一種用于iot的射頻鏈路切換裝置及測試方法
【技術(shù)領域】
[0001]本發(fā)明涉及1T(Interoperability Test，互操作測試)技術(shù)領域，具體地說，是一種用于1T的射頻鏈路切換裝置及測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]1T是多廠商運營環(huán)境形成的技術(shù)基礎。只有完成Iu接口的Ι0Τ，才能保證不同廠家的無線接入網(wǎng)與核心網(wǎng)互聯(lián)互通，也只有完成Uu接口的Ι0Τ，才能保證每一款手機與無線接入系統(tǒng)之間的互聯(lián)互通。從世界上已經(jīng)完成的3G設備選型中可以看出，有一個非常明顯的趨勢就是，同一運營商大多選擇二至三家廠商的設備，來組建自己的3G網(wǎng)絡，形成多廠商設備的運營環(huán)境。所以，不同廠商之間的1T對3G時代就顯得格外重要。1T已經(jīng)被擺在非常重要的戰(zhàn)略地位，為此，國家相關(guān)部門也特意組織所有參加3G技術(shù)試驗的系統(tǒng)廠家和手機廠家進行Uu/Iu接口的互操作1T測試來驗證各廠家系統(tǒng)之間以及手機與系統(tǒng)之間的互通性。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中用于1T的射頻鏈路切換裝置主要由國外少數(shù)廠家生產(chǎn)，生產(chǎn)周期長，而且受限程度大，價格昂貴，很難靈活的應用于不同的測試環(huán)境。
[0004]現(xiàn)階段1T互操作測試主要使用先進的測試儀表，但是在對射頻終端設備進行測試的過程中，針對不同的測試項目，需要搭載相應的射頻鏈路以滿足測試要求，同時在完成一項射頻測試過程中也需要多條射頻鏈路搭載。如果進行手動搭載測試鏈路，會引入測量誤差，影響測試結(jié)果的準確性。而且現(xiàn)階段終端切換裝置功能單一，無法完成1T項目的測試指標。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種實現(xiàn)簡單、操作方便、成本低、誤差小、效率高的用于1T的射頻鏈路切換裝置及測試方法。
[0006]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種用于1T的射頻鏈路切換裝置，包括至少一個被測設備接口和多個基站接口，所述基站接口分別通過同軸開關(guān)和衰減器與所述被測設備接口連接，所述衰減器包括至少一個可調(diào)衰減器。
[0007]進一步地，所述同軸開關(guān)包括N個單路同軸開關(guān)、N個多路同軸開關(guān)和多個N路同軸開關(guān)，所述N為大于I的整數(shù)；其中，所述多個N路同軸開關(guān)的第一端分別對應連接所述多個基站接口，各N路同軸開關(guān)的第二端分別連接所述多路同軸開關(guān)的第一端；每個多路同軸開關(guān)的第二端對應連接一個單路同軸開關(guān)的第一端，各單路同軸開關(guān)的第二端均連接到所述被測設備接口，所述衰減器串接在所述多路同軸開關(guān)與單路同軸開關(guān)的連接線上。
[0008]進一步地，所述同軸開關(guān)包括兩個單路同軸開關(guān)、兩個多路同軸開關(guān)和多個雙路同軸開關(guān)，其中，所述多個雙路同軸開關(guān)的第一端分別對應連接所述多個基站接口，各雙路同軸開關(guān)的第二端分別連接到兩個多路同軸開關(guān)的第一端；每個多路同軸開關(guān)的第二端對應連接一個單路同軸開關(guān)的第一端，各單路同軸開關(guān)的第二端均連接到所述被測設備接□ O
[0009]進一步地，所述衰減器有多個，其中包括至少一個固定衰減器和一個可調(diào)衰減器。
[0010]進一步地，所述衰減器包括一個固定衰減器和兩個可調(diào)衰減器。
[0011 ] 進一步地，還包括至少一個擴展接口，所述擴展接口通過單路開關(guān)與所述被測設備接口連接。
[0012]進一步地，所述同軸開關(guān)和衰減器設置于標準4U機箱中，所述被測設備接口設置在所述標準4U機箱的前面板上，所述基站接口設置在所述標準4U機箱的后面板上。
[0013]本發(fā)明還提供了一種利用上述射頻鏈路切換裝置進行1T的方法，包括:
[0014]將各同軸開關(guān)置于關(guān)的位置；
[0015]將被測設備連接到被測設備接口，將多個基站分別連接到各基站接口 ；
[0016]接通要測試的基站與被測設備之間的同軸開關(guān)，使要測試的基站與被測設備之間的鏈路接通；
