圖像處理裝置,圖像處理方法及程序的制作方法

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專利名稱：圖像處理裝置,圖像處理方法及程序的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種圖像處理裝置、圖像處理方法以及圖像處理程序，并尤其涉及一種適合于以非?？煽康姆绞叫Ｕo態(tài)照相機或攝像機內(nèi)的有缺陷像素的圖像處理裝置、圖像處理方法以及圖像處理程序。
背景技術：
在數(shù)字靜態(tài)照相機、數(shù)字攝像機或類似相機中，通過使用圖像傳感器(固態(tài)圖像傳感器)例如CCD (電荷耦合器件)或CMOS (互補金屬氧化物半導體)傳感器感測圖像并將光學圖像信號轉(zhuǎn)換成對應的電信號來拍攝圖像。
圖像傳感器的所有像素并不一定都是正常的，并且在一些像素會出現(xiàn)缺陷。如果出現(xiàn)缺陷，則具有有缺陷像素的圖像傳感器的圖像輸出會發(fā)生在有缺陷像素處像素值偏離正確值的情況，這會導致圖像變得不自然。
應指出，圖像傳感器的像素出現(xiàn)缺陷，并且圖像傳感器的缺陷會導致圖像傳感器的圖像輸出具有對應于有缺陷像素的異常點。但是，在下文中，為了便于說明，其中圖像傳感器具有有缺陷像素的狀況還將被稱為"圖像具有有缺陷像素"。
為了防止相機產(chǎn)生由有缺陷像素導致的不自然的圖像，希望檢測有缺陷像素并校正檢測出的有缺陷像素的像素值。
有缺陷像素的檢測以及有缺陷像素的像素值的校正例如可如下地執(zhí)行。
一種檢測有缺陷像素的方法是將圖像傳感器拍攝的圖像(下文被簡稱為圖像)的每個像素的像素值與預定的閾值進行比較，并基于比較結果確定每個像素是否有缺陷。
一種校正有缺陷像素的像素值的方法是根據(jù)合適的算法由接近有缺陷像素的像素的像素值確定每個有缺陷像素的正確像素值。另一種方法是根據(jù)指示每個有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級確定每個有缺陷像素的正確像素值。
用于檢測有缺陷像素的閾值可以是預先確定的固定閾值，或根據(jù) 接近其像素值與閾值進行比較的所關心的像素的像素的像素值動態(tài)確定的可變閾值。
在通過比較所關心的像素的像素值與預定閾值來確定圖像的所關心像素是否有缺陷的方法中，如果閾值是根據(jù)接近所關心像素的像素的像素值動態(tài)確定的，則然后該方法等同于其中基于接近所關心的像素的像素的閾值確定預計像素值的方法，并且關于所關心的像素是否有缺陷的確定是通過判斷所關心的像素的像素值與預計像素值之間的差是否在容許的小范圍內(nèi)做出的。
例如，在閾值設定為等于與所關心的像素相鄰的像素的像素值P
加上固定余量C，即閾值被設定為p+C的情況下，如果所關系的像素具有像素值v，則然后通過判斷像素值v是否大于閾值p+C做出的關于所關心的像素是否有缺陷的確定等同于這樣的確定，即該確定是通過將與所關心的像素相鄰的像素的像素值p用作預計像素值，并判斷所關心的像素的像素值v和預計像素值p之間的差(v-p )是否在等于余量C的小范圍內(nèi)做出的。
關于所關心的像素是否有缺陷的確定如上所述是基于所關心的像素的像素值相對于闊值的相對值做出的。這意味著，如果有缺陷像素具有接近閾值的像素值，則像素值的波動會導致關于所關心的像素是否有缺陷的確定在肯定結論和否定結構之間變動。
一種防止上述問題并提高檢測有缺陷像素的可靠性的技術是多
次估計每個像素的像素值。更準確地說，對于通過多次執(zhí)行的攝影操作被圖像傳感器捕獲的多個圖像中的每一個圖像，比較每個像素的像素值與閾值。如果在具體像素處進行的缺陷檢測次數(shù)大于預定值，則可確定在此像素位置的像素有缺陷(例如，見日本未審查專利申請公
開號04-115785或日本未審查專利申請公開號2005-341244 )。

發(fā)明內(nèi)容
有缺陷像素可分為兩類，即永久性有缺陷像素和間歇性有缺陷像素。永久性有缺陷像素總是處于像素有缺陷的狀態(tài)下。相反，間歇性有缺陷像素有時處于有缺陷狀態(tài)但是其他時間處于無缺陷狀態(tài)。
因此，在其中對在每個像素位置處檢測到有缺陷狀態(tài)的發(fā)生次數(shù) 計數(shù)的方法中，并且如果具體像素的有缺陷狀態(tài)檢測的出現(xiàn)次數(shù)大于閾值，則此像素被認為是有缺陷像素，間歇性有缺陷像素有可能被不正確地認為是無缺陷像素。
間歇性有缺陷像素的有缺陷狀態(tài)的出現(xiàn)頻率越高，則檢測到缺陷的發(fā)生次數(shù)也越大，從而間歇性有缺陷像素被檢測為有缺陷像素的可能性越高。
相反，間歇性有缺陷像素的有缺陷狀態(tài)的出現(xiàn)頻率越低，則缺陷的檢測的發(fā)生次數(shù)也越小，從而間歇性有缺陷像素被檢測為有缺陷像素的可能性越低。此外，在基于缺陷的檢測的發(fā)生次數(shù)檢測有缺陷像素的方法中，根據(jù)基準值，具有低的有缺陷狀態(tài)出現(xiàn)頻率的間歇性有缺陷像素可能不會被檢測為有缺陷像素。
在基于缺陷的檢測的發(fā)生次數(shù)檢測有缺陷像素的方法中，如上所述，具有高的有缺陷狀態(tài)出現(xiàn)頻率且具有低缺陷等級的間歇性有缺陷像素被檢測為有缺陷像素的可能性高，但是具有低的有缺陷狀態(tài)出現(xiàn) 頻率且具有高缺陷等級的間歇性有缺陷像素被檢測為有缺陷像素的可能性低。
因此，盡管被檢測為有缺陷像素的具有低缺陷等級的間歇性有缺陷像素被校正，但是沒有被檢測為有缺陷像素的具有高缺陷等級的間
歇性有缺陷像素沒有被校正。
在圖像中，具有高缺陷等級的有缺陷像素比具有低缺陷等級的有缺陷像素更明顯。因此，希望從具有最高缺陷等級的有缺陷像素開始按缺陷等級的降序校正有缺陷像素的像素值。
鑒于上文，希望提供一種以非?？煽康姆绞叫Ｕ腥毕菹袼氐募夹g。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，提供了一種適于處理從圖像感測部件輸出的圖像的圖像處理裝置，其包括用于檢測有缺陷像素的缺陷檢測部件、以及用于根據(jù)其中登記了與缺陷檢測部件檢測到的有缺陷像素
像素的像素值的缺陷校正部件，其中該缺陷檢測部件包括白色缺陷檢測部件和黑色缺陷檢測部件中的至少一個，白色缺陷檢測部件適于通過將在經(jīng)由圖像感測部件多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置處檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，黑色缺陷檢測部件適于通過將在所述多個圖像的每個像素位置處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，并且缺陷檢測部件還包括有缺陷像素選擇部件，該有缺陷像素選擇部件用于基于缺陷等級選擇預定多個具有高缺陷程度的有缺陷像素，并將表內(nèi)。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，提供了一種處理從圖像感測部件輸出的圖像的方法/計算機程序，其包括檢測有缺陷像素、并根據(jù)其中登記
的:陷數(shù)據(jù)表，校正從圖像感測部件輸出的圖像的像素的像素值的步驟，其中缺陷檢測步驟包括白色缺陷檢測步驟和黑色缺陷檢測步驟中的至少一個，白色缺陷檢測步驟包括通過將在經(jīng)由圖像感測部件多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置處檢測到的最大
像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，黑色缺陷檢測步驟包括通過將在所述多個圖像的每個像素位置處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，以及所述缺陷檢測步驟還包括基于缺陷等級選擇預定多個具有高缺陷程度的有缺陷像素，并將與所述
在圖像處理裝置和圖像處理方法/程序中，檢測有缺陷像素，并根據(jù)其中登記了與有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)表，校正從圖像感測部件輸出的圖像的像素的像素值。有缺陷像素的檢測包括白色缺陷檢測過程或黑色缺陷檢測過程中的至少一個或全部。白色缺
捕獲'的多個圖像的每個像;位置處:須;到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級。黑色缺陷檢測過程包括通過將在所述多個圖像的每個像素位置處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級?；谌毕莸燃?，選擇預定多個具有高缺陷程度的有缺陷像素，并將與所述預定多個選擇的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)登記在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。計算機程序可經(jīng)由傳輸介質(zhì)或存儲介質(zhì)被提供。本發(fā)明使得可以以非常可靠的方式校正有缺陷像素的像素值。

圖i是示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的數(shù)字靜態(tài)照相機的配置的
示例的框圖2是示出照相機系統(tǒng)LSI的配置的示例的框圖；圖3是示出照相機信號處理單元的配置的示例的框圖；圖4是示出缺陷處理單元的配置的示例的框圖5是示出缺陷檢測單元的配置的示例的框圖6示出使用絕對閾值檢測白色有缺陷像素的方法的示例；
圖7示出確定固定閾值的方式的示例；
圖8示出使用可變閾值檢測外色有缺陷像素的方法的示例；
圖9示出確定所關心像素的預計像素值的方法的示例；
圖10是示出使用絕對閾值檢測黑色有缺陷像素的方法的示例;
圖11示出使用可變閾值檢測黑色有缺陷像素的方法的示例；
圖12示出缺陷數(shù)據(jù)表的示例；
圖13是示出缺陷校正單元的配置的示例的框圖14是示出缺陷檢測過程的流程圖15是示出白色缺陷檢測過程的流程圖16是示出黑色缺陷檢測過程的流程圖17是示出缺陷校正過程的流程圖18是示出缺陷處理單元的配置的另一個示例的框圖19是示出缺陷檢測單元的配置的示例的框圖20示出確定缺陷類型的方法；
圖21示出缺陷數(shù)據(jù)表的示例；
圖22是示出缺陷校正單元的配置的示例的框圖23是示出缺陷檢測過程的流程圖24是示出白色缺陷檢測過程的流程圖25是示出黑色缺陷檢測過程的流程圖26是示出缺陷校正過程的流程圖27是示出缺陷校正過程的流程圖28是示出缺陷處理單元的配置的另一個實施例的框圖29是示出缺陷檢測單元的配置的另一個實施例的框圖30示出缺陷數(shù)據(jù)表的示例；
圖31是示出缺陷檢測過程的流程圖32是示出白色缺陷檢測過程的流程圖33是示出黑色缺陷檢測過程的流程圖；圖34是示出計算機的配置的示例的框圖。
具體實施例方式
在說明本發(fā)明的實施例之前，下面將討論本發(fā)明的特征與本發(fā)明的實施例內(nèi)公開的特定元素之間的對應性。此說明是用于確保支持本發(fā)明的實施例在此說明書內(nèi)被說明。因此，即使下面的實施例中的元素并未被描述為與本發(fā)明的特定特征有關，這也不一定意味著該元素與權利要求的該特征無關。相反，即使元素在此被描述為與本發(fā)明的特定特征有關，這也不一定意味著該元素與本發(fā)明的其他特征無關。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，提供了一種適于處理從圖像感測部件 (例如，圖4內(nèi)所示的圖像傳感器4)輸出的圖像的圖像處理裝置(例如，圖1內(nèi)所示的數(shù)字靜態(tài)照相機)，該圖像處理裝置包括用于檢測有缺陷像素的缺陷檢測部件(例如，圖4內(nèi)所示的缺陷檢測單元103 或圖28內(nèi)所示的缺陷檢測單元303 )、和缺陷校正部件(例如，圖4 內(nèi)所示的缺陷校正單元101或圖28內(nèi)所示的缺陷校正單元201)，該
