專(zhuān)利名稱(chēng)：一種降額測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電子領(lǐng)域，尤其涉及一種降額測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
電視機(jī)的設(shè)計(jì)除了要完整地還原由電視臺(tái)發(fā)送的信號(hào)外，還必須要保證電 視機(jī)有一定的可靠性，即要保證它在一定的時(shí)間內(nèi)不出故障，出了故障對(duì)周?chē)?的環(huán)境、人體不造成傷害。可靠性設(shè)計(jì)-降額測(cè)試就是在電視;機(jī)的測(cè)試中加入對(duì) 元器件運(yùn)用的降額測(cè)試，使元器件的運(yùn)用更可靠、更合理。
降額測(cè)試就是使在電視機(jī)內(nèi)工作的元器件在其正常工作范圍內(nèi)(收看)的 應(yīng)力低于該元器件在當(dāng)時(shí)工作環(huán)境下的額定應(yīng)力。應(yīng)力在電子元件的范疇內(nèi)有 電壓、電流、功率、溫度、頻率、壓力、濕度等等，對(duì)于電視機(jī)內(nèi)的電子元件 我們考慮的主要是電壓、電流、溫度、功率、頻率，應(yīng)力是一個(gè)可度量的數(shù)據(jù)。 "當(dāng)時(shí)工作環(huán)境下的額定應(yīng)力" 一般不是指元件規(guī)格書(shū)中所標(biāo)明的值， 一般情
況下規(guī)格書(shū)中標(biāo)明的值不是在我們電視機(jī)的"當(dāng)時(shí)工作環(huán)境"條件下使用，這 時(shí)就只能以元件規(guī)格書(shū)的標(biāo)注條件為參考或進(jìn)行換算。
但是在現(xiàn)有技術(shù)中， 一個(gè)電視機(jī)設(shè)計(jì)完成后要進(jìn)行很多方面的檢查而就是 沒(méi)有降額方面的檢查和評(píng)價(jià)，從而使得除設(shè)計(jì)者外或設(shè)計(jì)者本人都有可能不知 電視機(jī)中元器件運(yùn)用不合理的部分，降低了電視機(jī)的可靠性。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型實(shí)施例所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，提供一種用于降額測(cè)試的裝 置?？蓪?duì)電視機(jī)及其中的電子元器件進(jìn)行降額測(cè)試，以提高電子元器件使用過(guò) 程中的穩(wěn)定性。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型實(shí)施例提供了 一種用于降額測(cè)試的裝
置，包括
用于進(jìn)行降額測(cè)試的測(cè)試單元；用于控制所述測(cè)試單元進(jìn)行降額測(cè)試的控制單元，所述控制單元與所述測(cè)
試單元相連；
用于輸出降額測(cè)試結(jié)果的輸出單元，所述輸出單元與所述測(cè)試單元相連。 實(shí)施本實(shí)用新型實(shí)施例，具有如下有益效果
通過(guò)對(duì)電視機(jī)及其中的電子元器件的降額測(cè)試，使得元器件的運(yùn)用更可靠， 更合理，提高了整機(jī)的穩(wěn)定性。


圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例中降額測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例中測(cè)試單元的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例中控制單元的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本 實(shí)用新型作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
參照?qǐng)D1，本實(shí)用新型實(shí)施例降額測(cè)試裝置包括
用于進(jìn)行降額測(cè)試的測(cè)試單元2。用于控制所述測(cè)試單元進(jìn)行降額測(cè)試的控 制單元l，所述控制單元1與所述測(cè)試單元2相連。用于輸出降額測(cè)試結(jié)果的輸 出單元3，所述輸出單元3與所述測(cè)試單元2相連。
