列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法及系統(tǒng)，包括：a.測試被測列片的各電壓端口之間的阻抗，均為開路則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則該列片為不良品終止后續(xù)測試；b.將被測列片插入顯示屏模組上尋址電極驅(qū)動(dòng)板的插座，并接通各路電源。通過顯示屏模組上測試板測量被測列片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)的電平是否為低，若是則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則為不良品，可終止后續(xù)測試。c.在測試板上將芯片使能端口和低輸出控制端口接邏輯電源，高壓輸出控制端口接邏輯地，測量被測列片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)的電平是否為高，若是則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則該列片為不良品，可終止后續(xù)測試。本發(fā)明能夠通過方便、靈活地對控制信號進(jìn)行調(diào)整的方式，充分滿足了列片各方面性能參數(shù)的測試需要。
【專利說明】列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法及系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及等離子顯示屏的測試方法和系統(tǒng)，具體的講是對等離子顯示屏中列驅(qū) 動(dòng)芯片的測試方法及系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002] 等離子顯示器（PDP)是目前市場上主流的平板顯示器件之一。PDP在進(jìn)行圖像顯 示時(shí)，需要對屏電極加載高壓大電流脈沖。列驅(qū)動(dòng)芯片（TCP，以下簡稱"列片"）的作用，就 是在低壓信號的控制下根據(jù)圖像數(shù)據(jù)向PDP屏的data (數(shù)據(jù)）電極提供一定周期規(guī)律的高 壓大電流脈沖，以實(shí)現(xiàn)各圖像單元周期性的放電發(fā)光和熄滅。
[0003] 列片的輸入控制信號包括低擺幅差分（RSDS)數(shù)據(jù)信號、時(shí)鐘、能量恢復(fù)使能 (CSE)、輸入選通（STB)、高壓輸出控制（P0C)、芯片使能（CE)、低輸出控制（BLK)等。
[0004] 目前，在對列片進(jìn)行必要的性能測試時(shí)，通常采用的方法是將列片綁定到屏玻璃 基板上，然后通過與PDP模組控制板、A板（尋址電極驅(qū)動(dòng)板）相連，得到列片工作所需的 時(shí)鐘、控制信號及電源。
[0005] 這種方式的缺點(diǎn)是：一方面被測列片所得到的時(shí)鐘及能量恢復(fù)使能（CSE)、輸入 選通（STB)等信號的頻率、相位要么是固定不可調(diào)的，要么是可調(diào)范圍較窄，無法滿足針對 某種特殊和極限狀態(tài)時(shí)的列片性能測試需要；另一方面，列片綁定上屏的工序耗時(shí)耗力耗 成本，若被測列片還處于"試制一驗(yàn)證一更改一再驗(yàn)證"循環(huán)的初始階段，沒必要每次都綁 定上屏后再做測試。比如，要對列片的能量恢復(fù)（ERC)功能進(jìn)行測試，則需要能量恢復(fù)使 能（CSE)信號能夠靈活地調(diào)整為高或低；又比如，輸入選通（STB)的下降沿和能量恢復(fù)使能 (CSE)的上升沿的間隔時(shí)間，決定了能量恢復(fù)（ERC)功能的開啟時(shí)間，進(jìn)而影響了"能量恢 復(fù)效率"這一重要參數(shù)指標(biāo)；而輸入選通（STB)的下降沿和能量恢復(fù)使能（CSE)的下降沿 的時(shí)間間隔，又決定了列片輸出電流能力這一重要指標(biāo)。
