專利名稱：應(yīng)答器的電路以及用于測(cè)試電路的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種應(yīng)答器的電路以及一種用于測(cè)試應(yīng)答器的電路的方法。
背景技術(shù)：
由US 7，181，665B2公開了一種用于測(cè)試智能卡的設(shè)備以及一種用于測(cè)試智能卡 的方法。用于測(cè)試的設(shè)備具有邏輯測(cè)試器、非接觸的接口以及接觸接口。邏輯測(cè)試器產(chǎn)生 測(cè)試圖形，所述測(cè)試圖形被傳輸至智能卡以便測(cè)試智能卡。所述設(shè)備接收響應(yīng)圖形，以便測(cè) 試智能卡的狀態(tài)。非接觸的接口實(shí)現(xiàn)了非接觸的測(cè)試模式。相反，接觸接口實(shí)現(xiàn)了接觸測(cè) 試模式O

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的任務(wù)在于，盡可能改進(jìn)用于測(cè)試應(yīng)答器的電路的方法。所述任務(wù)通過(guò)具有獨(dú)立權(quán)利要求1的特征的用于測(cè)試應(yīng)答器的電路的方法解決。 有利的進(jìn)一步構(gòu)型是從屬權(quán)利要求的主題并且包括在說(shuō)明書中。因此，提出一種用于測(cè)試應(yīng)答器的電路的方法。在測(cè)試期間在無(wú)源模式中運(yùn)行電 路。在無(wú)源模式中，僅僅以來(lái)自場(chǎng)的能量向所述電路供電。所述場(chǎng)優(yōu)選是交變磁場(chǎng)或者電 磁場(chǎng)。在無(wú)源模式期間，由所述電路借助于場(chǎng)從基站接收用于激活測(cè)試?yán)谐绦虻拿?令。優(yōu)選地，所述命令受密碼保護(hù)，從而僅在輸入正確密碼時(shí)才執(zhí)行測(cè)試?yán)谐绦?。測(cè)試?yán)?行程序可以固定地或可編程地實(shí)現(xiàn)在應(yīng)答器的程序存儲(chǔ)器中。測(cè)試?yán)谐绦蛞部杀环Q為調(diào) 試?yán)谐绦?。?yōu)選地，為了開始測(cè)試?yán)谐绦颍袛鄳?yīng)答器的電路中正常的程序運(yùn)行過(guò)程。通過(guò) 測(cè)試?yán)谐绦蜃x取存儲(chǔ)內(nèi)容。存儲(chǔ)內(nèi)容優(yōu)選在正常的程序運(yùn)行過(guò)程中是隱藏的，因此不可 在協(xié)議層上讀取。這種隱沒(méi)的存儲(chǔ)內(nèi)容例如存儲(chǔ)在狀態(tài)寄存器中和/或輸入輸出寄存器 中。優(yōu)選地，在測(cè)試?yán)谐绦蛑凶x取狀態(tài)寄存器和/或輸入輸出寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容。存儲(chǔ)內(nèi)容作為測(cè)試數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)在電路的存儲(chǔ)器的通過(guò)測(cè)試?yán)谐绦蝾A(yù)先確定的 存儲(chǔ)區(qū)中。存儲(chǔ)器例如是電路的SRAM存儲(chǔ)器。有利的是，為了進(jìn)行存儲(chǔ)可以復(fù)制和/或壓 縮和/或編碼和/或加密存儲(chǔ)內(nèi)容。在無(wú)源模式期間，借助于場(chǎng)向基站發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)。為此，以預(yù)先確定的用于傳輸?shù)?時(shí)間間隔發(fā)送這些測(cè)試數(shù)據(jù)優(yōu)選作為有用數(shù)據(jù)(payload 凈荷)。此外，本發(fā)明的任務(wù)還在于，說(shuō)明一種盡可能改進(jìn)的應(yīng)答器的電路。所述任務(wù)通過(guò)具有獨(dú)立權(quán)利要求11的特征的電路解決。有利的進(jìn)一步構(gòu)型是從 屬權(quán)利要求的主題并且包括在說(shuō)明書中。因此，提出一種應(yīng)答器的電路。所述電路具有用于借助場(chǎng)進(jìn)行通信的接口。所述 電路具有與接口相連接的計(jì)算單元。所述計(jì)算單元例如是作為微控制器的組成部分的計(jì)算 內(nèi)核。所述電路具有與計(jì)算單元相連接的存儲(chǔ)器。
