技術(shù)編號:7057197
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種新型柵極接地NMOS結(jié)構(gòu)ESD保護(hù)器件及其制作方法,保護(hù)器件包括P型襯底,P型襯底內(nèi)有P阱區(qū),P阱內(nèi)注有第一P+區(qū)、第一N+區(qū)、第二N+區(qū)、第三N+區(qū)、第二P+區(qū),在P阱內(nèi)第二N+區(qū)的下方設(shè)有P型淺阱;第一N+區(qū)與第二N+區(qū)之間的P阱上方還有第二N+區(qū)與第三N+的P阱上方均有覆蓋柵氧化層,柵氧化層上方均有多晶硅;P阱上還覆蓋有若干氧化隔離層。本結(jié)構(gòu)在普通多指柵極接地NMOS的基礎(chǔ)上多了一層P型淺阱區(qū),可以降低NMOS的開啟電壓,提高NMOS...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。