和用于獲得X-射線圖象的方法。
背景技術(shù)：
如圖1所示，雙平面X-射線成像裝置(主要為心血管檢查開發(fā)而成)具有兩個成像系統(tǒng)，以便同時執(zhí)行從兩個方向的成像。一個成像系統(tǒng)具有前成像系統(tǒng)1，其包括X-射線管3和X-射線探測器4，用于從前側(cè)獲得位于床板上的患者的圖象。另一個成像系統(tǒng)具有側(cè)成像系統(tǒng)2，其包括X-射線管5和X-射線探測器6，用于從側(cè)面對患者成像。
在雙平面X-射線成像裝置中，從前成像系統(tǒng)1的X-射線管3產(chǎn)生的X-射線經(jīng)過患者P直接進(jìn)入X-射線探測器4，并且也反射進(jìn)入X-射線探測器6作為散射X-射線。類似地，從側(cè)成像系統(tǒng)2的X-射線管5產(chǎn)生的X-射線經(jīng)過患者P進(jìn)入X-射線探測器6，并且也在患者P體內(nèi)反射進(jìn)入X-射線探測器4作為散射X-射線。
因此，在如圖2和圖3A-3D所示的成像序列中，當(dāng)前成像系統(tǒng)1的X-射線管3產(chǎn)生X-射線并從前成像系統(tǒng)1的X-射線探測器4讀出一個信號時，從側(cè)成像系統(tǒng)2的X-射線探測器6讀出一個信號以消除由散射X-射線產(chǎn)生的電荷。在讀出該信號之后，當(dāng)側(cè)成像系統(tǒng)2的X-射線管5產(chǎn)生X-射線并從側(cè)成像系統(tǒng)2的X-射線探測器6讀出一個信號時，從前成像系統(tǒng)1的X-射線探測器4讀出一個信號以消除由散射X-射線產(chǎn)生的電荷。
盡管前成像系統(tǒng)1和側(cè)成像系統(tǒng)2之間每束散射X-射線的影響都能夠通過上述的方法加以消除，但是該成像是通過每個X-射線探測器最小周期的雙倍周期加以執(zhí)行的。也就是說，有效幀速度(每單位時間的幀數(shù)目)降低到了最大速度的一半。
作為非限制性實(shí)例，心臟成像同時從前面和側(cè)面加以執(zhí)行這在概念上是理想的。然而，因?yàn)榍俺上裣到y(tǒng)1和側(cè)成像系統(tǒng)2的成像以固定的周期依次執(zhí)行以避免散射X-射線的影響，所以在前面和側(cè)面之間仍然存在時間間隙。
此外，雙平面X-射線診斷裝置在日本專利公開(Kokai)No.2000-102529中有說明。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的包括降低散射X-射線的影響，提高幀速度和減小前成像和側(cè)成像之間的時間間隙。
根據(jù)本發(fā)明的一個方案，提供了一種為包括多個成像系統(tǒng)的X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該發(fā)明包括在從第一成像系統(tǒng)內(nèi)的第一X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第一X-射線探測器收集第一散射數(shù)據(jù)；在從第二成像系統(tǒng)內(nèi)的第二X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第二X-射線探測器收集第二散射數(shù)據(jù)；在從第一成像系統(tǒng)內(nèi)的第三X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用多個X-射線探測器收集包括散射分量的第一圖象數(shù)據(jù)；在從第二成像系統(tǒng)內(nèi)的第四X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用多個X-射線探測器收集包括散射分量的第二圖象數(shù)據(jù)；和通過分別從包括散射分量的第一和第二圖象數(shù)據(jù)中減去第一和第二散射數(shù)據(jù)為第一和第二成像系統(tǒng)獲得X-射線圖象。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方案，提供了一種用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括第一成像系統(tǒng)和第二成像系統(tǒng)，第一成像系統(tǒng)包括第一X-射線管和第一X-射線探測器，第二成像系統(tǒng)包括第二X-射線管和第二X-射線探測器，該方法包括在從第一X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第二X-射線探測器收集散射數(shù)據(jù)；在從第二X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第一X-射線探測器收集散射數(shù)據(jù)，并隨后用第二X-射線探測器收集散射數(shù)據(jù)；用第一和第二X-射線探測器基本上同時地收集包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)；和通過從包括由第一和第二X-射線探測器收集的散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去由第一和第二X-射線探測器收集的散射數(shù)據(jù)獲得用第一成像系統(tǒng)和第二成像系統(tǒng)成像的X-射線圖象，其中散射數(shù)據(jù)的收集時間短于包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)的收集時間。
本發(fā)明的另一個非限制性方案包括用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括第一成像系統(tǒng)和第二成像系統(tǒng)，第一成像系統(tǒng)包括第一X-射線管和第一X-射線探測器，第二成像系統(tǒng)包括第二X-射線管和第二X-射線探測器，該方法包括在從第一X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，基本上同時地用第一和第二X-射線探測器收集散射數(shù)據(jù)；在從第二X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，基本上同時地用第一和第二X-射線探測器收集包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)；和通過從包括由第一和第二X-射線探測器收集的散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去由第一和第二X-射線探測器收集的散射數(shù)據(jù)獲得用第一成像系統(tǒng)和第二成像系統(tǒng)成像的X-射線圖象，其中散射數(shù)據(jù)的收集時間短于包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)的收集時間。
本發(fā)明的另一個非限制性方案包括用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括第一成像系統(tǒng)和第二成像系統(tǒng)，第一成像系統(tǒng)包括第一X-射線管和第一X-射線探測器，第二成像系統(tǒng)包括第二X-射線管和第二X-射線探測器，該方法包括在從第一X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，基本上同時地用第一和第二X-射線探測器收集第一散射數(shù)據(jù)；在從第二X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第一X-射線探測器收集第二散射數(shù)據(jù)，隨后用第二X-射線探測器收集第二散射數(shù)據(jù)，隨后用第一和第二X-射線探測器基本上同時地收集包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)；從第一散射數(shù)據(jù)中減去第二散射數(shù)據(jù)，借此獲得經(jīng)過削減的散射數(shù)據(jù)；通過從包括由第一X-射線探測器收集的散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去經(jīng)削減的散射數(shù)據(jù)獲得X-射線圖象；和通過從包括由第二X-射線探測器收集的散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去由第二X-射線探測器收集的散射數(shù)據(jù)獲得X-射線圖象，其中散射數(shù)據(jù)的收集時間短于包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)的收集時間。
根據(jù)本發(fā)明另一個方案的X-射線診斷裝置包括多個X-射線管；和多個相應(yīng)于各自X-射線管的X-射線探測器，其中該多個X-射線探測器的每一個都包括用第一數(shù)目的探測元件收集圖象數(shù)據(jù)的第一圖象數(shù)據(jù)收集功能，和用第二數(shù)目的探測元件收集圖象數(shù)據(jù)的第二圖象數(shù)據(jù)收集功能，該第二數(shù)目少于該第一數(shù)目。
本發(fā)明的另一個方案提供了一種用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管，相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器，用于沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管，和相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器，該方法包括根據(jù)從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線用第二X-射線探測器收集第一圖象數(shù)據(jù)；根據(jù)從第二X-射線管輻射的至少一束X-射線用第一X-射線探測器收集第二圖象數(shù)據(jù)；根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線用第一X-射線探測器以低于第二圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第三圖象數(shù)據(jù)；根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線，基本上與第三圖象數(shù)據(jù)的收集同時地用第二X-射線探測器以低于第一圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第四圖象數(shù)據(jù)；用第二圖象數(shù)據(jù)去除第三圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量；和用第一圖象數(shù)據(jù)去除第四圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量。
本發(fā)明的另一個方案提供了一種用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管，相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器，用于沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管，和相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器，該方法包括根據(jù)從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線用第二X-射線探測器收集第一圖象數(shù)據(jù)；根據(jù)從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線用第一X-射線探測器收集第二圖象數(shù)據(jù)；根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線用第一X-射線探測器收集第三圖象數(shù)據(jù)；根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線，用第二X-射線探測器基本上與第三圖象數(shù)據(jù)的收集同時地收集第四圖象數(shù)據(jù)；用第二圖象數(shù)據(jù)去除第三圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量；和用第一圖象數(shù)據(jù)去除第四圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量。