[0006] 所以做列片能量恢復(fù)（ERC)性能測試時(shí)，就要求這兩個(gè)輸入控制信號的相位差、 頻率和幅值能靈活可調(diào)。顯然，如果能量恢復(fù)使能（CSE)和輸入選通（STB)的相對相位差 固定不變，則無法根據(jù)需求完成測試。
[0007] 針對以上問題，在列片的試制初期或用戶的芯片認(rèn)證階段，有必要專門開發(fā)一個(gè) 測試系統(tǒng)，其產(chǎn)生的被測列片所需的各邏輯控制信號，既能滿足列片正常工作的需要，又能 實(shí)現(xiàn)控制信號的頻率、幅值、相位的靈活調(diào)整。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0008] 本發(fā)明提供了一種列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法及系統(tǒng)，通過方便、靈活地對控制信號 進(jìn)行調(diào)整的方式，來滿足列片各方面性能參數(shù)的測試需要。
[0009] 本發(fā)明列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，包括：
[0010] a.測試被測列片（待測試的列驅(qū)動(dòng)芯片）的邏輯電源與邏輯地之間的阻抗、高壓 驅(qū)動(dòng)電源與高壓地之間的阻抗、以及能量恢復(fù)外接電容端與高壓地之間的阻抗，如果均為 開路，則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則該列片為不良品，終止后續(xù)測試；
[0011] b.將被測列片插入顯示屏模組上的尋址電極驅(qū)動(dòng)板（等離子面板尋址電極高壓 驅(qū)動(dòng)板，簡稱A板）的插座，壓下探針夾具并接通各路電源。將顯示屏模組上測試板的芯片 使能端口接邏輯電源，低輸出控制端口接邏輯地，測量被測列片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)的電平 是否為低，若是則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則為不良品，可終止后續(xù)測試；
[0012] c.在所述測試板上將芯片使能端口和低輸出控制端口接邏輯電源，高壓輸出控制 端口接邏輯地，測量被測列片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)的電平是否為高，若是則進(jìn)行后續(xù)步驟；否 則該列片為不良品，可終止后續(xù)測試。
[0013] 先對被測列片的整體質(zhì)量是否合格進(jìn)行檢測，如果整體質(zhì)量存在不合格的情況， 則不需要再進(jìn)行后續(xù)測試，直接判定為不良品。當(dāng)整體質(zhì)量通過測試后，才進(jìn)行后續(xù)的各種 性能測試。
[0014] 在性能測試中，可選的一種測試為將所述測試版上的芯片使能端口、低輸出控制 端口和高壓輸出控制直接與顯示屏模組上的邏輯板的原始信號連接，將示波器第一通道的 電壓探頭接顯示屏模組掃描板上的一掃描脈沖輸出信號，完成列片工作的尋址期的觸發(fā)鎖 定；示波器的第二通道和第三通道的電壓探頭分別掛接在所述測試板上的能量恢復(fù)使能和 輸入選通的測試點(diǎn)上；示波器第四通道的電壓探頭通過夾具探針連接被測列片的任一輸出 測試點(diǎn)；
[0015] 將視頻信號發(fā)生器與所述邏輯板相連，通過視頻信號發(fā)生器輸出指定圖像，例如 "紅"、"綠"、"藍(lán)"、"白"、"隔點(diǎn)"、"隔行"等特殊圖像，測試被測列片單路輸出對應(yīng)所述指定圖 像時(shí)的能量恢復(fù)使能端口、輸入選通端口及列片輸出的電壓特性曲線。
[0016] 在此基礎(chǔ)上，設(shè)置所述測試板的可編程邏輯器件中的能量恢復(fù)使能信號頻率控制 器（CSE_F)、能量恢復(fù)使能信號占空比控制器（CSE_DC)、輸入選通信號頻率控制器（STB_ F)和輸入選通信號占空比控制器（STB_DC)的值，調(diào)整能量恢復(fù)使能端口和輸入選通端口 的頻率和占空比，再重復(fù)所述的電壓特性曲線測試，從而得到列片的輸出電壓追隨參數(shù)變 化的波形曲線，測定列片能量恢復(fù)的功能參數(shù)，包括最大、最小的能量恢復(fù)啟動(dòng)時(shí)間及效率 等。
