技術(shù)編號(hào)：11512885
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種3D投影掃描測(cè)試設(shè)備。背景技術(shù)最早出現(xiàn)的是接觸式測(cè)量方法，代表是三維坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，雖然精度達(dá)到微米量級(jí)（0.5mm），但是由于體積巨大、造價(jià)高以及不能測(cè)量柔軟的物體等缺點(diǎn)，使其應(yīng)用領(lǐng)域受到限制。于是出現(xiàn)了非接觸式測(cè)量方法，主要分兩類：一類是被動(dòng)方式，就是不需要特定的光源，完全依靠物體所處的自然光條件進(jìn)行掃描，常采用雙目技術(shù)，但是精度低，只能掃描出有幾何特征的物體，不能滿足很多領(lǐng)域的要求；另一類是主動(dòng)方式，就是向物體投射特定的光，其中代表技術(shù)激光線式的掃描，精...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。