技術(shù)編號：5952958
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā) 明涉及集成電路測試及測試電路領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種掃描測試方法及電路。背景技術(shù)隨著集成電路的芯片功能的增強(qiáng)和集成規(guī)模的不斷擴(kuò)大，尤其是片上系統(tǒng)(S0C，System On a Chip)的出現(xiàn)，芯片的測試變得越來越困難。為了達(dá)到一定的測試覆蓋率致使測試時(shí)間的不斷加長，從而導(dǎo)致測試費(fèi)用往往比設(shè)計(jì)費(fèi)用還要高。測試成本已成為產(chǎn)品開發(fā)成本的重要組成部分，并且測試時(shí)間的長短也直接影響到產(chǎn)品上市時(shí)間，進(jìn)而影響經(jīng)濟(jì)效益。解決芯片測試效率的最根本途徑是改變測試的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。