專利名稱：自發(fā)光顯示模塊及其缺陷狀態(tài)檢驗(yàn)方法、含該模塊的設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種自發(fā)光顯示模塊，其具備將例如有機(jī)EL(電致發(fā)光)元件作為自發(fā)光元件用于像素的發(fā)光顯示板、以及對此進(jìn)行點(diǎn)亮驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置；特別是涉及一種具備能夠?qū)ι鲜霭l(fā)光顯示板中主要在自發(fā)光元件中發(fā)生缺陷的狀態(tài)進(jìn)行檢驗(yàn)的功能的自發(fā)光顯示模塊以及同模塊中的缺陷狀態(tài)檢測方法。
背景技術(shù)：
目前所提供的很多電子設(shè)備中附帶著顯示器，這種顯示器作為支撐信息社會的設(shè)備的人機(jī)接口是必不可缺的。上述顯示器在例如醫(yī)療器械和飛機(jī)的計(jì)量儀器等顯示故障有可能危及生命的領(lǐng)域里，相對于便攜式電話或汽車音響之類的消費(fèi)型設(shè)備中所采用的顯示器，要求其顯示具有嚴(yán)格的可靠性。
例如，在醫(yī)療用品的注射器中，如果顯示注射量的數(shù)字顯示部分發(fā)生掃描線方向上的漏光，就會發(fā)生無法判斷所顯示的數(shù)字是0還是8的問題。另外，顯示小數(shù)點(diǎn)的像素部分不亮的話數(shù)字的位數(shù)就會顯示錯(cuò)誤，也會發(fā)生沒留心就讀取了數(shù)值的問題。用戶將這樣的故障狀態(tài)的顯示誤認(rèn)為是正常的從而繼續(xù)使用這樣的設(shè)備是極其危險(xiǎn)的，會導(dǎo)致重大問題。
因此，上述電子設(shè)備所用的顯示器要在產(chǎn)品出廠前半成品的狀態(tài)時(shí)檢查顯示板上排列的各個(gè)像素的缺陷狀態(tài)，判斷其缺陷程度能否滿足搭載它的產(chǎn)品的基準(zhǔn)(例如，參照專利文獻(xiàn)1)。
專利第3437152號公報(bào)另外，上述專利文獻(xiàn)1所公開的發(fā)明是在成品出廠前半成品狀態(tài)時(shí)對顯示板各像素實(shí)施評價(jià)，其目課題是利用有機(jī)EL顯示器的用于檢查的驅(qū)動(dòng)電路，提供能夠獲得高可靠性的評價(jià)結(jié)果的評價(jià)裝置。
利用上述專利文獻(xiàn)1所公開的評價(jià)裝置時(shí)，雖然能夠在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的問題，在將有缺陷的顯示板交付用戶之前采取對策，但是這種顯示器在成品出廠后，在顯示單元工作中潛伏著顯示板上排列的像素出現(xiàn)新缺陷的問題。
因此，為了將這樣的缺陷降至最小程度以確保可靠性，采用了各種對策。但是，要克服顯示器工作時(shí)發(fā)生的像素缺陷、以及克服其他的上述驅(qū)動(dòng)裝置等發(fā)生缺陷的問題，存在著很多技術(shù)課題，要提供在產(chǎn)品出廠后不發(fā)生上述缺陷的顯示模塊不得不說是很困難的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明著眼于上述的實(shí)際問題，目的是提供一種自發(fā)光顯示模塊以及同模塊中缺陷狀態(tài)的檢驗(yàn)方法，在自發(fā)光顯示模塊內(nèi)具備能夠檢驗(yàn)上述顯示板有無缺陷的檢驗(yàn)裝置，當(dāng)發(fā)生像素缺陷時(shí)，通過將這種狀態(tài)通知給使用者來防止錯(cuò)誤顯示信息傳達(dá)給使用者。
為達(dá)成上面目的所實(shí)施的本發(fā)明的自發(fā)光顯示模塊，其具備自發(fā)光顯示單元，該單元包括在掃描線和數(shù)據(jù)線的交點(diǎn)位置矩陣式排列有包括具備二極管特性的自發(fā)光元件的像素的發(fā)光顯示板、以及有選擇地驅(qū)動(dòng)上述發(fā)光顯示板中的各個(gè)自發(fā)光元件發(fā)光的驅(qū)動(dòng)裝置；故障檢測裝置，用來檢測上述自發(fā)光顯示單元中的故障；以及存儲裝置，保存上述故障檢測裝置的檢測結(jié)果，其特征在于，上述故障檢測裝置具備在上述自發(fā)光元件的不發(fā)光狀態(tài)下對該元件的陰極一側(cè)施加反偏電壓的反偏電壓施加裝置、以及在對上述自發(fā)光元件的陰極一側(cè)施加反偏電壓狀態(tài)下判斷該元件陽極一側(cè)的電位是否大于等于規(guī)定值的電位判定裝置，利用上述電位判定裝置檢測上述自發(fā)光顯示單元中的故障。
