技術(shù)編號：40639442
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于核材料元素測量，具體涉及一種測量鈾钚產(chǎn)品雜質(zhì)元素含量的快速分析方法。背景技術(shù)、在核材料鈾钚產(chǎn)品中含有微量或痕量的雜質(zhì)元素，包括mg、al、p、k、ca、ti、v、cr、mn、fe、ni、cu、zn、as、mo、pb、li、b、na、sr、ag、sn、sb、ba、bi、be、cd、th等。雜質(zhì)元素的含量對產(chǎn)品質(zhì)量控制和產(chǎn)品性能至關(guān)重要。因此，鈾钚產(chǎn)品雜質(zhì)元素含量的分析在核材料相關(guān)工藝及流程中具有非常重要的意義。、目前，核行業(yè)中采用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(icp-oes)測定鈾...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。