[0017]調(diào)整各基站與被測設備之間鏈接上的可調(diào)衰減器，模擬出基站與被測設備之間信號強度的變化，使被測設備在各基站之間切換，完成1T測試。
[0018]進一步地，所述多個基站來自多個廠家。
[0019]本發(fā)明克服了現(xiàn)有技術(shù)在射頻終端設備進行測試過程中，不同信號處理路徑的搭建問題，將1T所有指標的測試鏈路進行了系統(tǒng)集成。本發(fā)明的用于1T的射頻鏈路切換裝置中，各個模塊的性能參數(shù)、使用壽命以及安裝方式不僅能夠滿足1T標準及無線電設備測試中關(guān)于1T終端測試的相關(guān)要求，而且還能對測試儀表進行必要的保護，避免因過熱射頻功率、直流瞬時和靜電放電(ESD)而受到損壞。本發(fā)明提高了測試準確度和測試效率，且實現(xiàn)簡單、操作方便、成本低。
【附圖說明】
[0020]圖1是本發(fā)明的用于1T的射頻鏈路切換裝置的一實施例的架構(gòu)原理圖。
【具體實施方式】
[0021]下面結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步說明，以使本領域的技術(shù)人員可以更好地理解本發(fā)明并能予以實施，但所舉實施例不作為對本發(fā)明的限定。
[0022]本發(fā)明主要由各類同軸開關(guān)、衰減器、合路器以及阻抗匹配電阻組成，基站信號通過相關(guān)鏈路的處理后，將處理后的信號送入被測終端進行1T互操作測試。
[0023]本發(fā)明的用于1T的射頻鏈路切換裝置，包括至少一個被測設備接口和多個基站接口，基站接口分別通過同軸開關(guān)和衰減器與被測設備接口連接，衰減器包括至少一個可調(diào)衰減器。
[0024]具體地，同軸開關(guān)包括N個單路同軸開關(guān)、N個多路同軸開關(guān)和多個N路同軸開關(guān)，N為大于I的整數(shù)；其中，多個N路同軸開關(guān)的第一端分別對應連接多個基站接口，各N路同軸開關(guān)的第二端分別連接多路同軸開關(guān)的第一端；每個多路同軸開關(guān)的第二端對應連接一個單路同軸開關(guān)的第一端，各單路同軸開關(guān)的第二端均連接到被測設備接口，衰減器串接在多路同軸開關(guān)與單路同軸開關(guān)的連接線上。
[0025]如圖1所示，作為本發(fā)明的用于1T的射頻鏈路切換裝置的一個實施例，該用于1T的射頻鏈路切換裝置包括兩個單路同軸開關(guān)K2-9和K2-11、兩個多路同軸開關(guān)K10-1和K10-2，以及8個雙路同軸開關(guān)K2-1至K2-8，其中，雙路同軸開關(guān)K2-1至K2-8的第一端分別對應連接多個基站接口，各雙路同軸開關(guān)K2-1至K2-8的第二端分別連接到兩個多路同軸開關(guān)K10-1和K10-2的第一端，如圖所示，雙路同軸開關(guān)K2-1的一路連接到多路同軸開關(guān)K10-1，另一咱連接到多路同軸開關(guān)K10-2，而其它雙路同軸開關(guān)K2-2至K2-8的連接方式相同；每個多路同軸開關(guān)的第二端對應連接一個單路同軸開關(guān)的第一端，即多路同軸開關(guān)K10-1的第二端對應連接單路同軸開關(guān)K2-9的第一端，多路同軸開關(guān)K10-2的第二端對應連接單路同軸開關(guān)K2-10的第一端；各單路同軸開關(guān)的第二端均連接到被測設備接口。本實施例中具有10個基站接口，可以連接10個基站；具有I個被測設備接口，可以連接一個被測設備EUT。
[0026]參見圖1可知，本實施例具有10個基站接口，從而可以連接10個基站，而雙路同軸開關(guān)只設置了 8個，基站2至基站9分別對應連接到雙路同軸開關(guān)K2-1至K2-8，而基站I和基站10分別直接連接到多路同軸開關(guān)KlO-1和K10-2。這樣可以節(jié)省兩個雙路同軸開關(guān)。當同時測試基站I和基站10時，接通相應鏈路即可；當需要測試基站I與基站2至基站8中任意一個時，只需要通過對應的雙路同軸開關(guān)將該基站切換到多路同軸開關(guān)K10-2即可；當需要測試基站10與基站2至基站8中任意一個時，只需要通過對應的雙路同軸開關(guān)將該基站切換到多路同軸開關(guān)K10-1即可；當需要測試基站2至基站8中任意兩個時，只需要通過對應的雙路同軸開關(guān)將兩個基站分別切換到多路同軸開關(guān)K10-1和K10-2即可。當然，在其它實施例中，也可以為基站I和基站10分別配置一個雙路同軸開關(guān)，從而提高搭建測試鏈路的靈活性。
[0027]衰減器最好有多個，其中包括至少一個固定衰減器和一個可調(diào)衰減器，優(yōu)選包括一個固定衰減器和兩個可調(diào)衰減器。