技術(shù)編號：6091831
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。相關(guān)申請的交叉參考本申請要求于2003年7月23日提交的名稱為“用于優(yōu)化電子電路的測試和配置吞吐量(configuration throughput)的系統(tǒng)和方法”的美國臨時專利申請No.60/489,312的優(yōu)先權(quán)。關(guān)于聯(lián)邦政府贊助的研究或開發(fā)的陳述發(fā)明背景本申請通常涉及電子電路和系統(tǒng)的制造，尤其涉及實現(xiàn)電子電路(例如，集成電路(IC))、印制電路板(PCB)、以及電子分組件和系統(tǒng)的測試和配置吞吐量的提高的系統(tǒng)和方法。本公開的系統(tǒng)和方法采用利用平行測試結(jié)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。