技術(shù)編號：12663772
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于透射電子顯微鏡原位測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種分體式透射電子顯微鏡樣品桿。背景技術(shù)透射電子顯微鏡用于納米材料的原位測試是當(dāng)前迅速發(fā)展的研究方向，透射電子顯微鏡樣品桿的改進(jìn)一直是原位測試領(lǐng)域中的熱點問題，也是推動原位測試技術(shù)的主要動力。原位測試即在電子顯微鏡中實時的觀察材料在特定條件下所發(fā)生的物理和化學(xué)等性質(zhì)的變化，透射電子顯微鏡中特殊的高真空環(huán)境、電磁環(huán)境和較小的極靴尺寸等因素，增加了透射電子顯微樣品桿的設(shè)計和加工的難度，因此透射電鏡樣品桿通常具有較高的價格，且絕大多數(shù)樣品桿需要進(jìn)口購置...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。