技術(shù)編號：11822027
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及外徑千分尺校檢設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種大型外徑千分尺固定式校檢裝置。背景技術(shù)外徑千分尺(OUTSIDEMICROMETER)常簡稱為千分尺，主要由固定的尺架、測砧、測微螺桿、固定套管、微分筒、測力裝置、鎖緊裝置等組成，是一種比游標(biāo)卡尺更精密的長度測量。未來確保外徑千分尺測量結(jié)果的準(zhǔn)確性，需要定期對其進(jìn)行校檢?，F(xiàn)有的校檢方式都是人工進(jìn)行校檢，人工檢驗難以找到測量面平行度，檢驗結(jié)果的可靠性差。發(fā)明內(nèi)容基于上述背景技術(shù)存在的技術(shù)問題，本發(fā)明提出一種大型外徑千分尺固定式校檢裝置。本發(fā)明提出了...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。