欧美在线观看视频网站,亚洲熟妇色自偷自拍另类,啪啪伊人网,中文字幕第13亚洲另类,中文成人久久久久影院免费观看 ,精品人妻人人做人人爽,亚洲a视频

一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):6769003閱讀:124來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于高頻數(shù)字測(cè)試領(lǐng)域,特別是一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)。背景技術(shù)
計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展對(duì)隨機(jī)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)器的運(yùn)行速度及存儲(chǔ)量提出更高的要求,而對(duì) 存儲(chǔ)器的各項(xiàng)電氣性能指標(biāo)進(jìn)行精確的測(cè)試是保證計(jì)算機(jī)系統(tǒng)可靠有效地運(yùn)行的先決條 件。隨著動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器工作頻率的不斷提高,對(duì)于存儲(chǔ)器及存儲(chǔ)器模組的測(cè)試難度和測(cè) 試成本也隨之增加。事實(shí)上,隨著高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器的工作頻率越來(lái)越高,對(duì)于測(cè)試設(shè)備 的架構(gòu)及其電氣性能的要求也更為嚴(yán)苛。

發(fā)明內(nèi)容為了解決現(xiàn)有技術(shù)的上述技術(shù)問(wèn)題,有必要提供一種低成本且高性能的高速動(dòng)態(tài) 隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明解決現(xiàn)有的技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案為一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試 系統(tǒng),包括測(cè)試設(shè)備,所述測(cè)試設(shè)備包括主板、與主板連接的驅(qū)動(dòng)板和與驅(qū)動(dòng)板連接的適配 板,所述驅(qū)動(dòng)板和適配板之間通過(guò)同軸電纜連接,所述主板輸出高頻信號(hào)到驅(qū)動(dòng)板后通過(guò) 同軸電纜輸出到所述適配板。本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)中,所述測(cè)試設(shè)備數(shù)量至少為一個(gè),所 述測(cè)試設(shè)備通過(guò)通用串行總線連接到計(jì)算機(jī)。本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)中,所述主板包括用于產(chǎn)生高頻測(cè)試信 號(hào)的可編程處理器,所述可編程處理器與驅(qū)動(dòng)板連接。本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)中,所述主板還包括延遲校準(zhǔn)電路,所 述可編程處理器經(jīng)由所述延遲校準(zhǔn)電路連接所述驅(qū)動(dòng)板,所述延遲校準(zhǔn)電路用于對(duì)可編程 處理器輸出的高頻信號(hào)進(jìn)行延遲處理。本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)中,所述可編程處理器包括多個(gè)信號(hào)發(fā) 生單元和與所述多個(gè)信號(hào)發(fā)生單元連接的并串/串并轉(zhuǎn)換器,所述可編程處理器采用并行 編程本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)中,所述主板還包括時(shí)鐘發(fā)生器和用于 對(duì)時(shí)鐘發(fā)生器輸出的時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行處理的時(shí)鐘處理電路。本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)中,所述驅(qū)動(dòng)板包括驅(qū)動(dòng)器和比較器, 所述同軸電纜一端連接到驅(qū)動(dòng)器,另一端連接所述適配板。本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)中,所述適配板包括插槽,所述同軸電 纜通過(guò)RF連接器連接到插槽,待測(cè)試器件在測(cè)試時(shí)也連接到插槽,測(cè)試信號(hào)通過(guò)同軸電纜 輸出到待測(cè)試器件。本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)中,所述插槽位置可根據(jù)待測(cè)試器件尺 寸規(guī)格不同進(jìn)行調(diào)整。
