技術(shù)編號(hào)：6003927
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子器件領(lǐng)域，更具體地，涉及一種對(duì)電子器件的電學(xué)特性之間的相關(guān)性進(jìn)行分析的方法以及對(duì)電子器件的結(jié)構(gòu)進(jìn)行優(yōu)化的方法。背景技術(shù)對(duì)于大多數(shù)電子器件例如集成電路(IC)器件尤其是大規(guī)模集成電路(LSIC)器件而言，存在著眾多的電學(xué)特性(例如，電流、電壓特性等)。確定不同電學(xué)特性之間的相關(guān)性，是對(duì)整個(gè)系統(tǒng)如集成電路器件進(jìn)行特性表征的基礎(chǔ)。已知的主要成分分析(Principal Components Analysis,PCA)方法是針對(duì)線性系統(tǒng)的，而無法用于...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。