其中，控制單元1可以控制測(cè)試單元2進(jìn)行指定的降額測(cè)試，而測(cè)試單元2 執(zhí)行所述指定的降額測(cè)試后通過(guò)輸出單元3將測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行輸出。
參照?qǐng)D3，本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施例中控制單元1包括
降額控制單元11和測(cè)試控制單元12，其中，
降額控制單元11用于設(shè)定電子元器件降額測(cè)試時(shí)的降額比值，例如，降額 控制單元11可根據(jù)要進(jìn)行降額測(cè)試的電子元器件具體應(yīng)用環(huán)境及電子元器件本 身的性能參數(shù)進(jìn)行降額比值的設(shè)定。
測(cè)試控制單元12用于根據(jù)所述降額控制單元11設(shè)定的降額比值控制所述 測(cè)試單元進(jìn)行降額測(cè)試。
圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中測(cè)試單元2優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，包括
用于降額測(cè)試整機(jī)功耗和待機(jī)功耗的整機(jī)測(cè)試單元201，整機(jī)功耗是電視機(jī)機(jī)的消耗功率是有一定范圍的，為避免整機(jī) 功耗過(guò)大，要做測(cè)試。整機(jī)功耗不合理的過(guò)大，必然是電視機(jī)電路中有無(wú)為的 損耗，這個(gè)損耗包括了設(shè)計(jì)不合理、用元件不恰當(dāng)、電視機(jī)調(diào)整不恰當(dāng)、或元 件質(zhì)量有問(wèn)題等等原因。優(yōu)選方案為選取一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電視信號(hào)，伴音選到額定
值的80%,用lKHz正弦波，電禍^幾在標(biāo)準(zhǔn)收看狀態(tài)去測(cè)試整才凡功庫(kù)t。
待機(jī)功耗是我們的一個(gè)能耗指標(biāo)，是對(duì)節(jié)約能源的一個(gè)限制。用遙控去使 電-見(jiàn)機(jī)待才幾可測(cè)待機(jī)功肆€
用于降額測(cè)試的整機(jī)高低壓?jiǎn)?dòng)功能的高低壓?jiǎn)?dòng)測(cè)試單元202，我們通過(guò) 高低壓?jiǎn)?dòng)測(cè)試單元202以低于額定電壓的最小值和高于額定電壓的最大值， 將電視機(jī)設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)進(jìn)行用電源開(kāi)關(guān)開(kāi)關(guān)機(jī)、遙控開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試，特別 可以檢查它在降低了待機(jī)功耗后的低壓?jiǎn)?dòng)能力。
用于降額測(cè)試音頻輸出功率的音頻輸出功率測(cè)試單元203，由于各個(gè)電視臺(tái) 發(fā)出的伴音調(diào)制度不同，在電視機(jī)相同的音量指標(biāo)指示下，喇叭的輸出功率是 不一樣的，如果過(guò)大除了會(huì)影響功放IC的負(fù)載外，對(duì)電源的負(fù)載也會(huì)加重，還 有可能產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)，這都是違反我們?cè)O(shè)計(jì)意愿的。因此我們的優(yōu)選方案為在 伴音最大調(diào)制度下、電視機(jī)音量指標(biāo)滿(mǎn)刻度，通過(guò)音輸出功率測(cè)試單元203用 lKHz正弦波去測(cè)試?yán)?。八的最大輸出功率?br> 用于降額測(cè)試顯像管的顯像管測(cè)試單元204,顯像管測(cè)試單元204對(duì)顯像管 進(jìn)行的降額測(cè)試主要是針對(duì)顯像管的不斷變化而來(lái)。近來(lái)顯像管在不斷變化， 從普通球面管到平面管、直角、純平、超平、50Hz、 100Hz、短管、超短管一代、 超短管二代，還有大小從14寸到34寸等。各種顯像管的偏轉(zhuǎn)電流都不一樣。