所述驅(qū)動(dòng)板個(gè)數(shù)為至少為二個(gè),所述至少二個(gè)驅(qū)動(dòng)板豎立設(shè)置在所述主板上,所 述適配板兩側(cè)分別通過(guò)連接器連接至少二個(gè)驅(qū)動(dòng)板。相較于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)采用同軸電纜進(jìn)線高 頻信號(hào)傳輸,有效避免了現(xiàn)有技術(shù)中電路板過(guò)孔、走線及電磁干擾的不良影響導(dǎo)致的高頻 信號(hào)衰減。并且采用同軸電纜,可以自由調(diào)整插槽的位置,從而滿足不同規(guī)格尺寸的待測(cè)試 器件測(cè)試需求。另外,本發(fā)明采用主板、驅(qū)動(dòng)板和適配板的分體設(shè)計(jì),可以有效的提高本發(fā) 明實(shí)用性且降低維護(hù)成本。比如,在需要測(cè)試不同器件時(shí),如存儲(chǔ)器芯片和存儲(chǔ)器模組,由 于待測(cè)試器件的規(guī)格不同,只需要更換適配板即可。另外,采用分體設(shè)計(jì),如果主板、驅(qū)動(dòng)板 和適配板某一部分發(fā)生故障,只需要更換對(duì)應(yīng)的電路板即可,而不需要像現(xiàn)有技術(shù)中需要 更換整個(gè)測(cè)試設(shè)備。此外,采用驅(qū)動(dòng)器和比較器的結(jié)構(gòu),可以很方便測(cè)試信號(hào)電壓和時(shí)序。 因此,本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)具有較低成本和較高性能。本發(fā)明從架構(gòu) 及測(cè)試電路上解決了高頻數(shù)字測(cè)試所面臨的難題。

圖1是本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)一較佳實(shí)施方式的方框示意圖。圖2是圖1所示測(cè)試設(shè)備的立體示意圖。圖3是圖1所示高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的時(shí)序調(diào)整方框示意圖。圖4是圖1所示可編程處理器的方框示意圖。
具體實(shí)施方式下面結(jié)合附圖和本發(fā)明的實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。請(qǐng)參閱圖1,是本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)一較佳實(shí)施方式的方框 示意圖。所述高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)10包括計(jì)算機(jī)11和與計(jì)算機(jī)11通過(guò)通用串 行總線接口(USB)連接的多個(gè)測(cè)試設(shè)備20。所述計(jì)算機(jī)11包括專(zhuān)用測(cè)試界面,測(cè)試人員可 通過(guò)所述計(jì)算機(jī)11獲取測(cè)試結(jié)果。請(qǐng)參閱圖2,是圖1所示測(cè)試設(shè)備20的立體示意圖。所述測(cè)試設(shè)備20包括主板 21、驅(qū)動(dòng)板22、適配板23和多條連接驅(qū)動(dòng)板22和適配板23的電纜200。本實(shí)施方式中,所 述驅(qū)動(dòng)板22個(gè)數(shù)為二個(gè),且分別豎立在主板21兩側(cè)。所述適配板23兩側(cè)分別通過(guò)連接器 24與所述驅(qū)動(dòng)板22連接。所述主板21通過(guò)USB連接到計(jì)算機(jī)11。本發(fā)明的變更實(shí)施方 式中,驅(qū)動(dòng)板22的個(gè)數(shù)為1個(gè)或多個(gè),所述主板21包括可編程處理器30、時(shí)鐘發(fā)生器40、時(shí)鐘處理電路50和延時(shí)校準(zhǔn) 電路60。所述驅(qū)動(dòng)板22包括驅(qū)動(dòng)器/比較器221。所述適配板23包括插槽25。所述電纜 200 一端連接到驅(qū)動(dòng)器/比較器221,另一端通過(guò)RF連接器連接到插槽25。在本實(shí)施方式 中,所述適配板23包括兩條插槽25,待測(cè)試器件(device under testing,DUT)如內(nèi)存芯片 或模組連接到插槽25上。所述電纜200是同軸電纜。在其他變更實(shí)施方式中,插槽25的 數(shù)量并不局限,可以是一個(gè)或者多個(gè)。由于采用了電纜200連接DUT和驅(qū)動(dòng)板22,在進(jìn)行測(cè)試時(shí),適配板23的插槽25可 以根據(jù)DUT尺寸寬度自由調(diào)節(jié)位置。由于電纜200采用同軸電纜,可以承受大于12GHz的 高頻率信號(hào)傳輸且?guī)缀鯖](méi)有信號(hào)衰減。另外,在做測(cè)試設(shè)備校正時(shí),是需要將同軸電纜聯(lián)接