像素相關i的缺陷數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)i，校正從圖i感測;件輸出的圖像的像素的像素值。在此圖像處理裝置中，缺陷檢測部件包括白色缺陷檢測部件(例如，圖5內(nèi)所示的白色缺陷檢測單元121或圖29內(nèi)所示的白色缺陷檢測單元321)和黑色缺陷檢測部件(例如，圖5內(nèi)所示的黑色缺陷檢測單元122或圖29內(nèi)所示的黑色缺陷檢測單元322) 中的至少一個，其中白色缺陷檢測部件適于通過將在經(jīng)由圖像感測部件多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，來檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，黑色缺陷檢測部件適于通過將在所述多個圖像的每個像素位置檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，來檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級。缺陷檢測部件還包括有缺
陷像素選擇部件(例如，圖5內(nèi)所示的有缺陷像素選擇單元123或圖 29內(nèi)所示的有缺陷像素選擇單元323),該有缺陷像素選擇部件用于基于缺陷等級選擇預定的多個具有高缺陷等級的有缺陷像素，并將與
據(jù)表內(nèi)。 '' 、
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，提供了一種處理從圖像感測部件輸出的圖像的方法/計算機程序，其包括(例如，在圖14或31內(nèi)所示的缺陷檢測過程內(nèi))檢測有缺陷像素的步驟、以及(例如，在圖17、 26 或27內(nèi)所示的缺陷校正過程中)根據(jù)其中登記與該有缺陷像素檢測步
感測部件輸出的圖像的像素的像素值的步驟。在此圖像處理方法/程序中，缺陷檢測步驟包括白色缺陷檢測步驟(例如，圖14內(nèi)所示的步驟 Sll或圖31內(nèi)所示的步驟S151)和黑色缺陷檢測步驟(例如，圖14 內(nèi)所示的步驟S12或圖31內(nèi)所示的步驟S152)的至少一個，其中白色缺陷檢測步驟包括通過將在經(jīng)由圖像感測部件多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，來檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，黑色缺陷檢測步驟包括將在所述多個圖像的每個像素位置檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，來檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級。
缺陷檢測步驟還包括基于缺陷等級選擇預定的多個具有高缺陷等級的有缺陷像素，并將與所述預定的多個被選擇的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)登記在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的步驟(例如，圖14內(nèi)所示的步驟 S13或S14，或圖31內(nèi)所示的步驟S153或S154)。
現(xiàn)在，下文將參照

本發(fā)明的具體實施例。
圖l示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的數(shù)字靜態(tài)照相機的配置的示例。
包括對焦透鏡、變焦透鏡和其他透鏡的透鏡單元1用于經(jīng)由光闌
2和快門3將入射光聚焦在圖像傳感器4上。
光闌2通過控制光從中通過的孔徑的大小調(diào)節(jié)經(jīng)由鏡頭單元1入射在圖像傳感器4上的光量?？扉T3通過遮擋圖像傳感器4上的入射光控制啄光時間。當光闌2被配置成也用作快門時可除去快門3。
圖像傳感器4由CCD或CMOS成像器實現(xiàn)，并且用于感測圖像并輸出對應于該圖像的電子信號。更準確地說，圖像傳感器4根據(jù)定時發(fā)生器5輸出的驅(qū)動脈沖執(zhí)行光電轉(zhuǎn)換，從而入射在圖像傳感器4 上的光被轉(zhuǎn)換成對應于入射光的量的電信號，并且結果電信號被輸出作為圖像信號。圖像傳感器4輸出的電信號被提供給前端單元6。
在圖像傳感器4的光入射在其上的表面上，例如以拜耳陣列的形式設置多個濾色器(未示出)，從而圖像傳感器4的每個像素接收具有特定顏色的光并輸出該特定顏色的像素值。
定時發(fā)生器5與水平同步信號和垂直同步信號同步地輸出驅(qū)動脈沖以驅(qū)動圖像傳感器4。當圖像傳感器4具有電子快門功能時，定時發(fā)生器5還控制電子快門操作。通過控制電子快門以高速或低速操作，可控制曝光。
前端單元6包括采樣保持電路，增益控制電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換器，并用于對圖像傳感器4提供的圖像信號執(zhí)行預處理。更準確地說，在前端單元6中，圖像傳感器4輸出的圖像信號受到雙重相干采樣以便除去噪聲，并受到增益控制處理以便調(diào)節(jié)信號電平，結果模擬圖像信號受到模數(shù)轉(zhuǎn)換。得到的數(shù)字信號數(shù)據(jù)被從前端單元6輸出到相機系統(tǒng) LSI (大規(guī)模集成電路)7。
在相機系統(tǒng)LSI7中，前端單元6提供的圖像數(shù)據(jù)受到相機信號處理包括缺陷校正、數(shù)字鉗形、白平衡校正、伽馬校正和插值。由相機信號處理獲得的包含RGB (紅、綠和藍)像素值的圖像數(shù)據(jù)被提供給圖像監(jiān)視器8。相機系統(tǒng)LSI 7還將RGB圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成包含亮度信號Y以及色差信號Cb和Cr的圖像數(shù)據(jù)。
根據(jù)需要，相機系統(tǒng)LSI 7根據(jù)例如JPEG (聯(lián)合圖像專家組) 標準對圖像數(shù)據(jù)編碼，并將結果編碼數(shù)據(jù)提供給圖像存儲器9或外部
存儲介質(zhì)10。
相機系統(tǒng)LSI 7從圖像存儲器9或外部存儲介質(zhì)10讀取編碼數(shù) 據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)解碼成圖像數(shù)據(jù)，并將結果圖像數(shù)據(jù)提供給圖像監(jiān) 視器8。
圖像監(jiān)視器8例如由液晶面板實現(xiàn)，并用于根據(jù)從相機系統(tǒng)LSI 7提供的圖像數(shù)據(jù)顯示圖像。操作數(shù)字靜態(tài)照相機的用戶可通過查看圖像顯示器8上顯示的圖像來檢查構圖。
圖像存儲器9由例如半導體存儲器例如SDRAM (同步動態(tài)隨機存儲器)實現(xiàn)，并用于臨時存儲相機系統(tǒng)LSI 7提供的編碼數(shù)據(jù)以及相機系統(tǒng)LSI 7執(zhí)行的處理中所必需的其他數(shù)據(jù)。
外部存儲介質(zhì)10例如由可拆裝地連接到圖1所示的數(shù)字靜態(tài)照相機上的半導體存儲器實現(xiàn)，并且用于存儲器相機系統(tǒng)LSI 7提供的編碼數(shù)據(jù)。外部存儲介質(zhì)10可被從數(shù)字靜態(tài)照相機中取出并被用戶攜帶。
微型計算機11執(zhí)行ROM (只讀存儲器)13或非易失性存儲器 14內(nèi)存儲的程序以控制光闌2、快門3、定時發(fā)生器5、前端單元6 和相才幾系統(tǒng)LIS7。
操作單元12包括快門按鈕，該快門按鈕被操作以捕獲圖像傳感器4感測的圖像數(shù)據(jù)并將捕獲的圖像數(shù)據(jù)存儲在外部存儲介質(zhì)10內(nèi)，被操作用于調(diào)節(jié)變焦的變焦按鈕以及其他各種按鈕。當用戶操作這些按鈕之一時，對應于用戶執(zhí)行的操作的操作信號被提供給微型計算機 11。
ROM 13用于存儲被微型計算機11執(zhí)行的程序以及在該程序的執(zhí)行中所必需的數(shù)據(jù)。
非易失性存儲器14存儲被微型計算機11執(zhí)行的程序。非易失性存儲器14還存儲被微型計算機11執(zhí)行的各種過程中所必需的數(shù)據(jù)。
圖2示出圖1所示的相機系統(tǒng)LSI7的配置的示例。
相機系統(tǒng)LSI 7包括相機信號處理單元31，圖像檢測器32，微型計算機接口 33，存儲器接口 34，存儲器控制器35,圖像壓縮/解壓
縮單元36和監(jiān)視器接口 37。在相機系統(tǒng)LSI 7中，上述部件例如相機信號處理單元31和監(jiān)視器接口 37經(jīng)由數(shù)據(jù)總線相互連接，從而可在它們之間傳遞圖像數(shù)據(jù)、控制數(shù)據(jù)以及其他數(shù)據(jù)。
相機信號處理單元31校正從圖像傳感器4經(jīng)由前端單元6提供的圖像數(shù)據(jù)的缺陷。相機信號處理單元31還在輸入的圖像數(shù)據(jù)上執(zhí)行數(shù)字信號處理包括插值、過濾、矩陣處理、亮度信號生成和色彩信號生成，從而生成包含像素值的數(shù)據(jù)信號，其中每個像素值均用亮度信號和色差信號(色彩信號)表示。
圖像檢測器32對從圖像檢測器4經(jīng)由前端單元6提供的圖像數(shù) 據(jù)執(zhí)行檢測處理，以獲得用于自動對焦(AF )控制，自動膝光(AE ) 控制以及自動白平衡(AWB)控制的基準值。
微型計算機接口 33用作與微型計算機11的接口。相機系統(tǒng)LSI 7和微型計算機11之間的圖像數(shù)據(jù)或控制信號的傳輸經(jīng)由微型計算機接口 33執(zhí)行。
存儲器接口 34用作與圖像存儲器9或外部存儲介質(zhì)10的接口。即，相機系統(tǒng)LIS7和圖像存儲器9或外部存儲介質(zhì)IO之間的圖像數(shù) 據(jù)(將表現(xiàn)為編碼形式)的傳輸經(jīng)由存儲器接口 34執(zhí)行。
存儲器控制器35控制相機系統(tǒng)LSI 7的各個功能塊之間的(經(jīng) 由數(shù)據(jù)總線的)圖像數(shù)據(jù)傳輸。
圖像壓縮/解壓縮單元36將供給的圖像數(shù)據(jù)編碼成壓縮形式并輸出結果編碼數(shù)據(jù)。當圖像壓縮/解壓縮單元36接收到編碼數(shù)據(jù)時，圖像壓縮/解壓縮單元36將被供給的編碼數(shù)據(jù)解碼成圖像數(shù)據(jù)的解壓縮形式，并輸出結果圖像數(shù)據(jù)。
監(jiān)視器接口 37將被供給的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成用于圖像監(jiān)視器8使用的格式(圖1)，并將結果格式被轉(zhuǎn)換的圖像數(shù)據(jù)提供給圖像監(jiān)視器8。例如，當圖像監(jiān)視器8配置成根據(jù)NTSC (國家電視系統(tǒng)委員會)標準顯示圖像時，NTSC編碼器被用作監(jiān)視器接口 37。
圖3示出圖2所示的相機信號處理單元31的配置的示例。
相機信號處理單元31包括缺陷處理單元51和數(shù)字信號處理單元
52。
當圖像數(shù)據(jù)被從圖像傳感器4經(jīng)由前端單元6提供給相機信號處理單元31時，圖像數(shù)據(jù)被提供給缺陷處理單元51。
缺陷處理單元51在圖像傳感器4提供的圖像數(shù)據(jù)上執(zhí)行缺陷檢測過程以檢測有缺陷像素，并根據(jù)需要執(zhí)行缺陷校正過程以校正檢測到的有缺陷像素的像素值，并且將結果圖像數(shù)據(jù)提供給數(shù)字信號處理單元52,