本發(fā)明的另一個非限制性方案包括用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管，相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器，設(shè)定為沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管，和相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器，該方法包括從第一X-射線管輻射至少一束X-射線；根據(jù)從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線用第二X-射線探測器收集第一圖象數(shù)據(jù)；從第二X-射線管輻射至少一束X-射線；根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線用第二X-射線探測器以低于第一圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第二圖象數(shù)據(jù)；和用第一圖象數(shù)據(jù)去除第二圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量。
本發(fā)明的另一個方案包括一種X-射線診斷裝置，其包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管；相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器；設(shè)定為沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管；相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器；控制器，其設(shè)定為根據(jù)從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第二X-射線探測器從而收集第一圖象數(shù)據(jù)，根據(jù)從第二X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第一X-射線探測器從而收集第二圖象數(shù)據(jù)，根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第一X-射線探測器從而以低于第二圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第三圖象數(shù)據(jù)，根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第二X-射線探測器從而基本上與第三圖象數(shù)據(jù)的收集同時地以低于第一圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第四圖象數(shù)據(jù)；和圖象處理器，其設(shè)定為用第二圖象數(shù)據(jù)去除第三圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量和用第一圖象數(shù)據(jù)去除第四圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量。
本發(fā)明的另一個非限制性方案包括一種X-射線診斷裝置，其包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管；相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器；設(shè)定為沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管；相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器；控制器，其設(shè)定為根據(jù)從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第二X-射線探測器從而收集第一圖象數(shù)據(jù)，根據(jù)從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第一X-射線探測器從而收集第二圖象數(shù)據(jù)，根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第一X-射線探測器從而收集第三圖象數(shù)據(jù)，根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第二X-射線探測器從而基本上與第三圖象數(shù)據(jù)的收集同時地收集第四圖象數(shù)據(jù)；和圖象處理器，其設(shè)定為用第二圖象數(shù)據(jù)去除第三圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量和用第一圖象數(shù)據(jù)去除第四圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量。
本發(fā)明的另一個非限制性方案提供了一種X-射線診斷裝置，其包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管；相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器；設(shè)定為沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管；相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器；控制器，其設(shè)定為控制第一X-射線管從而輻射至少一束X-射線，根據(jù)從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第二X-射線探測器從而收集第一圖象數(shù)據(jù)，控制第二X-射線管從而輻射至少一束X-射線，和根據(jù)從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第二X-射線探測器從而以低于第一圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第二圖象數(shù)據(jù)；和圖象處理器，其設(shè)定為用第一圖象數(shù)據(jù)去除第二圖象數(shù)據(jù)內(nèi)包含的散射分量。


當(dāng)聯(lián)系附圖加以考慮時，通過參考下述的詳細(xì)說明，能夠容易地獲得對本發(fā)明更完全的評估及其眾多的伴隨優(yōu)點(diǎn)，同時能更好地理解本發(fā)明。附圖中圖1是用于解釋散射X-射線的圖示；圖2是用于解釋傳統(tǒng)成像序列的圖示；
圖3A-3D是用于解釋散射X-射線的圖示；圖4是非限制性實(shí)施例中X-射線診斷裝置的框圖；圖5是用于解釋根據(jù)該實(shí)施例的成像序列的圖示；圖6A-6D是用于解釋根據(jù)該實(shí)施例的散射X-射線的圖示；圖7是用于解釋圖5中成像序列示例部分的圖示；圖8是用于解釋圖4中雙層型X-射線探測器實(shí)例的圖示；圖9是用于解釋圖4中雙層型X-射線探測器另一個實(shí)例的圖示；圖10是用于解釋圖4中雙層型X-射線探測器另一個實(shí)例的圖示；圖11是用于解釋圖4中雙層型X-射線探測器另一個實(shí)例的圖示；圖12是用于解釋每種格式(format)的成像序列和圖象處理的圖示；圖13是用于解釋圖4中單層(獨(dú)立信號線)型X-射線探測器實(shí)例的圖示；圖14是用于解釋圖4中單層(共用信號線)型X-射線探測器實(shí)例的圖示；圖15是用于解釋圖4中單層(共用信號線)型X-射線探測器另一個實(shí)例的圖示；圖16是用于解釋每種格式的成像序列和圖象處理的圖示；圖17是用于解釋每種格式的另一種成像序列和另一種圖象處理的圖示；圖18是用于解釋每種格式的另一種成像序列和另一種圖象處理的圖示；圖19是用于解釋每種格式的另一種成像序列和另一種圖象處理的圖示；圖20是用于解釋每種格式的另一種成像序列和另一種圖象處理的圖示；圖21是用于解釋每種格式的另一種成像序列和另一種圖象處理的圖示；圖22是用于解釋每種格式的另一種成像序列和另一種圖象處理的圖示；圖23是用于解釋每種格式的另一種成像序列和另一種圖象處理的圖示；圖24是用于解釋每種格式的另一種成像序列和另一種圖象處理的圖示；具體實(shí)施方式
參考附圖，解釋了雙平面X-射線成像方法和雙平面X-射線成像裝置的非限制性實(shí)施例。圖4顯示了雙平面X-射線成像裝置的框圖。該雙平面X-射線成像裝置包括兩個或更多個X-射線成像系統(tǒng)，例如前成像系統(tǒng)(F)和側(cè)成像系統(tǒng)(L)。前成像系統(tǒng)F具有X-射線管11和與X-射線管11相對布置的X-射線探測器12?；颊叨ㄎ辉赬-射線管11和X-射線探測器12之間。側(cè)成像系統(tǒng)L具有X-射線管21和與X-射線管21相對布置的X-射線探測器22?；颊叨ㄎ辉赬-射線管21與X-射線管22之間。
X-射線探測器12和22可以是固體平面探測器(solid flatdetector)，包括多個探測元件(像素)，其直接地或間接地將入射X-射線轉(zhuǎn)變?yōu)殡姾桑⑶依缍S地加以布置。前成像系統(tǒng)的X-射線管11附著在位于地板(floor)(未顯示)上的C-臂的一端，而X-射線探測器12附著在C-臂的另一端。側(cè)成像系統(tǒng)的X-射線管21附著在懸掛于頂板(ceiling)(未顯示)上的O-臂的一端，而X-射線探測器22附著在O-臂的另一端。C-臂的支撐機(jī)構(gòu)和O-臂的支撐機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)成使連接X-射線探測器12的探測中心和X-射線管11的焦點(diǎn)的成像中心軸與連接X-射線探測器22的探測中心和X-射線管21的焦點(diǎn)的成像中心軸相交在所謂的等角點(diǎn)(isocenter)。
F-側(cè)X-射線控制單元13與前成像系統(tǒng)的X-射線管11相連。該F-側(cè)X-射線控制單元13在X-射線管11的陰極與旋轉(zhuǎn)陽極之間施加高電壓。而且，F(xiàn)-側(cè)X-射線控制單元13提供加熱電流到X-射線管11的陰極燈絲。從受熱燈絲發(fā)出的熱電子撞擊旋轉(zhuǎn)陽極靶。借此產(chǎn)生X-射線。L-側(cè)X-射線控制單元23與側(cè)成像系統(tǒng)的X-射線管21相連。該L-側(cè)X-射線控制單元23在X-射線管21的陰極與旋轉(zhuǎn)陽極之間施加高電壓。而且，L-側(cè)X-射線控制單元23提供加熱電流到X-射線管21的陰極燈絲。F-側(cè)探測器控制單元14與前成像系統(tǒng)的X-射線探測器12相連。該F-側(cè)探測器控制單元14控制從F-側(cè)X-射線探測器12讀出的數(shù)據(jù)。L-側(cè)探測器控制單元24與側(cè)成像系統(tǒng)的X-射線探測器22相連。該L-側(cè)探測器控制單元24控制從L-側(cè)X-射線探測器22讀出的數(shù)據(jù)。
