技術(shù)編號：5845987
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種接觸式功能測試裝置，其中芯片主要透過轉(zhuǎn)接板上的 探針及導(dǎo)電布電性連接電路板，以避免在量測過程中出現(xiàn)接觸不穩(wěn)固或高頻損失。爾抆不隨著電子產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，各種不同型式或功能的芯片亦不斷推陳出新。 在芯片開發(fā)的過程中，設(shè)計者必須將不同的芯片與相對應(yīng)的電路板上的電路 進(jìn)行連接，并進(jìn)行芯片的功能測試，最后再由測試的結(jié)果進(jìn)一步對新開發(fā)的 芯片進(jìn)行修正，以完成芯片的開發(fā)流程。如圖1所示，為現(xiàn)有的功能測試裝置的剖面示意圖。 一般在對芯片23進(jìn) 行測試的過...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。