4入RF連接器(射頻同軸連接器)和示波器之間即可進(jìn)行精確校準(zhǔn),而無(wú)需示波器探針。在 本實(shí)施方式中,所述驅(qū)動(dòng)板22還包括驅(qū)動(dòng)器/比較器221,可以對(duì)每一測(cè)試回路進(jìn)行驅(qū)動(dòng)電 壓、參考電壓及時(shí)序設(shè)置,從而可以很方便的測(cè)試信號(hào)電壓。由于高頻信號(hào)在線路傳輸過(guò)程中極易發(fā)生衰減和時(shí)序不一致,例如對(duì)于大于2GHz 的高頻信號(hào)測(cè)試來(lái)說(shuō),需要保證信號(hào)的時(shí)序一致顯得尤為重要。請(qǐng)同時(shí)參閱圖3,是圖1所 示高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的時(shí)序調(diào)整電路示意圖。所述可編程處理器30產(chǎn)生的高 頻信號(hào)輸出到延時(shí)校準(zhǔn)電路60,延時(shí)校準(zhǔn)電路60對(duì)各個(gè)通道的高頻信號(hào)進(jìn)行延時(shí)處理后 輸出到驅(qū)動(dòng)器221并進(jìn)而輸送到DUT。通過(guò)延時(shí)校準(zhǔn)電路60對(duì)信號(hào)時(shí)序進(jìn)行校準(zhǔn),使得輸 送到DUT的高頻信號(hào)具有較好的一致性。對(duì)于DUT送到可編程處理器30的信號(hào)可做同樣 處理,使其具有較好的時(shí)序一致性。請(qǐng)同時(shí)參閱圖4,是圖1所示可編程處理器30的方框示意圖。所述可編程處理器 30包括多個(gè)信號(hào)發(fā)生單元31和并串/串并轉(zhuǎn)換器32。所述多個(gè)信號(hào)發(fā)生單元31分別產(chǎn)生 一定頻率的信號(hào)并輸出到并串轉(zhuǎn)換器32,所述并串轉(zhuǎn)換器32將接收的多個(gè)信號(hào)作為并行 輸入,并輸出一串行的高頻信號(hào)到延遲校準(zhǔn)電路。所述可編程處理器30采用這種結(jié)構(gòu),有 效的利用多個(gè)較低頻率信號(hào)生成測(cè)試所需高頻信號(hào),例如對(duì)于1. 6GHz工作頻率的DUT的測(cè) 試,可編程處理器產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)頻率只需要800MHz或400MHz (采用4個(gè)400MHz信號(hào)發(fā) 生單元31)等即可。同理可得從DUT到可編程處理器30的反向工作原理,高頻信號(hào)從DUT 返回到可編程處理器30后進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換并輸出多路較低頻率信號(hào)。所述時(shí)鐘發(fā)生器40和所述時(shí)鐘處理電路50連接,由時(shí)鐘處理電路50直接提供 高精度的DQS信號(hào)。相較于現(xiàn)有技術(shù)通過(guò)可編程處理器輸出DQS信號(hào),所述時(shí)鐘處理電路 50 (fan out電路)可以提供低抖動(dòng)(jitter)的DQS信號(hào)。相較于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)10采用同軸電纜進(jìn) 線高頻信號(hào)傳輸,有效避免了現(xiàn)有技術(shù)中電路板過(guò)孔、走線及電磁干擾的不良影響導(dǎo)致的 高頻信號(hào)衰減。并且由于電纜200是同軸電纜,可以自由調(diào)整插槽25的位置,從而滿足不 同規(guī)格尺寸的DUT測(cè)試需求。另外,本發(fā)明采用主板21、驅(qū)動(dòng)板22和適配板23的分體設(shè) 計(jì),可以有效的提高本發(fā)明實(shí)用性且降低維護(hù)成本。比如,在需要測(cè)試不同器件時(shí),如內(nèi)存 芯片和內(nèi)存模組,由于DUT的規(guī)格不同,只需要更換適配板23即可。另外,采用分體設(shè)計(jì), 如果主板21、驅(qū)動(dòng)板22和適配板23某一部分發(fā)生故障,只需要更換對(duì)應(yīng)的電路板即可,而 不需要像現(xiàn)有技術(shù)中需要更換整個(gè)測(cè)試設(shè)備。此外,采用驅(qū)動(dòng)器和比較器的結(jié)構(gòu),可以很方 便得到信號(hào)電壓和時(shí)序的狀態(tài)。因此,本發(fā)明一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)具有較低 成本和較高性能。本發(fā)明從架構(gòu)及測(cè)試電路上解決了高頻數(shù)字測(cè)試所面臨的難題。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明所作的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明,不能認(rèn)定 本發(fā)明的具體實(shí)施只局限于這些說(shuō)明。