系統(tǒng)控制器31控制F-側(cè)X-射線控制單元13、F-側(cè)探測器控制單元14、L-側(cè)X-射線控制單元23和L-側(cè)探測器控制單元24的每一個操作以執(zhí)行成像操作，并根據(jù)該成像操作控制存儲單元33、圖象處理單元35和顯示單元37。
圖5、圖6和圖7顯示了實(shí)施例的示例性成像序列。該成像序列分為四個期限。在期限(1)中，X-射線從F-側(cè)X-射線管11中產(chǎn)生，并在下一期限(2)中，粗略(低空間分辨率)圖象數(shù)據(jù)以高速從F和L側(cè)的X-射線探測器12和22中讀出。在期限(3)中，X-射線從L-側(cè)X-射線管21中產(chǎn)生，并在期限(4)中，粗略(低空間分辨率)圖象數(shù)據(jù)從F和L側(cè)的X-射線探測器12和22中幾乎同時地以高速讀出，而精細(xì)(高空間分辨率)圖象數(shù)據(jù)從F和L側(cè)的X-射線探測器12和22中幾乎同時地以低速讀出。
在非限制性實(shí)施例中，在F-側(cè)成像系統(tǒng)和L-側(cè)成像系統(tǒng)中分別獲得三種圖象數(shù)據(jù)。該三種圖象數(shù)據(jù)分別含有不同的信號分量和不同的散射分量。當(dāng)對該三種圖象數(shù)據(jù)中的至少兩種圖象數(shù)據(jù)進(jìn)行圖象處理時，可以除去F-側(cè)和L-側(cè)成像系統(tǒng)的散射分量，從而獲得主要包括信號分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。
這樣，在期限(4)中，F(xiàn)-側(cè)和L-側(cè)的數(shù)據(jù)讀出平行地加以執(zhí)行。因此，相對于從L和F-側(cè)的串行數(shù)據(jù)讀出，能夠縮短周期時間并能夠降低幀速度。而且，盡管在該實(shí)施例中，讀出散射分量以便從每個圖象中去除散射分量是有用的，但是考慮到散射分量的空間頻率低，所以由散射分量的讀出操作導(dǎo)致的對周期時間的影響能夠通過以低分辨率和高速度(短時)讀出該散射分量而降低。此外，通過以低分辨率和高速度(短時)讀出該散射分量，能夠縮短期限(2)，并能夠縮短F-側(cè)和L-側(cè)之間成像時間的間隙。
上述的成像序列是示例性成像序列，通過組合X-射線探測器的讀出格式、X-射線探測器的結(jié)構(gòu)和圖象處理格式可以有很多的不同版本。讀出格式包括電荷讀出格式和電壓讀出格式。每一種格式都能夠應(yīng)用在該實(shí)施例中。因?yàn)樵跀?shù)據(jù)以電壓讀出格式讀出之后，像素電容器內(nèi)仍保留有電荷，所以需要清倉操作(flush operation)以重置該像素電容器。為清倉操作定時的選項(xiàng)包括清倉每次讀出型(flush every read outtype)和清倉每幀(flush every frame)。X-射線探測器的結(jié)構(gòu)包括例如雙層型、部分讀出型(單層、獨(dú)立信號線)和部分讀出型(單層、共用信號線)。此外，圖象處理格式包括空間校正(spatialcorrection)、重用重建(reuse reconstruction)、低分辨率轉(zhuǎn)換(lowresolution conversion)和改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換。通過組合上述選項(xiàng)，成像序列有很多可能的不同版本，以及對本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言顯而易見的不同版本。一些非限制性組合包括如下(1-1)電荷讀出格式+雙層型，(1-2)電荷讀出格式+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正，(1-3)電荷讀出格式+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正，(2-1)電荷讀出格式+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建，(2-2)電荷讀出格式+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建，(3-1)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+雙層型，(3-2)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正，(3-3)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正，(4-1)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建，(4-2)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建，(5-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+雙層型，(5-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正，(5-3)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正，(6-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+雙層型+低分辨率轉(zhuǎn)換，(6-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正+低分辨率轉(zhuǎn)換，(6-3)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正+低分辨率轉(zhuǎn)換，(7-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+雙層型+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換，(7-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換，(7-3)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換，(8-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建，(8-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建，(9-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建+低分辨率轉(zhuǎn)換，(9-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建+低分辨率轉(zhuǎn)換，
(10-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換，和(10-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換。
下面解釋上述的不同版本。
(1-1)電荷讀出格式+雙層型電荷讀出格式應(yīng)用于X-射線探測器12和22，其中由輻射X-射線產(chǎn)生的電荷被讀出作為電流信號。在電荷讀出格式中，當(dāng)數(shù)據(jù)讀出時，電荷被從像素電容器中去除，從而像素電容器被重置。
圖8顯示了前成像系統(tǒng)的X-射線探測器12。因?yàn)閭?cè)成像系統(tǒng)的X-射線探測器22與前成像系統(tǒng)的X-射線探測器12相同或相似，所以省略了對X-射線探測器22的解釋。
在X-射線探測器12的玻璃基片41上，堆疊像素布置層43和45作為兩個層。第一層45是通常的TFT結(jié)構(gòu)，其中布置有多個探測元件47。第二層43位于第一層45和玻璃基片41之間。盡管第二層43的探測元件49的數(shù)目(像素?cái)?shù)目)少于第一層45的探測元件47的數(shù)目，但是第二層的探測元件49的探測面積大于第一層45的探測元件47的探測面積。布置第二層43的探測元件49的區(qū)域的尺寸與布置第一層45的探測元件47的區(qū)域的尺寸幾乎相同。透過第一層45的X-射線進(jìn)入到第二層43內(nèi)。因?yàn)榈诙?3的像素?cái)?shù)目少于第一層45，所以從第二層43的所有像素的讀出，其完成速度高于(也就是，快于)第一層45。
如圖9所示，第二層43的探測元件49的探測面積可以與第一層45的探測元件47的探測面積幾乎相同，且分離布置探測元件49的區(qū)域的尺寸與布置探測元件47的區(qū)域的尺寸幾乎相同。
選擇地，如圖10所示，第一層45可以定位在玻璃基片41的表面上，而第二層43可以定位在玻璃基片41的背面上。選擇地，如圖11所示，第一層45可以定位在玻璃基片41-1的表面上，第二層43可以定位在玻璃基片41-2的表面上，且基片可以堆疊。在這一實(shí)例中，玻璃基片41-1可以例如粘合于第二層43。
圖12顯示了(電荷讀出格式+雙層型)中一個周期的成像序列。在期限(1)中，從F-側(cè)X-射線管11產(chǎn)生X-射線。在期限(1)中，來自F-側(cè)X-射線管11的直接X-射線通過患者，并被第一F-側(cè)X-射線探測器12的第一和第二層45和43探測作為信號分量。在期限(1)中，來自F-側(cè)X-射線管11的X-射線也在患者體內(nèi)散射，且散射X-射線被L-側(cè)X-射線探測器22的第一和第二層探測作為散射分量。
在期限(2)中，從F-側(cè)X-射線探測器12的第二層43以高速讀出粗略圖象數(shù)據(jù)S11。該圖象數(shù)據(jù)S11包括來自F-側(cè)的直接X-射線(信號分量)，下文稱其為“FSiR”。在期限(2)中，平行于從F-側(cè)X-射線探測器12的第二層43的粗略圖象數(shù)據(jù)S11的讀出，從L-側(cè)X-射線探測器22的第二層以高速讀出粗略圖象數(shù)據(jù)S21。該圖象數(shù)據(jù)S21主要包括由來自F-側(cè)X-射線管11的散射X-射線導(dǎo)致的散射分量，下文稱其為“FScR”。在從F-側(cè)和L-側(cè)X-射線探測器的第二層讀出圖象數(shù)據(jù)S11和S21之后，在期限(3)中，從L-側(cè)X-射線管21產(chǎn)生X-射線。在期限(3)中，來自L-側(cè)X-射線管21的X-射線中的散射X-射線被F-側(cè)X-射線探測器21的第一和第二層45和43探測到。在期限(3)中，來自L-側(cè)X-射線管21的直接X-射線通過患者，并被L-側(cè)X-射線探測器22的第一和第二層探測到。
在期限(4)中，從F-側(cè)X-射線探測器12的第二層43讀出粗略圖象數(shù)據(jù)S12。因?yàn)樵陔姾勺x出格式內(nèi)不包含讀出電荷，所以期限(4)中讀出的圖象數(shù)據(jù)S12不反映期限(1)中的累積電荷，而是主要代表由來自L側(cè)的X-射線導(dǎo)致的并在期限(3)中累積的散射分量，下文稱之為“LScR”。而且，在期限(4)中，平行于從F-側(cè)X-射線探測器12的第二層43的粗略圖象數(shù)據(jù)S12的讀出，從L-側(cè)X-射線探測器22的第二層43以高速讀出粗略圖象數(shù)據(jù)S22。因?yàn)樵谄谙?4)中讀出的圖象數(shù)據(jù)S22不反映期限(1)中的累積電荷，所以該圖象數(shù)據(jù)S22主要包括由來自L側(cè)的直接X-射線導(dǎo)致的并在期限(3)中累積的信號分量，下文稱之為“LSiR”此外，精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13以低速從F-側(cè)X-射線探測器12的第一層45讀出。因?yàn)樵谄谙?4)中從第一層45讀出的圖象數(shù)據(jù)S13反映了在期限(1)和期限(3)中累積的電荷，所以圖象數(shù)據(jù)S13包括由來自F-側(cè)的直接X-射線導(dǎo)致的并在期限(1)中積累的信號分量和由來自L-側(cè)的X-射線導(dǎo)致的并在期限(3)中積累的散射分量，其被稱為“FSiF+LScF”。而且，精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23在期限(4)中以低速從L-側(cè)X-射線探測器22的第一層讀出。因?yàn)樵谄谙?4)中從第一層讀出的圖象數(shù)據(jù)S23反映了在期限(1)和期限(3)中累積的電荷，所以該圖象數(shù)據(jù)S23包括由來自F-側(cè)的X-射線導(dǎo)致的并在期限(1)中積累的散射分量和由來自L-側(cè)的直接X-射線導(dǎo)致的并在期限(3)中積累的信號分量，其被稱為“FScF+LSiF”。利用雙層型，盡管圖12顯示，數(shù)據(jù)在期限(4)中依次從第一層和第二層中讀出，但是數(shù)據(jù)從第一層的讀出是平行于從第二層讀出的數(shù)據(jù)的。
