技術(shù)編號：12658614
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及高電壓絕緣子試驗技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及用于分析溫差與絕緣子閃絡(luò)特性關(guān)系的方法及裝置。背景技術(shù)絕緣子經(jīng)常會受到來自工廠地區(qū)或自然界鹽堿、粉塵的污染，此時絕緣子表面會形成污穢層。特別是在濕度較高或毛毛雨、霧、露、雪等不利的環(huán)境下，絕緣子表面容易快速積污并受潮，大大地增加了絕緣子閃絡(luò)的風險。在沿海地區(qū)，絕緣子的污染源主要來自海洋鹽霧、近海沙丘和鹽堿地塵土以及周圍工業(yè)地區(qū)的煙塵、粉塵。工業(yè)地區(qū)的污染物甚至含有一些復雜的化學成分，這些化學成分有可能會引起絕緣子表面積污速度的增加。近年來，一些學者通...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。