技術(shù)編號(hào):10532847
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。隨著X射線熒光技術(shù)的不斷完善,帶動(dòng)X射線熒光光譜儀設(shè)備的發(fā)展。作為一種快速、準(zhǔn)確、經(jīng)濟(jì)、無(wú)損的物質(zhì)元素組成分析方法,已被廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、建材、礦勘、石油、化工、電氣、生物、醫(yī)療、刑偵、考古、奢侈品鑒定等諸多領(lǐng)域。樣品探測(cè)裝置是X射線熒光光譜儀中的重要部件?,F(xiàn)有技術(shù)中的探測(cè)裝置,其樣品倉(cāng)采用一體式固定平面結(jié)構(gòu)測(cè)試面板和固定不可調(diào)的定位系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè),對(duì)待測(cè)樣品表觀形貌要求較高,僅適用于平面形態(tài)的待測(cè)樣品。而對(duì)于特殊非平面型的待測(cè)樣品,測(cè)試時(shí)不平整的待檢底...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。