另外，為達(dá)成以上目的所實(shí)施的本發(fā)明的自發(fā)光顯示模塊中故障狀態(tài)的檢測方法，該發(fā)光顯示模塊具備自發(fā)光顯示單元，該單元包括在掃描線和數(shù)據(jù)線的交點(diǎn)位置矩陣式排列多個(gè)包括具備二極管特性的自發(fā)光元件的像素的發(fā)光顯示板、以及有選擇地驅(qū)動(dòng)上述發(fā)光顯示板中的各個(gè)自發(fā)光元件發(fā)光的驅(qū)動(dòng)裝置；故障檢測裝置，用來檢測上述自發(fā)光顯示單元中的故障；以及存儲裝置，保存上述故障檢測裝置的檢測結(jié)果，其特征在于，上述故障檢測裝置執(zhí)行以下步驟反偏電壓施加步驟，對上述發(fā)光顯示板上任意一條掃描線施加反偏電壓；電位判定步驟，在施加上述反偏電壓的狀態(tài)下，通過數(shù)據(jù)線得到上述元件陽極一側(cè)的電位，并且判定上述元件陽極一側(cè)的電位是否大于等于規(guī)定值；以及判定結(jié)果保存步驟，將由上述電位判定步驟得到的判定結(jié)果保存到上述存儲裝置。


圖1是表示本發(fā)明的自發(fā)光顯示單元的一個(gè)實(shí)例的電路結(jié)構(gòu)圖。
圖2是說明圖1所示的自發(fā)光顯示單元中用來檢測故障的檢測裝置和存儲裝置的結(jié)構(gòu)例的電路結(jié)構(gòu)圖。
圖3是表示利用圖2所示的數(shù)據(jù)寄存器所保存的數(shù)據(jù)的缺陷位置判定裝置和缺陷通知裝置的連接結(jié)構(gòu)例的框圖。
具體實(shí)施例方式
下面，基于圖示的實(shí)施方式說明本發(fā)明的自發(fā)光顯示模塊。此外，本發(fā)明的自發(fā)光顯示模塊具備自發(fā)光顯示單元，其包括將多個(gè)自發(fā)光元件作為像素排列為矩陣形狀而成的發(fā)光顯示板、以及有選擇地驅(qū)動(dòng)該發(fā)光顯示板上的各個(gè)自發(fā)光元件點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)裝置；檢測自發(fā)光顯示單元的故障的故障檢測裝置；保存此檢測結(jié)果的存儲裝置。此外，在以下所說明的實(shí)施方式中，作為自發(fā)光元件，以采用將有機(jī)材料用于發(fā)光層的有機(jī)EL元件為例。
上述的有機(jī)EL元件可以置換為具備二極管電氣特性的發(fā)光元件和與該發(fā)光元件并聯(lián)結(jié)合的寄生電容成分結(jié)構(gòu)，有機(jī)EL元件也可以是電容性的發(fā)光元件。該有機(jī)EL元件按正向施加發(fā)光驅(qū)動(dòng)電壓時(shí)，首先相當(dāng)于該元件電容的電荷作為位移電流流入電極積聚下來。接著，當(dāng)超過該元件固有的恒定電壓(發(fā)光閾值電壓＝Vth)時(shí)，開始從一側(cè)的電極(二極管成分的陽極一側(cè))流向構(gòu)成發(fā)光層的有機(jī)層，以與此電流強(qiáng)度成比例的強(qiáng)度發(fā)光。
另一方面，有機(jī)EL元件的電流·亮度特性相對于溫度變化很穩(wěn)定，而電壓·亮度特性相對于溫度變化卻不穩(wěn)定，另外，有機(jī)EL元件受到“過電流”時(shí)會嚴(yán)重退化，發(fā)光壽命縮短，因此，一般使用恒定電流驅(qū)動(dòng)。作為使用有機(jī)EL元件的顯示板，已經(jīng)提出的有將EL元件成矩陣排列的被動(dòng)式矩陣型的顯示板、以及通過TFT(thin filmtransistor薄膜晶體管)驅(qū)動(dòng)矩陣排列的各個(gè)EL元件點(diǎn)亮的有源式矩陣型顯示板。