數(shù)字信號處理單元52在缺陷處理單元51提供的圖像數(shù)據(jù)上執(zhí)行數(shù)字信號處理例如插值過程，并輸出包含像素值的結果圖像數(shù)據(jù)，其中每個像素值均用亮度信號和色差信號表示。
缺陷處理單元51和數(shù)字信號處理單元52被微型計算機11經(jīng)由微型計算機接口33控制。
如果用戶操作操作單元12以發(fā)出執(zhí)行缺陷檢測過程的命令，則對應于用戶執(zhí)行的操作從操作單元12輸出缺陷檢測命令信號作為操作信號，并且該信號經(jīng)由微型計算機ll和微型計算機接口 13被提供給缺陷處理單元51。如果缺陷處理單元51從微型計算機接口 33接收到缺陷檢測命令信號，則缺陷處理單元51執(zhí)行缺陷檢測過程。
圖4示出圖3內(nèi)所示的缺陷處理單元5的配置的示例。
在圖4內(nèi)所示的示例中，缺陷處理單元51包括缺陷校正單元51，缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102和缺陷檢測單元103。
缺陷校正單元101接收從圖像傳感器4 (圖1)經(jīng)由前端單元6 輸出的圖像數(shù)據(jù)。下文，圖像傳感器4輸出的這種圖像數(shù)據(jù)將被簡稱為圖像數(shù)據(jù)。缺陷校正單元101執(zhí)行缺陷校正過程，以根據(jù)缺陷數(shù)據(jù) 表存儲器102內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)記錄的有缺陷像素的缺陷數(shù)據(jù)校正從圖像傳感器4輸出的圖像數(shù)據(jù)的像素值，并且缺陷校正單元101 將由該缺陷校正過程獲得的被校正的結果數(shù)據(jù)提供給數(shù)據(jù)信號處理單元52 (圖3 )。
缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102存儲缺陷數(shù)據(jù)表，在該缺陷數(shù)據(jù)表中描述了與缺陷檢測單元103檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)。
缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102可例如使用非易失性存儲器例如RAM(隨機存取存儲器)或EEPROM (電可擦除可編程只讀存儲器)實現(xiàn)。
在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102使用非易失性存儲器實現(xiàn)的情況下，每當圖1內(nèi)所示的數(shù)字靜態(tài)照相機的電源被開通時，缺陷數(shù)據(jù)表被從圖 1內(nèi)所示的非易失性存儲器14經(jīng)由微型計算機11 (圖1)和微型計算機接口 33 (圖2 )讀入相機信號處理單元31 (圖3 )的缺陷處理單元 51內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102。
在缺陷數(shù)據(jù)表存儲在圖1所示的非易失性存儲器104內(nèi)的情況下，缺陷數(shù)據(jù)表可被編碼成壓縮形式，并且被編碼的缺陷數(shù)據(jù)表可存儲在非易失性存儲器104內(nèi)。在此情況下，當缺陷數(shù)據(jù)表被讀入缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102時，被編碼的缺陷數(shù)據(jù)表被解碼成解壓縮形式，并且結果解碼缺陷數(shù)據(jù)表存儲在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102內(nèi)。缺陷數(shù)據(jù)表的編碼和解碼可通過微型計算機11 (圖17)執(zhí)行。
缺陷檢測單元103被供給將用于有缺陷像素檢測過程的測試圖像數(shù)據(jù)。對于測試圖像數(shù)據(jù)，可使用圖像傳感器4輸出的且還未經(jīng)受缺陷校正過程的圖像數(shù)據(jù)，或者圖像傳感器4輸出的且已經(jīng)經(jīng)受缺陷校正單元101執(zhí)行的缺陷校正過程的圖像數(shù)據(jù)。
如果缺陷檢測單元103接收到測試圖像數(shù)據(jù)，則缺陷檢測單元 103執(zhí)行缺陷檢測過程以檢測有缺陷像素，并且缺陷檢測單元103將與檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器 102內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
下文將更詳細地說明以上述方式配置的缺陷處理單元51執(zhí)行的缺陷檢測過程和缺陷校正過程。
如果用戶操作圖1內(nèi)所示的操作單元12以發(fā)出執(zhí)行缺陷檢測過程的命令，則對應于用戶執(zhí)行的操作從操作單元12輸出缺陷檢測命令信號作為操作信號，并且該信號被提供給微型計算機ll。
如果微型計算機11從操作單元12接收到缺陷檢測命令信號，則微型計算機11將操作模式從其中以正常方式攝影的正常模式轉(zhuǎn)換到缺陷檢測模式以檢測缺陷。微型計算機11然后控制定時發(fā)生器5 (圖
1)，以便圖像傳感器4多次拍攝圖像。
由圖像傳感器4執(zhí)行的攝影操作獲得的多幀圖像數(shù)據(jù)或校正圖像數(shù)據(jù)被作為測試圖像數(shù)據(jù)提供給缺陷檢測單元103。
微型計算機11經(jīng)由微型計算機接口 33 (圖2)控制相機信號處理單元31內(nèi)的缺陷處理單元51的缺陷檢測單元103以執(zhí)行缺陷檢測過程。
在微型計算機11的控制下，缺陷檢測單元103如下所述地執(zhí)行缺陷檢測過程。如果缺陷檢測單元103從圖像傳感器4接收到多幀測試圖像數(shù)據(jù)，則缺陷檢測單元103檢測有缺陷像素，并將與檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
如果缺陷檢測單元103已經(jīng)將缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，則微型計算機11將操作模式從缺陷檢測模式轉(zhuǎn)換到正常模式。
在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表具有原有缺陷數(shù)據(jù)的情況下，缺陷檢測單元103產(chǎn)生的新缺陷數(shù)據(jù)被存儲在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，從而原有缺陷數(shù)據(jù)被新缺陷數(shù)據(jù)覆寫。
在以正常模式操作時，如果圖像傳感器4拍攝圖像并且結果圖像數(shù)據(jù)被供給缺陷校正單元101，則缺陷校正單元101執(zhí)行缺陷校正操作。
更準確地說，缺陷校正單元101根據(jù)需要根據(jù)缺陷數(shù)據(jù)表存儲器 102內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表校正接收到的測試圖像數(shù)據(jù)的像素值，并將由缺陷校正過程獲得的被校正的圖像數(shù)據(jù)提供給數(shù)字信號處理單元 52 (圖3 )。
圖5示出圖4內(nèi)所示的缺陷檢測單元103的配置的示例。缺陷檢測單元103包括白色缺陷檢測單元121，黑色缺陷檢測單元122和有缺陷像素檢測單元123。
白色像素檢測單元121包括最大值檢測單元130和有缺陷像素檢測單元134，并用于通過將在經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像的每個像素處檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺
陷的閾值進行比較，來檢測具有高于正常像素值的像素值的有缺陷像素(在下文，這種有缺陷像素將被稱為白色有缺陷像素)。當檢測到
有缺陷像素時，白色缺陷檢測單元121還檢測用于指示有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級。
更準確地說，在上述過程中，如果最大值檢測單元130接收經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí)行的測試圖像拍攝操作獲得的多幀測試圖像數(shù) 據(jù)，則包含比較器131、像素選擇單元132和幀存儲器133的最大值檢測單元130檢測多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的像素值的最大值。
更準確地說，在上述最大值檢測過程中，比較器131將提供給白色缺陷檢測單元121的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素的像素值與幀存儲器 133內(nèi)已經(jīng)存儲的對應像素的像素值進行比較。比較器131檢測每個像素的兩個像素值的較大像素值，并將檢測到的較大像素值提供給像素選擇單元132。
除了從比較器131提供的像素值之外，像素選擇單元132還接收被提供給白色像素檢測單元121的測試圖像數(shù)據(jù)的所關心的像素的像素值。對于在缺陷檢測模式下被提供給白色缺陷檢測單元121的多幀測試圖像數(shù)據(jù)的第一幀測試圖像數(shù)據(jù)，像素選擇單元132選擇第一幀的所關心像素的像素值，并將選擇的像素值提供給幀存儲器133。
對于在缺陷檢測模式下被提供給白色缺陷檢測單元121的多幀測試圖像數(shù)據(jù)的第二以及下一幀測試圖像數(shù)據(jù)，像素選擇單元132選擇從比較器131供給的像素值，并將選擇的像素值提供給幀存儲器133。
幀存儲器133存儲像素選擇單元132提供的像素值作為所關心的像素的像素值。
有缺陷像素檢測單元134比較幀存儲器133內(nèi)存儲的像素值與用于檢測白色缺陷的閾值。如果幀存儲器133內(nèi)存儲的像素值等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值，則對應于此像素值的像素被確定為是白色有缺陷像素。有缺陷像素檢測單元134還檢測由白色有缺陷像素的像素值與用于檢測白色缺陷的閾值之間的差限定的白色有缺陷像素的缺陷等級。有缺陷像素檢測單元134將指示白色有缺陷像素的位置的
提供給有缺"像素選擇單元123 T 、
應指出，在白色缺陷檢測單元121執(zhí)行的白色有缺陷像素檢測中使用的測試圖像數(shù)據(jù)是由圖像傳感器4通過在快門3(圖l)關閉的狀態(tài)下多次執(zhí)行攝影操作捕獲被照物的圖像獲得的。
在快門3關閉的狀態(tài)下由圖像傳感器4捕獲的圖像數(shù)據(jù)的每個像素的像素值對應于如果該像素無缺陷的黑色等級。因此，將用于檢測白色缺陷的閾值設定為不會被認為是黑色等級的最小值是合理的。
可選擇地，用于檢測白色缺陷的閾值可基于測試中接近所關心像素的像素的像素值確定。
黑色缺陷檢測單元122包括最小值檢測單元140和有缺陷像素檢測單元144，并用于通過將在經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，來檢測具有低于正常像素值的像素值的有缺陷像素(下文，這種像素將被稱為黑色有缺陷像素)。當檢測到有缺陷像素時，黑色缺陷檢測單元122還檢測指示有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級。
更準確地說，在上述過程中，最小值檢測單元140接收經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí)行的測試圖像拍攝操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)。最小值檢測單元140包括比較器141,像素選擇單元142和幀存儲器143，并檢測多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的像素值的最小值。
