1.一種工參校驗(yàn)方法，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，所述得到校驗(yàn)結(jié)果之后，所述方法還包括：
3.如權(quán)利要求1所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，所述對所述區(qū)域參數(shù)集合、所述基礎(chǔ)信息參數(shù)集合和所述射頻配置參數(shù)集合中的參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)，包括：
4.如權(quán)利要求1或3所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，所述對所述區(qū)域參數(shù)集合進(jìn)行校驗(yàn)，包括：
5.如權(quán)利要求1或3所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，所述基礎(chǔ)信息參數(shù)集合包括：靜態(tài)屬性參數(shù)子集、動態(tài)經(jīng)緯度參數(shù)子集和關(guān)聯(lián)屬性參數(shù)子集中的至少一種。
6.如權(quán)利要求5所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，當(dāng)所述基礎(chǔ)信息參數(shù)集合包括所述靜態(tài)屬性參數(shù)子集時，所述對所述基礎(chǔ)信息參數(shù)集合進(jìn)行校驗(yàn)，包括：
7.如權(quán)利要求5所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，當(dāng)所述基礎(chǔ)信息參數(shù)集合包括所述動態(tài)經(jīng)緯度參數(shù)子集時，所述動態(tài)經(jīng)緯度參數(shù)子集包括與所述層級對應(yīng)的經(jīng)緯度；其中，所述層級包括站點(diǎn)、基站、天面和小區(qū)；所述對所述基礎(chǔ)信息參數(shù)集合進(jìn)行校驗(yàn)，包括：
8.如權(quán)利要求5所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，當(dāng)所述基礎(chǔ)信息參數(shù)集合包括所述關(guān)聯(lián)屬性參數(shù)子集時，所述關(guān)聯(lián)屬性參數(shù)子集包括小區(qū)全球標(biāo)識和基站標(biāo)識；所述對所述基礎(chǔ)信息參數(shù)集合進(jìn)行校驗(yàn)，包括：
9.如權(quán)利要求1或3所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，所述射頻配置參數(shù)集合包括：天線幾何參數(shù)子集、靜態(tài)網(wǎng)絡(luò)參數(shù)子集和關(guān)聯(lián)配置參數(shù)子集中的至少一種。
10.如權(quán)利要求9所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，當(dāng)所述射頻配置參數(shù)集合包括所述靜態(tài)網(wǎng)絡(luò)參數(shù)子集時，所述對所述射頻配置參數(shù)集合進(jìn)行校驗(yàn)，包括：
11.如權(quán)利要求9所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，當(dāng)所述射頻配置參數(shù)集合包括所述天線幾何參數(shù)子集時，所述對所述射頻配置參數(shù)集合進(jìn)行校驗(yàn)，包括：
12.如權(quán)利要求9所述的工參校驗(yàn)方法，其特征在于，當(dāng)所述射頻配置參數(shù)集合包括所述關(guān)聯(lián)配置參數(shù)子集時，所述關(guān)聯(lián)配置參數(shù)子集包括網(wǎng)絡(luò)制式、頻段和中心頻點(diǎn)區(qū)間；所述對所述射頻配置參數(shù)集合進(jìn)行校驗(yàn)，包括：
13.一種工參校驗(yàn)裝置，其特征在于，包括：
14.一種工參校驗(yàn)系統(tǒng)，包括：
15.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)包括存儲的計(jì)算機(jī)程序；其中，所述計(jì)算機(jī)程序在運(yùn)行時控制所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)所在的設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求1～12中任一項(xiàng)所述的工參校驗(yàn)方法。
16.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其特征在于，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1～12中任一項(xiàng)所述的工參校驗(yàn)方法。
17.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括處理器、存儲器以及存儲在所述存儲器中且被配置為由所述處理器執(zhí)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器在執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1～12中任一項(xiàng)所述的工參校驗(yàn)方法。