圖像處理裝置及其控制方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種圖像處理裝置及其控制方法。所述圖像處理裝置對包含從被攝體行進的光束的角度信息的拍攝圖像進行處理，該圖像處理裝置包括：生成單元，其被配置為通過重構(gòu)所拍攝圖像來生成重構(gòu)圖像；以及提取單元，其被配置為基于對應于不同成像距離的多個重構(gòu)圖像，提取拍攝所述拍攝圖像的光電轉(zhuǎn)換元件中包括的缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的地址。
【專利說明】圖像處理裝置及其控制方法

【技術(shù)領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種圖像處理裝置，更具體地，涉及一種檢測并校正缺陷的圖像處理 裝置及其控制方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 在近來的數(shù)字圖像處理技術(shù)中，被稱為光場（light field)攝影的研究領域的進展 顯著。在光場攝影中，首先拍攝圖像，以使得從包括攝像光學系統(tǒng)（諸如透鏡）和固態(tài)攝 像傳感器（諸如CCD或CMOS傳感器）的攝像裝置獲得的所拍攝圖像不僅包括被攝體場景 (object field)的二維光強度信息，而且包括光束角度信息。
[0003] 包括光束角度信息的拍攝圖像相當于在所謂的相位差自動對焦檢測（AF)中超過 一對光瞳的劃分的、相當大數(shù)量的光瞳的劃分。當直接觀察該拍攝圖像時，該圖像是并不總 是具有重要信息的列表和順序的數(shù)據(jù)。為了解決該問題，已提出了一種攝像裝置和圖像處 理裝置，其能夠通過執(zhí)行與獲得拍攝圖像的攝像處理密切相關(guān)的重構(gòu)圖像處理而在攝像后 對被攝體場景中的任意物體執(zhí)行再次聚焦（下文中稱為"重聚焦"）。
[0004] 這種攝像裝置和圖像處理裝置的示例是文獻1 "Ren. Ng，et al.，'利用手持式 全光相機的光場攝影'，斯坦福技術(shù)報告CTSR 2005-02 (Ren. Ng，et al.，' Light Field Photography with a Hand-Held Plenoptic Camera ' , Stanford Tech Report CTSR 2005-02) "中描述的手持式全光相機（下文中也稱為"光場相機"）。該光場相機的構(gòu)件如 下：作為眾所周知的攝像裝置中的攝像光學系統(tǒng)的"主透鏡"主要在具有預定間距的"微透 鏡"陣列上形成被攝體圖像。包含間距小于預定間距的光電轉(zhuǎn)換元件的"固態(tài)攝像傳感器" 被布置在微透鏡陣列的后面。
[0005] 換句話說，通過特殊的攝像處理和以此為前提的圖像處理，文獻1中描述的光場 相機獲得了具有眾所周知的攝像裝置所不能獲得的新信息的圖像。
[0006] 相反地，在通常眾所周知的攝像裝置中執(zhí)行的大多數(shù)圖像處理都是基于下述假設 來執(zhí)行的，即：構(gòu)成拍攝圖像的光電轉(zhuǎn)換元件的信號在某種程度上具有連續(xù)性。一個示例是 實時缺陷像素檢測方法，該方法在攝像裝置的每次攝像中，根據(jù)與周圍光電轉(zhuǎn)換元件的信 號的水平差確定缺陷像素。
[0007] 例如，日本特開第2005-286825號公報公開了一種缺陷像素校正裝置，其特征在 于包括：第一缺陷像素檢測單元，其被配置為通過將從多個像素輸出的各個信號與預定值 比較來檢測缺陷像素；第一校正單元，其被配置為校正來自所述第一缺陷像素檢測單元檢 測到的缺陷像素的信號；第二缺陷像素檢測單元，其被配置為通過將從已對所述第一缺陷 像素檢測單元檢測到的缺陷像素執(zhí)行了校正的多個像素輸出的各個信號與預定值比較，來 檢測缺陷像素；以及設置控制單元，其被配置為將所述第一缺陷像素檢測單元中的預定值 和所述第二缺陷像素檢測單元中的預定值設置為彼此不同。