[0017] 還可選的是，將示波器的第一通道和第二通道通過低壓差分探頭分別連接測試板 的CLK P/N及A1/2?A7/8 (CLKP/N指一對差分時(shí)鐘信號的兩個(gè)，CLKP為正差分信號，CLKN為與其 對應(yīng)的負(fù)差分信號；A 1/2?A7/8指第一對到第四對差分尋址數(shù)據(jù)信號，A1/2為第一對，A 7/8為 第四對。例如Ai為第一對中的正差分信號，A2為與其對應(yīng)的負(fù)差分信號）中的一對差分輸 入信號；示波器第三通道的電壓探頭接片選使能信號測試點(diǎn)（TP-CE測試點(diǎn)），示波器第四 通道的電壓探頭接被測列片的任一輸出測試點(diǎn)；
[0018] 調(diào)整視頻信號發(fā)生器，針對某一特定圖像，測出輸入差分時(shí)鐘和數(shù)據(jù)對的共模/ 差模電壓對應(yīng)的輸出電壓特性曲線，從而判定被測列片的數(shù)據(jù)傳輸性能是否正確，例如有 無漏傳數(shù)據(jù)頭或數(shù)據(jù)尾，是否存在數(shù)據(jù)干擾等。
[0019] 在上述基礎(chǔ)上，設(shè)置所述測試板的可編程邏輯器件中的差分時(shí)鐘信號頻率控制器 (CLK_F)、差分時(shí)鐘信號占空比控制器（CLK_DC)、片選信號頻率控制器（CE_F)和片選信號 占空比控制器（CE_DC)的值，調(diào)整時(shí)鐘端口和芯片使能端口的頻率和占空比，通過測試板 上的可調(diào)電阻（5ΚΩ?13ΚΩ)調(diào)整低擺幅差分共模電壓范圍；然后重復(fù)所述的判定被測列 片的數(shù)據(jù)傳輸性能是否正確的步驟，測試出被測列片對應(yīng)的輸出電壓特性曲線，從而測定 被測列片正確數(shù)據(jù)傳輸所需的適應(yīng)參數(shù)范圍。
[0020] 還可選的測試有，通過測試板上的可調(diào)電阻（5ΚΩ?13ΚΩ)調(diào)整低擺幅差分共 模電壓范圍（1. 0V?1. 5V)，觀察顯示屏上的圖像是否存在信號輸出的干擾點(diǎn)，從而得到被 測列片能夠正常顯示所需的低擺幅差分共模電壓的適應(yīng)范圍，檢測出被測列片的抗干擾能 力。
[0021] 進(jìn)一步的，將示波器第一通道的電壓探頭接被測列片的任一輸出測試點(diǎn)，示波器 的第四通道作為電流通道，其電流探頭環(huán)接于尋址電極驅(qū)動(dòng)板的高壓電源輸入導(dǎo)線上，調(diào) 整視頻信號發(fā)生器的輸出，測試出針對不同圖像時(shí)被測列片的功耗。
[0022] 當(dāng)需要測試被測列片的最大溫升、最大功耗時(shí)，可以通過視頻信號發(fā)生器輸入圖 像數(shù)據(jù)，將溫度測試儀的熱電偶傳感器探頭粘貼于被測列片上，并將顯示屏模組的電源板 輸出的掃描電壓通過可調(diào)電阻調(diào)至最高，將尋址電壓調(diào)至最高，點(diǎn)亮所述輸入圖像設(shè)定時(shí) 長后，從熱電偶溫度測試儀讀取此時(shí)被測列片表面的溫度值，測試出被測列片的最大溫升； 將示波器的電流探頭環(huán)接于尋址電極驅(qū)動(dòng)板的高壓電源輸入導(dǎo)線上，測得此時(shí)對應(yīng)于該輸 入圖像的輸入電流特性曲線和最大功耗。
[0023] 本發(fā)明還提供了一種用于上述測試方法的列驅(qū)動(dòng)芯片的系統(tǒng)，包括具有6個(gè)被測 試點(diǎn)的被測列片，還包括有顯示屏模組、視頻信號發(fā)生器、示波器、熱電偶溫度測試儀、探針 夾具和萬用表，其中被測列片通過探針夾具插接于顯示屏模組的尋址電極驅(qū)動(dòng)板上，萬用 表連接被測列片的各電源端口，熱電偶溫度測試儀連接于被測列片的表面，示波器分別連 接被測列片以及顯示屏模組中的列片測試板和掃描板，視頻信號發(fā)生器連接顯示屏模組中 的邏輯板，在顯示屏模組中，經(jīng)電源順序連接所述的邏輯板、列片測試板和尋址電極驅(qū)動(dòng) 板，電源還連接PDP面板的X電極高壓驅(qū)動(dòng)電路板（X板）和Y電極高壓驅(qū)動(dòng)電路板（Y板）， 掃描板與尋址電極驅(qū)動(dòng)板相連。
