技術(shù)編號:7535738
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本文中公開的實(shí)施方式一般涉及用于評估關(guān)于測量高電壓的模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)使用的各種電子設(shè)備的完好性(integrity)的裝置及方法。背景技術(shù)可能隨時(shí)間發(fā)生關(guān)于與模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)相關(guān)聯(lián)的各種部件的漂移。這樣的漂移可能影響由ADC獲得的各種示值讀數(shù)的準(zhǔn)確性并且普遍地需要關(guān)注。頒予den Breejen的第6,445,315號美國專利提供了由在可能相關(guān)的多個(gè)通道中的分離的ADC收集的測量數(shù)據(jù)。在這種情況下,數(shù)據(jù)可以被傳輸?shù)轿⒖刂破骰蚩删幊踢壿嬈骷?..
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路,無完整電路圖,適合研究學(xué)習(xí)。