技術(shù)編號(hào)：5882018
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明系關(guān)于一種測(cè)試結(jié)構(gòu)，特別是指一種可測(cè)試多種方向的漏電流路徑的測(cè)試結(jié)構(gòu)。背景技術(shù) 在電路保護(hù)的測(cè)試中，測(cè)試保護(hù)電路的漏電流是很重要的項(xiàng)目，若是漏電流過大，不但危及保護(hù)電路，也會(huì)導(dǎo)致測(cè)試的失敗。在一般的邏輯電路中，在一N型阱中，由于P型重?fù)诫s區(qū)與N型重?fù)诫s主動(dòng)區(qū)的間距小，可能導(dǎo)致P型重?fù)诫s區(qū)移動(dòng)至N型重?fù)诫s主動(dòng)區(qū)。當(dāng)N型重?fù)诫s區(qū)也以相同方向移動(dòng)時(shí)，N型重?fù)诫s區(qū)很有可能接近阱邊界區(qū)域，導(dǎo)致漏電流的形成。然而，通常用來測(cè)試漏電流路徑的一維的測(cè)試結(jié)構(gòu)，只能用來...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。