技術(shù)編號(hào):6111947
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及可見(jiàn)/近紅外光電材料光致發(fā)光特性測(cè)試方法及裝置,具體的說(shuō),主要是一種600-700nm附近波段傅立葉變換(FTIR)光致發(fā)光譜的方法及裝置。背景技術(shù) 基于傅立葉變換紅外光譜儀的光致發(fā)光譜是一種研究紅外半導(dǎo)體材料光電性能的先進(jìn)方法,它不僅能揭示材料的禁帶和帶尾態(tài)等電子帶結(jié)構(gòu),而且能提供雜質(zhì)和深能級(jí)缺陷等信息。然而,在可見(jiàn)/近紅外波段,由于傅立葉變換紅外光譜儀內(nèi)部用于光路準(zhǔn)直和采樣控制的氦氖(He-Ne)激光(波長(zhǎng)為632.8nm)的干擾,嚴(yán)重影響了...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。