在無(wú)源模式中以來(lái)自場(chǎng)的能量供給計(jì)算單元。在此，場(chǎng)的能量被轉(zhuǎn)換成電能并且 被中間存儲(chǔ)在電容器中。接口和計(jì)算單元被設(shè)置用于在無(wú)源模式中借助于場(chǎng)從基站接收用于激活測(cè)試?yán)?行程序(debug-routine)的命令。計(jì)算單元被設(shè)置用于通過(guò)測(cè)試?yán)谐绦驅(qū)⒆鳛闇y(cè)試數(shù)據(jù)(debug data)的存儲(chǔ)內(nèi) 容存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器的通過(guò)測(cè)試?yán)谐绦蝾A(yù)先確定的存儲(chǔ)區(qū)中。優(yōu)選地，電路具有多個(gè)寄存器， 其中可借助于測(cè)試?yán)谐绦驈囊粋€(gè)寄存器中讀取存儲(chǔ)內(nèi)容。接口和計(jì)算單元被設(shè)置用于在無(wú)源模式中借助于場(chǎng)向基站發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)。以下所描述的進(jìn)一步構(gòu)型不僅涉及電路，而且涉及用于測(cè)試應(yīng)答器的電路的方 法。在此，電路的功能特征從方法步驟中獲得。根據(jù)一個(gè)有利的構(gòu)型，除用于通過(guò)場(chǎng)進(jìn)行發(fā)送和接收的接口外禁用電路的數(shù)據(jù)接 口。特別地，為了禁用，斷開或切斷電路的連接端子(管腳)。根據(jù)一個(gè)有利的進(jìn)一步構(gòu)型方案提出，在第一通信期間對(duì)測(cè)試?yán)谐绦蜻M(jìn)行編 程。為此，例如所述測(cè)試?yán)谐绦虻拇a由基站傳輸至應(yīng)答器的電路。在此，通過(guò)編程優(yōu)選 確定可以在正常程序運(yùn)行過(guò)程中的哪個(gè)位置處分支到測(cè)試?yán)谐绦?。此外，通過(guò)編程優(yōu)選 確定用于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)區(qū)。在對(duì)程序例行程序進(jìn)行編程之后，尤其在第一通信之后 的第二通信中激活被編程的測(cè)試?yán)谐绦?。根?jù)一個(gè)優(yōu)選的進(jìn)一步構(gòu)型提出，為了存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，通過(guò)改變測(cè)試?yán)谐绦騺?lái) 改變或編程預(yù)先確定的存儲(chǔ)區(qū)，尤其是存儲(chǔ)器內(nèi)所述存儲(chǔ)區(qū)的大小和/或位置。這樣例如 可以在成功測(cè)試后釋放為測(cè)試數(shù)據(jù)保留的存儲(chǔ)器用于正常運(yùn)行——例如作為工作存儲(chǔ)器。在另一個(gè)進(jìn)一步構(gòu)型中提出，存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)連同屬于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試?yán)谐绦虻?標(biāo)識(shí)。所述標(biāo)識(shí)例如是會(huì)話號(hào)，對(duì)于應(yīng)答器的電路的前后相繼的測(cè)試塊(會(huì)話)所述會(huì)話 號(hào)與所屬的測(cè)試數(shù)據(jù)被一起存儲(chǔ)，從而可以將測(cè)試數(shù)據(jù)分配給相應(yīng)的會(huì)話。例如可以在不 同的邊界條件下，例如在應(yīng)答器與基站之間的不同距離下執(zhí)行這些會(huì)話。在有利的構(gòu)型方案中，以電路的內(nèi)部時(shí)鐘發(fā)生器的時(shí)鐘信號(hào)來(lái)運(yùn)行所述電路，以 便執(zhí)行測(cè)試?yán)谐绦颉?yōu)選地，內(nèi)部時(shí)鐘發(fā)生器在測(cè)試?yán)谐绦蚱陂g保持一時(shí)鐘頻率，使得 以與正常運(yùn)行中相同的電路電流消耗進(jìn)行所述測(cè)試。替換地，以由場(chǎng)的載波信號(hào)形成的時(shí) 鐘信號(hào)運(yùn)行所述電路，以便執(zhí)行測(cè)試?yán)谐绦?。例如，通過(guò)載波信號(hào)的載波頻率的分頻形成 時(shí)鐘信號(hào)。根據(jù)一個(gè)有利的構(gòu)型，在無(wú)源模式的通信協(xié)議內(nèi)，在通過(guò)場(chǎng)連接的基站與應(yīng)答器 的電路之間協(xié)商用于從應(yīng)答器的電路至基站的測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸?shù)臅r(shí)隙。優(yōu)選地，在無(wú)源模式中基站向應(yīng)答器的電路發(fā)送用于傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)的命令。應(yīng)答 器的電路在接收到用于傳輸?shù)拿畹那闆r下才向基站發(fā)送所要求的數(shù)據(jù)。在有利的構(gòu)型方案中提出，為了進(jìn)行存儲(chǔ)而加密和/或壓縮和/或編碼測(cè)試數(shù)據(jù)。在一個(gè)另外的、也可組合的構(gòu)型中，為了激活測(cè)試?yán)谐绦?，由?yīng)答器的電路實(shí)施 認(rèn)證。上述進(jìn)一步構(gòu)型方案特別有利于單獨(dú)應(yīng)用以及組合應(yīng)用。在此，所有的進(jìn)一步構(gòu) 型方案可以相互組合。在附圖的實(shí)施例的說(shuō)明中闡述了幾種可能的組合形式。但那里所示 的進(jìn)一步構(gòu)型方案的組合可能性并未窮盡。


