技術(shù)編號(hào)：12359369
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明大體上涉及集成電路技術(shù)。具體地說，本發(fā)明涉及芯片設(shè)計(jì)和驗(yàn)證，尤其是涉及一種用于加速芯片仿真和調(diào)試的方法以及配置成用于實(shí)現(xiàn)所述方法的芯片測(cè)試系統(tǒng)。背景技術(shù)在當(dāng)前的硅芯片設(shè)計(jì)中，由于設(shè)計(jì)復(fù)雜程度增加導(dǎo)致設(shè)計(jì)成本增加。隨著芯片的門數(shù)增加，設(shè)計(jì)復(fù)雜程度和成本也顯著增加。同時(shí)，由于要求增多以及激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)，芯片產(chǎn)品更新?lián)Q代非?？欤酒瑥S商不得不縮短芯片設(shè)計(jì)周期，以便盡快將芯片產(chǎn)品市場(chǎng)化并且贏得競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。隨著芯片設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)復(fù)雜程度增加，編譯和模擬時(shí)間變得越來越長(zhǎng)，并且大多數(shù)編譯和模擬被用來進(jìn)行缺陷追...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。