[0024] 其中顯示屏模組的列片測試板的一種具體結(jié)構(gòu)可以是，在所述顯示屏模組的列片 測試板中具有可編程邏輯器和外圍電路，其中外圍電路包括與所述可編程邏輯器相連的集 成電路總線端口、配置芯片端口、標(biāo)準(zhǔn)測試端口、可調(diào)電阻和振蕩器，以及連接邏輯板輸入 和尋址電極驅(qū)動(dòng)板的撥碼開關(guān)。
[0025] 本發(fā)明的列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法及系統(tǒng)，能夠通過方便、靈活地對控制信號進(jìn)行 調(diào)整的方式，充分滿足了列片各方面性能參數(shù)的測試需要。并且相對于專業(yè)的通用性的集 成電路測試設(shè)備，本發(fā)明是專用于等離子顯示屏（PDP)列片的測試和認(rèn)證，而且系統(tǒng)的成 本低廉，制作簡便，完全能夠滿足PDP模組制造廠家和列片研發(fā)部門對列片進(jìn)行系列性能 測試的需要。
[0026] 以下結(jié)合實(shí)施例的【具體實(shí)施方式】，對本發(fā)明的上述內(nèi)容再作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。 但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實(shí)例。在不脫離本發(fā)明上述技術(shù)思 想情況下，根據(jù)本領(lǐng)域普通技術(shù)知識和慣用手段做出的各種替換或變更，均應(yīng)包括在本發(fā) 明的范圍內(nèi)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0027] 圖1為本發(fā)明列驅(qū)動(dòng)芯片的測試系統(tǒng)的框圖。
[0028] 圖2為圖1中列片測試板的電路框圖。

【具體實(shí)施方式】
[0029] 本發(fā)明列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法及系統(tǒng)，通過調(diào)整列片測試板中的可編程邏輯器 FPGA內(nèi)部的寄存器值及外圍電路的參數(shù)，從而更改被測列片輸入控制信號的狀態(tài)、頻率、相 位、電壓幅度等，然后用各種設(shè)備測出對應(yīng)于不同視頻圖像的列片輸入及輸出電流、電壓、 芯片溫升、屏亮、色度等指標(biāo)，從而完成對該芯片的性能測試。
[0030] 實(shí)施例：
[0031] 如圖1所示本發(fā)明列驅(qū)動(dòng)芯片的測試系統(tǒng)，包括具有6個(gè)被測試點(diǎn)的被測列片，還 包括有顯示屏模組（PDP模組）、視頻信號發(fā)生器、示波器、熱電偶溫度測試儀、探針夾具和 萬用表，其中被測列片通過探針夾具插接于顯示屏模組的A板（尋址電極驅(qū)動(dòng)板）上，萬用 表連接被測列片的各電源端口，熱電偶溫度測試儀連接于被測列片的表面，示波器分別連 接被測列片以及顯示屏模組中的列片測試板和掃描板，視頻信號發(fā)生器連接顯示屏模組中 的邏輯板，在顯示屏模組中，經(jīng)電源順序連接所述的邏輯板、列片測試板和A板，電源還連 接X板（PDP面板的X電極高壓驅(qū)動(dòng)電路板）和Y板（PDP面板的Y電極高壓驅(qū)動(dòng)電路板）， 掃描板與A板相連。
[0032] 如圖2所示，其中顯示屏模組的列片測試板的具體結(jié)構(gòu)為，在所述顯示屏模組的 列片測試板中具有可編程邏輯器FPGA和外圍電路，其中外圍電路包括與所述可編程邏輯 器FPGA相連的集成電路總線端口 IIC、配置芯片端口、標(biāo)準(zhǔn)測試端口 JTAG、5KQ?13ΚΩ的 可調(diào)電阻和振蕩器，以及連接邏輯板輸入和A板的撥碼開關(guān)。撥碼開關(guān)分別為三種控制信 號提供三種狀態(tài)切換：邏輯1、邏輯〇、直通。可調(diào)電阻的輸入端還連接有1. 2V和3. 3V電 源，電源插座通過指示燈連接到所述的3. 3V電源上?？删幊踢壿嬈鱂PGA還設(shè)有重置電路。 可編程邏輯器FPGA需要具有支持低幅差分信號RSDS輸出的功能；標(biāo)準(zhǔn)測試JTAG接口和集 成電路總線IIC接口用于在線調(diào)整可編程邏輯器FPGA內(nèi)部寄存器值，從而更改輸出信號參 數(shù)。
