技術(shù)編號：7207226
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。發(fā)明涉及一種用于X射線輻射的光電探測器，其中，把X射線輻射轉(zhuǎn)換為電荷。 背景技術(shù)在對X射線的檢測中，存在X射線輻射至電荷的直接和間接轉(zhuǎn)換，其中，間接的方 法具有至少如下的缺陷在此來自X射線輻射的光子首先在閃爍計數(shù)器中與一種材料的相 互作用，該材料最后呈現(xiàn)發(fā)射，該發(fā)射也產(chǎn)生散射光產(chǎn)生。由于散射光，間接的方法的分辨 率比直接的方法中的更差。在直接轉(zhuǎn)換中，可達到明顯更高的分辨率，因為沒有散射光而導致的不清晰。平板 掃描儀(FPD)的高的圖像分辨率，通過在光電二極...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。