以下根據(jù)附圖通過(guò)實(shí)施例來(lái)進(jìn)一步描述本發(fā)明。附圖示出
圖1 應(yīng)答器的電路的示意性框圖，以及圖2 應(yīng)答器的程序的示意性流程圖。
具體實(shí)施例方式圖1中示意性地示出具有應(yīng)答器和基站300的系統(tǒng)。系統(tǒng)由非接觸無(wú)源應(yīng)答器和 基站300組成，它們作為通信伙伴建立無(wú)線的通信連接，其中在應(yīng)答器與基站300之間進(jìn)行 授權(quán)，從而基站300是應(yīng)答器的唯一的通信伙伴。在此，在應(yīng)答器與基站之間通過(guò)通信信道 以半雙工的方法通過(guò)非接觸的接口交換信息?；?00也可被稱為詢問(wèn)單元。為了測(cè)試應(yīng)答器的電路100，基站300通過(guò)一連接與計(jì)算機(jī)400、輸入終端或類似 物連接。相反，基站300與應(yīng)答器僅僅通過(guò)場(chǎng)EMF連接。場(chǎng)EMF例如是磁場(chǎng)或電磁場(chǎng)，其使 基站300與應(yīng)答器的電路100之間的無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸成為可能。因此，基站300通過(guò)場(chǎng)EMF向應(yīng)答器供給能量。此外，基站300作為主機(jī)(master) 工作并且產(chǎn)生用于與應(yīng)答器進(jìn)行通信的協(xié)議和電報(bào)?；?00發(fā)送通常是應(yīng)用協(xié)議層中的 請(qǐng)求(request)的命令，以便例如讀取、加密或者從應(yīng)答器向基站300回發(fā)數(shù)據(jù)。在此，各 個(gè)動(dòng)作以確定的順序和/或優(yōu)先級(jí)進(jìn)行。在圖1的實(shí)施例中，基站300具有用于發(fā)出所述場(chǎng)EMF的振蕩回路301。電路100 同樣具有一個(gè)振蕩回路111，所述振蕩回路111在圖1的實(shí)施例中具有調(diào)諧至基站300的 振蕩回路301的諧振頻率?；?00可以例如借助于振幅調(diào)制向應(yīng)答器的電路100發(fā)送數(shù) 據(jù)。從應(yīng)答器的電路100到基站300的數(shù)據(jù)回發(fā)同樣是可行的。例如，所述回發(fā)通過(guò)場(chǎng)EMF 的經(jīng)調(diào)制的衰減實(shí)現(xiàn)或者替換地通過(guò)經(jīng)調(diào)制的信號(hào)在另一頻率上的回發(fā)實(shí)現(xiàn)。應(yīng)答器的電路100的振蕩回路111與模擬輸入電路110連接。模擬輸入電路110 與振蕩回路111 一起被構(gòu)造用于從場(chǎng)EMF中獲取電能。所述電能作為電荷借助于功率控制 電路112中間存儲(chǔ)在電容器113，Cbuf中并且借助于功率控制電路112提供給應(yīng)答器的電 路100的其余電路元件，以便執(zhí)行各種功能。在無(wú)源模式中，在此僅僅以來(lái)自場(chǎng)EMF的能量向應(yīng)答器的電路100供電。只要場(chǎng) EMF被足夠地接收，應(yīng)答器的電路100便可以執(zhí)行例行程序。場(chǎng)EMF導(dǎo)致感應(yīng)電壓，所述感 應(yīng)電壓被整流、被中間存儲(chǔ)和被調(diào)節(jié)地作為電路100的供電電壓。雖然圖1的實(shí)施例的應(yīng) 答器電路100具有多個(gè)連接端子，但是在無(wú)源模式中必須禁用這些連接端子，以便使電路 的電流消耗最小化。相反，如果來(lái)自場(chǎng)EMF的能量不再夠用，則電路100的已啟動(dòng)的例行程序被中斷或 被終止。在此，應(yīng)答器可被構(gòu)造為純粹的無(wú)源應(yīng)答器，僅僅在通過(guò)場(chǎng)的能量供給足夠的情況 下才可以運(yùn)行所述應(yīng)答器。其他類型的應(yīng)答器附加地具有電池并且可以在無(wú)源模式與電池 支持的模式之間轉(zhuǎn)換。圖1中示意性地示出與電池電壓Vbat的可選接口 200。所述用于電池電壓Vbat 的接口 200是不連接的或者在純粹的無(wú)源應(yīng)答器中是完全省去的。