[0033] 對被測列片進(jìn)行測試時(shí)，步驟為：
[0034] 1)連接測試系統(tǒng)的各電路組件，其中視頻信號發(fā)生器的輸出、分辨率及幀頻率調(diào) 至"60HZ場頻"和" 1024X 768分辨率"格式。
[0035] 2)用萬用表分別測試被測列片的邏輯電源VDDL與邏輯地GND、高壓電源端VDDH 與接地端VSS、能量恢復(fù)外接電容EC與接地端VSS的阻抗，若均為開路，則進(jìn)行后續(xù)步驟； 否則該列片為不良品，終止后續(xù)測試。
[0036] 3)將被測列片插入A板插座，壓下探針夾具，連接系統(tǒng)各組件并接通各路電源。通 過撥碼開關(guān)將能量恢復(fù)外接電容CE接邏輯電源VDDL，低輸出控制端口 BLK接邏輯地GND， 測量被測列片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)是否為低，若是則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則該列片為不良品，終 止后續(xù)測試。
[0037] 再通過撥碼開關(guān)將能量恢復(fù)外接電容CE、低輸出控制端口 BLK接邏輯電源VDDL， 高壓輸出控制P0C接邏輯地GND，此時(shí)測量被測列片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)是否為高，若是則進(jìn) 行后續(xù)步驟；否則該列片為不良品，終止后續(xù)測試。
[0038] 4)通過撥碼開關(guān)將能量恢復(fù)外接電容CE、低輸出控制端口 BLK、高壓輸出控制端 口 POC改為直通狀態(tài)，即直接與邏輯板的原始信號相連；將示波器的第一通道、第二通道、 第三通道、第四通道調(diào)整為電壓信號通道，其中第一通道探頭接PDP模組中掃描板上的掃 描脈沖輸出端，用來觸發(fā)鎖定列片工作的尋址期；第二通道、第三通道探頭分別掛接在列片 測試板上的能量恢復(fù)使能端口 CSE和輸入選通端口 STB測試點(diǎn)上；第四通道探頭接被測列 片六個(gè)輸出測試點(diǎn)中的任一路。
[0039] 5)將視頻信號發(fā)生器與邏輯板連接，接通電源開關(guān)，調(diào)整視頻信號發(fā)生器，選擇性 輸出"紅"、"綠"、"藍(lán)"、"白"、"隔點(diǎn)"、"隔行"等特殊圖像，此時(shí)可測出對應(yīng)各特殊圖像時(shí)的 能量恢復(fù)使能端口 CSE和輸入選通端口 STB及輸出電壓特性曲線，獲得如最大峰值V0UTppmax 和能量恢復(fù)端口 ERC開啟時(shí)間（輸入選通端口 STB下降沿到能量恢復(fù)使能端口 CSE下降 沿）、能量恢復(fù)端口 ERC效率（最大峰值V0UTppmax上升及下降沿出現(xiàn)臺階的位置比例）等參 數(shù)值。
[0040] 6)調(diào)整列片測試板的可編程邏輯器FPGA內(nèi)部寄存器及鎖相環(huán)設(shè)置參數(shù)，將能量 恢復(fù)使能端口 CSE的"高"狀態(tài)在60ns/75ns/88ns之間，輸入選通端口 STB的"高"狀態(tài)在 30ns/37ns/45ns之間進(jìn)行調(diào)整，然后重復(fù)第5)步驟，測試出對應(yīng)的能量恢復(fù)端口 ERC功能 參數(shù)的變化，從而得到該被測列片所允許的能量恢復(fù)端口 ERC開啟時(shí)間范圍和所能達(dá)到的 最大能量恢復(fù)效率。
[0041] 在線調(diào)整或固定寫入可編程邏輯器FPGA內(nèi)寄存器及鎖相環(huán)設(shè)置參數(shù)，將時(shí)鐘端 口 CLKP/N(CLKP/1^g-對差分時(shí)鐘信號的兩個(gè)，CLKP為正差分信號，CLK NS與其對應(yīng)的負(fù) 差分信號）的頻率分別設(shè)為133MHZ、150MHZ、200MHZ ;輸入選通端口 STB的周期分別設(shè)為 102MHZ、116MHZ、133MHZ，測試出相對應(yīng)的能量恢復(fù)端口 ERC的功能參數(shù)的變化，從而得到 該被測列片所能允許的時(shí)鐘及輸入選通端口 STB頻率范圍，以及所能達(dá)到的最大的能量恢 復(fù)能力。