更準確地說，在如上所述的最小值檢測過程中，比較器141將提供給黑色缺陷檢測單元122的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素的像素值與幀存儲器143內(nèi)已經(jīng)存儲的對應像素的像素值進行比較。比較器141檢測每個像素的兩個像素值的較大像素值，并將檢測到的較小像素值提供給像素選擇單元122。
除了比較器141提供的像素值之外，像素選擇單元142還接收被提供給黑色像素檢測單元121的測試圖像數(shù)據(jù)的所關心的像素的像素
值。對于缺陷檢測模式下的多幀測試圖像數(shù)據(jù)的第一幀測試圖像數(shù)據(jù)，
像素選擇單元142選擇第一幀的所關心像素的像素值，并將選擇的像素值提供給幀存儲器143。
對于缺陷檢測模式下的多幀測試圖像數(shù)據(jù)的第二以及下一幀測試圖像數(shù)據(jù)，像素選擇單元142選擇比較器141供給的像素值，并將選擇的像素值提供給幀存儲器143。
幀存儲器143存儲像素選擇單元142提供的像素值作為所關心的像素的像素值。
有缺陷像素檢測單元144比較幀存儲器143內(nèi)存儲的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值。如果幀存儲器143內(nèi)存儲的像素值等于或大于用于檢測黑色缺陷的閾值，則對應于此像素值的像素被確定為是黑色有缺陷像素。有缺陷像素檢測單元144還檢測由黑色有缺陷像素的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值之間的差限定的黑色有缺陷像素的缺陷等級。有缺陷像素檢測單元144將指示黑色有缺陷像素的位置的有缺陷像素坐標和缺陷等級作為與黑色有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù) 提供給有缺陷像素選擇單元123。
應指出，在黑色缺陷檢測單元122執(zhí)行的黑色有缺陷像素檢測中使用的測試圖像數(shù)據(jù)是通過在快門3(圖l)打開的狀態(tài)下通過多次執(zhí) 行攝影操作由圖像傳感器4捕獲白色被照物例如白紙的圖像獲得的。
針對白色被照物由圖像傳感器4捕獲的圖像數(shù)據(jù)的每個像素的像素值對應于如果該像素無缺陷的白色等級。因此，將用于檢測黑色缺陷的閾值設定為不會被認為是白色等級的最大值是合理的。
可選擇地，用于檢測黑色缺陷的閾值可基于測試中接近所關心像素的像素的像素值確定。
如上所述，有缺陷像素選擇單元123從白色缺陷檢測單元121和黑色缺陷檢測單元122接收指示有缺陷像素的有缺陷像素坐標和缺陷等級的缺陷數(shù)據(jù)。
基于缺陷數(shù)據(jù)指示的缺陷等級，有缺陷像素選擇單元123選擇預定數(shù)量的、N個具有較大缺陷等級的有缺陷像素，并將選擇的N個有
缺陷像素的缺陷數(shù)據(jù)提供給缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102。缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102將接收到的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
在白色缺陷檢測單元121和黑色缺陷檢測單元122提供的缺陷數(shù) 據(jù)或有缺陷像素的數(shù)量小于預定數(shù)量N時，有缺陷像素選擇單元123 選擇所有有缺陷像素，并將所有有缺陷像素的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù) 據(jù)表內(nèi)。
數(shù)量N可例如根據(jù)缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102的存儲能力確定。
下文將進一步詳細說明圖5內(nèi)示出的有缺陷像素檢測單元134執(zhí) 行的有缺陷像素(白色有缺陷像素和黑色有缺陷像素)的檢測。
可使用固定閾值或可變閾值檢測有缺陷像素。下文，前一種缺陷檢測方法將被簡稱為絕對缺陷檢測方法，而后一種缺陷檢測方法將被稱為相對缺陷檢測方法。
下文將參照圖6說明使用固定閾值的白色有缺陷像素的絕對缺陷檢測。
圖6示出沿水平方向設置成拜耳陣列的五個連續(xù)像素GL、 Rl、 Gc、 RR和GR的像素值的示例。
在這五個像素中，像素G^ Gc和GR均具有G分量的像素值，而像素R^和RR均具有R分量的像素值。
在白色有缺陷像素的絕對缺陷檢測中，用于檢測白色有缺陷像素的閾值被設定為固定值，并且所關心的像素的像素值與此固定像素值比較。如果所關心的像素的像素值等于或大于固定閾值，則此所關心的像素被確定為是白色有缺陷像素。
在圖6所示的示例中，位于五個像素Gl、 Rl、 Gc、 Rr和Gr的水平設置的中心的像素Gc的像素值大于被限定為用于白色有缺陷像素的檢測的閾值的固定閾值，因此像素Gc被確定為白色有缺陷像素。
用于白色有缺陷像素的檢測的固定閾值可例如被設定為不會被認為是黑色等級的最小值。
可選擇地，用于白色有缺陷像素的檢測的固定閾值可被設定為基于缺陷等級的頻率分布確定的值。
圖7示出缺陷等級的頻率分布的示例。
在圖l所示的數(shù)字靜態(tài)照相機的說明書需要可通過校正缺陷等級的頻率分布中的至少N，個具有最高缺陷等級的有缺陷像素實現(xiàn)的圖像質(zhì)量的情況下，在圖1所示的數(shù)字靜態(tài)照相機的生產(chǎn)線中用于白色
N (^N，)個具有最高缺陷等級的像素被檢測為缺陷等級。
下文將參照圖8說明使用可變閾值作為用于白色有缺陷像素的檢測的閾值的白色有缺陷像素的相對缺陷檢測的示例。
圖8示出沿水平方向設置成拜耳陣列的五個連續(xù)像素G。 RL、 Gc、 Rr和Gr的像素但的示例。
當位于五個像素G。 RL、 Gc、 RR和GR的水平設置的中心的像素Gc是將與被限定用于白色有缺陷像素的檢測的閾值比較像素值的所關心的像素時，所關心的像素Gc的像素值的預測值例如由接近所關心的像素且與所關心的像素具有相同顏色分量的像素的像素值的均值給定，并且更準確地說在本示例中由像素Gl和Gr的像素但的均但給定。
用于白色有缺陷像素的檢測的可變闊值被設定為所關心的像素 Gc的像素值的預測值與固定余量W (W>0)的和。所關心的像素Gc 的像素值然后與上文限定的可變閾值進行比較。如果所關心的像素的像素值等于或大于該閾值，則所關心的像素被認為是白色有缺陷像素。
在圖8所示的示例中，所關系的像素Gc的像素值大于被限定用于白色有缺陷缺陷的檢測的可變閾值，因此此像素Gc被檢測為白色有缺陷像素。
在圖8所示的示例中，所關心的像素的預測像素值由與所關心的像素具有相同顏色分量的像素的像素值確定。可選擇地，所關心的像素的像素值可由具有不一定與所關心的像素的顏色分量相同的顏色分量的像素的像素值確定。
在圖8所示的示例中，所關心的像素的預測像素值由包含所關心的像素的設置成水平行的像素的像素值確定?？蛇x擇地，所關心的像
素的像素值可由包含所關心的像素的設置成垂直列的像素的像素值確定，或由沿任意方向定位的像素的像素值確定。
圖9示出包含設置成拜耳陣列的像素的像素值的圖像數(shù)據(jù)的示例。
在圖9中，當具有G分量的像素值的像素G自是測試中所關心的像素時，所關心的像素的預測像素值可由接近所關心的像素且與所關心的像素G,具有相同顏色分量的像素的像素值的均值給定，并尤其例如由從所關心的像素G,向上兩個像素的像素Gm(n-2)的像素值、從所關心的像素G皿向下兩個像素的像素Gm"+2)的像素值、從所關
心的像素G,向左兩個像素的像素G(m-2)n的像素值以及從所關心的
像素Gmn向右兩個像素的像素G (m+2, n的像素值的均值給定。
在上述示例中，所關心的像素的預測像素值由接近所關心像素的像素的像素值的簡單均值給定?？蛇x擇地，預測像素值可由加權均值給定。
例如，計算水平設置在所關心的像素的左側和右側的像素的像素值之間的相關性和垂直設置在所關心的像素的上方和下方的像素的像素值之間的相關性。將較大的加權系數(shù)(例如l或接近l的值)應用于沿具有較大相關性的方向的像素的像素值，并將較小的加權系數(shù)(例
如0或接近0的值)應用于沿具有較小相干性的其他方向的像素的像
素值。計算被上文限定的系數(shù)加權的像素值的均值，并使用結果均值作為所關心的像素的預測像素值。
下文將參照圖10說明使用固定閾值的黑色有缺陷像素的絕對缺
陷檢測。
圖IO示出沿水平方向設置成拜耳陣列的五個連續(xù)像素GL、 R。 Gc、 RR和GR的像素值的示例。
在黑色有缺陷像素的絕對缺陷檢測中，用于黑色有缺陷像素的檢測的閾值被設定為固定值，并且所關心的像素的像素值與此固定閾值比較。如果所關心的像素的像素值等于或小于該固定閾值，則所關心的像素被認為是黑色有缺陷像素。
在圖10所示的示例中，位于五個像素GL、 RL、 Gc、 Rr和Gr 的水平設置的中心的像素Gc的像素值小于被限定為用于黑色有缺陷像素的檢測的閾值的固定閾值，因此此像素Gc被檢測為黑色有缺陷像素。
用于黑色有缺陷像素的檢測的固定閾值可例如被設定為不會被認為是白色等級的最大值。
用于黑色有缺陷像素的檢測的固定閾值可被設定為基于如上文參照圖7說明的缺陷等級的頻率分布確定的值。
下文參照圖11說明使用可變閾值作為用于黑色有缺陷像素的檢測的黑色有缺陷像素的相對缺陷檢測的示例。
圖ll示出沿水平方向設置成拜耳陣列的五個連續(xù)像素GL、 RL、 Gc、 RR和GR的像素值的示例。
當位于五個像素Gl、 Gc、 RR和GR的水平設置的中心的像素Gc是將與被限定用于黑色有缺陷像素的檢測的閾值比較像素值的所關心的像素時，所關心的像素Gc的像素值的預測值例如由接近所關心的像素且與所關心的像素具有相同顏色分量的像素的像素值的均值給定，并且更準確地說在本示例中由像素Gt和GR的像素值的均值給定。
用于黑色有缺陷像素的檢測的可變閾值被設定為所關心的像素 Gc的像素值的預測值與固定佘量-B (B>0)的和(該值是通過用預測像素值減去B得到的)。所關心的像素Gc的像素值然后與上文限定的可變閾值進行比較。如果所關心的像素的像素值等于或小于該閾值，則所關心的像素被認為是黑色有缺陷像素。
在圖11所示的示例中，所關心的像素Gc的像素值小于被限定用于黑色有缺陷像素的檢測的可變閾值，因此此像素Gc被檢測為黑色有缺陷像素。
在黑色有缺陷像素的檢測中，如同白色有缺陷像素的檢測一樣，所關心的像素的預測像素值可基于接近所關心的像素的相素的像素值確定。
圖12示出圖4所示的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102內(nèi)存儲器的缺陷數(shù) 據(jù)表的示例。
在圖12所示的示例中，有缺陷像素坐標和每個有缺陷像素的缺陷等級都被描述為缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)。
圖13示出圖4所示的缺陷校正單元101的配置的示例。
如圖13所示，缺陷校正單元101包括判斷單元161和校正單元
162。
前端單元6(圖l)輸出的測試圖像數(shù)據(jù)被供給判斷單元161。更準確地說，每個像素的像素值與指示像素的坐標的計數(shù)值一起被從前端單元6供給判斷單元161。
判斷單元161將和測試圖像數(shù)據(jù)內(nèi)的所關心像素的像素值一起被提供的計數(shù)值與缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的有缺陷像素坐標進行比較。如果在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)找到等于計數(shù)值的有缺陷像素坐標值，則判斷單元161向校正單元162提供校正命令信號，以校正由該計數(shù)值標識的像素的像素值。