[0008] 日本特開第2005-286825號公報還公開了第一缺陷像素檢測單元檢測到的缺陷 像素的信息被記錄，并且第二缺陷像素檢測單元甚至參照第一缺陷像素檢測單元中的缺陷 像素信息。此外，日本特開第2005-286825號公報描述了 ：確定檢測到的像素實際上是缺陷 像素還是被攝體邊緣，以及如果檢測到的像素被認為是被攝體邊緣，則不執(zhí)行校正以防止 圖像質(zhì)量劣化。
[0009] 實時缺陷像素檢測在抑制伴隨著未被記錄在攝像裝置的存儲器等中的后續(xù)缺陷 像素、或者在每次攝像中輸出水平都會變化的閃爍缺陷像素而產(chǎn)生的圖像質(zhì)量劣化方面尤 其有效。然而，實時缺陷像素檢測方法中最重要的任務是在應作為校正目標的缺陷像素和 被攝體邊緣間進行區(qū)分。
[0010] 在眾所周知的攝像裝置中，構(gòu)成拍攝圖像的單位要素通常被稱為"像素"。沒有必 要明確地區(qū)分用作構(gòu)成固態(tài)攝像傳感器的單位要素的"光電轉(zhuǎn)換元件的信號"和用作構(gòu)成 經(jīng)過信號處理的最終圖像的單位要素的"像素"。然而，在光場相機中，它們是應該被明確區(qū) 分的概念。
[0011] 如上文所述，為了獲得例如重聚焦重構(gòu)處理的顯著特征，如上文所述的特殊攝像 處理在光場相機中占據(jù)重要位置。特殊攝像處理是指同時獲取光強度信息和光束角度信 息。光束角度信息出現(xiàn)在與一個微透鏡對應的數(shù)個光電轉(zhuǎn)換元件的強度分布中。此時，出 現(xiàn)圖像偏移（image shift)，在該圖像偏移中，多個光電轉(zhuǎn)換元件的信號的強度分布根據(jù)離 被攝體的距離和攝像光學系統(tǒng)的聚焦而偏移。圖像偏移是一種在由屬于微透鏡的相同象限 的光電轉(zhuǎn)換元件的信號構(gòu)成的圖像中出現(xiàn)坐標偏移的現(xiàn)象。在相位差檢測AF中，圖像偏移 被認為是一對圖像間的偏移到多個圖像間的偏移的擴展。
[0012] 更具體地，通過將數(shù)個光電轉(zhuǎn)換元件的信號按照固態(tài)攝像傳感器的輸出順序排布 而并不執(zhí)行任何重聚焦重構(gòu)處理所獲得的拍攝圖像是不適合直接觀察的數(shù)據(jù)。因此，僅通 過將上述假定光電轉(zhuǎn)換元件的信號在某種程度上具有連續(xù)性的實時缺陷像素檢測方法應 用于包括光束角度信息的拍攝圖像上，很難完成區(qū)分被攝體邊緣和缺陷像素的任務。在光 場相機中，可能受缺陷光電轉(zhuǎn)換元件（下文中也稱為"缺陷元件"）的信號影響的重構(gòu)圖像 中的像素的地址在重聚焦重構(gòu)處理中的每次重聚焦時都會改變。
[0013] 由于上述原因，為了抑制光場相機中伴隨缺陷元件的圖像質(zhì)量劣化，需要在每次 重聚焦重構(gòu)處理時對重構(gòu)圖像執(zhí)行實時缺陷像素檢測，并進一步校正檢測到的缺陷像素。 然而，實時缺陷像素檢測要花費處理時間以掃描重構(gòu)圖像。這意味著在再次對拍攝圖像的 被攝體場景中的任意物體聚焦的操作之后，直至顯示重構(gòu)圖像為止要花費很多時間。對此 用戶可能會感到不舒服。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0014] 為解決上述問題而做出本發(fā)明，并且本發(fā)明提供一種能夠有效獲得抑制了伴隨缺 陷元件的圖像質(zhì)量劣化的重聚焦/重構(gòu)圖像的圖像處理裝置。
[0015] 根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供了一種圖像處理裝置，其對包含從被攝體行進的光 束的角度信息的拍攝圖像進行處理，所述圖像處理裝置包括：生成單元，其被配置為通過 重構(gòu)所述拍攝圖像來生成重構(gòu)圖像；以及提取單元，其被配置為基于對應于不同成像距離 的多個重構(gòu)圖像，提取拍攝所述拍攝圖像的光電轉(zhuǎn)換元件中包括的缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的地 址。
[0016] 根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供了一種圖像處理裝置的控制方法，所述圖像處理裝 置對包含從被攝體行進的光束的角度信息的拍攝圖像進行處理，所述控制方法包括：生成 步驟，通過重構(gòu)所述拍攝圖像來生成重構(gòu)圖像；以及提取步驟，基于對應于不同成像距離 的多個重構(gòu)圖像，提取拍攝所述拍攝圖像的光電轉(zhuǎn)換元件中包括的缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的地 址。
