并行測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種并行測(cè)試裝置，包括：計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)上設(shè)置有第一無(wú)線連接模塊；多臺(tái)待測(cè)試設(shè)備，每臺(tái)測(cè)試設(shè)備上設(shè)置有第二無(wú)線連接模塊和與所述第二無(wú)線連接模塊連接的測(cè)試模塊，所述測(cè)試模塊和所述計(jì)算機(jī)之間通過(guò)所述第二無(wú)線連接模塊和第一無(wú)線連接模塊進(jìn)行通信。本實(shí)用新型能夠支持對(duì)多臺(tái)測(cè)試設(shè)備同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，設(shè)定及更新測(cè)試模塊，提高測(cè)試效率，無(wú)需復(fù)雜的有線連接，采用各種屏蔽測(cè)試箱時(shí)，也無(wú)需頻繁打開(kāi)屏蔽測(cè)試箱對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試維護(hù)，設(shè)置及更換。
【專利說(shuō)明】并行測(cè)試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本實(shí)用新型涉及一種并行測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行各種性能測(cè)試時(shí)，通常是每次將計(jì)算機(jī)只與一臺(tái)待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行復(fù)雜的有線連接，然后開(kāi)始測(cè)試，測(cè)試完成后重新將計(jì)算機(jī)與下一臺(tái)待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行同樣的復(fù)雜的有線連接，無(wú)法支持同時(shí)對(duì)多臺(tái)待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試操作繁瑣、測(cè)試效率低。另外，在采用各種屏蔽測(cè)試箱進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由于待測(cè)試設(shè)備要放入屏蔽測(cè)試箱內(nèi)，對(duì)多臺(tái)待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試時(shí)就需要頻繁打開(kāi)屏蔽測(cè)試箱。因此，目前亟需一種并行測(cè)試裝置，以提高對(duì)待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行各種性能測(cè)試的效率。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種并行測(cè)試裝置，能夠支持對(duì)多臺(tái)測(cè)試設(shè)備同時(shí)進(jìn)行設(shè)置、更新、測(cè)試，提高測(cè)試效率。
[0004]為解決上述問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種并行測(cè)試裝置，包括:
[0005]計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)上設(shè)置有第一無(wú)線連接模塊；
[0006]多臺(tái)待測(cè)試設(shè)備，每臺(tái)測(cè)試設(shè)備上設(shè)置有第二無(wú)線連接模塊和與所述第二無(wú)線連接模塊連接的測(cè)試模塊，所述測(cè)試模塊和所述計(jì)算機(jī)之間通過(guò)所述第二無(wú)線連接模塊和第一無(wú)線連接模塊進(jìn)行通信。
[0007]進(jìn)一步的，在上述裝置中，所述待測(cè)試設(shè)備為移動(dòng)手持設(shè)備。
[0008]進(jìn)一步的，在上述裝置中，所述待測(cè)試設(shè)備為照相機(jī)。
[0009]進(jìn)一步的，在上述裝置中，所述并行測(cè)試裝置還包括一屏蔽測(cè)試箱，多個(gè)待測(cè)試設(shè)備放置于所述屏蔽測(cè)試箱內(nèi)。
[0010]進(jìn)一步的，在上述裝置中，所述屏蔽測(cè)試箱為屏蔽光源測(cè)試箱。
[0011]進(jìn)一步的，在上述裝置中，所述屏蔽測(cè)試箱為屏蔽無(wú)線信號(hào)測(cè)試箱。
