本申請(qǐng)涉及攝像頭模組測(cè)試，特別是涉及一種攝像頭模組的測(cè)試裝置和方法。

背景技術(shù)：

1、攝像頭模組的接地性能會(huì)直接影響電路的穩(wěn)定與安全、信號(hào)質(zhì)量、電磁兼容性以及產(chǎn)品的整體可靠性。為避免攝像頭模組轉(zhuǎn)入電子設(shè)備(如手機(jī))后干擾其他器件或射頻信號(hào)，通常會(huì)在連接器位置背面設(shè)置接地導(dǎo)電件(如鋼片、銅箔，導(dǎo)電海綿，導(dǎo)電布等)，并用萬(wàn)用表抽測(cè)該接地導(dǎo)電件的電阻。

2、然而該方式存在一定弊端：一方面，手動(dòng)操作萬(wàn)用表的測(cè)試效率低，實(shí)際中難以實(shí)現(xiàn)全檢，導(dǎo)致檢測(cè)的全面性和準(zhǔn)確性低；另一方面，萬(wàn)用表針頭易劃傷鋼片，影響產(chǎn)品質(zhì)量甚至無(wú)法出貨。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的至少一個(gè)問(wèn)題，本申請(qǐng)的目的在于提供一種攝像頭模組的測(cè)試裝置和方法，能夠?qū)崿F(xiàn)圖像測(cè)試和接地導(dǎo)電件電阻測(cè)試，對(duì)接地導(dǎo)電件電阻的測(cè)試效率高，適用于全檢，能夠確保檢測(cè)的全面性和準(zhǔn)確性。并且，相比于萬(wàn)用表手動(dòng)測(cè)試，能夠有效避免劃傷接地導(dǎo)電件，有助于提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低成本。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請(qǐng)?zhí)峁┑臄z像頭模組的測(cè)試裝置，應(yīng)用于攝像頭模組；所述攝像頭模組包括由fpc電連接的攝像頭模組主體和連接器；所述連接器的正面設(shè)有若干引腳，背面設(shè)有接地導(dǎo)電件；所述測(cè)試裝置包括：

3、上蓋轉(zhuǎn)接板，設(shè)有容置孔和導(dǎo)電接觸塊；其中，所述容置孔，為開(kāi)設(shè)于所述上蓋轉(zhuǎn)接板的通孔，用于容置所述攝像頭模組主體并露出所述攝像頭模組鏡頭；所述導(dǎo)電接觸塊的第一接觸部，與所述接地導(dǎo)電件對(duì)位設(shè)置，以形成接觸電連接；

4、測(cè)試底座，設(shè)有容置位、導(dǎo)電件測(cè)試探針和若干連接器探針；其中，所述容置位，用于容置所述fpc和所述連接器；所述導(dǎo)電件測(cè)試探針的接觸端，與所述導(dǎo)電接觸塊的第二接觸部對(duì)位設(shè)置，以形成接觸電連接；所述連接器探針，包括用于測(cè)試接地導(dǎo)電件的電阻的第一探針和用于測(cè)試圖像檢測(cè)信息的第二探針；所述第一探針的接觸端，與電連接所述接地導(dǎo)電件的連接器的引腳對(duì)位設(shè)置，以形成接觸電連接；

5、模組測(cè)試盒，與所述第一探針的接口端和所述導(dǎo)電件測(cè)試探針的接口端分別電連接，用于測(cè)量流經(jīng)所述接地導(dǎo)電件的電流，基于所述電流值確定所述接地導(dǎo)電件的電阻；所述模組測(cè)試盒還與所述第二探針的接口端電連接，用于測(cè)試所述攝像頭模組的圖像檢測(cè)信息。

6、可選地，所述測(cè)試底座上還設(shè)有分壓電阻；所述導(dǎo)電件測(cè)試探針的接口端，經(jīng)所述分壓電阻電連接所述模組測(cè)試盒。

7、可選地，所述第一接觸部和所述第二接觸部通過(guò)導(dǎo)線連接。

8、可選地，所述導(dǎo)電件測(cè)試探針和所述連接器探針，被配置為彈性探針。

9、可選地，所述導(dǎo)電接觸塊的第一接觸部的下表面附設(shè)有導(dǎo)電膠層。

10、可選地，所述模組測(cè)試盒具體用于：

11、獲取所述第一探針和所述導(dǎo)電件測(cè)試探針?biāo)诘臏y(cè)試電路的供電電壓和測(cè)試電路電阻；

12、測(cè)量流經(jīng)所述接地導(dǎo)電件的電流；

13、根據(jù)所述供電電壓、所述測(cè)試電路電阻和所述電流，確定所述接地導(dǎo)電件的電阻。

14、進(jìn)一步可選地，所述模組測(cè)試盒還用于：

15、多次測(cè)量流經(jīng)所述接地導(dǎo)電件的電流，并取電流平均值；

16、將所述電流平均值用作確定所述電阻的電流值。

17、可選地，所述模組測(cè)試盒還用于：

18、響應(yīng)于所述電阻大于等于電阻閾值，確定對(duì)應(yīng)的攝像頭模組為接地性能不達(dá)標(biāo)模組；

19、響應(yīng)于所述電阻小于所述電阻閾值，確定對(duì)應(yīng)的攝像頭模組為接地性能達(dá)標(biāo)模組。

20、進(jìn)一步可選地，所述電阻閾值被配置為2ω。

21、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請(qǐng)還提供的攝像頭模組的測(cè)試方法，應(yīng)用于如上所述的攝像頭模組的測(cè)試裝置，所述方法包括，