現(xiàn)在解釋對由該序列獲得的圖象數(shù)據(jù)的圖象處理。關(guān)于F-側(cè)，因?yàn)榫?xì)圖象數(shù)據(jù)S13包括信號分量和散射分量，所以需要去除散射分量。散射分量包含在數(shù)據(jù)S12中。散射分量具有比信號分量更低的空間頻率，甚至能夠使用低分辨率的圖象數(shù)據(jù)。低分辨率圖象數(shù)據(jù)S12轉(zhuǎn)換為如圖象數(shù)據(jù)S13的高分辨率圖象數(shù)據(jù)(精細(xì)轉(zhuǎn)換)，且當(dāng)在相對于散射分量的經(jīng)轉(zhuǎn)換圖象數(shù)據(jù)S12與精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13之間執(zhí)行減法時，能夠生成去除了散射分量的L-側(cè)精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。
類似地，關(guān)于L-側(cè)，以高分辨率獲得的圖象數(shù)據(jù)S23包括由來自F-側(cè)X-射線管11的X-射線導(dǎo)致的散射分量。該散射分量包含在數(shù)據(jù)S21中。圖象數(shù)據(jù)S21轉(zhuǎn)換為如圖象數(shù)據(jù)S23的高分辨率圖象數(shù)據(jù)，且當(dāng)在相對于散射分量的經(jīng)轉(zhuǎn)換圖象數(shù)據(jù)S21與精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23之間執(zhí)行減法時，能夠生成去除了散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S24。
如上所述，在該實(shí)施例中，有可能平行地從F-側(cè)和L-側(cè)讀出數(shù)據(jù)。因此，有可能相對于從L-側(cè)和F-側(cè)的串行數(shù)據(jù)讀出提高幀速度。而且，考慮到散射分量的空間頻率低，盡管讀出散射分量以便從每個圖象中去除散射分量是有用的，在非限制性實(shí)施例中，由散射分量的讀出操作導(dǎo)致的對周期時間的影響能夠通過以低分辨率和高速度(短時)讀出散射分量而減少。此外，通過以低分辨率和高速度讀出散射分量，能夠縮短期限(2)，并能夠縮短F-側(cè)和L-側(cè)之間成像時間的間隙。
(1-2)電荷讀出格式+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正在上述的雙層型中，粗略布置像素的第二層與精細(xì)布置像素的第一層分離。然而，在部分讀出型X-射線探測器(單層，獨(dú)立信號線)中，像素布置在單層上。在期限(2)和(4)中，從特定像素中讀出粗略圖象數(shù)據(jù)，并在期限(4)中，從除特定像素以外的像素中讀出精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。
圖13顯示了部分讀出型X-射線探測器(單層，獨(dú)立信號線)。雙斜線顯示的特定像素被指定為讀出粗略圖象數(shù)據(jù)，而單斜線顯示的其它像素51被指定為讀出精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。特定像素52的數(shù)目少于像素51的數(shù)目。特定像素沿縱向和橫向分離地布置，從而使像素51位于其間。沿橫向的特定像素52與柵線54相連，柵線54能夠獨(dú)立于受柵線53驅(qū)動的像素51驅(qū)動特定像素52。沿縱向的特定像素52與信號線56相連，信號線56獨(dú)立于像素51的信號線55。以高速讀出，與特定像素52連接的柵線54依次被激活(activated)，且數(shù)據(jù)依次通過與特定像素連接的信號線56讀出。
在圖12的期限(2)中，粗略圖象數(shù)據(jù)S11從F-側(cè)X-射線探測器12的特定像素52以高速讀出，并且(平行地)，粗略圖象數(shù)據(jù)S21從L-側(cè)X-射線探測器22的特定像素52以高速讀出。同樣在期限(4)中，粗略圖象數(shù)據(jù)S12從F-側(cè)X-射線探測器12的特定像素52以高速讀出，并且(平行地)粗略圖象數(shù)據(jù)S22從L-側(cè)X-射線探測器22的特定像素52以高速讀出。在同一期限(4)中，精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13從F-側(cè)X-射線探測器12的其它像素51中以低速讀出，并且平行地，精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23從L-側(cè)X-射線探測器22的其它像素51中以低速讀出。盡管在圖12中描述，從特定像素52的數(shù)據(jù)讀出與從其它像素51的數(shù)據(jù)讀出依次分離地執(zhí)行，但是這些數(shù)據(jù)讀出是平行地加以執(zhí)行的。
關(guān)于F-側(cè)，低分辨率圖象數(shù)據(jù)S12轉(zhuǎn)換為如圖象數(shù)據(jù)S13的高分辨率圖象數(shù)據(jù)(精細(xì)轉(zhuǎn)換)，以便從高分辨率圖象數(shù)據(jù)13中除去散射分量。當(dāng)在相對于散射分量的經(jīng)轉(zhuǎn)換圖象數(shù)據(jù)S12與包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13之間執(zhí)行減法時，能夠生成去除了散射分量的L-側(cè)精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。
因?yàn)椴糠窒袼貞?yīng)用于特定像素52，所以圖象數(shù)據(jù)S13中缺乏來自特定像素52的信號。因?yàn)椴糠窒袼貞?yīng)用于獨(dú)立部分讀出型的特定像素52，所以圖象數(shù)據(jù)中缺乏相應(yīng)于特定像素的信號。當(dāng)空間校正通過減法去除了散射分量的圖象數(shù)據(jù)S13時，相應(yīng)于特定像素的數(shù)據(jù)被內(nèi)插(interpolated)。
類似地，關(guān)于L-側(cè)，為了從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23中除去散射分量，包括散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S21被轉(zhuǎn)換為如圖象數(shù)據(jù)S23的高分辨率圖象數(shù)據(jù)，包括散射分量的經(jīng)精細(xì)轉(zhuǎn)換圖象數(shù)據(jù)S21從包括信號分量和散射分量的圖象數(shù)據(jù)S23中去除。借此生成主要具有信號分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。當(dāng)空間校正通過減法除去了散射分量的圖象數(shù)據(jù)S23時，相應(yīng)于特定像素的數(shù)據(jù)被內(nèi)插。這樣，能夠提高幀速度，能夠減少由散射分量的讀出操作導(dǎo)致的對周期時間的影響，并能夠縮短F-側(cè)和L-側(cè)之間成像時間的間隙。
(1-3)電荷讀出格式+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正如圖14所示，在部分讀出型中，信號線55可以由特定像素和其它像素共用。特定像素52的柵線54獨(dú)立于其它像素51的其它柵線53。因?yàn)闇p法圖象處理與(1-2)中所解釋的相同或相似，所以省略該解釋。通過這一構(gòu)型，能夠提高幀速度，能夠減少由散射分量的讀出操作導(dǎo)致的對周期時間的影響，并能夠縮短F-側(cè)和L-側(cè)之間成像時間的間隙。
此外，在圖15所示的類型(1-3)中，特定像素52可以適合(adapt)每條線。由預(yù)先確定的柵線53縱向隔離的特定柵線54是適合的(adapted)。當(dāng)讀出粗略圖象數(shù)據(jù)時，與特定柵線54相連并定位于其上的多個像素用作特定像素。當(dāng)依次驅(qū)動特定柵線54時，讀出粗略像素?cái)?shù)據(jù)S11、S12、S21和S22。在驅(qū)動特定柵線54期間，數(shù)據(jù)從所有信號線55中讀出。在這一類型中，能夠使用X-射線探測器的傳統(tǒng)組成(composition)。
(2-1)電荷讀出格式+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建該類型與(1-2)的不同主要在于圖象處理。在(1-2)中，導(dǎo)致信號缺失的特定像素?cái)?shù)據(jù)通過使用空間校正而被內(nèi)插內(nèi)插(interpolated)。另一方面，如圖16所示，在通過減法除去了散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13和S23中，導(dǎo)致信號缺失的特定像素?cái)?shù)據(jù)通過粗略圖象數(shù)據(jù)S11被內(nèi)插，該粗略圖象數(shù)據(jù)S11包括信號分量并在期限(2)中從F-側(cè)X-射線探測器12的特定像素讀出。關(guān)于L-側(cè)，主要包括信號分量并在期限(4)中從L-側(cè)X-射線探測器22的特定像素52讀出的粗略圖象數(shù)據(jù)S22用于內(nèi)插。因?yàn)閳D象數(shù)據(jù)S11主要包括由來自F-側(cè)的直接X-射線導(dǎo)致的信號分量，并且?guī)缀醪话ㄉ⑸浞至?，所以能夠獲得主要包括信號分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。
(2-2)電荷讀出格式+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建該類型與類型(1-3)的不同主要在于圖象處理。在該圖象處理中，導(dǎo)致通過減法除去了散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13和S23中信號缺失的特定像素?cái)?shù)據(jù)，通過主要包括信號分量并在期限(2)中從F-側(cè)X-射線探測器12的特定像素52讀出的粗略圖象數(shù)據(jù)S11被內(nèi)插(interpolate)。關(guān)于L-側(cè)，主要包括信號分量并在期限(4)中從L-側(cè)X-射線探測器22的特定像素52讀出的粗略圖象數(shù)據(jù)S22用于內(nèi)插。
(3-1)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+雙層型與電荷讀出格式不同，在電壓讀出格式中，電荷甚至在讀出之后仍保留在像素電容器內(nèi)。因此，在粗略圖象數(shù)據(jù)S12在期限(2)中從F-側(cè)X-射線探測器12的第二層讀出之后并在X-射線在期限(3)中從L-側(cè)輻射之前，如圖17所示，執(zhí)行重置第二層像素電容器電荷的清倉操作。通過重置，能夠減少信號分量與圖象數(shù)據(jù)S12的混合，從而能夠提高散射分量。