除了從判斷單元161提供的校正命令信號之外，與提供給判斷單元161的測試圖像信號相同的測試圖像信號也被從前端電路6提供給校正單元162。
每次校正單元162接收到從前端單元6依次提供的像素之一的像素值，校正單元162就確定是否從判斷單元161接收到指示本像素是將被校正的像素的校正命令信號。如果確定沒有接收到校正命令信號且因此本像素不是將被校正的像素，則校正單元162直接輸出本像素的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。
另一方面，如果已經(jīng)從判斷單元161接收到校正命令信號且因此本像素是將被校正的像素，則校正單元162校正被確定為是將被校正的像素的本像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正圖像數(shù) 據(jù)的像素值。
被指定將被校正的所關心像素的像素值的校正例如被執(zhí)行成以致于，以與相對缺陷檢測過程內(nèi)確定的預測像素值類似的方式由接近
被指定將被校正的像素的像素的像素值確定被指定將被校正的所關心像素的預測像素值，并且用預測像素值代替所關心像素的像素值。
可選擇地，被指定將被校正的所關心像素的像素值可被校正成以致于，所關心像素的像素值乘以根據(jù)被指定將被校正的有缺陷像素的缺陷等級確定的值，或從所關心像素的像素值中減去根據(jù)被指定將被校正的有缺陷像素的缺陷等級確定的值。在如可選擇方法中根據(jù)缺陷
等級校正像素值的情況下，缺陷等級被從缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102經(jīng)由判斷單元161提供給校正單元162。
通過根據(jù)合適的方法用合理(正常)值代替異常值來校正被指定將被校正的像素的像素值。
接下來，將參照圖14所示的流程圖說明圖5內(nèi)示出的缺陷檢測單元103執(zhí)行的缺陷檢測過程。
圖14所示的缺陷檢測過程例如在圖1所示的數(shù)字靜態(tài)照相機1 被裝運之前在數(shù)字靜態(tài)照相機的生產(chǎn)線上執(zhí)行。
在步驟Sll，圖5內(nèi)示出的缺陷檢測單元103中的白色缺陷檢測單元121執(zhí)行白色缺陷檢測過程以檢測白色有缺陷像素。與檢測到的白色有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)被提供給有缺陷像素選擇單元 123。過程然后前進到步驟S12。
在步驟S12，黑色缺陷檢測單元122執(zhí)行黑色缺陷檢測過程以檢測黑色有缺陷像素。與檢測到的黑色有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)被提供給有缺陷像素選擇單元123。過程然后前進到步驟S13。
在步驟S13,有缺陷像素選擇單元123根據(jù)白色缺陷檢測單元121 和黑色缺陷檢測單元122提供的缺陷數(shù)據(jù)選擇N個具有最大缺陷等級的有缺陷像素。過程然后前進到步驟S14。在步驟S14中，有缺陷像素選擇單元123將與選擇的N個具有最大缺陷等級的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)提供給缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102。缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102 將接收到的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。此后，缺陷檢測過程結束。
下面將參照圖15所示的流程圖進一步詳細說明圖5內(nèi)示出的白色缺陷檢測單元121在圖14內(nèi)的步驟S14內(nèi)執(zhí)行的白色缺陷檢測過
程。
在白色缺陷檢測過程的步驟S21中，白色缺陷檢測單元121的幀存儲器133初始化幀存儲器133內(nèi)存儲的內(nèi)容。
在此白色缺陷檢測過程中，微型計算機ll (圖1)經(jīng)由定時發(fā)生器5控制圖像傳感器4以便進行預定次數(shù)的攝影。
結果，用于白色有缺陷像素的檢測的測試圖像數(shù)據(jù)由圖像傳感器 4產(chǎn)生，并被提供給白色缺陷檢測單元121的最大值檢測單元130。最大值檢測單元130將接收到的測試圖像數(shù)據(jù)提供給比較器131和像素選擇單元132。
如果比較器131接收到測試圖像數(shù)據(jù)，則在步驟S22中，比較器
儲器133內(nèi)的對應像素的像素值進行比較。比較器;31 k測每個像素的兩個像素值中的較大像素值，并將檢測到的較大像素值提供給像素選擇單元132。
在步驟S22，像素選擇單元132將從比較器131接收到的像素值轉(zhuǎn)移到幀存儲器133。幀存儲器133以覆寫的方式將接收到的像素值存儲在對應于所關心的像素的位置的地址。
如果提供給比較器131和像素選擇單元132的測試圖像數(shù)據(jù)是在圖像傳感器4執(zhí)行的第一次攝影操作內(nèi)獲得的，則然后在步驟S22, 像素選擇單元132將測試圖像數(shù)據(jù)的各個像素的像素值直接提供給幀存儲器133。幀存儲器133將接收到的像素值存儲在對應于各個像素的位置的地址。
如果在步驟S22內(nèi)將像素值存儲在幀存儲器133內(nèi)的對應于所關心的像素的位置的地址處的過程已經(jīng)針對測試圖像數(shù)據(jù)的所有像素完成，則過程前進到步驟S23。在步驟S23，比較器131確定攝影操作是否已經(jīng)執(zhí)行了預定的次數(shù)。
如果在步驟S23內(nèi)確定攝影操作還未執(zhí)行預定的次數(shù)，則圖像傳感器4再一次捕獲測試圖像數(shù)據(jù)，并將捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)提供給比較器131和像素選擇單元132。此后，過程返回到步驟S22并重復步
驟S22和S23。
通過步驟S22和S23的重復執(zhí)行，從由圖像傳感器4執(zhí)行的預定次數(shù)的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)中為每個像素選擇最大像素值，并且將每個像素的最大像素值存儲在幀存儲器133內(nèi)。從多幀測試圖像數(shù)據(jù)確定的并存儲在幀存儲器133內(nèi)的各個像素的最大像素值的圖像數(shù)據(jù)在下文將被簡稱為最大值圖像數(shù)據(jù)。
如果在步驟S23內(nèi)確定捕獲測試圖像數(shù)據(jù)的操作已被執(zhí)行預定的次數(shù)，即如果最大值圖像數(shù)據(jù)已被全部存儲在幀存儲器133內(nèi)，則過程前進到步驟S24。在步驟S24,有缺陷像素檢測單元134將幀存儲器133內(nèi)存儲的最大值圖像數(shù)據(jù)的每個像素的像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較。如果處于比較的所關心像素具有等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值，則所關心的像素被確定為白色有缺陷像素。
此外，在步驟S24,有缺陷像素檢測單元134從最大值圖像數(shù)據(jù)
閾值，并將結果值作為白色有缺陷像素的缺陷等級。確定的缺陷等級和指示白色有缺陷像素的位置的有缺陷像素坐標被作為與白色有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元123。此后，白色缺陷檢測過程結束。
在圖15所示的白色缺陷檢測過程中，其中通過比較最大值圖像
素，可使用絕對缺陷檢測方法或相對缺陷檢測方法。
下文將參照圖16所示的流程圖進一步詳細說明圖5內(nèi)所示的黑色缺陷檢測單元122在圖14的步驟S12內(nèi)執(zhí)行的黑色缺陷檢測過程。
在黑色缺陷檢測過程的步驟S31中，白色缺陷檢測單元122的幀存儲器143初始化幀存儲器143內(nèi)存儲的內(nèi)容。
在此黑色缺陷檢測過程中，微型計算機ll (圖1)經(jīng)由定時發(fā)生器5控制圖像傳感器4以便進行預定次數(shù)的攝影。
結果，用于黑色有缺陷像素的檢測的測試圖像數(shù)據(jù)由圖像傳感器
4產(chǎn)生，并被提供給黑色缺陷檢測單元122的最小值檢測單元140。最小值檢測單元140將接收到的測試圖像數(shù)據(jù)提供給比較器141和像素選擇單元142。
如果比較器141接收到測試圖像數(shù)據(jù)，則在步驟S32中，比較器 141將接收到的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素的像素值與已經(jīng)存儲在幀存儲器143內(nèi)的對應像素的像素值進行比較。比較器141檢測每個像素的兩個像素值中的較小像素值，并將檢測到的較小像素值提供給像素選擇單元142。
此外，在步驟S32,像素選擇單元142將比較器141提供的像素值轉(zhuǎn)移到幀存儲器143。幀存儲器143以覆寫的方式將接收到的像素值存儲在對應于所關心的像素的位置的地址。
如果提供給比較器141和像素選擇單元142的測試圖像數(shù)據(jù)是在圖像傳感器4執(zhí)行的第一次攝影搮作內(nèi)獲得的，則然后在步驟S32，像素選擇單元142將測試圖像數(shù)據(jù)的各個像素的像素值直接提供給幀存儲器143。幀存儲器143將接收到的像素值存儲在對應于各個像素的位置的地址。
如果在步驟S32內(nèi)將像素值存儲在幀存儲器133內(nèi)的對應于所關心的像素的位置的地址處的過程已經(jīng)針對測試圖像數(shù)據(jù)的所有像素完成，則過程前進到步驟S33。在步驟S33，比較器141確定攝影操作是否已經(jīng)執(zhí)行了預定的次數(shù)。
如果在步驟S33內(nèi)確定攝影操作還未執(zhí)行預定的次數(shù)，則圖像傳感器4再一次捕獲測試圖像數(shù)據(jù)，并將捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)提供給比較器141和像素選擇單元142。此后，過程返回到步驟S32并重復步驟S32和S33。
通過步驟S32和S33的重復執(zhí)行，從由圖像傳感器4執(zhí)行的預定次數(shù)的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)中為每個像素選擇最小像素值，并且將每個像素的最小像素值存儲在幀存儲器143內(nèi)。從多幀測試圖像數(shù)據(jù)確定的并存儲在幀存儲器143內(nèi)的各個像素的最小像素值的圖像數(shù)據(jù)在下文將被簡稱為最小值圖像數(shù)據(jù)。
如果在步驟S233內(nèi)確定捕獲測試圖像數(shù)據(jù)的操作已被執(zhí)行預定的次數(shù)，即如果最小值圖像數(shù)據(jù)已被全部存儲在幀存儲器143內(nèi)，則過程前進到步驟S34。在步驟S34，有缺陷像素檢測單元144將幀存儲器143內(nèi)存儲的最小值圖像數(shù)據(jù)的每個像素的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較。如果處于比較的所關心像素具有等于或小于用于檢測黑色缺陷的閾值的像素值，則所關心的像素被確定為黑色有缺陷像素。
此外，在步驟S34，有缺陷像素檢測單元144從最小值圖像數(shù)據(jù)
閾值^并將結果值作為黑色有缺陷像素的缺陷等級。確k^缺陷等級和指示黑色有缺陷像素的位置的有缺陷像素坐標被作為與黑色有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元123。此后，黑色缺陷檢測過程結束。
