技術(shù)編號：5939215
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。使用單一樣品的X射線熒光分析的校準(zhǔn)程序描述于瑞典專利529264。目前的X射線光譜儀是具有許多部件的高度發(fā)達(dá)的儀器，所述部件被設(shè)計用來不僅為設(shè)置設(shè)備參數(shù)并且也為記錄測量參數(shù)提供方便。校準(zhǔn)待使用設(shè)備的工作是任何化學(xué)分析方法中費(fèi)時且重要的一部分。例如，其涉及設(shè)置所用設(shè)備參數(shù)，監(jiān)測已進(jìn)行的設(shè)置，或者換言之，監(jiān)測所用設(shè)備的操作可靠性，并且還涉及檢驗(yàn)已開發(fā)的化學(xué)分析方法及其說明文件。采用所提出的方法，所述工作能夠得到顯著簡化，借助其中已使用X射線熒光分析的簡單情況將...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。