技術(shù)編號(hào)：6114758
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及液晶顯示裝置、用于液晶顯示裝置的缺陷像素檢查方法、缺陷像素檢查程序、以及存儲(chǔ)介質(zhì)，更為特別地本發(fā)明涉及像素缺陷的檢查。背景技術(shù) 相關(guān)專利申請(qǐng)的交叉引用本發(fā)明包含的主題涉及于2005年6月13日在日本專利局提交的日本專利申請(qǐng)JP 2005-172222，該專利申請(qǐng)?jiān)诖吮灰米鳛閰⒖肌＝陙?lái)，顯示裝置迅速變薄，例如液晶裝置(LCD)已經(jīng)變得非常流行。由于這種液晶顯示裝置具有低剖面、重量輕、和低功耗的特點(diǎn)，其在諸如特別是移動(dòng)電話、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。