技術(shù)編號：6323539
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種具有自我測試的電子裝置，且特別是有關(guān)于自我測試的電子裝置的測試模式控制器。背景技術(shù)目前市面上的所廣泛應(yīng)用的電子電路都以集成電路的方式實施于單一芯片上。在生產(chǎn)芯片時，除了考慮功效外，還會考慮芯片的使用面積與依據(jù)接腳數(shù)目所需要的封裝成本。據(jù)此，多數(shù)的制造商在生產(chǎn)芯片時，也會致力于減少芯片的使用面積和接腳數(shù)目。以下以傳統(tǒng)單節(jié)鋰電池保護(hù)電路為例，說明傳統(tǒng)芯片需要額外的測試接腳，以縮短傳統(tǒng)芯片的測試時間。請參照圖1，圖1是傳統(tǒng)單節(jié)鋰電池保護(hù)電路的電路圖...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。