[0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型通過(guò)計(jì)算機(jī)上設(shè)置有第一無(wú)線連接模塊，每臺(tái)測(cè)試設(shè)備上設(shè)置有第二無(wú)線連接模塊和與所述第一無(wú)線連接模塊連接的測(cè)試模塊，所述測(cè)試模塊和所述計(jì)算機(jī)之間通過(guò)所述第二無(wú)線連接模塊和第一無(wú)線連接模塊進(jìn)行通信，能夠支持對(duì)多臺(tái)測(cè)試設(shè)備同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，，設(shè)定及更新測(cè)試模塊，提高測(cè)試效率，無(wú)需復(fù)雜的有線連接，采用各種屏蔽測(cè)試箱時(shí)，也無(wú)需頻繁打開(kāi)屏蔽測(cè)試箱對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試維護(hù)，設(shè)置及更換。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0013]圖1是本實(shí)用新型一實(shí)施例的并行測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)圖；
[0014]圖2是本實(shí)用新型一實(shí)施例的帶屏蔽測(cè)試箱的并行測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)圖；
[0015]圖3是本實(shí)用新型一實(shí)施例的并行測(cè)試裝置的原理圖。[0016]圖中，1-計(jì)算機(jī)，11-第一無(wú)線連接模塊，2-測(cè)試設(shè)備，21-第二無(wú)線連接模塊，22-測(cè)試模塊，3-屏蔽測(cè)試箱。
【具體實(shí)施方式】
[0017]為使本實(shí)用新型的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
[0018]如圖1所示，本實(shí)用新型提供一種并行測(cè)試裝置，包括計(jì)算機(jī)I和多臺(tái)待測(cè)試設(shè)備2。
[0019]其中，所述計(jì)算機(jī)I上設(shè)置有第一無(wú)線連接模塊11，每臺(tái)測(cè)試設(shè)備2上設(shè)置有第二無(wú)線連接模塊21和與所述第二無(wú)線連接模塊21連接的測(cè)試模塊22，所述測(cè)試模塊22和所述計(jì)算機(jī)I之間通過(guò)所述第二無(wú)線連接模塊21和第一無(wú)線連接模塊11進(jìn)行通信。具體的，所有測(cè)試設(shè)備2上第二無(wú)線連接模塊21可以同時(shí)通過(guò)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)與第一無(wú)線連接模塊11，計(jì)算機(jī)I可將測(cè)試算法通過(guò)第一無(wú)線連接模塊11和第二無(wú)線連接模塊21同時(shí)發(fā)送至每個(gè)測(cè)試模塊22，即測(cè)試算法即時(shí)更新到各個(gè)待測(cè)設(shè)備2的測(cè)試模塊22，各個(gè)測(cè)試模塊22運(yùn)行所述測(cè)試算法對(duì)其所在的測(cè)試設(shè)備2進(jìn)行測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果通過(guò)所述第二無(wú)線連接模塊21和第一無(wú)線連接模塊11發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)I，從而實(shí)現(xiàn)支持多臺(tái)測(cè)試設(shè)備2進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。
[0020]可選的，所述待測(cè)試設(shè)備為移動(dòng)手持設(shè)備。
[0021]可選的，所述待測(cè)試設(shè)備為照相機(jī)。
[0022]優(yōu)選的，如圖2所示，所述并行測(cè)試裝置還包括一屏蔽測(cè)試箱3，多個(gè)待測(cè)試設(shè)備2放置于所述屏蔽測(cè)試箱3內(nèi)。可選的，所述屏蔽測(cè)試箱為屏蔽光源測(cè)試箱?？蛇x的，所述屏蔽測(cè)試箱為屏蔽無(wú)線信號(hào)測(cè)試箱。具體的，在對(duì)測(cè)試設(shè)備2進(jìn)行測(cè)試時(shí)，有時(shí)會(huì)采用各種屏蔽測(cè)試箱內(nèi)3，以滿足各種測(cè)試需求。例如，對(duì)照相機(jī)之類的待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要將多臺(tái)照相機(jī)放入屏蔽光源測(cè)試箱內(nèi)，以起到屏蔽光源干擾的作用，進(jìn)行測(cè)試過(guò)程中無(wú)需頻繁打開(kāi)屏蔽測(cè)試箱對(duì)照相機(jī)進(jìn)行更換。對(duì)移動(dòng)手持設(shè)備之類的待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要將多臺(tái)移動(dòng)手持設(shè)備放入屏蔽無(wú)線信號(hào)測(cè)試箱內(nèi)，以測(cè)試每臺(tái)移動(dòng)手持設(shè)備的信號(hào)強(qiáng)度，進(jìn)行測(cè)試過(guò)程中無(wú)需頻繁打開(kāi)屏蔽測(cè)試箱對(duì)移動(dòng)手持設(shè)備進(jìn)行更換。