圖1中的應(yīng)答器的電路100具有作為計(jì)算單元的計(jì)算內(nèi)核120，所述計(jì)算內(nèi)核120 與模擬輸入電路110連接以通過(guò)場(chǎng)EMF發(fā)送和接收數(shù)據(jù)。在此計(jì)算內(nèi)核120是具有可編程 的程序存儲(chǔ)器(140)和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(130)的微控制器(MCU)的組成部分。微控制器的計(jì)算 內(nèi)核120被構(gòu)造和連接用于讀和寫內(nèi)部存儲(chǔ)器130中的數(shù)據(jù)以及從程序存儲(chǔ)器140中讀取 程序代碼以及執(zhí)行程序例行程序的程序代碼。至少部分模擬的輸入電路110在此充當(dāng)用于 通過(guò)場(chǎng)EMF進(jìn)行通信的接口 110?；?00與應(yīng)答器的電路100之間的連接在此是非接觸 的。計(jì)算內(nèi)核120被設(shè)置用于執(zhí)行例行程序。為此，計(jì)算內(nèi)核120與優(yōu)選可編程的、用 于存儲(chǔ)例行程序的命令的程序存儲(chǔ)器140連接。在此，在程序存儲(chǔ)器140中既存儲(chǔ)有程序 例行程序也存儲(chǔ)有測(cè)試?yán)谐绦?。測(cè)試?yán)谐绦蛟诖艘脖环Q為調(diào)試?yán)谐绦?。在此，至?測(cè)試?yán)谐绦蚴莾?yōu)選可通過(guò)編程改變的。此外，計(jì)算內(nèi)核120與存儲(chǔ)器130連接，所述存儲(chǔ)器130在圖2的實(shí)施例中被構(gòu)造 為靜態(tài)易失性存儲(chǔ)器SRAM。所述存儲(chǔ)器130具有多個(gè)由例行程序定義的存儲(chǔ)區(qū)131、132、 133、134。此外，計(jì)算內(nèi)核120與輸入輸出寄存器170連接，所述輸入輸出寄存器170使通過(guò) 可通斷的連接端子(I0-pOrt:I0端口)180輸入或輸出模擬數(shù)據(jù)或數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)成為可能。例 如應(yīng)答器的電路100具有與電池電壓Vbat、與外部仿真器ICE、與外部時(shí)鐘信號(hào)ECLK、與數(shù) 字的例如串行接口或并行接口 10或者與供電電位端子GND的固定布線的接口 200。所有的 接口 200在無(wú)源模式中是斷開的，以便使電流消耗最小化。因此，在無(wú)源模式中不可以通過(guò) 仿真器ICE的接口測(cè)試電路100。除輸入輸出寄存器170外，計(jì)算內(nèi)核120同樣可以具有諸如狀態(tài)寄存器121的寄 存器。此外，計(jì)算內(nèi)核120與用于輸出內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)CLK的內(nèi)部時(shí)鐘發(fā)生器198連接。為 了輸出程序地址PC，計(jì)算內(nèi)核120與內(nèi)部程序計(jì)數(shù)器195連接。此外，可以在計(jì)算內(nèi)核120 與外圍電路160、如定時(shí)器或類似物之間設(shè)置連接。在此，外圍電路160被構(gòu)造用于完全異 步的數(shù)據(jù)處理。對(duì)于接收情形和/或發(fā)送情形中串行異步信號(hào)的接收、解碼和編碼需要異 步的數(shù)據(jù)處理。在無(wú)源模式中，僅僅以來(lái)自場(chǎng)EMF的能量供給計(jì)算單元120。接口 110和計(jì)算單 元120使在無(wú)源模式中可借助于場(chǎng)EMF接收用于激活測(cè)試?yán)谐绦虻拿畛蔀榭赡?，所?測(cè)試?yán)谐绦蛞部杀环Q為調(diào)試?yán)谐绦?。為此存?chǔ)在程序存儲(chǔ)器140中的程序例行程序必 須具有分析用于激活測(cè)試?yán)谐绦虻拿畹目赡苄?。?jì)算單元120被設(shè)置用于通過(guò)測(cè)試?yán)谐绦騺?lái)定義存儲(chǔ)器130的預(yù)先確定的存儲(chǔ) 區(qū)133。在圖2的實(shí)施例中，存儲(chǔ)器130具有作為寄存器的第一存儲(chǔ)區(qū)131、用于專用數(shù)據(jù) 的第二存儲(chǔ)區(qū)132、用于借助測(cè)試?yán)谐绦颢@得的測(cè)試數(shù)據(jù)的第三存儲(chǔ)區(qū)以及作為堆棧寄 存器(stack)的第四存儲(chǔ)區(qū)134。計(jì)算單元由所存儲(chǔ)的測(cè)試?yán)谐绦蛟O(shè)置用于將可選擇的存儲(chǔ)內(nèi)容作為測(cè)試數(shù)據(jù) 存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器130的由所述測(cè)試?yán)谐绦蝾A(yù)先確定的存儲(chǔ)區(qū)133中。所述存儲(chǔ)內(nèi)容在程序 例行程序的正常的程序運(yùn)行過(guò)程中是不可讀取的。借助于測(cè)試?yán)谐绦驊?yīng)讀取寄存器的尤 其是隱藏的存儲(chǔ)內(nèi)容，如輸入輸出寄存器170和/或狀態(tài)寄存器121的內(nèi)容。