在亮度、對(duì)比度最大的情況下測(cè)量行、場(chǎng)偏轉(zhuǎn)電流峰峰值，從行偏轉(zhuǎn)電流 峰峰值可以預(yù)見(jiàn)行管的電流峰值，估計(jì)行管的額定參數(shù)符不符合要求。從場(chǎng)偏 轉(zhuǎn)電流峰峰值可以檢查場(chǎng)IC的輸出電流是否低于場(chǎng)IC的額定值。
用于降額測(cè)試行管的電壓和電流峰值、波形及功耗的行管測(cè)試單元205,其 中，行管測(cè)試單元205首先對(duì)行管集電極的電壓、電流峰值檢測(cè)，把電視機(jī)的 亮度、對(duì)比度打到最大，選定一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，夾入電壓探頭、電流探頭就可以 測(cè)出行管在最大工作狀態(tài)下的集電極電壓、電流的峰值，與行管的額定值比較 就可知道我們使用的行管在這臺(tái)電視機(jī)下能否正常工作，除此之外有時(shí)也要檢 查行管的安全工作區(qū)，就是用電壓與電流在同一個(gè)時(shí)刻下的對(duì)應(yīng)值去比較行管規(guī)格書(shū)中的SOA曲線(xiàn)。
行管集電極的電壓、電流波形檢測(cè)，這項(xiàng)的檢測(cè)就不那么容易，它要依據(jù) 測(cè)試者對(duì)行管工作電路的熟悉、對(duì)行掃描電路的元件、參數(shù)的熟悉、對(duì)行掃描 電路各點(diǎn)的波形的熟悉、對(duì)電視機(jī)可靠性測(cè)試的情況熟悉，還要對(duì)顯像管的了 解，同時(shí)也要對(duì)各種機(jī)型的生產(chǎn)、售前、售后的反饋情況熟悉。從行管集電極 的電壓、電流波形可以大致判斷行管工作狀態(tài)的好壞，特別是工作狀態(tài)明顯不 好時(shí)能看出。
波形的檢測(cè)有時(shí)就在于一個(gè)小小的變化，也看不出什么大的變化的弧度、 小小的彎角，下降沿，稍微一點(diǎn)的易常波動(dòng)，這些都可能會(huì)使行管過(guò)早的結(jié)束 使用壽命。除了對(duì)行管集電極的電壓、電流波形檢測(cè)，有時(shí)還要對(duì)行管基極的 電壓、電流波形檢查，以及行推動(dòng)的工作狀態(tài)檢查。
當(dāng)對(duì)行管集電極的電壓、電流波形檢測(cè)沒(méi)有發(fā)現(xiàn)很大的異常情況后(小的 異常有時(shí)是看不出的，有時(shí)甚至是合理的)，還要對(duì)行管的耗散功率檢查，運(yùn)用 示波器的數(shù)學(xué)運(yùn)算功能測(cè)試行管的功耗，當(dāng)發(fā)現(xiàn)行管的功耗過(guò)大時(shí)又要反過(guò)來(lái) 檢查行管的工作波形、電路參數(shù)、集電極波形下降時(shí)間、基極存儲(chǔ)時(shí)間等一系 列工作參數(shù)。必要時(shí)還要測(cè)試行管的溫升，那又要在電視機(jī)工作數(shù)小時(shí)后。
用于降額測(cè)試電源開(kāi)關(guān)管和/或電源IC的電源測(cè)試單元206,電源測(cè)試單元 206可用于測(cè)試電源IC和電源開(kāi)關(guān)管高壓輸入腳的電壓、電流峰值4全測(cè)，還可 測(cè)出電源開(kāi)關(guān)管或電源IC在最大工作狀態(tài)下的電壓和電流，此時(shí)負(fù)載也應(yīng)該設(shè) 置在最大狀態(tài)。
電壓和電流波形的檢測(cè)是^#4居規(guī)格書(shū)的應(yīng)用說(shuō)明和以往此類(lèi)機(jī)在正常工 作狀況下正確波形來(lái)觀察比對(duì)， 一般情況下注意線(xiàn)性、尖峰、振蕩、平滑、異 常等，對(duì)于電源管它也有SOA的范圍，對(duì)于電源IC周?chē)?shù)雖然已經(jīng)標(biāo) 準(zhǔn)化但有時(shí)也要適當(dāng)調(diào)整，比如調(diào)整待機(jī)功耗，過(guò)流過(guò)壓保護(hù)，EMI干擾等。