[0017] 根據(jù)以下參照附圖對示例性實施例的詳細描述，本發(fā)明的其他特征將變得清楚。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018] 圖1是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的攝像裝置的布置的框圖；
[0019] 圖2是示出了固態(tài)攝像傳感器的光接收區(qū)域的平面圖；
[0020] 圖3是示出了控制根據(jù)第一實施例的攝像裝置的方法的流程圖；
[0021] 圖4是用于解釋重聚焦重構(gòu)處理的光束圖；
[0022] 圖5是用于解釋根據(jù)第一實施例的攝像裝置中的缺陷元件地址提取處理的光束 圖；
[0023] 圖6是示出了在根據(jù)第一實施例的攝像裝置中顯示重構(gòu)圖像的方法的流程圖；
[0024] 圖7是用于解釋根據(jù)第一實施例的攝像裝置中的缺陷元件地址提取處理的光束 圖；
[0025] 圖8是示出了控制根據(jù)本發(fā)明的第二實施例的攝像裝置的方法的流程圖；
[0026] 圖9是用于解釋根據(jù)第二實施例的攝像裝置中的缺陷元件地址提取處理的光束 圖；以及
[0027] 圖10是示出了控制根據(jù)本發(fā)明的第三實施例的攝像裝置的方法的流程圖。

【具體實施方式】
[0028] 現(xiàn)在，將參照附圖詳細描述本發(fā)明的實施例。本發(fā)明的實施例中所用的術(shù)語將被 定義。在光場相機中構(gòu)成"拍攝圖像（包括光束角度信息）"的單位要素將被稱為"光電轉(zhuǎn) 換元件的信號"或簡單稱為"元件"。構(gòu)成通過任意重聚焦重構(gòu)處理獲得的"重構(gòu)圖像"的單 位要素將被稱為"像素"。
[0029] (第一實施例）
[0030] 圖1是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的攝像裝置的整體布置的框圖。在圖1中， 攝像光學系統(tǒng)1包括光闌（stop)和聚焦透鏡，并形成被攝體的光學圖像。通過攝像光學系 統(tǒng)1的聚焦透鏡，微透鏡陣列2主要在其頂點處形成被攝體的圖像。微透鏡陣列2在水平 和垂直方向上以預定間距二維排列。固態(tài)攝像傳感器3對攝像光學系統(tǒng)1形成的被攝體圖 像進行光電轉(zhuǎn)換，并將其提取為電信號。固態(tài)攝像傳感器3具有光電轉(zhuǎn)換元件的功能，該功 能通過以比微透鏡陣列2的間距更小的間距在水平和垂直方向上二維布置的像素來實現(xiàn)。 固態(tài)攝像傳感器3還具有將來自光電轉(zhuǎn)換元件的電信號作為拍攝圖像進行傳送的信號傳 送功能。
[0031] A/D轉(zhuǎn)換器4將取樣的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。數(shù)字拍攝圖像被記錄在圖像存 儲器10中。如果需要的話，重聚焦重構(gòu)處理單元7執(zhí)行重聚焦重構(gòu)處理，該處理為光場相 機的一個特征。缺陷像素檢測單元8對經(jīng)過了必要的重聚焦重構(gòu)處理的重構(gòu)圖像執(zhí)行實時 缺陷像素檢測。更具體地，缺陷像素檢測單元8確定構(gòu)成重構(gòu)圖像的各個像素是否是缺陷， 并指定應該作為校正目標的缺陷像素。信號處理單元9基于實時缺陷像素檢測的結(jié)果，執(zhí) 行各種信號處理，例如缺陷像素校正、白平衡校正以及伽瑪校正。經(jīng)過了各種信號處理的最 終圖像被記錄在記錄介質(zhì)12上。記錄電路11是與記錄介質(zhì)12的接口電路。經(jīng)過了各種 信號處理的最終圖像也可以經(jīng)由顯示電路（接口電路）13直接顯示在諸如液晶顯示器的圖 像顯示設備14上。圖像顯示設備14也能夠?qū)Ξ斍耙臄z的相繼實時顯示的幀進行實時取 景顯示以及對所記錄的運動圖像進行回放顯示。