附加地，在正 常的程序運(yùn)行過(guò)程中不可讀取的變量可被存儲(chǔ)為測(cè)試數(shù)據(jù)。測(cè)試數(shù)據(jù)被中間存儲(chǔ)在預(yù)先確定的存儲(chǔ)區(qū)133中，以便通過(guò)以后的傳輸向基站300發(fā)送這些測(cè)試數(shù)據(jù)。為了向基站300進(jìn)行傳輸，接口 110和計(jì)算單元120被設(shè)置用于 在無(wú)源模式中借助于場(chǎng)EMF向基站300發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)。如果在易失性存儲(chǔ)器130的存儲(chǔ) 區(qū)133中進(jìn)行存儲(chǔ)，則測(cè)試數(shù)據(jù)可能隨著通過(guò)所述場(chǎng)EMF的能量供給的下降而丟失。為了 避免測(cè)試數(shù)據(jù)的丟失，所述測(cè)試數(shù)據(jù)可以替換地存儲(chǔ)在電路100的一個(gè)非易失性存儲(chǔ)器 150 (EEPROM, Flash 電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器、閃存)中。此外，電路100具有加密解密模塊190，用于加密和/或解密應(yīng)答器的存儲(chǔ)器 (121、130、140、150、170)中尤其是與安全有關(guān)的數(shù)據(jù)。圖2中以示意性流程圖的形式示出方法過(guò)程。所述方法過(guò)程優(yōu)選在應(yīng)答器的為此 設(shè)置的微控制器中進(jìn)行。為此，應(yīng)答器和基站形成用于通信的系統(tǒng)。在第一方法步驟中，應(yīng)答器處于關(guān)閉狀態(tài)中，其方式是不通過(guò)場(chǎng)來(lái)向所述應(yīng)答器 供給能量。隨后，基站開始生成電磁場(chǎng)EMF，所述電磁場(chǎng)EMF到達(dá)應(yīng)答器。在第二方法步驟中，具有微控制器的應(yīng)答器電路激活并且隨后實(shí)施初始化，從而 在步驟3中應(yīng)答器準(zhǔn)備好進(jìn)行通信。測(cè)試應(yīng)答器的電路的前提條件是在無(wú)源模式中運(yùn)行所述電路。在無(wú)源模式中，從 方法步驟2起以來(lái)自場(chǎng)EMF的能量供給應(yīng)答器的電路。例行程序10包括多個(gè)方法步驟4、5和6。在方法步驟4中，在無(wú)源模式期間，由 電路借助于場(chǎng)EMF接收用于激活以后的測(cè)試?yán)谐绦?1、12的多個(gè)命令CMD1、CMD2、CMD3。 如果沒(méi)有接收到命令CMD1、CMD2、CMD3，則測(cè)試?yán)谐绦?1、12保持未激活并且在基站與應(yīng) 答器之間進(jìn)行通信而不進(jìn)行應(yīng)答器的電路的專門測(cè)試。在應(yīng)答器中實(shí)現(xiàn)的軟件被設(shè)置用于 確定所接收的命令并且解析出基站的特定于測(cè)試的請(qǐng)求。在步驟5中由所接收的數(shù)據(jù)解析出(parse)命令，并且在步驟6中向基站傳輸回 石角認(rèn) ACK (acknowledgement)。為了能夠從正常的方法運(yùn)行過(guò)程轉(zhuǎn)移到測(cè)試?yán)谐绦?1、12，必須在通常的程序 運(yùn)行過(guò)程中設(shè)置一分支，所述分支使測(cè)試?yán)谐绦?1、12的開始成為可能。為了開始測(cè)試 例行程序11、12，可以使用例如動(dòng)態(tài)的跳轉(zhuǎn)命令。為此，通過(guò)經(jīng)解析的命令CMD1將指向測(cè)試 例行程序11的跳轉(zhuǎn)地址加載到跳轉(zhuǎn)寄存器中。在步驟7中示意性地示出在存在跳轉(zhuǎn)地址 的情形下跳轉(zhuǎn)到測(cè)試?yán)谐绦?1的方法步驟11. 1。相反，如果不存在命令CMD1，則屬于正 常的程序運(yùn)行過(guò)程的步驟8的地址被加載到跳轉(zhuǎn)寄存器中。替換地，為了從正常的程序運(yùn) 行過(guò)程分支，還可以在步驟7中分析借助于命令CMD1被置位或復(fù)位的變量。在步驟11. 1中，分析基站的請(qǐng)求REQ1。與此相關(guān)地，應(yīng)答器的電路可以在測(cè)試?yán)?行程序11中將它的當(dāng)前狀態(tài)加載到電路自己的存儲(chǔ)器中。優(yōu)選根據(jù)授權(quán)文件和提出請(qǐng)求 的用戶檢驗(yàn)基站的請(qǐng)求。這樣可以取決于用戶地允許或禁止不同的測(cè)試?yán)谐绦?。在步驟11. 2中，根據(jù)先前的請(qǐng)求來(lái)讀取作為測(cè)試數(shù)據(jù)的——在正常的程序運(yùn)行 過(guò)程中不可讀取的——存儲(chǔ)內(nèi)容DAT1，并且在步驟11. 