技術(shù)編號：5935855
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及測試系統(tǒng)，具體涉及射頻集成電路測試系統(tǒng)。背景技術(shù)隨著集成電路的發(fā)展，越來越傾向于數(shù)?；旌蠁纹呻娐?。電路內(nèi)部通過數(shù)字功能模塊對模擬部分進行控制，因此對于集成電路的測試分析，首先需要驗證數(shù)字功能模塊部分，以達到通過數(shù)字功能模塊控制模擬部分的正常工作。由于不同的電路內(nèi)部集成的數(shù)字功能模塊并不一樣，其中包括I2C通信協(xié)議、SPI串行通信協(xié)議、邏輯電平控制等。而對于射頻集成電路，根據(jù)接收通道、發(fā)射通道與頻綜等不同的單元，其參數(shù)指標差異性較大。因此對...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。