圖1以被動(dòng)式矩陣型顯示板為例表示了本發(fā)明的自發(fā)光模塊的實(shí)施方式。該被動(dòng)式矩陣驅(qū)動(dòng)方式中的有機(jī)EL元件的驅(qū)動(dòng)方法有陰極線掃描·陽極線驅(qū)動(dòng)、陽極線掃描·陰極線驅(qū)動(dòng)兩種，圖1所示結(jié)構(gòu)表示了前者——陰極線掃描·陽極線驅(qū)動(dòng)形式。即，n條作為數(shù)據(jù)線的陽極線A1～An沿縱向(列方向)排列；m條作為掃描線的陰極線K1～Km沿橫向(行方向)排列；各個(gè)交叉位置(共計(jì)n×m處)配置有用二極管標(biāo)識符記號所示的有機(jī)EL元件E11～Enm，構(gòu)成顯示板1。
其次，構(gòu)成像素的各EL元件E11～Enm，與沿縱向的陽極線A1～An和沿橫向的陰極線K1～Km交叉的位置對應(yīng)，一端(EL元件的等價(jià)二極管的陽極端子)連接陽極線；另一端(EL元件的等價(jià)二極管的陰極端子)連接陰極線。進(jìn)一步，各陽極線A1～An與作為構(gòu)成點(diǎn)亮驅(qū)動(dòng)裝置的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器的陽極線驅(qū)動(dòng)電路2連接，各陰極線K1～Km同樣的，與作為構(gòu)成點(diǎn)亮驅(qū)動(dòng)裝置的掃描驅(qū)動(dòng)器的陰極線掃描電路3連接，分別被驅(qū)動(dòng)。
上述陽極線驅(qū)動(dòng)電路2具備例如利用由DC-DC轉(zhuǎn)換器形成的升壓電路(未圖示)產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)電壓VH進(jìn)行工作的恒流源I1～I(xiàn)n，以及驅(qū)動(dòng)開關(guān)Sa1～San；驅(qū)動(dòng)開關(guān)Sa1～San連接在上述恒流源I1～I(xiàn)n一側(cè)，由此，來自恒流源I1～I(xiàn)n的電流就供給到對應(yīng)陰極線配置的各個(gè)EL元件E11～Enm。另外，該實(shí)施方式中如果來自恒流源I1～I(xiàn)n的電流不供給到各個(gè)EL元件時(shí)，上述驅(qū)動(dòng)開關(guān)Sa1～San可以將上述各陽極線連接到開放端子，或者連接到作為基準(zhǔn)電位點(diǎn)的地電位GND。
另外，上述陰極線掃描電路3對應(yīng)各陰極線K1～Km具備掃描開關(guān)Sk1～Skm，防止串?dāng)_發(fā)光的反偏電壓VM和作為基準(zhǔn)電位點(diǎn)的上述地電位GND中的任意一個(gè)連接到相對應(yīng)的陰極線。由此，按規(guī)定周期將陰極線設(shè)定在基準(zhǔn)電位點(diǎn)(地電位)上，將恒流源I1～I(xiàn)n連接到所希望的陽極線A1～An上，由此有選擇地使上述各EL元件發(fā)光。
此外，上述陽極線驅(qū)動(dòng)電路2和陰極線掃描電路3上通過包含CPU的控制器IC4連接了控制總線。根據(jù)控制器IC4所供應(yīng)的要顯示的影象信號，對上述掃描開關(guān)Sk1～Skm和驅(qū)動(dòng)開關(guān)Sa1～San進(jìn)行切換操作。由此，根據(jù)影象信號將陰極掃描線按規(guī)定周期設(shè)定到地電位上，并將恒流源I1～I(xiàn)n連接到所希望的陽極線上。因此，上述各發(fā)光元件有選擇地發(fā)光，并在顯示板1上顯示根據(jù)上述影象信號的圖像。
圖1所示的狀態(tài)為第2陰極線K2被設(shè)定到地電位處于掃描狀態(tài)，此時(shí)非掃描狀態(tài)的陰極線K1、K3～Km上施加上述反偏電位VM。另外，圖1所示狀態(tài)下所有驅(qū)動(dòng)開關(guān)Sa1～San都在各恒流源I1～I(xiàn)n側(cè)被選擇，因此陰極連接到第2陰極線K2的各EL元件，全部處于點(diǎn)亮狀態(tài)。此外，將掃描狀態(tài)的上述EL元件控制為沒有點(diǎn)亮?xí)r，驅(qū)動(dòng)開關(guān)Sa1～San被連接到作為基準(zhǔn)電位點(diǎn)的地電位GND一側(cè)。以上是有關(guān)自發(fā)光顯示單元處于發(fā)光驅(qū)動(dòng)模式時(shí)的說明。