類似地，在粗略圖象數(shù)據(jù)S22在期限(2)中從L-側(cè)X-射線探測器22的第二層讀出之后并在X-射線在期限(3)中從L-側(cè)輻射之前，執(zhí)行重置第二層像素電容器電荷的清倉操作。通過重置，能夠減少散射分量與圖象數(shù)據(jù)S22的混合，從而能夠提高信號分量。而且，在圖象數(shù)據(jù)S12和S13在期限(4)中從F-側(cè)X-射線探測器12的第一和第二層讀出之后，并在X-射線在下一周期中從F-側(cè)輻射之前，執(zhí)行重置第一和第二層像素電容器電荷的操作。通過該重置，能夠減少下一周期的電荷夾帶轉(zhuǎn)入(carry-over)。類似地，在圖象數(shù)據(jù)S22和S23在期限(4)中從L-側(cè)X-射線探測器22的第一和第二層讀出之后，并在X-射線在下一周期中從L-側(cè)輻射之前，執(zhí)行重置第一層和第二層像素電容器電荷的操作。通過該重置，能夠減少下一周期的電荷夾帶轉(zhuǎn)入。該圖象處理與(1-1)相同或相似。
(3-2)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正盡管在上述電壓讀出格式中執(zhí)行了清倉操作，但是它與將(1-2)的電荷讀出格式轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷鹤x出格式的實(shí)例相似。在該實(shí)例中，在F-側(cè)上，在讀出圖象數(shù)據(jù)S11之后，特定像素52的像素電容器在期限(2)中重置。包括特定像素52和其它像素51的所有像素電容器在期限(4)中讀出圖象數(shù)據(jù)S12和S13之后被重置。類似地，L-側(cè)特定像素52的像素電容器也在期限(2)中讀出圖象數(shù)據(jù)S21之后被重置，且包括特定像素52和其它像素51的所有像素在期限(4)中讀出圖象數(shù)據(jù)S22和S23之后被重置。該圖象處理與(1-2)的圖象處理相似。在F-側(cè)上，相應(yīng)于特定像素52的數(shù)據(jù)用空間校正加以內(nèi)插，其中特定像素52導(dǎo)致了通過減法除去了散射分量的圖象數(shù)據(jù)S13中的信號缺失。類似地，在L-側(cè)上，相應(yīng)于特定像素52的數(shù)據(jù)用空間校正加以內(nèi)插，其中特定像素52導(dǎo)致了通過減法除去了散射分量的圖象數(shù)據(jù)S23中的信號缺失。
(3-3)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正當(dāng)用電壓讀出格式代替(1-3)的電荷讀出格式時，因?yàn)楸Ａ粲须姾桑砸矆?zhí)行清倉。在F-側(cè)上，特定像素52的像素電容器在期限(2)中讀出圖象數(shù)據(jù)S11之后被重置，而包括特定像素和其它像素的所有像素的像素電容器也在期限(4)中讀出圖象數(shù)據(jù)S12和S13之后被重置。在L-側(cè)上，特定像素52的像素電容器在期限(2)中讀出圖象數(shù)據(jù)S21之后被重置，而包括特定像素和其它像素的所有像素的像素電容器也在期限(4)中讀出圖象數(shù)據(jù)S22和S23之后被重置。
該圖象處理與(1-3)中所解釋的相同或相似。關(guān)于F-側(cè)，相應(yīng)于特定像素52的數(shù)據(jù)被空間地內(nèi)插。類似地，關(guān)于L-側(cè)，相應(yīng)于特定像素的數(shù)據(jù)被空間地內(nèi)插。
(4-1)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建該類型與(3-2)的不同主要在于圖象處理。如圖18所示，通過重用重建代替空間校正執(zhí)行圖象處理。在F-側(cè)上，特定像素的數(shù)據(jù)通過粗略圖象數(shù)據(jù)S11加以內(nèi)插，該特定像素的數(shù)據(jù)導(dǎo)致了通過減法除去了散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13和S23中的信號缺失，粗略圖象數(shù)據(jù)S11包括在期限(2)中從F-側(cè)X-射線探測器12的特定像素讀出的信號分量。關(guān)于L-側(cè)，主要包括在期限(4)中從L-側(cè)X-射線探測器22的特定像素52讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S22用于內(nèi)插。
(4-2)電壓讀出格式+清倉每次讀出型+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建該類型與(3-3)的不同主要在于圖象處理。如圖18所示，圖象處理通過重用重建代替空間校正加以執(zhí)行。在F-側(cè)上，特定像素的數(shù)據(jù)通過粗略圖象數(shù)據(jù)S11加以內(nèi)插，該特定像素導(dǎo)致了通過減法除去了散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13和S23中的信號缺失，粗略圖象數(shù)據(jù)S11包括在期限(2)中從F-側(cè)X-射線探測器12的特定像素讀出的信號分量。關(guān)于L-側(cè)，主要包括在期限(4)中從L-側(cè)X-射線探測器22的特定像素52讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S22用于內(nèi)插。
(5-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+雙層型該類型與(3-1)的不同主要在于圖象處理和清倉操作的時限。圖19顯示了清倉操作的時限，其顯示F-側(cè)和L-側(cè)X-側(cè)探測器12和22的第二層像素電容器電荷在期限(2)內(nèi)不重置。在圖象數(shù)據(jù)S12和S13在期限(4)中從F-側(cè)X-射線探測器12的第一和第二層讀出之后，并在X-射線在下一周期中從F-側(cè)輻射之前，執(zhí)行重置第一層和第二層像素電容器電荷的操作。類似地，在圖象數(shù)據(jù)S22和S23在期限(4)中從L-側(cè)X-射線探測器22的第一和第二層讀出之后，并在X-射線在下一周期中從L-側(cè)輻射之前，執(zhí)行重置第一層和第二層像素電容器電荷的操作。
因?yàn)槠谙?2)中F-側(cè)和L-側(cè)X-射線探測器12和22的第二層像素電容器的電荷，在期限(4)中讀出的粗略圖象數(shù)據(jù)S12和S22包括信號分量和散射分量。為了從圖象數(shù)據(jù)S12中除去信號分量以獲得散射分量，從包括信號分量和散射分量的圖象數(shù)據(jù)S12中減去主要包括信號分量的圖象數(shù)據(jù)S11。從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去由主要包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)S12轉(zhuǎn)換的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，從而獲得幾乎不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。L-側(cè)的圖象處理與(3-1)相同或相似。
(5-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正該類型與(3-2)的不同主要在于圖象處理和清倉操作的時限。如圖19所示的清倉，F(xiàn)-側(cè)和L-側(cè)X-射線探測器12和22第二層的像素電容器的電荷在期限(2)中不重置。為了從圖象數(shù)據(jù)S12中除去信號分量從而獲得散射分量，從包括信號分量和散射分量的圖象數(shù)據(jù)S12中減去主要包括信號分量的圖象數(shù)據(jù)S11。從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去由主要包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)S12轉(zhuǎn)換的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，從而獲得幾乎不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。當(dāng)對不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13執(zhí)行空間校正時，相應(yīng)于特定像素的數(shù)據(jù)被內(nèi)插。L-側(cè)的圖象處理與(3-2)相同或相似。
(5-3)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正該類型與(3-3)的不同主要在于圖象處理和清倉操作的時限。如圖19所示的清倉，F(xiàn)-側(cè)和L-側(cè)X-射線探測器12和22第二層的像素電容器的電荷在期限(2)中不重置。為了從圖象數(shù)據(jù)S12中除去信號分量從而獲得散射分量，從包括信號分量和散射分量的圖象數(shù)據(jù)S12中減去主要包括信號分量的圖象數(shù)據(jù)S11。從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去由主要包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)S12轉(zhuǎn)換的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，從而獲得幾乎不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。當(dāng)對不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13執(zhí)行空間校正時，相應(yīng)于特定像素的數(shù)據(jù)被內(nèi)插。L-側(cè)的圖象處理與(3-3)相同或相似。
(6-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+雙層型+低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與(5-1)的不同主要在于圖象處理。在(5-1)中，當(dāng)從包括信號分量和散射分量的圖象數(shù)據(jù)S12減去主要包括信號分量的圖象數(shù)據(jù)S11時，生成了主要包括散射分量但幾乎不包括信號分量的圖象數(shù)據(jù)。另一方面，在(6-1)中，通過像素跳讀計(jì)算(pixel skippingcalculation)或局部平均計(jì)算(local average calculation)將包括信號分量和散射分量的圖象數(shù)據(jù)S13的分辨率減少粗略圖象數(shù)據(jù)S11(通過低分辨率轉(zhuǎn)換)。當(dāng)從通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換的粗略圖象數(shù)據(jù)中減去主要包括信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)時，生成了主要包括散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)13。粗略圖象數(shù)據(jù)13轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，并且從精細(xì)圖象數(shù)據(jù)中減去該精細(xì)圖象數(shù)據(jù)13。借此，生成幾乎不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。L-側(cè)的圖象處理與(5-1)相同或相似。
