技術(shù)編號：12611673
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于鋁電解電容器檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于測試電容器內(nèi)爆或短路的測試電路。背景技術(shù)在產(chǎn)品制造過程中，難免出現(xiàn)鋁箔切邊不整齊產(chǎn)生毛刺、電解紙雜質(zhì)等缺陷，然而有毛刺或電解紙雜質(zhì)的位置耐壓遠低于正常值，老化過程中隨著充電電壓不斷提高，一旦電壓到達擊穿臨界點就產(chǎn)生尖端放電，初期表現(xiàn)為閃火，后期就有可能發(fā)生爆炸，也有少量產(chǎn)品不一定會發(fā)生爆炸，但其實閃火現(xiàn)象就已經(jīng)存在爆炸的重大隱患，而閃火現(xiàn)象從產(chǎn)品外觀上不會有任何表現(xiàn)，這即是我們所說的“電容器內(nèi)爆”。因此，我們需要通過開發(fā)一套新的測試方法和手段，...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。