技術(shù)編號：6764814
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開一種磁頭的測試方法，包括以下步驟（1）以與所述縱向偏壓場相同的第一方向向所述磁頭施加具有恒定強(qiáng)度的第一磁場，同時(shí)以穿過所述空氣承載面的第二方向施加具有變化強(qiáng)度的第二磁場，并測量第一噪聲；（2）以與所述第一方向相反的第三方向向所述磁頭施加具有恒定強(qiáng)度的第三磁場，同時(shí)施加具有所述第二方向的所述第二磁場，并測量第二噪聲；（3）分析所述第一噪聲和所述第二噪聲之間的噪聲變化。本發(fā)明能準(zhǔn)確檢測出具有不良噪聲特性及不穩(wěn)定性能的缺陷磁頭。專利說明磁頭測試方法及測...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼，用于學(xué)習(xí)原理，如您想要源代碼請勿下載。