對(duì)于本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在 不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干簡(jiǎn)單推演或替換,都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明的 保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于包括測(cè)試設(shè)備,所述測(cè)試設(shè)備包括主板、與主板連接的驅(qū)動(dòng)板和與驅(qū)動(dòng)板連接的適配板,所述驅(qū)動(dòng)板和適配板之間通過(guò)同軸電纜連接,所述主板輸出高頻信號(hào)到驅(qū)動(dòng)板后通過(guò)同軸電纜輸出到所述適配板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述測(cè)試設(shè)備 數(shù)量至少為一個(gè),所述測(cè)試設(shè)備通過(guò)通用串行總線連接到計(jì)算機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述主板包括 用于產(chǎn)生高頻測(cè)試信號(hào)的可編程處理器,所述可編程處理器與驅(qū)動(dòng)板連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述主板進(jìn)一 步包括延遲校準(zhǔn)電路,所述可編程處理器經(jīng)由所述延遲校準(zhǔn)電路連接所述驅(qū)動(dòng)板,所述延 遲校準(zhǔn)電路用于對(duì)可編程處理器輸出的高頻信號(hào)進(jìn)行延遲處理。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述可編程處 理器包括多個(gè)信號(hào)發(fā)生單元和與所述多個(gè)信號(hào)發(fā)生單元連接的并串/串并轉(zhuǎn)換器,所述可 編程處理器采用并行編程。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述主板進(jìn)一 步包括時(shí)鐘發(fā)生器和用于對(duì)時(shí)鐘發(fā)生器輸出的時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行處理的時(shí)鐘處理電路。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述驅(qū)動(dòng)板包 括驅(qū)動(dòng)器/比較器,所述同軸電纜一端連接到驅(qū)動(dòng)器/比較器,另一端連接所述適配板。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述適配板包 括插槽,所述同軸電纜通過(guò)RF連接器連接到插槽,待測(cè)試器件在測(cè)試時(shí)也連接到插槽,測(cè) 試信號(hào)通過(guò)同軸電纜輸出到待測(cè)試器件。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述插槽位置 可根據(jù)待測(cè)試器件尺寸規(guī)格不同進(jìn)行調(diào)整。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述驅(qū)動(dòng)板個(gè) 數(shù)為至少為二個(gè),所述至少二驅(qū)動(dòng)板豎立設(shè)置在所述主板上,所述適配板兩側(cè)分別通過(guò)連 接器連接至少二驅(qū)動(dòng)板。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種高速動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),其包括測(cè)試設(shè)備,所述測(cè)試設(shè)備包括主板、與主板連接的驅(qū)動(dòng)板和與驅(qū)動(dòng)板連接的適配板,所述驅(qū)動(dòng)板和適配板之間通過(guò)同軸電纜連接,所述主板輸出高頻信號(hào)到驅(qū)動(dòng)板后通過(guò)同軸電纜輸出到所述適配板。本發(fā)明具有高頻測(cè)試信號(hào)衰減小,制造和維護(hù)成本低,性能優(yōu)良的特點(diǎn)。
文檔編號(hào)G11C29/08GK101937720SQ20101016505
公開(kāi)日2011年1月5日 申請(qǐng)日期2010年5月7日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月7日
發(fā)明者張宇暉 申請(qǐng)人:深圳市憶嘉電子科技有限公司
網(wǎng)友詢問(wèn)留言 已有0條留言
  • 還沒(méi)有人留言評(píng)論。精彩留言會(huì)獲得點(diǎn)贊!
1
双峰县| 阿巴嘎旗| 丰台区| 南江县| 金塔县| 台北县| 达孜县| 平安县| 北流市| 永德县| 旅游| 宕昌县| 新余市| 宣恩县| 葫芦岛市| 揭阳市| 东乡县| 卢氏县| 嵊州市| 天长市| 桃园市| 大关县| 望谟县| 长子县| 丰县| 青龙| 徐水县| 荔浦县| 广东省| 白沙| 隆昌县| 桂东县| 通许县| 沙田区| 增城市| 永和县| 连山| 肃宁县| 电白县| 巴塘县| 富顺县|