3中通過(guò)測(cè)試?yán)谐绦?1將所述 存儲(chǔ)內(nèi)容DAT1存儲(chǔ)在電路的存儲(chǔ)器的預(yù)先確定的存儲(chǔ)區(qū)中，直至基站請(qǐng)求向基站進(jìn)行傳 輸。在此，能夠以每個(gè)新的用于激活測(cè)試?yán)谐绦虻拿钋宄糜跍y(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)區(qū)并且 存儲(chǔ)基于會(huì)話的測(cè)試數(shù)據(jù)。通過(guò)基站的控制同樣可以與作為標(biāo)識(shí)的會(huì)話號(hào)一起存儲(chǔ)測(cè)試數(shù) 據(jù)，并且在傳輸回基站時(shí)向基站傳輸多個(gè)會(huì)話的測(cè)試數(shù)據(jù)以及相應(yīng)的標(biāo)識(shí)。如果在會(huì)話之 間出現(xiàn)通過(guò)場(chǎng)EMF的能量供給的中斷，則可以將測(cè)試數(shù)據(jù)連同標(biāo)識(shí)存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器(EEPR0M)中。在步驟8中由應(yīng)答器接收數(shù)據(jù)，并且在步驟9中存儲(chǔ)這些數(shù)據(jù)。例如應(yīng)答器根據(jù) 步驟8中接收到的數(shù)據(jù)檢驗(yàn)應(yīng)答器是否與提出請(qǐng)求的基站相對(duì)應(yīng)并且所述基站是否有權(quán) 與所述應(yīng)答器建立通信連接。在步驟21中，設(shè)置了程序例行程序內(nèi)部到另一測(cè)試?yán)谐绦?2的另一分支。分 支的條件例如由步驟4中接收到的第二命令CMD2、CMD3定義，其方式是，例如再次將跳轉(zhuǎn)地 址加載到在程序例行程序中的此位置處被請(qǐng)求的跳轉(zhuǎn)寄存器中。在測(cè)試情形中，所述方法 繼續(xù)測(cè)試?yán)谐绦虻牟襟E12. 1,12. 2和12. 3，所述測(cè)試?yán)谐绦蚶缡前凑諟y(cè)試?yán)谐绦?11來(lái)構(gòu)造的。在此，先前被讀取的寄存器的和/或其他寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容被存儲(chǔ)在預(yù)先確 定的存儲(chǔ)區(qū)中作為測(cè)試數(shù)據(jù)DAT2、DAT3。為了存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)DAT2、DAT3，在最簡(jiǎn)單的情形 中可以復(fù)制這些測(cè)試數(shù)據(jù)。為了存儲(chǔ)，同樣可以編碼、加密和/或壓縮這些測(cè)試數(shù)據(jù)DAT2、 DAT3。在步驟22中進(jìn)行數(shù)據(jù)的加密，其中，在步驟23中存儲(chǔ)經(jīng)加密的數(shù)據(jù)。為了加密， 例如可以使用128位AES算法。在步驟13中，在無(wú)源模式期間，借助于場(chǎng)EMF向基站發(fā)送回所存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)。 隨后，可以利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行進(jìn)一步的分析處理。在此如此定義支持基站與應(yīng)答器之間的數(shù) 據(jù)交換的通信協(xié)議，使得在通信內(nèi)設(shè)有延時(shí)間隔，在這些延時(shí)間隔中設(shè)有長(zhǎng)度可變的時(shí)隙。 在基站與應(yīng)答器之間正常通信內(nèi)的保留時(shí)隙內(nèi)，測(cè)試數(shù)據(jù)在回傳期間由應(yīng)答器傳輸?shù)交?(從客戶機(jī)到主機(jī))。在此，延時(shí)間隔被限制在預(yù)先確定的長(zhǎng)度上，從而這些延時(shí)間隔不干 擾基站與應(yīng)答器之間的符合標(biāo)準(zhǔn)的通信。通過(guò)以上所述的方法實(shí)現(xiàn)了預(yù)想不到的效果在程序代碼中幾乎任意的位置處對(duì) 應(yīng)答器中的程序運(yùn)行過(guò)程進(jìn)行非接觸測(cè)試都是可行的。此外還實(shí)現(xiàn)了預(yù)想不到的效果即 使在無(wú)源模式的困難邊界條件下也可以完全在它的硬件和軟件方面測(cè)試應(yīng)答器，而不改變 由場(chǎng)引起的測(cè)試邊界條件——例如由應(yīng)答器的附加電壓供給引起的測(cè)試邊界條件。此外還 實(shí)現(xiàn)了以下優(yōu)點(diǎn)不必引出用于以后測(cè)試的硬件連接管腳，從而可以完全封裝沒(méi)有連接端 子的應(yīng)答器并且僅僅通過(guò)場(chǎng)來(lái)測(cè)試所述應(yīng)答器。