此外，當(dāng)處于發(fā)光驅(qū)動(dòng)模式時(shí)，掃描發(fā)光狀態(tài)下EL元件的正向電壓假定為VF時(shí)，各電位設(shè)定為[(正向電壓VF)-(反偏電壓VM)]＜(發(fā)光閾值電壓Vth)的關(guān)系。由此，被驅(qū)動(dòng)的陽極線和未被掃描選擇的陰極線(非掃描狀態(tài)的陰極線)交點(diǎn)上連接的各EL元件上會被施加小于等于元件的發(fā)光閾值電壓Vth的電壓，可以起到防止EL元件串?dāng)_發(fā)光的作用。
以上所說明的發(fā)光顯示板1、作為驅(qū)動(dòng)裝置的陽極線驅(qū)動(dòng)電路2、陰極線掃描電路3和控制器IC4就構(gòu)成了自發(fā)光顯示單元。該圖1所示的自發(fā)光顯示模塊，還具備用來檢測上述自發(fā)光顯示單元中故障的故障檢測裝置、保存該故障檢測裝置所判定的檢測結(jié)果的存儲裝置。
下面，基于圖2所示的實(shí)施方式來說明上述故障檢測裝置和存儲裝置的結(jié)構(gòu)。根據(jù)上述陽極線驅(qū)動(dòng)電路2與發(fā)光顯示板1上各陽極線A1～An的連接位置，引出各自的檢查線TL1～TLn；該檢查線TL1～TLn上的電位分別供給到圖2所示的構(gòu)成了故障檢測裝置的各電位判定裝置J1～Jn。
在圖2所示的實(shí)施方式中，上述電位判定裝置J1～Jn分別對應(yīng)發(fā)光顯示板1的各陽極線A1～An；限于圖2幅面，只表示了陽極線A1，即連接到檢查線TL1的電位判定裝置J1和陽極線An，也就是接到檢查線TLn的電位判定裝置Jn的電路構(gòu)成。此外，上述各電位判定裝置J1～Jn全部是同一電路結(jié)構(gòu)，以下以第1電位判定裝置J1的電路結(jié)構(gòu)為代表進(jìn)行說明。
經(jīng)檢查線TL1供應(yīng)的檢測電位被供給到發(fā)揮轉(zhuǎn)接開關(guān)功能的符號Q11所示的n溝道型晶體管的源極。此外，晶體管Q11的漏極與符號Q21所示的n溝道晶體管的漏極相連接，另外，上述晶體管Q21的源極與基準(zhǔn)電位點(diǎn)——地電位GND相連接。另一方面，發(fā)揮轉(zhuǎn)接開關(guān)功能的上述晶體管Q11的柵極上，由控制端子(Count)供給有控制電壓，另外，上述晶體管Q21的柵極上經(jīng)過反相器IN1供給有邏輯電平反轉(zhuǎn)后的控制電壓。
上述晶體管Q11的漏極和晶體管Q21的漏極的連接點(diǎn)處與符號Q31所示的n溝道型晶體管柵極相連接，該晶體管Q31的源極與地電位GND相連接。另一方面，晶體管Q31的漏極經(jīng)由發(fā)揮壓降元件作用的電阻R11與邏輯工作電源VDD相連接。此外，上述邏輯工作電源VDD與比較器CP1的反轉(zhuǎn)輸入端子結(jié)合在一起，而比較器CP1的非反轉(zhuǎn)輸入端子與經(jīng)過上述電阻R11的晶體管Q31的漏極相連接。
來自上述電位判定裝置J1的比較器CP1的輸出供給到鎖存電路LC1，利用輸入到該鎖存電路LC1的鎖存脈沖，將比較器CP1的輸出鎖存。此外，鎖存電路LC1的各個(gè)鎖存輸出會供給到構(gòu)成存儲裝置的數(shù)據(jù)寄存器11，能夠保存到該數(shù)據(jù)寄存器11里。
此外，對應(yīng)于圖2中省略了其圖示的各個(gè)電位判定裝置J1～Jn分別有各自的以上說明的鎖存電路，各個(gè)鎖存電路LC1～LCn同時(shí)接收到上述鎖存脈沖，此時(shí)的輸出分別保存在數(shù)據(jù)寄存器11里。
上述結(jié)構(gòu)的自發(fā)光顯示模塊可以切換為已經(jīng)說明的發(fā)光驅(qū)動(dòng)模式和此后要說明的檢測模式，例如接入工作電源后、或者在未接入工作電源的狀態(tài)下，可以利用定期的或者人為的外部操作在任意時(shí)間切換為上述檢測模式。
當(dāng)切換到上述檢測模式時(shí)，根據(jù)上述控制器IC4發(fā)出的指示，陽極線驅(qū)動(dòng)電路2的驅(qū)動(dòng)開關(guān)Sa1～San全部切換到開放端子一側(cè)。另外，根據(jù)同樣的控制器IC4發(fā)出的指示，陰極線掃描電路3的掃描開關(guān)Sk1～Skm的任意一個(gè)連接到反偏電壓VM一側(cè)，其他的掃描開關(guān)連接到地電位GND一側(cè)。