[0032] 定時發(fā)生電路5驅(qū)動諸如固態(tài)攝像傳感器3的攝像系統(tǒng)。此外，定時發(fā)生電路5 與攝像系統(tǒng)的驅(qū)動和固態(tài)攝像傳感器3的輸出信號同步地驅(qū)動/控制A/D轉(zhuǎn)換器4。注意， A/D轉(zhuǎn)換器4可以被安裝在固態(tài)攝像傳感器3中。在這種情況下，可以直接在圖像存儲器 10中記錄拍攝圖像。
[0033] 聚焦透鏡驅(qū)動電路6驅(qū)動攝像光學系統(tǒng)1的聚焦透鏡。即使在光場相機之外的其 他眾所周知的攝像裝置中，聚焦透鏡也用來對被攝體聚焦。聚焦透鏡由自動對焦檢測（AF) 功能等控制，并確定攝像光學系統(tǒng)1的成像位置。系統(tǒng)控制單元15根據(jù)臨時記錄在易失性 存儲器16中的程序來控制整個攝像裝置。
[0034] 成像距離設置單元18是將成像距離設置為用于執(zhí)行光場相機特有的重聚焦重構(gòu) 處理的參數(shù)的部件。例如，通過反映AF結(jié)果并控制聚焦透鏡驅(qū)動單元6,光場相機使得能夠 在攝像之后聚焦以對其他被攝體再次聚焦。這時，成像距離設置單元18選擇被攝體距離或 被攝體自身，并給出新的成像距離。第一實施例的特征與光場相機中的特殊攝像處理乃至 與特殊攝像處理密切相關(guān)的重聚焦重構(gòu)處理都相關(guān)聯(lián)。以下將更詳細地描述該特征。
[0035] 非易失性存儲器17存儲在攝像裝置執(zhí)行處理時要傳送的程序、各種數(shù)據(jù)等。非易 失性存儲器17可以針對不是缺陷像素檢測單元8的檢測目標并構(gòu)成拍攝圖像的光電轉(zhuǎn)換 元件的信號記錄缺陷的坐標。
[0036] 圖2是示出了固態(tài)攝像傳感器3的光接收區(qū)域的布置的平面圖。作為示例，圖2 示出了微透鏡陣列2和光電轉(zhuǎn)換元件的數(shù)量以及它們之間的布置關(guān)系。然而，僅需要至少 多個光電轉(zhuǎn)換元件對應于一個微透鏡。注意，光電轉(zhuǎn)換元件的數(shù)量等同于圖像偏移的分辨 率、光瞳劃分的分辨率以及光束角度信息的分辨率。已知光電轉(zhuǎn)換兀件數(shù)量的增加有助于 重聚焦重構(gòu)處理等的精確度。另一方面，重構(gòu)圖像的分辨率與微透鏡的數(shù)量有關(guān)。因此，固 態(tài)攝像傳感器3的任務之一就是安裝足夠數(shù)量的光電轉(zhuǎn)換元件，用來在維持分辨率的同時 確保重聚焦重構(gòu)處理的精確度。
[0037] 在圖2中，參考符號表7]^光電轉(zhuǎn)換兀件。單位微透鏡陣列2對應于21個光電 轉(zhuǎn)換元件以將他們?nèi)菁{在內(nèi)。通過利用離子注入等在P-型半導體襯底或P-型阱結(jié)構(gòu)上形 成n-型半導體層，來構(gòu)成光電轉(zhuǎn)換元件。通過p-型半導體區(qū)域?qū)⒐怆娹D(zhuǎn)換元件與所有相 鄰的光電轉(zhuǎn)換元件進行電氣劃分。通過獨立地讀出來自光電轉(zhuǎn)換元件的信號，獲得表示光 場相機的配置的光束角度信息。為了讀出光電轉(zhuǎn)換兀件的電荷信號，考慮使用例如電荷傳 送CCD或者對各個像素給予放大功能并輸出電壓信號的APS (有源像素傳感器）-CMOS傳感 器。例如，圖2中的固態(tài)攝像傳感器是APS-CM0S傳感器。利用光電轉(zhuǎn)換元件之間的死角區(qū) (dead spaces)形成具有放大功能的讀出電路單元31。
[0038] 盡管在圖2中未示出，但讀出電路單元31與圖2中也被稱為垂直方向上的垂直輸 出線路的通用配線相連接。水平掃描電路33執(zhí)行在水平方向上順次訪問通用配線的水平 傳送功能。
[0039] 盡管在圖2中未示出，但讀出電路單元31連接到水平方向上的通用控制線路，以 一次執(zhí)行一行光電轉(zhuǎn)換元件的信號電荷的傳送、讀出電路單元31的電荷-電壓轉(zhuǎn)換等。垂 直掃描電路32具有在行方向上順次設置要執(zhí)行該操作的行的功能。
