技術(shù)編號(hào)：11706300
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光電器件技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種測試裝置。背景技術(shù)平板探測器是數(shù)字平板X射線成像系統(tǒng)(DigitalRadiography，DR)的核心部件，它實(shí)現(xiàn)將X射線能量轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。目前，采用的平板探測器主要有兩種：非晶硒平板探測器和非晶硅平板探測器，從能量轉(zhuǎn)換的方式來看，前者屬于直接轉(zhuǎn)換平板探測器，后者屬于間接轉(zhuǎn)換平板探測器。對(duì)于非晶硅平板探測器，其包含的非晶硅薄膜晶體管結(jié)構(gòu)在沒有X線照射的情況下，仍會(huì)積累暗電流因而會(huì)造成圖像偽影。因此，這種平板探測器在應(yīng)用時(shí)，平板探測器需隨時(shí)和高壓發(fā)生器溝...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。