用于降額測(cè)試枕校管的枕校管測(cè)試單元207，枕校管測(cè)試單元207用于測(cè)試 枕校管的電壓、電流波形，其中枕校管的電壓、電流波形直流成分重，電壓波 形一般就是帶調(diào)制的正弦波，電流波形就有點(diǎn)各異，那是設(shè)計(jì)師們根據(jù)電路的 設(shè)計(jì)、配管、調(diào)整等參數(shù)的不一產(chǎn)生的，如果光柵線(xiàn)性、高壓、等工作參數(shù)確 定是可以接受的，主觀評(píng)價(jià)又通過(guò)，只要配管校正好，那在降額測(cè)試上也就通 過(guò)了。
6用于降額測(cè)試電源次級(jí)整流管的電源次級(jí)整流管測(cè)試單元208 ，可通過(guò)電源 次級(jí)整流管測(cè)試單元208測(cè)試電源次級(jí)整流管的輸出負(fù)載，選擇電源次級(jí)整流 管， 一般情況是余量都大于器件的額定值，有些低壓的整流管都可不測(cè)了，熟 悉電路之后，看著型號(hào)，看著電路用途就知道可不可使用。但有幾個(gè)問(wèn)題要注 意
B+整流管要注意它的電流，選擇的余地需要大些，才不致發(fā)熱過(guò)大，有時(shí) 滿(mǎn)足不了溫升時(shí)不妨兩只并聯(lián)使用；
數(shù)字板供電的整流管有時(shí)是直接供數(shù)字板的，電流較大，要注意選取。整 流管發(fā)熱也會(huì)大，要選低壓降的。通過(guò)穩(wěn)壓IC供數(shù)字板的要注意穩(wěn)壓IC輸入 電壓大小，注意一方面要降低輸入電壓，減少穩(wěn)壓IC的壓降，另一方面要保證 在待機(jī)時(shí)有足夠的輸入電壓給穩(wěn)壓IC，以保證數(shù)字板有穩(wěn)定的工作；
電流的分配盡量均勻一些，讓整流管擔(dān)負(fù)的電流都在一定的比例，不要重 的重、輕的又太輕；
用于降額測(cè)試穩(wěn)壓IC及DC-DC的穩(wěn)壓IC及DC-DC測(cè)試單元209，穩(wěn)壓 IC及DC-DC測(cè)試單元209測(cè)試各個(gè)穩(wěn)壓IC的壓降、輸出電流、計(jì)算穩(wěn)壓IC的 功耗，測(cè)量DC-DC輸出電流和輸出電壓以檢查DC-DC的帶負(fù)載能力。
用于降額測(cè)試功率電阻的功率電阻測(cè)試單元210,功率電阻測(cè)試單元210對(duì) 功率大于等于2W的電阻基本上都做降額測(cè)試，降額比選在1/2,即2W額定值的 電阻只用在1W的電^各中，以此類(lèi)推。熔斷電阻、^床護(hù)電阻不這樣選取。電阻 的使用功率大了 (與電流有關(guān))會(huì)發(fā)熱，而且影響到周邊的元件。有些1W、 1/2W 的電阻要注意它的電壓電流，電壓電流如果大的也要適當(dāng)調(diào)整。
用于降額測(cè)試電容的電容測(cè)試單元211，電容測(cè)試單元211用于測(cè)試電容工 作電壓檢查和紋波電流，其中，紋波電流是造成電容發(fā)熱的主要原因，由于電 視機(jī)中的鋁電解電容內(nèi)部的電解液都不是阻燃材料，當(dāng)出現(xiàn)負(fù)載過(guò)重，電容發(fā) 熱引起失效、開(kāi)裂、甚至爆炸、引燃電解液也會(huì)時(shí)有發(fā)生。主要對(duì)輸入整流濾 波電容、變壓器次級(jí)B+整流濾波電容、大電流的低壓整流濾波電容、枕校電路 的大電流電容檢查等，再與折算后的電容紋波電流比較，可以初步確定電容的 選用恰當(dāng)與否。對(duì)于電容的工作電壓一般不超過(guò)其額定電壓80%就可以。
由于紋波電流直接影響的是電容的溫升，所以測(cè)量電容的溫升也可以檢查 電容的選用情況，在有疑問(wèn)的情況下就要既;險(xiǎn)查紋波電流也^r查溫升用于降額測(cè)試的場(chǎng)IC、 一見(jiàn);改IC的IC測(cè)試單元212, IC測(cè)試單元212對(duì)場(chǎng) IC、視放IC進(jìn)行降額測(cè)試，這項(xiàng)只做一般的檢查，不超過(guò)IC的額定值就可以 了。有時(shí)場(chǎng)IC的溫升高與工作電壓有關(guān)，此時(shí)又沒(méi)有辦法去調(diào)整，要調(diào)整就 要改開(kāi)關(guān)變壓器，是大事。那就要均衡一下，可以去換另一種型號(hào)的場(chǎng)IC或加 大散熱器面積解決。視放IC或視放管主要是溫升問(wèn)題，降額沒(méi)有發(fā)現(xiàn)過(guò)什么問(wèn) 題。
由上可見(jiàn)，本實(shí)用新型實(shí)施例降額測(cè)試裝置可對(duì)電視機(jī)及其電子元件進(jìn)行 降額測(cè)試，從而使元器件的運(yùn)用更可靠，更合理，提高了整機(jī)的穩(wěn)定性。