[0040] 通過多方面地利用上述APS-CM0S固態(tài)攝像傳感器的功能，隨機訪問給定光電轉(zhuǎn) 換元件在某種程度上變得可能。然而，為了實現(xiàn)上述情況，需要添加掃描電路系統(tǒng)的功能， 這會影響到成本。因此，許多APS-CM0S固態(tài)攝像傳感器在垂直和水平方向上執(zhí)行順次信號 讀出。更具體地，在不經(jīng)歷任何重聚焦重構(gòu)處理的拍攝圖像中，光電轉(zhuǎn)換元件的信號被分別 地布置為各種光束角度分量。這樣，即使嘗試直接對拍攝圖像執(zhí)行實時缺陷像素檢測，仍很 難區(qū)分應作為校正目標的缺陷元件和被攝體邊緣。
[0041] 盡管很難例示全部因素，但下文仍將解釋固態(tài)攝像傳感器3的缺陷產(chǎn)生因素。典 型的因素是點缺陷，該點缺陷發(fā)出白色光，并由光電轉(zhuǎn)換元件自身中的例如重金屬污染物 等的雜質(zhì)的混入而生成。缺陷的另一個示例由讀出電路單元31引起。該缺陷是當由于半導 體制造步驟的損害導致界面水平濃度在包含在讀取電路單元31中的半導體層的表面附近 增加、并且在該水平俘獲或發(fā)射電荷時生成的閃爍缺陷。該缺陷也被稱為RTS噪聲。這種類 型的缺陷在時間方向上隨機生成，并且當觀察運動圖像的相同場景時該缺陷尤為突出。甚 至在靜止圖像中，該缺陷也會作為這樣一種現(xiàn)象而出現(xiàn)：即在給定的拍攝圖像中不出現(xiàn)的 缺陷出現(xiàn)在其他拍攝圖像中。在攝像裝置的布置方面，在存儲器等中記錄該缺陷作為一直 被校正的缺陷部件并不是有效的。最近，在一些示例中，多個光電轉(zhuǎn)換元件共享讀出電路單 元31以使像素區(qū)域小型化，盡管這取決于固態(tài)攝像傳感器3的布置。在這種情況下，使用 經(jīng)受高界面水平濃度的讀出電路單元31的所有光電轉(zhuǎn)換元件都變?yōu)槿毕菰蜻x。甚至 從校正圖像質(zhì)量的視角來看，也不期望無例外地將所有這些光電轉(zhuǎn)換元件作為校正目標而 記錄。
[0042] 圖3是示出了控制根據(jù)第一實施例的攝像裝置的方法的流程圖。
[0043] 利用圖1中未示出的開關(guān)開啟攝像裝置的主電源，然后開啟系統(tǒng)控制單元15的電 源（步驟S301)。向固態(tài)攝像傳感器3提供驅(qū)動設置信號（步驟S302)。這樣就可以執(zhí)行 在圖像顯示設備14上順次顯示實時圖像的模式。
[0044] 自動對焦調(diào)整（即所謂的自動對焦（AF))開始自動驅(qū)動聚焦透鏡以對被攝體聚焦 (步驟S303)。作為AF方法，已知有利用對比度檢測的方法和利用專用距離測量傳感器的 方法。如果通過利用根據(jù)第一實施例的光場相機的特征可以適當讀出微透鏡下方位于不同 象限的光電轉(zhuǎn)換元件的信號，則這些信號就可以被用作用于相位差檢測AF的信號。在接收 到AF結(jié)果后，系統(tǒng)控制單元15經(jīng)由聚焦透鏡驅(qū)動電路6來驅(qū)動攝像光學系統(tǒng)1的聚焦透 鏡。
[0045] 如果按下圖1中未示出的釋放按鈕（步驟S304)，則執(zhí)行攝像（步驟S305)。讀出 到圖像存儲器10的圖像被作為拍攝圖像而記錄在記錄介質(zhì)12上（步驟S306)。此外，在相 同微透鏡下方的光電轉(zhuǎn)換元件的信號被加算，并且具有對應于微透鏡陣列2的像素的數(shù)量 的臨時重構(gòu)圖像被記錄在記錄介質(zhì)12上（步驟S307)。稍后將詳細描述臨時重構(gòu)圖像。
[0046] 在步驟S308至S314中，執(zhí)行在記錄的拍攝圖像中提取缺陷元件以及記錄該缺陷 元件的地址的處理。然而，步驟S308至S314是一種準備處理，該準備處理用于在用戶觀 察重構(gòu)圖像時有效地顯示重構(gòu)圖像，在該重構(gòu)圖像中抑制了伴隨著缺陷元件的圖像質(zhì)量劣 化。因此，不必總是在獲取了拍攝圖像后就立即執(zhí)行步驟S308以及后續(xù)步驟中的處理。可 以由使用模仿圖1中的攝像裝置的一部分的圖像處理裝置、記錄圖像處理方法的存儲器等 的計算機等來執(zhí)行步驟S308以及后續(xù)步驟中的處理。
[0047] 在描述步驟S308至S314之前，將參照圖4解釋重聚焦重構(gòu)處理。重聚焦重構(gòu)處 理的特征在于考慮到光束角度信息而重新排布并加算光電轉(zhuǎn)換元件的信號。