即，上述掃描開關(guān)Sk1～Skm和反偏電壓VM構(gòu)成了切換到檢測模式后的反偏電壓施加裝置。這里，例如假定只有掃描開關(guān)Sk1連接到反偏電壓VM一側(cè)，其他的掃描開關(guān)都連接到地電位GND一側(cè)，則可以檢驗(yàn)陽極連接到第1掃描線K1的各個(gè)EL元件是否存在故障。
即，對應(yīng)第1掃描線K1的各個(gè)EL元件中，如果某一個(gè)發(fā)生了短路，對應(yīng)于該EL元件的陽極線上就會產(chǎn)生上述VM電位。換句話說，如果對應(yīng)于第1掃描線K1的各個(gè)EL元件都正常，則各陽極線A1～An不會發(fā)生上述VM電位。
另一方面，切換到上述檢測模式時(shí)，經(jīng)由控制端子(Count)，向構(gòu)成圖2所示的故障檢測裝置的各電位判定裝置J1～Jn上供給控制電壓。在這種情況下，上述控制端子上供給“H”(High)電平的控制電壓，因此，第1電位判定裝置J1中的發(fā)揮轉(zhuǎn)接開關(guān)功能的上述晶體管Q11變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)。另外，上述晶體管Q21的柵極經(jīng)由反相器IN1被供給了邏輯電平反轉(zhuǎn)的“L”(Low)電平的控制電壓，變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài)。
因此，經(jīng)過第1檢測線TL1供應(yīng)到陽極線A1的電位，經(jīng)由晶體管Q11供給到構(gòu)成開關(guān)元件的晶體管Q31的柵極。這里，如果加到晶體管Q31的柵極電位大于等于晶體管Q31的閾值電壓，即被開啟。因此，伴隨著晶體管Q31的啟動(dòng)，電流就流入發(fā)揮壓降元件作用的電阻R11里，于是比較器CP1的輸出由“+”(正)變?yōu)椤?”(負(fù))。
這時(shí)，鎖存脈沖就供給到鎖存電路LC1，此時(shí)的鎖存數(shù)據(jù)“-”就保存在作為存儲裝置的數(shù)據(jù)寄存器11里。這里，當(dāng)數(shù)據(jù)寄存器11中保存的上述鎖存數(shù)據(jù)是“-”時(shí)，判定為發(fā)光顯示板1的EL元件E11發(fā)生了短路故障，當(dāng)上述鎖存數(shù)據(jù)是“+”時(shí)判定為EL元件E11是正常狀態(tài)。
以上說明了第1電位判定裝置J1的作用和此時(shí)的數(shù)據(jù)寄存器11中的鎖存數(shù)據(jù)保存狀況，上述作用在經(jīng)由各檢查線TL1～TLn的各數(shù)據(jù)線A1～An中同時(shí)執(zhí)行。
此外，上述電位判定裝置J1在發(fā)光驅(qū)動(dòng)模式時(shí)，對控制端子供給“L”電平的控制電壓。由此晶體管Q11變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài)，同時(shí)晶體管Q21變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)。因此，晶體管Q31成為截止?fàn)顟B(tài)，其結(jié)果是阻止了邏輯工作電源VDD引起的不斷流向電阻R11的電流。
以上說明了在上述檢測模式下以第1掃描線K1為對象檢驗(yàn)各EL元件故障時(shí)的例子，例如，下一個(gè)幀(或者一個(gè)子幀)期間內(nèi)再次切換到檢測模式，就可以檢測對應(yīng)于下一掃描線的各EL元件的故障。依照此種方式，在所有的掃描線和各數(shù)據(jù)線的組合中重復(fù)各個(gè)檢驗(yàn)，完成對排列在顯示板1上的各EL元件的一系列檢驗(yàn)。此外，上述一系列的檢驗(yàn)可以再次定期執(zhí)行，或利用人為的外部操作在任意時(shí)間內(nèi)執(zhí)行。
圖3表示的結(jié)構(gòu)是，利用上述保存在數(shù)據(jù)寄存器11里的各檢測結(jié)果，即上述鎖存電路LC1～LCn的鎖存輸出，來確定故障(缺陷)存在位置，與此相應(yīng)以啟動(dòng)相應(yīng)的缺陷通知裝置。即，圖3所示的符號11，表示了圖2所示的數(shù)據(jù)寄存器，保存在該數(shù)據(jù)寄存器11中對應(yīng)于各掃描線的鎖存輸出，用于符號12所示的缺陷位置判定裝置。此外，依據(jù)缺陷判定裝置12所判定出來的缺陷位置來驅(qū)動(dòng)缺陷通知裝置13。