22、獲取所述第一探針和所述導(dǎo)電件測(cè)試探針?biāo)诘臏y(cè)試電路的供電電壓和測(cè)試電路電阻；

23、測(cè)量流經(jīng)所述接地導(dǎo)電件的電流；

24、根據(jù)所述供電電壓、所述測(cè)試電路電阻和所述電流，確定所述接地導(dǎo)電件的電阻。

25、本申請(qǐng)的一種攝像頭模組的測(cè)試裝置和方法，通過(guò)設(shè)計(jì)容置孔來(lái)容置攝像頭模組主體并露出攝像頭模組鏡頭，并通過(guò)導(dǎo)電接觸塊的第一接觸部與接地導(dǎo)電件形成接觸電連接，以及通過(guò)設(shè)計(jì)容置位來(lái)容置fpc和連接器，并通過(guò)導(dǎo)電件測(cè)試探針與導(dǎo)電接觸塊的第二接觸部電連接，以及通過(guò)第一探針與電連接導(dǎo)電接觸塊的連接器的引腳電連接，并通過(guò)模組測(cè)試盒與第一探針和導(dǎo)電件測(cè)試探針?lè)謩e電連接，來(lái)測(cè)量流經(jīng)接地導(dǎo)電件的電流，基于電流值確定接地導(dǎo)電件的電阻，以及通過(guò)模組測(cè)試盒與第二探針電連接，來(lái)測(cè)試攝像頭模組的圖像檢測(cè)信息。由此，能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)攝像頭模組的圖像檢測(cè)信息測(cè)試和接地導(dǎo)電件電阻測(cè)試，從而可有效提高接地導(dǎo)電件電阻的測(cè)試效率，適用于全檢，能夠確保檢測(cè)的全面性和準(zhǔn)確性。并且，相比于萬(wàn)用表手動(dòng)測(cè)試，能夠有效避免劃傷接地導(dǎo)電件，有助于提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低成本。

26、本申請(qǐng)的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說(shuō)明書(shū)中闡述，并且，部分地從說(shuō)明書(shū)中變得顯而易見(jiàn)，或者通過(guò)實(shí)施本申請(qǐng)而了解。

技術(shù)特征：

1.一種攝像頭模組的測(cè)試裝置，其特征在于，應(yīng)用于攝像頭模組；所述攝像頭模組包括由fpc電連接的攝像頭模組主體和連接器；所述連接器的正面設(shè)有若干引腳，背面設(shè)有接地導(dǎo)電件；所述測(cè)試裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試底座上還設(shè)有分壓電阻；所述導(dǎo)電件測(cè)試探針的接口端，經(jīng)所述分壓電阻電連接所述模組測(cè)試盒。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一接觸部和所述第二接觸部通過(guò)導(dǎo)線連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述導(dǎo)電件測(cè)試探針和所述連接器探針，被配置為彈性探針。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述導(dǎo)電接觸塊的第一接觸部的下表面附設(shè)有導(dǎo)電膠層。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述模組測(cè)試盒具體用于：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述模組測(cè)試盒還用于：

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述模組測(cè)試盒還用于：

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述電阻閾值被配置為2ω。

10.一種攝像頭模組的測(cè)試方法，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的攝像頭模組的測(cè)試裝置，所述方法包括：

技術(shù)總結(jié)
一種攝像頭模組的測(cè)試裝置和方法，裝置包括上蓋轉(zhuǎn)接板、測(cè)試底座和模組測(cè)試盒。上蓋轉(zhuǎn)接板設(shè)有容置孔和導(dǎo)電接觸塊；導(dǎo)電接觸塊的第一接觸部與接地導(dǎo)電件接觸電連接。測(cè)試底座設(shè)有容置位、導(dǎo)電件測(cè)試探針和連接器探針；導(dǎo)電件測(cè)試探針與導(dǎo)電接觸塊的第二接觸部形成接觸電連接；連接器探針包括第一探針和第二探針；第一探針與電連接接地導(dǎo)電件的連接器的引腳形成接觸電連接。模組測(cè)試盒與第一探針和導(dǎo)電件測(cè)試探針?lè)謩e電連接，以測(cè)量流經(jīng)接地導(dǎo)電件的電流，確定接地導(dǎo)電件的電阻；還與第二探針電連接，以測(cè)試圖像檢測(cè)信息。能夠?qū)崿F(xiàn)圖像測(cè)試和接地導(dǎo)電件電阻測(cè)試，可有效提高電阻測(cè)試效率，適用于全檢，能夠確保檢測(cè)的全面性和準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：王釗迎,劉峻江,許捷賢
受保護(hù)的技術(shù)使用者：信利光電股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2