[0042] 7)將示波器的第一通道、第二通道改接低壓差分探頭，分別連接列片測試板的時(shí) 鐘端口 CLKP/N&A1/2?A7/8(A1/2?A 7/8指第一對到第四對差分尋址數(shù)據(jù)信號，A1/2為第一對， A7/8為第四對。例如Ai為第一對中的正差分信號，A2為與其對應(yīng)的負(fù)差分信號）中的任一對 差分信號；第三通道接芯片使能端口 CE或高壓輸出控制端口 P0C或低輸出控制端口 BLK， 第四通道接被測列片上六個(gè)輸出測試點(diǎn)中的任一個(gè)。調(diào)整視頻信號發(fā)生器輸出為全白或其 它圖像時(shí)，相應(yīng)輸出電壓特性曲線等重要參數(shù)，從而測定數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性及具體的時(shí)序 參數(shù)，包括相對于時(shí)鐘的輸出延時(shí)（T phll、Tplhl)、相對于芯片使能端口 CE/高壓輸出控制端口 P0C/低輸出控制端口 BLK的輸出延時(shí)（Tphl2、Tplh2)、上升及下降時(shí)間（TMUt、T f(Mt)等。
[0043] 8)通過可編程邏輯器JTAG接口、集成電路總線IIC接口，在線調(diào)整或固定寫入 可編程邏輯器FPGA內(nèi)部寄存器及鎖相環(huán)的設(shè)置參數(shù)；調(diào)整列片測試板上的差模匹配可調(diào) 電阻（5ΚΩ?13ΚΩ)，將時(shí)鐘端口 〇^_的頻率設(shè)置在133MHZ/150MHZ/200MHZ、占空比在 4:3/3:4/5:2/2:5之間；芯片使能端口 CE為"高"的狀態(tài)在250ns/262ns/80ns之間；芯片 使能端口 CE的上升沿到第1及第32個(gè)數(shù)據(jù)信號邊沿的相對相位差、低擺幅差分RSDS共模 電壓在1. 0V/1. 25V/2. 0V、差模電壓在100mV/200mV/400mV之間進(jìn)行調(diào)整，然后重復(fù)第7)步 驟，測試對應(yīng)的輸出電壓特性曲線的變化，以便測定被測列片的數(shù)據(jù)傳輸時(shí)序適應(yīng)范圍。
[0044] 9)為能測出被測列片的實(shí)際點(diǎn)屏效果，以及最大溫升和最大功耗，將列片輸出端 通過熱壓綁定，與PDP屏玻璃基板上的數(shù)據(jù)電級相連，被測列片輸入端依然插入A板的插 座。
[0045] 示波器的第二通道接掃描板的單路掃描脈沖做觸發(fā)；第一通道的探頭改接被測列 片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)中的任一個(gè)；第四通道調(diào)整為電流測試通道，其電流探頭環(huán)接于電源 板到A板的電源輸入正極導(dǎo)線上；然后調(diào)整視頻信號發(fā)生器的輸出，測得被測列片的輸入 總電流I in-all在多個(gè)視頻幀周期內(nèi)的波形曲線，進(jìn)而得到電流有效值、最值、均值等參數(shù)，從 而測得被測列片在該輸入圖像顯示下對應(yīng)的功耗。
[0046] 10)將溫度測試儀的某一路熱電偶傳感器探頭粘貼于被測列片上，然后將PDP模 組系統(tǒng)電源板的掃描電壓調(diào)整至最高，將尋址電壓調(diào)整至最高，點(diǎn)亮輸入圖像1小時(shí)后，可 讀取此時(shí)被測列片表面的溫度值；可從示波器測得對應(yīng)于該輸入圖像的最大功耗。
[0047] 11)將視頻信號發(fā)生器的輸出場頻調(diào)至50HZ，重復(fù)以上步驟，測試此時(shí)對應(yīng)的列 片各項(xiàng)性能指標(biāo)。
[0048] 12)最后關(guān)閉各路電源，完成測試。