(6-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正+低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與上文(5-2)的不同主要在于圖象處理。在(6-2)以及(6-1)中，通過像素跳讀計(jì)算或局部平均計(jì)算將包括信號分量和散射分量的圖象數(shù)據(jù)S13的分辨率減少粗略圖象數(shù)據(jù)S11。當(dāng)從通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換的粗略圖象數(shù)據(jù)中減去主要包括信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)時，生成了主要包括散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S13。主要包括散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S13被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13，并從未經(jīng)轉(zhuǎn)換的原始精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13減去該精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13。借此生成幾乎不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13。L-側(cè)的圖象處理與(5-2)相同或相似。
(6-3)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正+低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與(5-3)的不同主要在于圖象處理。在(6-3)以及(6-1)中，通過像素跳讀計(jì)算或局部平均計(jì)算將包括信號分量和散射分量的圖象數(shù)據(jù)S13的分辨率減少粗略圖象數(shù)據(jù)S11。當(dāng)從通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換的粗略圖象數(shù)據(jù)S13中減去主要包括信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11時，生成了主要包括散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S13。粗略圖象數(shù)據(jù)S13被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象，并從精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去該精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13。借此生成幾乎不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13。L-側(cè)的圖象處理與(5-3)相同或相似。
(7-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+雙層型+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與(6-1)的不同主要在于低分辨率轉(zhuǎn)換的算法。在(7-1)中，主要包括信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，并從包括信號圖象數(shù)據(jù)和散射數(shù)據(jù)的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去該精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。生成主要包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13，并從精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去該主要包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13。
(7-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+空間校正+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與(6-2)的不同主要在于低分辨率轉(zhuǎn)換的算法。精細(xì)轉(zhuǎn)換和減法的次序相對于(6-2)反轉(zhuǎn)。在(7-2)中，在主要包括信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)之后，從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去經(jīng)轉(zhuǎn)換的圖象數(shù)據(jù)。借此，從精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去主要包括散射分量的所生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13。
(7-3)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+空間校正+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與(6-3)的不同主要在于低分辨率轉(zhuǎn)換算法。精細(xì)轉(zhuǎn)換和減法的次序相對于(6-3)反轉(zhuǎn)。在(7-3)中，在主要包括信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)之后，從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去經(jīng)轉(zhuǎn)換的圖象數(shù)據(jù)。借此，從精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去主要包括散射分量的所生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13。
(8-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建該類型使用重用重建代替(5-2)中使用的空間校正。在(5-2)中，對通過減法獲得的幾乎不包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)S13執(zhí)行空間校正，并對相應(yīng)于特定像素的數(shù)據(jù)內(nèi)插。在(8-1)中，相應(yīng)于圖象數(shù)據(jù)S13上特定像素的幾乎不包括散射分量的數(shù)據(jù)被主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11內(nèi)插。
關(guān)于L-側(cè)，從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S22中減去主要包括在期限(2)中讀出的散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S21。借此生成主要包括信號分量的用于內(nèi)插的粗略圖象數(shù)據(jù)。通過使用所生成的主要包括信號分量的圖象數(shù)據(jù)，相應(yīng)于精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23上特定像素的幾乎不包括散射分量的數(shù)據(jù)被內(nèi)插。
(8-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建在該類型中，使用重用重建代替空間校正，這與(5-3)不同。在(5-3)中，相應(yīng)于特定像素的缺失數(shù)據(jù)通過對精細(xì)圖象數(shù)據(jù)的空間校正內(nèi)插，該精細(xì)圖象數(shù)據(jù)幾乎不包括散射分量并通過減法生成。在(8-2)中，相應(yīng)于幾乎不包括散射分量并且通過減法生成的圖象數(shù)據(jù)S13上特定像素的數(shù)據(jù)被主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的圖象數(shù)據(jù)S11內(nèi)插。
關(guān)于L-側(cè)，從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S22中減去主要包括在期限(2)中讀出的散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S21。借此生成主要包括信號分量的用于內(nèi)插的粗略圖象數(shù)據(jù)。通過使用所生成的主要包括信號分量的圖象數(shù)據(jù)，相應(yīng)于幾乎不包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23上特定像素的數(shù)據(jù)被內(nèi)插。
(9-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建+低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與(8-1)的不同主要在于如下要點(diǎn)。在(8-1)中，為了生成待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去的主要包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，通過從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S12中減去主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11生成主要包括散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)。在(9-1)中，包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換為粗略圖象數(shù)據(jù)S13，并從通過轉(zhuǎn)換生成的粗略圖象數(shù)據(jù)S13中減去主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去的散射分量。
類似地，關(guān)于L-側(cè)，包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換為粗略圖象數(shù)據(jù)，并從粗略圖象數(shù)據(jù)S23中減去主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S21。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23中減去的散射分量。
(9-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建+低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與(8-2)的不同主要在于如下要點(diǎn)。在(8-2)中，為了生成待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去的主要包括散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，通過從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S12中減去主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11生成主要包括散射分量的粗略圖象數(shù)據(jù)。在(9-2)中，包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換為粗略圖象數(shù)據(jù)，并從粗略圖象數(shù)據(jù)S13中減去主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去的散射分量。