[0048] 圖4是光束視圖，示出了根據(jù)第一實施例的攝像裝置在幾乎各個微透鏡陣列2的 頂點處形成被攝體A1的圖像的狀態(tài)。圖4僅示出了進入元件的主光束。
[0049] 在圖4中，在攝像光學系統(tǒng)1對離主點被攝體距離al處的被攝體A1聚焦的狀態(tài) 下執(zhí)行攝像。從構(gòu)成A1的一個點出射的光束在離攝像光學系統(tǒng)1的主點成像距離rl處會 聚到微透鏡陣列2上的頂點中的一個頂點上。注意，在被攝體距離al和成像距離rl間建 立成像公式（1):

【權(quán)利要求】
1. 一種圖像處理裝置，其對包含從被攝體行進的光束的角度信息的拍攝圖像進行處 理，所述圖像處理裝置包括： 生成單元，其被配置為通過重構(gòu)所述拍攝圖像來生成重構(gòu)圖像；W及 提取單元，其被配置為基于對應于不同成像距離的多個重構(gòu)圖像，提取拍攝所述拍攝 圖像的光電轉(zhuǎn)換元件中包括的缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的地址。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，所述圖像處理裝置還包括： 檢測單元，其被配置為檢測所述多個重構(gòu)圖像中的缺陷像素，其中，所述提取單元基于 所述缺陷像素提取所述缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的地址。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的圖像處理裝置，其中，所述檢測單元通過將所述重構(gòu)圖像中 的目標像素的信號與所述目標像素附近的多個像素的信號進行比較，來檢測所述缺陷像 素。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的圖像處理裝置，其中，所述提取單元基于所述缺陷像素在所 述重構(gòu)圖像中的地址和對所述重構(gòu)圖像應用的重構(gòu)處理，來提取所述缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的 候選，并基于對應于不同成像距離的所述多個重構(gòu)圖像的各個中的所述缺陷光電轉(zhuǎn)換元件 的多個候選，來確定所述缺陷光電轉(zhuǎn)換元件。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，所述圖像處理裝置還包括： 校正單元，其被配置為基于所述缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的地址的信息，校正由所述生成單 元生成的所述重構(gòu)圖像中的所述缺陷像素。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，所述圖像處理裝置還包括： 記錄單元，其被配置為將所述缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的地址與所述拍攝圖像一起記錄。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，所述生成單元通過根據(jù)所述成像距離 重新布置所述拍攝圖像的各個信號并進行加算，來生成所述重構(gòu)圖像。
8. -種圖像處理裝置的控制方法，所述圖像處理裝置對包含從被攝體行進的光束的角 度信息的拍攝圖像進行處理，所述控制方法包括： 生成步驟，通過重構(gòu)所述拍攝圖像來生成重構(gòu)圖像；W及 提取步驟，基于對應于不同成像距離的多個重構(gòu)圖像，提取拍攝所述拍攝圖像的光電 轉(zhuǎn)換元件中包括的缺陷光電轉(zhuǎn)換元件的地址。
【文檔編號】H04N5/232GK104469194SQ201410458046
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年9月10日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月12日
【發(fā)明者】佐佐木顯, 鈴木聰史 申請人:佳能株式會社