[0049] 以上步驟中，第9)、10)項(xiàng)的測試內(nèi)容，需將被測列片綁定在PDP屏玻璃基板上，其 它測試項(xiàng)，則不必綁定即可完成。
[0050] 不綁屏的測試方式可測定被測列片的邏輯控制、高壓驅(qū)動(dòng)輸出性能及相應(yīng)的參數(shù) 指標(biāo)，這在列片試制的初始階段是必不可少的測試內(nèi)容。綁屏后可測試被測列片的實(shí)際點(diǎn) 屏情況，及表面溫升、功耗等指標(biāo)，常用于研發(fā)中期或產(chǎn)品認(rèn)證階段。所以，總的測試順序是 先進(jìn)行不綁屏即可完成的步驟，然后再依據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行綁屏后的測試步驟。
【權(quán)利要求】
1. 列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，其特征包括： a. 測試被測列片的邏輯電源與邏輯地之間的阻抗、高壓驅(qū)動(dòng)電源與高壓地之間的阻 抗、以及能量恢復(fù)外接電容端與高壓地之間的阻抗，如果均為開路，則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則 該列片為不良品，終止后續(xù)測試； b. 將被測列片插入顯示屏模組上的尋址電極驅(qū)動(dòng)板的插座，壓下探針夾具并接通各路 電源。將顯示屏模組上測試板的芯片使能端口接邏輯電源，低輸出控制端口接邏輯地，測量 被測列片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)的電平是否為低，若是則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則為不良品，可終止 后續(xù)測試； c. 在所述測試板上將芯片使能端口和低輸出控制端口接邏輯電源，高壓輸出控制端口 接邏輯地，測量被測列片的六個(gè)輸出測試點(diǎn)的電平是否為高，若是則進(jìn)行后續(xù)步驟；否則該 列片為不良品，可終止后續(xù)測試。
2. 如權(quán)利要求1所述的列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，其特征為：將所述測試版上的芯片使 能端口、低輸出控制端口和高壓輸出控制直接與顯示屏模組上的邏輯板的原始信號連接， 將不波器第一通道的電壓探頭接顯不屏模組掃描板上的一掃描脈沖輸出信號，完成列片工 作的尋址期的觸發(fā)鎖定；示波器的第二通道和第三通道的電壓探頭分別掛接在所述測試板 上的能量恢復(fù)使能和輸入選通的測試點(diǎn)上；示波器第四通道的電壓探頭連接被測列片的任 一輸出測試點(diǎn)； 將視頻信號發(fā)生器與所述邏輯板相連，通過視頻信號發(fā)生器輸出指定圖像，測試被測 列片單路輸出對應(yīng)所述指定圖像時(shí)的能量恢復(fù)使能端口、輸入選通端口及列片輸出的電壓 特性曲線。
3. 如權(quán)利要求2所述的列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，其特征為：設(shè)置所述測試板的可編程 邏輯器件中的能量恢復(fù)使能信號頻率控制器、能量恢復(fù)使能信號占空比控制器、輸入選通 信號頻率控制器和輸入選通信號占空比控制器的值，調(diào)整能量恢復(fù)使能端口和輸入選通端 口的頻率和占空比，再重復(fù)所述的電壓特性曲線測試，從而得到列片的輸出電壓追隨參數(shù) 變化的波形曲線，測定列片能量恢復(fù)的功能參數(shù)。
4. 如權(quán)利要求1所述的列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，其特征為：將示波器的第一通道和第 二通道通過低壓差分探頭分別連接測試板的一對差分輸入信號；示波器第三通道的電壓探 頭接片選使能信號測試點(diǎn)，示波器第四通道的電壓探頭接被測列片的任一輸出測試點(diǎn)； 調(diào)整視頻信號發(fā)生器，針對某一特定圖像，測出輸入差分時(shí)鐘和數(shù)據(jù)對的共模/差模 電壓對應(yīng)的輸出電壓特性曲線，從而判定被測列片的數(shù)據(jù)傳輸性能是否正確。