類似地，關(guān)于L-側(cè)，包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換為粗略圖象數(shù)據(jù)，并從粗略圖象數(shù)據(jù)S23中減去主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S21。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23中減去的散射分量。
(10-1)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，獨(dú)立信號線)+重用重建+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換在(9-1)中，包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換為粗略圖象數(shù)據(jù)，并從通過轉(zhuǎn)換生成的粗略圖象數(shù)據(jù)S13中減去主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去的散射分量。在(10-1)中，主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，并從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去所生成的主要包括信號分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去的散射分量。
類似地，關(guān)于L-側(cè)，主要包括期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S21被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，并從包括信號分量和在期限(4)讀出的散射分量的精細(xì)象數(shù)據(jù)S23中減去所生成的主要包括信號分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)中減去的散射分量。
(10-2)電壓讀出格式+清倉每幀型+部分讀出型(單層，共用信號線)+重用重建+改良算法低分辨率轉(zhuǎn)換該類型與(9-2)的不同主要在于如下要點(diǎn)。在(9-2)中，包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13通過低分辨率轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)換為粗略圖象數(shù)據(jù)，并從粗略圖象數(shù)據(jù)S13中減去主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去的散射分量。
對比地，在(10-2)中，主要包括在期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S11被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，并從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去該精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S13中減去的散射分量。
類似地，關(guān)于L-側(cè)，主要包括期限(2)中讀出的信號分量的粗略圖象數(shù)據(jù)S21被轉(zhuǎn)換為精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，并從包括信號分量和在期限(4)讀出的散射分量的精細(xì)象數(shù)據(jù)S23中減去該精細(xì)圖象數(shù)據(jù)。借此生成精細(xì)圖象數(shù)據(jù)，其主要包括待從包括信號分量和在期限(4)中讀出的散射分量的精細(xì)圖象數(shù)據(jù)S23中減去的散射分量。
在上述用于從各自的方向獲得至少兩個X-射線圖象的X-射線診斷裝置實(shí)施例的至少一個中，減少了散射X-射線的影響或提高了幀速度。
本發(fā)明并不僅限于上述實(shí)施例，可以對其進(jìn)行各種修改而不背離廣義發(fā)明概念的精神和范圍。因此可以理解，在附屬權(quán)利要求的范圍內(nèi)，本發(fā)明的實(shí)踐可以與本文所特別說明的不同。盡管上述的實(shí)施例和修改可以包括各種步驟或各種元件，但是可以任意地選擇一個或多個步驟或元件。例如，可以省略實(shí)施例或修改所說明的一個或多個步驟或元件。
例如，X-射線探測器可以是直接改變型X-射線探測器，其將入射X-射線直接轉(zhuǎn)變?yōu)殡姾?，或者是間接轉(zhuǎn)變型，其將入射X-射線轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?，再將光信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡姾伞Ｔ谏衔闹?，解釋了使用包括TFT的固體平面探測器作為X-射線探測器，然而，可以使用其它的探測器，例如半導(dǎo)體型探測器或氣體型探測器。一種半導(dǎo)體型探測器包括例如用FET和Si布置的探測元件。一種氣體型探測器使用位于密封盒子，例如電離室，內(nèi)的氣體，以便將X-射線轉(zhuǎn)變?yōu)殡姾伞?br> 權(quán)利要求
1.一種用于為包括多個成像系統(tǒng)的X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該方法包括在從X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用多個X-射線探測器收集包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)；在從另一個X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用多個X-射線探測器以比所述圖象數(shù)據(jù)的收集時間更高的速度收集散射數(shù)據(jù)；和通過從包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去至少一個散射數(shù)據(jù)來獲得至少一個X-射線圖象。
2.一種用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括含有第一X-射線管和第一X-射線探測器的第一成像系統(tǒng)和含有第二X-射線管和第二X-射線探測器的第二成像系統(tǒng)，該方法包括在從第一X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第二X-射線探測器收集散射數(shù)據(jù)；在從第二X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第一X-射線探測器收集散射數(shù)據(jù)，隨后用第二X-射線探測器收集散射數(shù)據(jù)；用第一和第二X-射線探測器基本上同時地收集包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)；和通過從包括由第一和第二X-射線探測器收集的散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去由第一和第二X-射線探測器收集的散射數(shù)據(jù)獲得用第一成像系統(tǒng)和第二成像系統(tǒng)成像的X-射線圖象，其中散射數(shù)據(jù)的收集時間短于包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)的收集時間。
3.一種使用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括含有第一X-射線管和第一X-射線探測器的第一成像系統(tǒng)和含有第二X-射線管和第二X-射線探測器的第二成像系統(tǒng)，該方法包括在從第一X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第一和第二X-射線探測器基本上同時地收集散射數(shù)據(jù)；在從第二X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第一和第二X-射線探測器基本上同時地收集包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)；和通過從包括由第一和第二X-射線探測器收集的散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去由第一和第二X-射線探測器收集的散射數(shù)據(jù)獲得用第一成像系統(tǒng)和第二成像系統(tǒng)成像的X-射線圖象，其中散射數(shù)據(jù)的收集時間短于包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)的收集時間。
4.一種用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括含有第一X-射線管和第一X-射線探測器的第一成像系統(tǒng)和含有第二X-射線管和第二X-射線探測器的第二成像系統(tǒng)，該方法包括在從第一X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第一和第二X-射線探測器基本上同時地收集第一散射數(shù)據(jù)；在從第二X-射線管輻射出至少一束X-射線之后，用第一X-射線探測器收集第二散射數(shù)據(jù)，隨后用第二X-射線探測器收集第二散射數(shù)據(jù)，隨后用第一和第二X-射線探測器基本上同時地收集包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)；從第一散射數(shù)據(jù)中減去第二散射數(shù)據(jù)，借此獲得經(jīng)削減的散射數(shù)據(jù)；通過從包括由第一X-射線探測器收集的散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去該經(jīng)削減的散射數(shù)據(jù)獲得X-射線圖象；和通過從包括由第二X-射線探測器收集的散射分量的圖象數(shù)據(jù)中減去由第二X-射線探測器收集的散射數(shù)據(jù)獲得X-射線圖象，其中散射數(shù)據(jù)的收集時間短于包括散射分量的圖象數(shù)據(jù)的收集時間。
5.一種X-射線診斷裝置，包括多個X-射線管；和多個相應(yīng)于各自X-射線管的X-射線探測器，其中該多個X-射線探測器中的每一個包括用第一數(shù)目的探測元件收集圖象數(shù)據(jù)的第一圖象數(shù)據(jù)收集功能和用第二數(shù)目的探測元件收集圖象數(shù)據(jù)的第二圖象數(shù)據(jù)收集功能，該第二數(shù)目少于該第一數(shù)目。
6.根據(jù)權(quán)利要求5的X-射線診斷裝置，其中第二圖象數(shù)據(jù)收集功能中的探測元件分布范圍與第一數(shù)據(jù)收集功能中的探測元件分布范圍基本上相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求5的X-射線診斷裝置，其中X-射線探測器包括第一探測部件，其用于收集第一圖象數(shù)據(jù)；和第二探測部件，其用于收集第二圖象數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的X-射線診斷裝置，其中第二探測部件的探測范圍與第一探測部件的探測范圍基本上相同。
