技術(shù)編號(hào):8359749
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。由于工藝、設(shè)備、輔材或操作的各種問(wèn)題使單晶硅棒在生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中或多或少的產(chǎn)生一部分黑心片,黑心片在后期電池片的生產(chǎn)上會(huì)帶來(lái)一定程度的效率損失。目前采用檢測(cè)黑心片的主要方法是采用進(jìn)口儀器WT-2000或者WT2000pvn系列檢測(cè)設(shè)備,采用整面測(cè)試,通過(guò)硅料切片整面的少子壽命分布圖來(lái)完成黑心片的檢測(cè)與判斷,此檢測(cè)方法優(yōu)點(diǎn)是直觀,可以通過(guò)檢測(cè)圖像一目了然的看出黑心片的存在,但是缺點(diǎn)是速度慢,環(huán)境要求高,檢測(cè)一片需要5到20分鐘時(shí)間,在大規(guī)??焖贆z測(cè)上存在一定局限...
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