技術(shù)編號(hào):3335146
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及,屬于太陽能電池生產(chǎn)。背景技術(shù)在硅基薄膜太陽能電池實(shí)際生產(chǎn)過程 中,通常采用低壓化學(xué)氣相沉積(LPCVD)工藝進(jìn)行太陽能電池的透明導(dǎo)電電極一透明導(dǎo)電氧化物(TCO)的沉積。LPCVD設(shè)備通常由一個(gè)預(yù)加熱腔室、幾個(gè)工藝反應(yīng)腔室和一個(gè)冷卻卸載腔室組成,鍍膜襯底需要依次連續(xù)經(jīng)過上述幾個(gè)腔室完成LPCVD工藝。在進(jìn)行LPCVD工藝過程中,由于設(shè)備異常或生產(chǎn)過程控制不當(dāng)造成鍍膜襯底在腔室中等待,即LPCVD工藝中斷。鍍膜襯底在LPCVD設(shè)備中的等待時(shí)間...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。