技術(shù)編號：6769003
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于高頻數(shù)字測試領(lǐng)域，特別是一種高速動態(tài)隨機(jī)存儲器測試系統(tǒng)。背景技術(shù)計算機(jī)技術(shù)的發(fā)展對隨機(jī)動態(tài)存儲器的運行速度及存儲量提出更高的要求，而對 存儲器的各項電氣性能指標(biāo)進(jìn)行精確的測試是保證計算機(jī)系統(tǒng)可靠有效地運行的先決條 件。隨著動態(tài)隨機(jī)存儲器工作頻率的不斷提高，對于存儲器及存儲器模組的測試難度和測 試成本也隨之增加。事實上，隨著高速動態(tài)隨機(jī)存儲器的工作頻率越來越高，對于測試設(shè)備 的架構(gòu)及其電氣性能的要求也更為嚴(yán)苛。發(fā)明內(nèi)容為了解決現(xiàn)有技術(shù)的上述技術(shù)問題...
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