[0023]詳細(xì)的，如圖3所示，對(duì)待測(cè)設(shè)備2進(jìn)行測(cè)試的步驟如下:
[0024]步驟SI，待測(cè)設(shè)備2的測(cè)試模塊22根據(jù)預(yù)設(shè)的待測(cè)設(shè)備2的AP SSID通過(guò)第一無(wú)線連接模塊11和第二無(wú)線連接模塊21與計(jì)算機(jī)I建立無(wú)線通信連接；
[0025]步驟S2，計(jì)算機(jī)I偵測(cè)到連接上的待測(cè)設(shè)備2的測(cè)試模塊22后，向測(cè)試模塊22導(dǎo)入或更新測(cè)試模塊22里的測(cè)試算法；
[0026]步驟S3，計(jì)算機(jī)I對(duì)測(cè)試模塊22里的測(cè)試算法進(jìn)行初始化或配置；
[0027]步驟S4，計(jì)算機(jī)I運(yùn)行測(cè)試模塊22里的測(cè)試算法；
[0028]步驟S5，測(cè)試模塊22通過(guò)所述第二無(wú)線連接模塊21和第一無(wú)線連接模塊11向計(jì)算機(jī)I回傳測(cè)試結(jié)果；
[0029]步驟S6，計(jì)算機(jī)I通知測(cè)試模塊22結(jié)束測(cè)試。
[0030]綜上所述，本實(shí)用新型通過(guò)計(jì)算機(jī)上設(shè)置有第一無(wú)線連接模塊，每臺(tái)測(cè)試設(shè)備上設(shè)置有第二無(wú)線連接模塊和與所述第一無(wú)線連接模塊連接的測(cè)試模塊，所述測(cè)試模塊和所述計(jì)算機(jī)之間通過(guò)所述第二無(wú)線連接模塊和第一無(wú)線連接模塊進(jìn)行通信，能夠支持對(duì)多臺(tái)測(cè)試設(shè)備同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，設(shè)定及更新測(cè)試模塊，提高測(cè)試效率，無(wú)需復(fù)雜的有線連接，采用各種屏蔽測(cè)試箱時(shí)，也無(wú)需頻繁打開(kāi)屏蔽測(cè)試箱對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試維護(hù)，設(shè)置及更換。
[0031]本說(shuō)明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見(jiàn)即可。對(duì)于實(shí)施例公開(kāi)的系統(tǒng)而言，由于與實(shí)施例公開(kāi)的方法相對(duì)應(yīng)，所以描述的比較簡(jiǎn)單，相關(guān)之處參見(jiàn)方法部分說(shuō)明即可。
[0032]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)實(shí)用新型進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實(shí)用新型的這些修改和變型屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本實(shí)用新型也意圖包括這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種并行測(cè)試裝置，其特征在于，包括: 計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)上設(shè)置有第一無(wú)線連接模塊； 多臺(tái)待測(cè)試設(shè)備，每臺(tái)測(cè)試設(shè)備上設(shè)置有第二無(wú)線連接模塊和與所述第二無(wú)線連接模塊連接的測(cè)試模塊，所述測(cè)試模塊和所述計(jì)算機(jī)之間通過(guò)所述第二無(wú)線連接模塊和第一無(wú)線連接模塊進(jìn)行通信。
2.如權(quán)利要求1所述的并行測(cè)試裝置，其特征在于，所述待測(cè)試設(shè)備為移動(dòng)手持設(shè)備。
3.如權(quán)利要求1所述的并行測(cè)試裝置，其特征在于，所述待測(cè)試設(shè)備為照相機(jī)。
4.如權(quán)利要求1所述的并行測(cè)試裝置，其特征在于，所述并行測(cè)試裝置還包括一屏蔽測(cè)試箱，多個(gè)待測(cè)試設(shè)備放置于所述屏蔽測(cè)試箱內(nèi)。
5.如權(quán)利要求4所述的并行測(cè)試裝置，其特征在于，所述屏蔽測(cè)試箱為屏蔽光源測(cè)試箱。
6.如權(quán)利要求4所述的并行測(cè)試裝置，其特征在于，所述屏蔽測(cè)試箱為屏蔽無(wú)線信號(hào)測(cè)試箱。
【文檔編號(hào)】H04M1/24GK203433663SQ201320517525
【公開(kāi)日】2014年2月12日 申請(qǐng)日期:2013年8月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月22日
【發(fā)明者】田志剛, 魯云雷, 衛(wèi)曉暉 申請(qǐng)人:英華達(dá)（上海）科技有限公司, 英華達(dá)(上海)電子有限公司, 英華達(dá)股份有限公司