技術(shù)編號：2547650
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及列驅(qū)動芯片的測試方法及系統(tǒng)，包括a.測試被測列片的各電壓端口之間的阻抗，均為開路則進行后續(xù)步驟；否則該列片為不良品終止后續(xù)測試；b.將被測列片插入顯示屏模組上尋址電極驅(qū)動板的插座，并接通各路電源。通過顯示屏模組上測試板測量被測列片的六個輸出測試點的電平是否為低，若是則進行后續(xù)步驟；否則為不良品，可終止后續(xù)測試。c.在測試板上將芯片使能端口和低輸出控制端口接邏輯電源，高壓輸出控制端口接邏輯地，測量被測列片的六個輸出測試點的電平是否為高，若是則進行后...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。