需要說(shuō)明的是，在其它實(shí)用新型實(shí)施例降額裝置的測(cè)試單元2中也可只包 括上述各測(cè)試單元中的任意一種或是任意單元的組合。同時(shí)，所述測(cè)試單元2 也可對(duì)除電視機(jī)以外的電子器件或單個(gè)的電子元器件進(jìn)行降額測(cè)試。
以上所揭露的僅為本實(shí)用新型一種較佳實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來(lái)限定 本實(shí)用新型之權(quán)利范圍，因此依本實(shí)用新型權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬本 實(shí)用新型所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求1、一種降額測(cè)試裝置，其特征在于，包括用于進(jìn)行降額測(cè)試的測(cè)試單元；用于控制所述測(cè)試單元進(jìn)行降額測(cè)試的控制單元，所述控制單元與所述測(cè)試單元相連；用于輸出降額測(cè)試結(jié)果的輸出單元，所述輸出單元與所述測(cè)試單元相連。
2、 如權(quán)利要求l所述的裝置，其特征在于，所述測(cè)試單元包括以下任意一 個(gè)單元或^f壬意單元的組合用于降額測(cè)試整機(jī)功耗和待機(jī)功耗的整機(jī)測(cè)試單元; 用于降額測(cè)試整機(jī)的高低壓?jiǎn)?dòng)功能的高低壓?jiǎn)?dòng)測(cè)試單元； 用于降額測(cè)試音頻輸出功率的音頻輸出功率測(cè)試單元； 用于降額測(cè)試顯像管的顯像管測(cè)試單元；用于降額測(cè)試行管的電壓和電流峰值、波形及功耗的行管測(cè)試單元；用于降額測(cè)試電源開(kāi)關(guān)管和/或電源IC的電源測(cè)試單元；用于降額測(cè)試枕校管的枕校管測(cè)試單元；用于降額測(cè)試電源次級(jí)整流管的電源次級(jí)整流管測(cè)試單元；用于降額測(cè)試穩(wěn)壓IC及DC-DC的穩(wěn)壓IC及DC-DC測(cè)試單元；用于降額測(cè)試功率電阻的功率電阻測(cè)試單元；用于降額測(cè)試電容的電容測(cè)試單元；用于降額測(cè)試場(chǎng)IC、視二改IC的IC測(cè)試單元。
3、 如權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述控制單元包括 用于設(shè)定電子元器件降額測(cè)試時(shí)的降額比值的降額控制單元。
4、 如權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述控制單元還包括 用于根據(jù)所述降額控制單元設(shè)定的降額比值控制所述測(cè)試單元進(jìn)行降額測(cè)試的測(cè)試控制單元。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型實(shí)施例公開(kāi)了一種降額測(cè)試裝置，包括用于進(jìn)行降額測(cè)試的測(cè)試單元，用于控制所述測(cè)試單元進(jìn)行降額測(cè)試的控制單元，所述控制單元與所述測(cè)試單元相連，用于輸出降額測(cè)試結(jié)果的輸出單元，所述輸出單元與所述測(cè)試單元相連。采用本實(shí)用新型實(shí)施例，可對(duì)電視機(jī)及其中的電子元器件進(jìn)行降額測(cè)試，可使設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)更合理的運(yùn)用元器件，提高了元器件運(yùn)用的可靠性及整機(jī)的穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)H04N17/04GK201315658SQ20082021319
公開(kāi)日2009年9月23日 申請(qǐng)日期2008年11月7日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月7日
發(fā)明者陳志強(qiáng) 申請(qǐng)人:康佳集團(tuán)股份有限公司