5. 如權(quán)利要求4所述的列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，其特征為：設(shè)置所述測試板的可編程 邏輯器件中的差分時(shí)鐘信號頻率控制器、差分時(shí)鐘信號占空比控制器、片選信號頻率控制 器和片選信號占空比控制器的值，調(diào)整時(shí)鐘端口和芯片使能端口的頻率和占空比，通過測 試板上的可調(diào)電阻調(diào)整低擺幅差分共模電壓范圍；然后重復(fù)所述的判定被測列片的數(shù)據(jù)傳 輸性能是否正確的步驟，測試出被測列片對應(yīng)的輸出電壓特性曲線，從而測定被測列片正 確數(shù)據(jù)傳輸所需的適應(yīng)參數(shù)范圍。
6. 如權(quán)利要求1所述的列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，其特征為：通過測試板上的可調(diào)電阻 調(diào)整低擺幅差分共模電壓范圍，觀察顯示屏上的圖像是否存在信號輸出的干擾點(diǎn)，從而得 到被測列片能夠正常顯示所需的低擺幅差分共模電壓的適應(yīng)范圍，檢測出被測列片的抗干 擾能力。
7. 如權(quán)利要求1所述的列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，其特征為：將示波器第一通道的電壓 探頭接被測列片的任一輸出測試點(diǎn)，示波器的第四通道作為電流通道，其電流探頭環(huán)接于 尋址電極驅(qū)動(dòng)板的高壓電源輸入導(dǎo)線上，調(diào)整視頻信號發(fā)生器的輸出，測試出針對不同圖 像時(shí)被測列片的功耗。
8. 如權(quán)利要求1所述的列驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，其特征為：通過視頻信號發(fā)生器輸入 圖像數(shù)據(jù)，將溫度測試儀的熱電偶傳感器探頭粘貼于被測列片上，并將顯示屏模組的電源 板輸出的掃描電壓通過可調(diào)電阻調(diào)至最高，將尋址電壓調(diào)至最高，點(diǎn)亮所述輸入圖像設(shè)定 時(shí)長后，從熱電偶溫度測試儀讀取此時(shí)被測列片表面的溫度值，測試出被測列片的最大溫 升；將示波器的電流探頭環(huán)接于尋址電極驅(qū)動(dòng)板的高壓電源輸入導(dǎo)線上，測得此時(shí)對應(yīng)于 該輸入圖像的輸入電流特性曲線和最大功耗。
9. 用于權(quán)利要求1方法的列驅(qū)動(dòng)芯片的系統(tǒng)，包括具有6個(gè)被測試點(diǎn)的被測列片，其特 征為：還包括有顯示屏模組、視頻信號發(fā)生器、示波器、熱電偶溫度測試儀、探針夾具和萬用 表，其中被測列片通過探針夾具插接于顯示屏模組的尋址電極驅(qū)動(dòng)板上，萬用表連接被測 列片的各電源端口，熱電偶溫度測試儀連接于被測列片的表面，示波器分別連接被測列片 以及顯示屏模組中的列片測試板和掃描板，視頻信號發(fā)生器連接顯示屏模組中的邏輯板， 在顯示屏模組中，經(jīng)電源順序連接所述的邏輯板、列片測試板和尋址電極驅(qū)動(dòng)板，電源還連 接PDP面板的X電極高壓驅(qū)動(dòng)電路板和Y電極高壓驅(qū)動(dòng)電路板，掃描板與尋址電極驅(qū)動(dòng)板 相連。
10. 如權(quán)利要求9所述的列驅(qū)動(dòng)芯片的系統(tǒng)，其特征為：在所述顯示屏模組的列片測試 板中具有可編程邏輯器和外圍電路，其中外圍電路包括與所述可編程邏輯器相連的集成電 路總線端口、配置芯片端口、標(biāo)準(zhǔn)測試端口、可調(diào)電阻和振蕩器，以及連接邏輯板輸入和尋 址電極驅(qū)動(dòng)板的撥碼開關(guān)。
【文檔編號】G09G3/00GK104091554SQ201410218813
【公開日】2014年10月8日 申請日期:2014年5月22日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月22日
【發(fā)明者】李珣 申請人:四川長虹電器股份有限公司