技術(shù)編號：40523989
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本技術(shù)涉及高低溫測試裝置，具體為一種隧道式多溫區(qū)高低溫測試裝置。背景技術(shù)、隨著半導體技術(shù)的發(fā)展，元器件的測試工作，特別是三溫測試（低溫、常溫、高溫，元器件在這三個溫度下進行功能測試）也倍受關(guān)注。目前通常的三溫測試方式主要有兩種，一種是箱外測試法，即是把元器件單獨放置在高、低溫測試箱中，分別保溫一定時間后取出查看測試結(jié)果。另一種是箱內(nèi)測試法，即是一個測試箱同時擁有高低溫，把即要測試的元器件及測試板放在一臺設(shè)備中完成測試。兩種測試均有不足之處，第一種在被測試的元器件從箱內(nèi)取出后，會有一個溫度回升的...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。