本發(fā)明并不限于圖1到圖2中所示的構(gòu)型方案。例如可以在程序運(yùn)行過(guò)程中的任 意位置處通過(guò)程序代碼的編程設(shè)置到測(cè)試?yán)谐绦虻姆种?。也可以設(shè)有更復(fù)雜的、具有被 測(cè)試的存儲(chǔ)內(nèi)容的預(yù)處理的測(cè)試?yán)谐绦?。?yōu)選可編程地構(gòu)造測(cè)試?yán)谐绦颉？梢岳缭?測(cè)試之前在應(yīng)答器中對(duì)測(cè)試?yán)谐绦蜻M(jìn)行編程。在所進(jìn)行的測(cè)試之后，測(cè)試?yán)谐绦蚩杀?全部地或者完全地從應(yīng)答器的程序存儲(chǔ)器中移除。除通過(guò)場(chǎng)的測(cè)試外，還可以設(shè)有測(cè)試接 口，所述測(cè)試接口被設(shè)置用于電池支持的測(cè)試。這實(shí)現(xiàn)了兩級(jí)測(cè)試，其方式是，首先在第一 級(jí)中通過(guò)由導(dǎo)線連接的接口測(cè)試基本功能并且隨后在第二級(jí)中僅僅在場(chǎng)的條件下在無(wú)源 模式中無(wú)線地進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)圖1的電路的功能可以特別有利地用于純粹的無(wú)源應(yīng)答器、 即無(wú)電池的應(yīng)答器。附圖標(biāo)記列表1-25方法步驟100電路110模擬輸入電路，無(wú)線接口[0068111振蕩回路[0069112功率控制電路[0070113電容器[0071120計(jì)算內(nèi)核，計(jì)算單元[0072121狀態(tài)寄存器[0073130存儲(chǔ)器，SRAM[0074131’132、133、134 存儲(chǔ)區(qū)[0075140程序存儲(chǔ)器[0076150非易失性存儲(chǔ)器[0077160外圍設(shè)備[0078170輸入輸出寄存器[0079180通斷的連接端子[0080190加密解密模塊[0081195程序計(jì)數(shù)器[0082198內(nèi)部時(shí)鐘發(fā)生器[0083200接口[0084300基站，詢問(wèn)單元[0085301振蕩回路[0086400計(jì)算機(jī)，終端[0087EMF場(chǎng)，磁場(chǎng)，電磁場(chǎng)
權(quán)利要求
用于測(cè)試一應(yīng)答器的電路(100)的方法，其中，在一無(wú)源模式中運(yùn)行所述電路(100)，其方式是，以來(lái)自一場(chǎng)(EMF)的能量向所述電路(100)供電，其中，在所述無(wú)源模式期間，由所述電路借助于所述場(chǎng)接收用于激活一測(cè)試?yán)谐绦?11，12)的命令(CDM1，CMD2，CMD3)，其中，通過(guò)所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)將一存儲(chǔ)內(nèi)容作為測(cè)試數(shù)據(jù)(DAT1，DAT2)存儲(chǔ)在所述電路(100)的一存儲(chǔ)器(130)的一由所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)預(yù)先確定的存儲(chǔ)區(qū)(133)中，其中，在所述無(wú)源模式期間，借助于所述場(chǎng)(EMF)發(fā)送所述測(cè)試數(shù)據(jù)(DAT1，DAT2)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，除用于通過(guò)所述場(chǎng)(EMF)進(jìn)行發(fā)送和接收的接口(110)外，禁用所述電路(100) 的數(shù)據(jù)接口(200)。
3.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，在一第一通信期間對(duì)所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)進(jìn)行編程，以及其中，隨后在一第二通信中激活所述被編程的測(cè)試?yán)谐绦?11，12)。
4.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，通過(guò)改變所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)來(lái)改變或編程用于存儲(chǔ)所述測(cè)試數(shù)據(jù) (DATLDAT2)的預(yù)先確定的存儲(chǔ)區(qū)(133)。
5.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)(DAT1，DAT2)連同一屬于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試?yán)谐绦?11，12)的標(biāo) 識(shí)、尤其是一會(huì)話號(hào)。
