技術編號：11675957
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明尤其涉及材料發(fā)射率測量系統(tǒng)中的黑體及樣品加熱裝置的結構改進。背景技術光譜發(fā)射率是表征物體熱輻射能力的無量綱物理量，數值上等于物體與相同溫度黑體之間的輻射能量比，表征了材料發(fā)射率與輻射波長之間的依賴關系，發(fā)射率測量值大小說明物體在不同光譜區(qū)域輻射能力的強弱，對促進輻射測溫技術的發(fā)展，提高高溫輻射材料的理論設計水平和實際制備工藝具有重要的現實意義和良好的應用前景。光譜發(fā)射率測量方法主要有多光譜法、反射計法和能量法。能量法也稱能量比較法，通過測量相同溫度的物體與黑體輻射能量，計算兩者的比值，實現...
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