9.根據(jù)權(quán)利要求5的X-射線診斷裝置，其中X-射線探測器進(jìn)一步包括開關(guān)，所述開關(guān)設(shè)定為在第一圖象數(shù)據(jù)收集功能和第二圖象數(shù)據(jù)收集功能之間進(jìn)行轉(zhuǎn)換。
10.一種用于通過X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管，相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器，用于沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管，和相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器，該方法包括基于從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線用第二X-射線探測器收集第一圖象數(shù)據(jù)；基于從第二X-射線管輻射的至少一束X-射線用第一X-射線探測器收集第二圖象數(shù)據(jù)；基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線用第一X-射線探測器以低于第二圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第三圖象數(shù)據(jù)；基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線，與第三圖象數(shù)據(jù)的收集基本上同時地用第二X-射線探測器以低于第一圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第四圖象數(shù)據(jù)；用第二圖象數(shù)據(jù)除去包含在第三圖象數(shù)據(jù)中的散射分量；和用第一圖象數(shù)據(jù)除去包含在第四圖象數(shù)據(jù)中的散射分量。
11.根據(jù)權(quán)利要求10的用于獲得X-射線圖象的方法，其中第一圖象數(shù)據(jù)的空間分辨率低于第四圖象數(shù)據(jù)的空間分辨率。
12.根據(jù)權(quán)利要求11的用于獲得X-射線圖象的方法，其中第二圖象數(shù)據(jù)的空間分辨率低于第三圖象數(shù)據(jù)的空間分辨率。
13.根據(jù)權(quán)利要求10的用于獲得X-射線圖象的方法，其中第四圖象數(shù)據(jù)的收集在第一圖象數(shù)據(jù)的收集之后。
14.根據(jù)權(quán)利要求13的用于獲得X-射線圖象的方法，其中第三圖象數(shù)據(jù)的收集在第二圖象數(shù)據(jù)的收集之后。
15.根據(jù)權(quán)利要求14的用于獲得X-射線圖象的方法，進(jìn)一步包括基本上與第一圖象的收集同時地用第一X-射線探測器收集第五圖象數(shù)據(jù)。
16.根據(jù)權(quán)利要求15的用于獲得X-射線圖象的方法，其中包含在第三圖象數(shù)據(jù)中的散射分量的去除使用第五圖象數(shù)據(jù)。
17.根據(jù)權(quán)利要求16的用于獲得X-射線圖象的方法，進(jìn)一步包括基本上與第二圖象的收集同時地用第二X-射線探測器收集第六圖象數(shù)據(jù)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17的用于獲得X-射線圖象的方法，其中包含在第四圖象數(shù)據(jù)中的散射分量的去除使用第六圖象數(shù)據(jù)。
19.一種用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管，相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器，用于沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管，和相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器，該方法包括基于從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線用第二X-射線探測器收集第一圖象數(shù)據(jù)；基于從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線用第一X-射線探測器收集第二圖象數(shù)據(jù)；基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線用第一X-射線探測器收集第三圖象數(shù)據(jù)；基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線，與第三圖象數(shù)據(jù)的收集基本上同時地用第二X-射線探測器收集第四圖象數(shù)據(jù)；用第二圖象數(shù)據(jù)除去包含在第三圖象數(shù)據(jù)中的散射分量；和用第一圖象數(shù)據(jù)除去包含在第四圖象數(shù)據(jù)中的散射分量。
20.一種用X-射線診斷裝置獲得X-射線圖象的方法，該X-射線診斷裝置包括設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線的第一X-射線管，相應(yīng)于第一X-射線管的第一X-射線探測器，設(shè)定為沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線的第二X-射線管，和相應(yīng)于第二X-射線管的第二X-射線探測器，該方法包括從第一X-射線管輻射至少一束X-射線；基于從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線用第二X-射線探測器收集第一圖象數(shù)據(jù)；從第二X-射線管輻射至少一束X-射線；基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線用第二X-射線探測器以低于第一圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第二圖象數(shù)據(jù)；和用第一圖象數(shù)據(jù)除去包含在第二圖象數(shù)據(jù)中的散射分量。
21.一種X-射線診斷裝置，包括第一X-射線管，其設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線；第一X-射線探測器，其相應(yīng)于該第一X-射線管；第二X-射線管，其設(shè)定為沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線；第二X-射線探測器，其相應(yīng)于該第二X-射線管；控制器，其設(shè)定為基于從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第二X-射線探測器從而收集第一圖象數(shù)據(jù)，基于從第二X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第一X-射線探測器從而收集第二圖象數(shù)據(jù)，基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第一X-射線探測器從而以低于第二圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第三圖象數(shù)據(jù)，基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第二X-射線探測器從而與第三圖象數(shù)據(jù)的收集基本上同時地以低于第一圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第四圖象數(shù)據(jù)；和圖象處理器，其設(shè)定為用第二圖象數(shù)據(jù)除去包含在第三圖象數(shù)據(jù)中的散射分量，和用第一圖象數(shù)據(jù)除去包含在第四圖象數(shù)據(jù)中的散射分量。
22.一種X-射線診斷裝置，包括第一X-射線管，其設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線；第一X-射線探測器，其相應(yīng)于該第一X-射線管；第二X-射線管，其設(shè)定為沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線；第二X-射線探測器，其相應(yīng)于該第二X-射線管；控制器，其設(shè)定為基于從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第二X-射線探測器從而收集第一圖象數(shù)據(jù)，基于從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第一X-射線探測器從而收集第二圖象數(shù)據(jù)，基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第一X-射線探測器從而收集第三圖象數(shù)據(jù)，基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第二X-射線探測器從而與第三圖象數(shù)據(jù)的收集基本上同時地收集第四圖象數(shù)據(jù)；和圖象處理器，其設(shè)定為用第二圖象數(shù)據(jù)除去包含在第三圖象數(shù)據(jù)中的散射分量，和用第一圖象數(shù)據(jù)除去包含在第四圖象數(shù)據(jù)中的散射分量。
23.一種X-射線診斷裝置，包括第一X-射線管，其設(shè)定為沿第一方向輻射X-射線；第一X-射線探測器，其相應(yīng)于該第一X-射線管；第二X-射線管，其設(shè)定為沿不同于第一方向的第二方向輻射X-射線；第二X-射線探測器，其相應(yīng)于該第二X-射線管；控制器，其設(shè)定為控制第一X-射線管輻射至少一束X-射線，基于從第一X-射線管輻射的至少一束X-射線控制第二X-射線探測器從而收集第一圖象數(shù)據(jù)，控制第二X-射線管輻射至少一束X-射線，基于從第一和第二X-射線管輻射的X-射線控制第二X-射線探測器從而以低于第一圖象數(shù)據(jù)收集速度的速度收集第二圖象數(shù)據(jù)；和圖象處理器，其設(shè)定為用第一圖象數(shù)據(jù)除去包含在第二圖象數(shù)據(jù)中的散射分量。
全文摘要
一種為包括多個成像系統(tǒng)的X－射線診斷裝置獲得X－射線圖象的方法，包括在從第一成像系統(tǒng)內(nèi)的第一X－射線管輻射出X－射線之后，用第一X－射線探測器收集第一散射數(shù)據(jù)；在從第二成像系統(tǒng)內(nèi)的第二X－射線管輻射出X－射線之后，用第二X－射線探測器收集第二散射數(shù)據(jù)；在從第一成像系統(tǒng)內(nèi)的第三X－射線管輻射出X－射線之后，用X－射線探測器收集包括散射分量的第一圖象數(shù)據(jù)；在從第二成像系統(tǒng)內(nèi)的第四X－射線管輻射出X－射線之后，用X－射線探測器收集包括散射分量的第二圖象數(shù)據(jù)；和通過分別從包括散射分量的第一和第二圖象數(shù)據(jù)中減去第一和第二散射數(shù)據(jù)為第一和第二成像系統(tǒng)獲得X－射線圖象。
文檔編號A61B6/00GK1520781SQ20041000494
公開日2004年8月18日 申請日期2004年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2003年2月13日
發(fā)明者坂口卓彌, 塚本明 申請人:株式會社東芝, 東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會社