技術(shù)編號(hào):12917251
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)高精度校準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域;具體涉及一種SAR(提升逐次逼近)型ADC的高精度校準(zhǔn)裝置。背景技術(shù)ADC作為溝通模擬和數(shù)字的橋梁被廣泛應(yīng)用于軍事和民用領(lǐng)域。SAR型ADC作為重要的ADC構(gòu)型,由于其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、功耗低、面積小等優(yōu)勢(shì)在便攜設(shè)備,航天器件等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。典型的SAR型ADC,包括:比較器,開(kāi)關(guān)電容陣列,橋接電容,冗余電容,采樣保持控制開(kāi)關(guān)和數(shù)字邏輯。其工作過(guò)程為,在開(kāi)關(guān)時(shí)序高電位階段,ADC工作在采樣階段,開(kāi)關(guān)電容陣列接輸入Vin;在開(kāi)關(guān)時(shí)序低電位階段,AD...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路,無(wú)完整電路圖,適合研究學(xué)習(xí)。