在圖16所示的黑色缺陷檢測過程中，其中通過比較最小值圖像數(shù)據(jù)的各個像素的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值來檢測有缺陷像素，可使用絕對缺陷檢測方法或相對缺陷檢測方法。
下文將參照圖17所示的流程圖說明圖13內(nèi)示出的缺陷校正單元 101執(zhí)行的缺陷校正過程。
如上所述，前端單元6 (圖1)輸出的圖像數(shù)據(jù)被提供給缺陷校正單元101內(nèi)的判斷單元161和校正單元162。
在步驟S51，判斷單元161從前端單元6提供的圖像中一個接一個地選擇像素作為所關心的像素，并通過參照缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102 內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表確定所關心的像素是否是有缺陷。
如果在步驟S51內(nèi)確定所關心的像素無缺陷，則校正單元162直接輸出所關心的像素的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。過程跳轉(zhuǎn)到步驟S53而沒有執(zhí)行步驟S52。
另一方面，如果在步驟S51內(nèi)確定所關心的像素有缺陷，則在步驟S52，校正單元162校正所關心的像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。過程然后前進到步驟S53。
在步驟S53，判斷單元161確定所關心的像素是否是位于測試圖像數(shù)據(jù)末端的像素，即測試圖像數(shù)據(jù)是否還包括將被測試的像素。
如果在步驟S53內(nèi)確定測試圖像數(shù)據(jù)還包括將被測試的像素，則然后判斷單元161從測試圖像數(shù)據(jù)中選擇一個像素作為新的所關心的像素。處理流返回步驟S51以從步驟S51重復過程。
另一方面，如果在步驟S53內(nèi)確定測試圖像數(shù)據(jù)不包含將被測試的像素，則缺陷校正單元101終止缺陷校正過程。
在圖4內(nèi)所示的缺陷處理單元51中，如上所述，缺陷檢測單元 103通過將在經(jīng)由圖像傳感器4(圖1)多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像的每個像素處檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，來檢測有缺陷像素(白色有缺陷像素)及其缺陷等級。缺陷檢測單元103還通過將在多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，來檢測有缺陷像素 (黑色有缺陷像素)及其缺陷等級。缺陷檢測單元103然后從最高缺陷等級開始按缺陷等級的降序選擇N個有缺陷像素，并將選擇的N個有缺陷像素存儲在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。這使得可以非?？煽康姆绞叫Ｕ?缺陷像素。
如上所述，缺陷等級高的有缺陷像素比缺陷等級低的有缺陷像素更加明顯。因此，希望從具有最高缺陷等級的有缺陷像素開始按缺陷等級的降序校正有缺陷像素的像素值。
鑒于上文，缺陷檢測單元103從具有最高缺陷等級的有缺陷像素開始按缺陷等級的降序選擇N個有缺陷像素，并將選擇的N個缺陷像素記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，從而使得可優(yōu)選地校正缺陷等級高的有缺陷像素的像素值。
此外，由于只有具有高缺陷等級的N個有缺陷像素的缺陷數(shù)據(jù)被記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，所以可使用具有低存儲容量的低成本RAM作為用于存儲缺陷數(shù)據(jù)表的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102。換句話說，在用于存儲缺陷數(shù)據(jù)表的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102的存儲容量受限的情況下，具有高缺陷等級的N個有缺陷像素被允許記錄在具有有限存儲容量的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，從而使得可優(yōu)選地校正缺陷等級高的有缺陷像素的像素值。
由于缺陷檢測單元103不是從經(jīng)由僅執(zhí)行一次的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)檢測有缺陷像素，而是通過將從多幀測試圖像數(shù)據(jù) 獲得的最大值圖像數(shù)據(jù)或最小值圖像數(shù)據(jù)與閾值進行比較，從經(jīng)由執(zhí) 行多次的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)檢測有缺陷像素，并且具有最高缺陷等級的N個有缺陷像素被記錄在缺陷數(shù)據(jù)表，所以不僅可檢測永久性有缺陷像素而且還可檢測間歇性有缺陷像素，并優(yōu)選地校正從兩類有缺陷像素選擇的具有最高缺陷等級的N個有缺陷像素。
如上所述，有缺陷像素可分成兩類，即永久性有缺陷像素和間歇性有缺陷像素。在缺陷檢測單元103執(zhí)行的有缺陷像素檢測過程中，如果即使僅在多幀測試圖像數(shù)據(jù)之一內(nèi)檢測到大于用于檢測白色缺陷的閾值或低于用于檢測黑色缺陷的閾值的像素值，則對應的像素也被認為有缺陷。因此，不僅可檢測永久性有缺陷像素還可檢測間歇性有缺陷像素。
缺陷檢測單元103選擇具有最高缺陷等級的N個有缺陷像素而與缺陷類型無關，并將選擇的N個有缺陷像素記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。因此，不管有缺陷像素是永久的有缺陷像素還是斷續(xù)的有缺陷像素均可優(yōu)選地對缺陷等級高的有缺陷像素進行像素數(shù)據(jù)的校正。
在圖5所示的示例中，缺陷檢測單元103包括用于檢測白色有缺陷像素的白色缺陷檢測單元121和用于檢測黑色有缺陷像素的黑色缺陷檢測單元122?？蛇x擇地，缺陷檢測單元103可僅包括用于檢測白色有缺陷像素的白色缺陷檢測單元121和用于檢測黑色有缺陷像素的黑色缺陷檢測單元122之一。但是，在缺陷檢測單元103僅包括白色缺陷檢測單元121和黑色缺陷檢測單元122之一的情況下，可僅檢測白色有缺陷像素或黑色有缺陷像素。
在上述示例中，從經(jīng)由多次執(zhí)行的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)獲得最大值圖像數(shù)據(jù)。可選擇地，可從通過僅執(zhí)行一次但長時間膝光的攝影操作獲得的單幀測試圖像數(shù)據(jù)獲得等效的最大值圖像數(shù) 據(jù)。
更準確地說，例如，可通過將從經(jīng)由多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的
比較，或通過將經(jīng)由僅執(zhí)行一次但長時間曝光的攝影操作捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)與用于檢測白色缺陷像素的閾值進行比較，來檢測間隙性缺陷類型的白色有缺陷像素。
但是，圖像傳感器4的說明書允許的最大曝光時間并不一定長得
數(shù)據(jù)。在圖像傳感器4的說明書允許的最大爆光時間不是長得足以獲得適用于間歇性缺陷類型的白色有缺陷像素的檢測的測試圖像數(shù)據(jù)的情況下，可從通過多次執(zhí)行具有長膝光時間的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)產(chǎn)生最大值圖像數(shù)據(jù)，并且可將該最大值圖像數(shù)據(jù)與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較。這可導致檢測間歇性缺陷類型的白色有缺陷像素的可靠性提高。
為了以非?？煽康姆绞綑z測具有長的出現(xiàn)到出現(xiàn)時間間隔的間歇性有缺陷像素而不會遺漏，希望從盡可能多幀的測試圖像數(shù)據(jù)產(chǎn)生最大值圖像數(shù)據(jù)或最小值圖像數(shù)據(jù)。
圖18示出圖3內(nèi)示出的缺陷處理單元51的配置的另一個示例。
在圖18所示的示例中，缺陷處理單元51包括缺陷校正單元201、缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202和缺陷檢測單元203。
缺陷校正單元201接收從圖像傳感器4 (圖1)經(jīng)由前端單元6 輸出的圖像數(shù)據(jù)。缺陷校正單元201執(zhí)行缺陷校正過程以根據(jù)缺陷數(shù) 據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表校正接收到的圖像數(shù)據(jù)的像素的像素值，并將由缺陷校正過程獲得的被校正的圖像數(shù)據(jù)提供給數(shù)字信號處理單元52 (圖3)。
缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)描述的缺陷數(shù)據(jù)包括指示每個有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型的缺陷類型數(shù)據(jù)。
缺陷校正單元201總是校正圖像數(shù)據(jù)內(nèi)的永久缺陷類型的有缺陷
像素的像素值。對于圖像數(shù)據(jù)內(nèi)的間歇性有缺陷像素，缺陷校正單元
201通過比較每個間歇性有缺陷像素的像素值與用于確定間歇性有缺
態(tài)，并且缺陷校正單元201只有當間歇性有缺陷像素處于有缺陷狀態(tài) 時才校正像素值。
缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202以與圖4內(nèi)所示的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102 類似的方式配置，并且用于存儲其中描述了與缺陷檢測單元203檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)表。應指出，如上所述，缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)記錄的缺陷數(shù)據(jù)包括缺陷類型數(shù)據(jù)。
如同圖4內(nèi)示出的缺陷檢測單元103 —樣，缺陷檢測單元203被供給將用于有缺陷像素檢測過程的測試圖像數(shù)據(jù)。
缺陷檢測單元203執(zhí)行缺陷檢測過程。更準確地說，缺陷檢測單元203使用被提供給缺陷檢測單元203的測試圖像數(shù)據(jù)檢測有缺陷像素，并將與檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
缺陷檢測單元203還確定每個檢測到的有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型，并將包含缺陷類型數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
下文將更詳細地說明由以上述方式配置的缺陷處理單元51執(zhí)行的缺陷檢測過程和缺陷校正過程。
如果用戶操作如圖1所示的操作單元12以發(fā)出執(zhí)行缺陷校正過程的命令，則對應于用戶執(zhí)行的操作從操作單元12輸出缺陷檢測命令信號作為操作信號，并將該信號提供給微型計算機ll。
如果微型計算機11從操作單元12接收到缺陷檢測命令信號，則微型計算機11將操作模式從正常模式切換到缺陷檢測模式，并經(jīng)由定時發(fā)生器5 (圖1)控制圖像傳感器4以便多次拍攝圖像。
