技術(shù)編號：12156221
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于集成電路領(lǐng)域，涉及一種應(yīng)用于反熔絲FPGA的老煉篩選技術(shù)，隨著集成電路的不斷發(fā)展，電子設(shè)備的復(fù)雜化和智能化程度越來越高，同時(shí)，其質(zhì)量可靠性問題也越來越顯著。老煉篩選技術(shù)作為半導(dǎo)體器件可靠性篩選的一種重要試驗(yàn)手段，可以有效激發(fā)集成電路存在的電性能軟故障缺陷，進(jìn)而篩選、剔除失效電路，降低電路的故障率。背景技術(shù)隨著時(shí)代的進(jìn)步，科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，不僅提高了各國的經(jīng)濟(jì)實(shí)力和人們的生活水平，同時(shí)對亙古不變的主題“戰(zhàn)爭與和平”也有重要影響，電子科技水平的高低直接決定了一個(gè)國家立足世界的核心競爭力。...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。