在上述數(shù)據(jù)寄存器11中，如已經(jīng)說明的一次保存對應(yīng)于一條掃描線的各鎖存輸出，就能夠以圖狀展開的狀態(tài)為每一條掃描線保存這些內(nèi)容。因此，可以檢測因?yàn)轱@示板上排列的EL元件導(dǎo)致的所有像素的發(fā)光故障，也可以檢測出故障EL元件的位置(坐標(biāo)值)。
根據(jù)上述缺陷判定裝置12判定出來的缺陷位置，缺陷通知裝置13會被驅(qū)動(dòng)；這種情況下，例如即使判定像素發(fā)生了缺陷，但是如果其缺陷位置位于不太可能導(dǎo)致看錯(cuò)顯示的位置，就不啟動(dòng)缺陷通知裝置13，而可以繼續(xù)使用。另外，在例如像素的缺陷位于顯示小數(shù)點(diǎn)的位置的情況下，即使缺陷的像素?cái)?shù)很小，也有必要啟動(dòng)缺陷通知裝置13。這樣的選擇，最好是依據(jù)搭載該自發(fā)光顯示模塊的設(shè)備進(jìn)行適當(dāng)設(shè)定。
上述的缺陷通知裝置13可以采用例如類似蜂鳴器的聽覺通知方法，也可以顯示在顯示板1上發(fā)生故障的通知信息?；蛘咭部梢酝ㄟ^關(guān)閉顯示板1的顯示，明確表示故障的發(fā)生。在這種情況下，例如飛機(jī)上使用的計(jì)量器(meter)等不允許關(guān)閉顯示的情況下，可以考慮采用適當(dāng)改變顯示位置的方法。
在以上說明的實(shí)施方式中，雖然使用有機(jī)EL元件作為自發(fā)光元件，但并不限于有機(jī)EL元件，也可以使用其他的電流驅(qū)動(dòng)的自發(fā)光元件。另外，上述的包含故障檢測裝置的自發(fā)光顯示模塊，不僅用于已經(jīng)說明的醫(yī)療器具和飛機(jī)的計(jì)量器等電子設(shè)備上，即使在需要這種發(fā)光顯示板的其他電子設(shè)備使用，可以照樣享受已經(jīng)說明的作用效果。
權(quán)利要求
1.一種自發(fā)光顯示模塊，其具備自發(fā)光顯示單元，該單元包括在掃描線和數(shù)據(jù)線的交點(diǎn)位置矩陣式排列多個(gè)包括具有二極管特性的自發(fā)光元件的像素的發(fā)光顯示板、以及有選擇地驅(qū)動(dòng)上述發(fā)光顯示板中的各個(gè)自發(fā)光元件發(fā)光的驅(qū)動(dòng)裝置；故障檢測裝置，用來檢測上述自發(fā)光顯示單元中的故障；存儲裝置，保存上述故障檢測裝置的檢測結(jié)果，自發(fā)光顯示模塊的特征在于，上述故障檢測裝置具備反偏電壓施加裝置，在上述自發(fā)光元件的不發(fā)光狀態(tài)下對該元件的陰極一側(cè)施加反偏電壓；以及電位判定裝置，判斷在上述自發(fā)光元件的陰極一側(cè)施加了反偏電壓狀態(tài)下上述元件陽極一側(cè)的電位是否大于等于規(guī)定值，利用上述電位判定裝置檢測上述自發(fā)光顯示單元中的故障。
2.如權(quán)利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述反偏電壓施加裝置使用了電壓源，用來在上述發(fā)光顯示板的發(fā)光驅(qū)動(dòng)工作時(shí)，對非掃描狀態(tài)的掃描線施加規(guī)定電壓，由此防止被驅(qū)動(dòng)的數(shù)據(jù)線和非掃描狀態(tài)的掃描線交點(diǎn)處排列的上述自發(fā)光元件發(fā)生串?dāng)_發(fā)光。
3.如權(quán)利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述驅(qū)動(dòng)裝置的結(jié)構(gòu)是可以切換為發(fā)光驅(qū)動(dòng)模式和檢測模式，在上述檢測模式下，通過打開構(gòu)成上述驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)開關(guān)，從而停止對上述數(shù)據(jù)線的點(diǎn)亮驅(qū)動(dòng)電流的供給，并且，對上述任意一條掃描線施加上述反偏電壓。