由圖像傳感器4執(zhí)行的攝影操作獲得的多幀圖像數(shù)據(jù)或被校正圖像數(shù)據(jù)作為測試圖像數(shù)據(jù)被提供給缺陷檢測單元203。
微型計算機11經(jīng)由微型計算機接口 33 (圖3)控制相機信號處理單元31內(nèi)的缺陷處理單元51的缺陷檢測單元203以執(zhí)行缺陷檢測過程。
即，在微型計算機11的控制下，缺陷檢測單元203如下所述地執(zhí)行缺陷檢測過程。如果缺陷檢測單元203從圖像傳感器4接收到多幀測試圖像數(shù)據(jù)，則缺陷檢測單元203檢測有缺陷像素并確定檢測到的有缺陷像素的缺陷類型。缺陷檢測單元203然后將包含缺陷類型數(shù) 據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
如果缺陷檢測單元203已經(jīng)將缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，則微型計算機11將操作模式從缺陷檢測模式切換到正常模式。
在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表具有原有缺陷數(shù)據(jù)的情況下，缺陷檢測單元203產(chǎn)生的新缺陷數(shù)據(jù)被存儲在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，從而原有缺陷數(shù)據(jù)被新缺陷數(shù)據(jù)覆寫。
在以正常模式操作時，如果圖像傳感器4拍攝圖像并且結果圖像數(shù)據(jù)被供給缺陷校正單元201,則缺陷校正單元201執(zhí)行缺陷校正操作。
更準確地說，缺陷校正單元201根據(jù)需要根據(jù)缺陷數(shù)據(jù)表存儲器 202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表校正接收到的測試圖像數(shù)據(jù)的像素值，并將由缺陷校正過程獲得的被校正的圖像數(shù)據(jù)提供給數(shù)字信號處理單元 52 (圖3 )。
更準確地說，缺陷校正單元201從圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素作為所關心的像素，并通過參考缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表確定所關心的像素是否有缺陷。
如果確定所關心的像素無缺陷，則缺陷校正單元201直接輸出所關心的像素的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。
如果確定所關心的像素有缺陷，則缺陷校正單元201通過參考缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表確定所關心的有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。
如果確定所關心的像素是永久性有缺陷像素，則缺陷校正單元
201以與圖4內(nèi)示出的缺陷校正單元101類似的方式校正所關心的像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。另一方面，在確定所關心的像素為間歇性有缺陷像素的情況下，缺陷校正單元201通過比較所關心的間歇性有缺陷像素的像素值與用
是否處于有缺陷狀態(tài)，在該狀::下間歇性有缺陷像素具有異常的像素值。
與永久性有缺陷像素不同，間歇性有缺陷像素有時處于有缺陷狀態(tài)，但在其他時間內(nèi)處于正常狀態(tài)。
如果所關心的間歇性有缺陷像素沒有處于有缺陷狀態(tài)，則缺陷校正單元201直接輸出所關心的像素的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。
如果所關心的間歇性有缺陷像素處于有缺陷狀態(tài)，則缺陷校正單元201以與圖4內(nèi)示出的缺陷校正單元101類似的方式校正所關心的像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。
圖19示出圖18內(nèi)所示的缺陷檢測單元203的配置的示例。
缺陷檢測單元203包括白色缺陷檢測單元221,黑色缺陷檢測單元222和有缺陷像素選擇單元223。
白色缺陷檢測單元221包括最小值檢測單元231，出現(xiàn)次數(shù)計數(shù) 器232和判斷單元236。白色缺陷檢測單元221檢測白色有缺陷像素，并進一步確定每個檢測到的白色有缺陷像素的缺陷類型，即確定每個檢測到的白色有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。白色缺陷檢測單元221然后將指示關于每個像素是否是白色有缺陷像素的確定結果的數(shù)據(jù)以及指示每個檢測到的白色有缺陷像素的缺陷類型的數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元223。
更準確地說，最小值檢測單元231接收經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí) 行的測試圖像拍攝操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)。
最小值檢測單元231以與圖5內(nèi)所示的最小值檢測單元140類似
的方式配置，并用于檢測在多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處獲得的像素值的最小值，并將指示檢測到的各個像素的最小像素值的最小
值圖像數(shù)據(jù)提供給判斷單元236。
被提供給最小值檢測單元231的多幀測試圖像數(shù)據(jù)也被提供給出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232。
出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232通過比較多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的像素值與用于檢測白色缺陷的閾值來檢測白色有缺陷像素。此外，出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232分別針對多幀測試圖像數(shù)據(jù)上的每個像素位置對白色有缺陷像素的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)(下文，這種出現(xiàn)次數(shù)將被筒稱為白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù))，并且出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232將指示結果的數(shù)據(jù)提供給判斷單元236。
下文將更詳細地說明出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232的配置及其操作。出現(xiàn) 次數(shù)計數(shù)器232包括有缺陷像素檢測單元233,加法器234和幀存儲器235。
有缺陷像素檢測單元233被供給測試圖像數(shù)據(jù)。有缺陷像素檢測單元233從測試圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素，并將當前選擇的像素(下文被稱為所關心的像素)的像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較。如果所關心的像素的像素值等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值，則有缺陷像素檢測單元233確定所關心的像素為白色有缺陷像素，并將指示被確定為是白色有缺陷像素的所關心的像素的位置的坐標提供給加法器234。在有缺陷像素檢測單元233執(zhí)行的白色有缺陷像素檢測過程中，可使用絕對檢測方法或相對檢測方法。
如果加法器234從有缺陷像素檢測單元233接收到指示在當前像素位置檢測到白色有缺陷像素的數(shù)據(jù)，則加法器234訪問幀存儲器 235，并讀取在與被認為是白色有缺陷像素的所關心像素的像素位置相對應的地址處存儲的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，并且加法器234將白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)加1。加法器234然后用增加的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)代替在幀存儲器235內(nèi)在與所關心的像素的位置相對應的地址處存儲的當前數(shù)據(jù)。
因此，在測試圖像的每個像素位置檢測到的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)
在對應于每個像素的像素位置的地址處被存儲在幀存儲器235內(nèi)。
根據(jù)從最小值檢測單元231提供的最小值圖像數(shù)據(jù)，即指示在經(jīng) 由圖像傳感器4多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素檢測到的最小像素值的數(shù)據(jù)，并且還根據(jù)幀存儲器235內(nèi)存儲的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，判斷單元236確定測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素是否是白色有缺陷像素，并確定被確定為是白色有缺陷像素的每個像素的缺陷類型，即確定被確定為是白色有缺陷像素的每個像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。判斷單元236將每個像素的判斷結果提供給有缺陷像素選擇單元223。
黑色像素檢測單元222包括最大值檢測單元241，出現(xiàn)次數(shù)計數(shù) 器242和判斷單元246。黑色缺陷檢測單元222檢測黑色有缺陷像素，并確定檢測到的黑色有缺陷像素的缺陷類型。黑色缺陷檢測單元222 然后將指示關于每個像素是否是黑色有缺陷像素的確定結果的數(shù)據(jù)以及指示每個檢測到的白色有缺陷像素的缺陷類型的數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元223。
更準確地說，最大值檢測單元241接收經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí) 行的測試圖像拍攝操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)。
最大值檢測單元241以與圖5內(nèi)所示的最大值檢測單元130類似的方式配置，并用于檢測在多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置獲得的像素值的最大值，并將指示檢測到的各個像素的最大像素值的最大值圖像數(shù)據(jù)提供給判斷單元246。
被提供給最大值檢測單元241的多幀測試圖像數(shù)據(jù)也被提供給出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242。
