技術(shù)編號(hào)：5833270
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種電壓測(cè)試方法，特別是涉及一種使用內(nèi)建式自我測(cè)試(built-in self test, BIST)，忮術(shù)的電壓測(cè)試方法。 背景技術(shù)集成電^各(integrated circuit, IC)裝置中通?？砂ǘ鄠€(gè)內(nèi)部電壓產(chǎn) 生源，用以產(chǎn)生電路運(yùn)作時(shí)所需的各個(gè)不同的電壓值。然而，由于集成電路 的工藝變化使得各個(gè)芯片中的電壓源可能產(chǎn)生差異，因此在芯片完成后，這 些電壓源需要再通過調(diào)整(trimming)電路進(jìn)行修正。調(diào)整電路可將這些內(nèi)部 電壓通過反復(fù)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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