4.如權(quán)利要求2所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述驅(qū)動(dòng)裝置的結(jié)構(gòu)是可以切換為發(fā)光驅(qū)動(dòng)模式和檢測模式，在上述檢測模式下，通過打開構(gòu)成上述驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)開關(guān)，從而停止對上述數(shù)據(jù)線的點(diǎn)亮驅(qū)動(dòng)電流的供給，并且，對上述任意一條掃描線施加上述反偏電壓。
5.如權(quán)利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置中包含開關(guān)元件，利用上述數(shù)據(jù)線中產(chǎn)生的自發(fā)光元件的陽極一側(cè)的大于等于規(guī)定值的電位進(jìn)行開關(guān)工作。
6.如權(quán)利要求5所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置中配置上述檢測模式下處于接通工作狀態(tài)的轉(zhuǎn)接開關(guān)，通過該轉(zhuǎn)接開關(guān)，將上述自發(fā)光元件的陽極一側(cè)的電位供給上述開關(guān)元件。
7.如權(quán)利要求5所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置中還具備壓降元件，借助上述開關(guān)元件的接通工作而流過規(guī)定的電流；以及比較器，當(dāng)該壓降元件的兩端電位大于等于規(guī)定值時(shí)，輸出狀態(tài)被改變，根據(jù)該比較器的輸出狀態(tài)檢測上述自發(fā)光顯示單元中的故障。
8.如權(quán)利要求6所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置還具備壓降元件，借助上述開關(guān)元件的接通工作而流過規(guī)定的電流；以及比較器，當(dāng)該壓降元件的兩端電位大于等于規(guī)定值時(shí)，輸出狀態(tài)被改變，根據(jù)該比較器的輸出狀態(tài)檢測上述自發(fā)光顯示單元中的故障。
9.如權(quán)利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置分別對應(yīng)于上述各數(shù)據(jù)線而配置，能夠同時(shí)判定經(jīng)由上述各數(shù)據(jù)線分別得到的各個(gè)自發(fā)光元件的陽極一側(cè)的電位。
10.如權(quán)利要求5所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置分別對應(yīng)于上述各數(shù)據(jù)線而配置，能夠同時(shí)判定經(jīng)由上述各數(shù)據(jù)線分別得到的各個(gè)自發(fā)光元件的陽極一側(cè)的電位。
11.如權(quán)利要求6所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置分別對應(yīng)于上述各數(shù)據(jù)線而配置，能夠同時(shí)判定經(jīng)由上述各數(shù)據(jù)線分別得到的各個(gè)自發(fā)光元件的陽極一側(cè)的電位。
12.如權(quán)利要求7所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置分別對應(yīng)于上述各數(shù)據(jù)線而配置，能夠同時(shí)判定經(jīng)由上述各數(shù)據(jù)線分別得到的各個(gè)自發(fā)光元件的陽極一側(cè)的電位。
13.如權(quán)利要求8所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述電位判定裝置分別對應(yīng)于上述各數(shù)據(jù)線而配置，能夠同時(shí)判定經(jīng)由上述各數(shù)據(jù)線分別得到的各個(gè)自發(fā)光元件的陽極一側(cè)的電位。