6.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，以所述電路(100)的一內(nèi)部時(shí)鐘發(fā)生器(198)的時(shí)鐘信號(hào)或者以由所述場(chǎng)(EMF) 的一載波信號(hào)形成的時(shí)鐘信號(hào)運(yùn)行所述電路(100)，以便執(zhí)行所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)。
7.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，在一通信協(xié)議內(nèi)，在一通過(guò)所述場(chǎng)(EMF)連接的基站(300)與所述應(yīng)答器的電路 (100)之間協(xié)商一時(shí)隙，用于從所述應(yīng)答器的電路(100)至所述基站(300)的所述測(cè)試數(shù)據(jù) (DATLDAT2)的傳輸。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述基站(300)向所述應(yīng)答器的電路(100)發(fā)送用于傳輸所述測(cè)試數(shù)據(jù)(DAT1， DAT2)的命令。
9.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，為了存儲(chǔ)，加密所述測(cè)試數(shù)據(jù)(DAT1，DAT2)。
10.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，為了激活所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)，由所述應(yīng)答器的電路(100)實(shí)施一認(rèn)證。
11.一應(yīng)答器的電路(100)具有一接口(110)，用于借助于一場(chǎng)(EMF)進(jìn)行通信，具有一與所述接口(110)相連接的計(jì)算單元(120)，以及具有一與所述計(jì)算單元(120)相連接的存儲(chǔ)器(130)，其中，所述計(jì)算單元(120)在一無(wú)源模式中被供給來(lái)自所述場(chǎng)(EMF)的能量， 其中，所述接口(110)和所述計(jì)算單元(120)被設(shè)置用于在所述無(wú)源模式中借助于所 述場(chǎng)(EMF)接收用于激活一測(cè)試?yán)谐绦?調(diào)試?yán)谐绦?(11，12)的命令(CMD1，CMD2， CMD3)，其中，所述計(jì)算單元(120)被設(shè)置用于通過(guò)所述測(cè)試?yán)谐绦驅(qū)⒁淮鎯?chǔ)內(nèi)容作為測(cè)試 數(shù)據(jù)(DAT1，DAT2)存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器(130，SRAM)的一由所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)預(yù)先 確定的存儲(chǔ)區(qū)(133)中，以及其中，所述接口(110)和所述計(jì)算單元(120)被設(shè)置用于在所 述無(wú)源模式中借助于所述場(chǎng)(EMF)發(fā)送所述測(cè)試數(shù)據(jù)(DAT1，DAT2)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于測(cè)試應(yīng)答器的電路(100)的方法，其中，在無(wú)源模式中運(yùn)行所述電路(100)，其方式是，以來(lái)自場(chǎng)(EMF)的能量向所述電路(100)供電，其中，在所述無(wú)源模式期間，由所述電路借助于所述場(chǎng)接收用于激活測(cè)試?yán)谐绦?11，12)的命令(CDM1，CMD2，CMD3)，其中，通過(guò)所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)將存儲(chǔ)內(nèi)容作為測(cè)試數(shù)據(jù)(DAT1，DAT2)存儲(chǔ)在所述電路(100)的存儲(chǔ)器(130)的由所述測(cè)試?yán)谐绦?11，12)預(yù)先確定的存儲(chǔ)區(qū)(133)中，其中，在所述無(wú)源模式期間，借助于所述場(chǎng)(EMF)發(fā)送所述測(cè)試數(shù)據(jù)(DAT1，DAT2)。
文檔編號(hào)H04B5/00GK101877868SQ20101016394
公開日2010年11月3日 申請(qǐng)日期2010年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月30日
發(fā)明者D·迪耶鮑爾, P·勒佩克 申請(qǐng)人:愛(ài)特梅爾汽車股份有限公司