14.如權(quán)利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述故障檢測裝置所做的檢測工作在對應(yīng)于上述發(fā)光顯示板的各像素的各掃描線和各數(shù)據(jù)線的所有組合中分別被執(zhí)行，基于檢測工作的檢測結(jié)果被保存到上述存儲裝置中。
15.如權(quán)利要求5所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述故障檢測裝置所做的檢測工作在對應(yīng)于上述發(fā)光顯示板的各像素的各掃描線和各數(shù)據(jù)線的所有組合中分別被執(zhí)行，基于檢測工作的檢測結(jié)果被保存到上述存儲裝置中。
16.如權(quán)利要求6所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述故障檢測裝置所做的檢測工作在對應(yīng)于上述發(fā)光顯示板的各像素的各掃描線和各數(shù)據(jù)線的所有組合中分別被執(zhí)行，基于檢測工作的檢測結(jié)果被保存到上述存儲裝置中。
17.如權(quán)利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于，上述發(fā)光顯示板上排列的自發(fā)光元件是在發(fā)光層中使用了有機(jī)化合物的有機(jī)EL元件。
18.一種電子設(shè)備，搭載了上述權(quán)利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊。
19.一種自發(fā)光顯示模塊中缺陷狀態(tài)的檢驗(yàn)方法，該發(fā)光顯示模塊具備自發(fā)光顯示單元，該單元包括在掃描線和數(shù)據(jù)線的交點(diǎn)位置矩陣式排列多個(gè)包括具有二極管特性的自發(fā)光元件的像素的發(fā)光顯示板、以及有選擇地驅(qū)動(dòng)上述發(fā)光顯示板中的各個(gè)自發(fā)光元件發(fā)光的驅(qū)動(dòng)裝置；故障檢測裝置，用來檢測上述自發(fā)光顯示單元中的故障；存儲裝置，保存上述故障檢測裝置的檢測結(jié)果，其特征在于，自發(fā)光顯示模塊中缺陷狀態(tài)的檢驗(yàn)方法的特征在于，上述故障檢測裝置執(zhí)行反偏電壓施加步驟，對上述發(fā)光顯示板上任意一條掃描線施加反偏電壓；電位判定步驟，在施加上述反偏電壓的狀態(tài)下，通過數(shù)據(jù)線得到上述元件陽極一側(cè)的電位，并且判定上述元件陽極一側(cè)的電位是否大于等于規(guī)定值；以及判定結(jié)果保存步驟，將由上述電位判定步驟得到的判定結(jié)果保存到上述存儲裝置。
20.如權(quán)利要求19所述的自發(fā)光顯示模塊中缺陷狀態(tài)的檢驗(yàn)方法，其特征在于，在對應(yīng)于上述各像素的各掃描線和各數(shù)據(jù)的所有組合中分別執(zhí)行上述反偏電壓施加步驟、電位判定步驟、判定結(jié)果保存步驟。
全文摘要
在檢測模式下，對發(fā)光顯示板(1)上排列的掃描線(K1～Km)中的任意一個(gè)施加反偏電壓(VM)。此時(shí)的各數(shù)據(jù)線(A1～An)中產(chǎn)生的電位就會供給到電位判定裝置(J1～Jn)。在電位判定裝置(J1～Jn)中，各數(shù)據(jù)線(A1～An)中產(chǎn)生的電位經(jīng)過轉(zhuǎn)接開關(guān)(Q11～Q1n)，供給到開關(guān)元件(Q31～Q3n)。上述電位如果大于等于開關(guān)元件(Q31～Q3n)的閾值電壓，比較器(CP31～CPn)的輸出就會反轉(zhuǎn)，此時(shí)的狀態(tài)就會在鎖存電路(LC1～LCn)里被鎖存，并被保存到數(shù)據(jù)寄存器(11)里。根據(jù)數(shù)據(jù)寄存器(11)里保存的數(shù)據(jù)判定顯示板的像素有無缺陷發(fā)生、以及發(fā)生的位置。
文檔編號H05B33/12GK1674075SQ20051005920
公開日2005年9月28日 申請日期2005年3月24日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月24日
發(fā)明者佐藤宏幸, 后藤隆志 申請人:東北先鋒電子股份有限公司