出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242通過比較多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值來檢測黑色有缺陷像素。此外，出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242分別針對多幀測試圖像數(shù)據(jù)上的每個像素位置對黑色有缺陷像素的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)(下文，這種出現(xiàn)次數(shù)將被簡稱為黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù))，并且出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242將指示結果的數(shù)據(jù)提供給判斷單元246。
下文將更詳細地說明出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242的配置及其操作。出現(xiàn) 次數(shù)計數(shù)器242包括有缺陷像素檢測單元243,加法器244和幀存儲器245。
有缺陷像素檢測單元243被供給測試圖像數(shù)據(jù)。有缺陷像素檢測單元243從測試圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素，并將當前選擇的像素(下文被稱為所關心的像素)的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較。如果所關心的像素的像素值等于或小于用于檢測黑色缺陷的閾值，則有缺陷像素檢測單元243確定所關心的像素為黑色有缺陷像素，并將指示被確定為是黑色有缺陷像素的所關心的像素的位置的坐標提供給加法器244。在有缺陷像素檢測單元243執(zhí)行的黑色有缺陷像素檢測過程中，可使用絕對檢測方法或相對檢測方法。
加法器244訪問幀存儲器245，并讀取在與被認為是黑色缺陷的所關心像素的像素位置相對應的地址處存儲的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，并且加法器244將黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)加1。加法器244然后用增加的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)代替在幀存儲器245內(nèi)在與所關心的像素的位置相對應的地址處存儲的當前數(shù)據(jù)。
因此，在測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置檢測到的黑色缺陷的出現(xiàn) 次數(shù)在對應于每個像素的像素位置的地址處被存儲在幀存儲器245 內(nèi)。
根據(jù)從最大值檢測單元241提供的最大值圖像數(shù)據(jù)，即指示在經(jīng) 由圖像傳感器4多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素處檢測到的最大像素值的數(shù)據(jù)，并且還根據(jù)幀存儲器245內(nèi)存儲的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，判斷單元246確定測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素是否是黑色有缺陷像素，并確定被確定為是黑色有缺陷像素的每個像素的缺陷類型，即確定被確定為是黑色有缺陷像素的每個像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。判斷單元246將每個像素的判斷結果提供給有缺陷像素選擇單元223。
如上所述，缺陷像素選擇單元223從白色缺陷檢測單元221和黑
色缺陷檢測單元222接收到指示關于測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素是否是有缺陷像素(白色有缺陷像素或黑色有缺陷像素)的判斷結果的數(shù)據(jù) 以及指示缺陷類型的數(shù)據(jù)。
有缺陷像素選擇單元223根據(jù)關于測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素是否有缺陷的判斷結果從測試圖像數(shù)據(jù)的像素中選擇有缺陷像素。此外，根據(jù)關于每個有缺陷像素的缺陷類型的判斷結果，有缺陷像素選擇單元223產(chǎn)生包括每個有缺陷像素的有缺陷像素坐標和缺陷類型的缺陷數(shù)據(jù)，并將缺陷數(shù)據(jù)提供給缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202已將缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
接下來，將參照圖20進一步詳細說明圖19內(nèi)所示的判斷單元236 執(zhí)行的確定缺陷類型的過程。
圖20示出對于經(jīng)由執(zhí)行三次的攝影操作捕獲的三幀測試圖像數(shù) 據(jù)中的每一個的六個像素A、 B、 C、 D、 E和F的像素值。
圖20頂部的條形圖示出在第一次攝影搮作中獲得的第一幀測試圖像數(shù)據(jù)內(nèi)觀察到的像素A到F的像素值，下一個較低的位置處的條形圖示出在第二次攝影操作中獲得的第二幀測試圖像數(shù)據(jù)內(nèi)觀察到的像素A到F的像素值，而在更下一個較低位置處的條形圖示出在第三次攝影操作中獲得的第三幀測試圖像數(shù)據(jù)內(nèi)觀察到的像素A到F的像素值，
在圖20所示的示例中，在全部三幀測試圖像數(shù)據(jù)中，六個像素 A到F中的三個像素B、 D和E的像素值低于用于檢測白色像素的閾值。但是，在全部三幀測試圖像數(shù)據(jù)中，像素C的像素值高于用于檢測白色缺陷的閾值。應指出，在圖20所示的示例中，用于檢測白色缺陷的閾值固定為THw。
另一方面，在全部三幀測試圖像數(shù)據(jù)中，像素A的像素值接近用于檢測白色缺陷的閾值。即，像素A的像素值圍繞用于檢測白色缺陷的閾值在小范圍內(nèi)波動。更準確地說，在第一幀和第三幀測試圖像數(shù) 據(jù)中像素A的像素值稍低于用于檢測白色缺陷的閾值，但是在第二幀測試圖像數(shù)據(jù)中像素A的像素值稍高于用于檢測白色缺陷的閾值。
在第一和第三幀測試圖像數(shù)據(jù)中像素F的像素值小于用于檢測白色缺陷的閾值，但是在第二幀測試圖像數(shù)據(jù)中像素F的閾值大于用于檢測白色缺陷的閾值。即，在第一和第三幀測試圖像數(shù)據(jù)中像素F 的像素值遠低于用于檢測白色缺陷的閾值，但是在第二幀測試圖像數(shù) 據(jù)中像素F的像素值大于用于檢測白色缺陷的閾值。
在任何時候獲得的任一幀測試圖像數(shù)據(jù)中總是具有低于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值的像素是正常像素(也被稱為無缺陷像素)。在圖20所示的示例中，像素B、 D和E總是低于用于檢測白色缺陷的閾值，從而它們是無缺陷像素。
另一方面，如果在一些攝影操作中像素具有等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值，則它們是有缺陷像素(白色有缺陷像素)。在圖20所示的示例中，在第二次攝影操作中具有大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值的像素A和F以及在全部三次攝影操作中具有大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值的像素C都有缺陷。
對于在全部攝影操作中具有高于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值的像素C，白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)等于執(zhí)行的攝影操作的次數(shù)，從而像素C可被確定為是永久性有缺陷像素。在缺陷類型的確定中需要仔細考慮這樣的像素，即該像素在一些攝影操作中具有等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值，但是在其他攝影操作中具有低于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值。對于這樣的像素，白色缺陷的出現(xiàn) 次數(shù)并不等于執(zhí)行的攝影操作的次數(shù)。在圖20所示的示例中，像素A 和F是這種類型。
如上所述，在第一和第三次攝影操作中像素A的像素值稍低于用于檢測白色缺陷的閾值，但是在第二次攝影操作中像素A的像素值稍高于用于檢測白色缺陷的閾值。因此，像素A是具有圍繞用于檢測白色缺陷的閾值在小范圍內(nèi)波動的像素值的永久性有缺陷像素。
另一方面，在第一和第三次攝影操作中像素F具有小于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值，但是在第二次攝影操作中像素F的像素值高于用于檢測白色缺陷的閾值。在像素F的情況下，如上所述，第一
和第三次攝影操作中的像素值遠低于用于檢測白色缺陷的閾值，但是第二次攝影操作中的像素值大于用于檢測白色缺陷的閾值。這意味著
像素F在第一和笫三次攝影操作中相當于無缺陷像素，但是在第二次攝影操作中相當于有缺陷像素。即，像素F是間歇性有缺陷像素。
對于像素例如像素A和F，它們在一些攝影操作中具有等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值但是在其他攝影操作中具有小于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值，缺陷類型例如可如下地確定。
在從圖20的頂部(向下)的第四個位置處的條形圖示出在三次攝影操作中觀察到的各個像素A到F的最小值。
如果用于確定白色有缺陷像素的缺陷類型的閾值被設定為THl，該閾值遠小于用于檢測白色缺陷的閾值并因此可被看作黑色等級，則然后不管何時拍攝圖像永久性有缺陷缺陷的像素值總是大于閾值 THl，因為這種像素的閾值落在遠大于閾值THl的用于檢測白色缺陷的閾值附近的小范圍內(nèi)。
另一方面，當間歇性有缺陷像素例如像素F處于無缺陷狀態(tài)時，其具有低于用于確定缺陷類型的閾值THt的像素值，該閾值被設定為遠低于用于檢測白色缺陷的閾值，但是當間歇性有缺陷像素處于有缺陷狀態(tài)時其可具有大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值。
因此，當如像素A和F的情況，特定像素在特定攝影操作中具
有等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值，但是在另外的攝影操作中具有低于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值時，此像素的缺陷
類型的確定即關于此像素是間歇性缺陷類型還是永久性缺陷類型的確定可通過檢查在一些攝影操作中該像素是否具有等于或低于用于確定白色缺陷的類型的閾值來實現(xiàn)，即通過檢查經(jīng)由多次攝影操作觀察到的此像素的多個像素值中的最小值是否等于或低于用于確定白色缺陷的類型的閾值來實現(xiàn)。
在圖20的底部示出表示每個像素A到F的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù) 以及指示最小值是否低于用于確定白色缺陷的類型的閾值的標記(下文，此標記將被簡稱為最小值標記)的表。
此表指示像素B、 D和E的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)為0，因此可確定這些像素為無缺陷像素。
另一方面，該表指示像素A、 C和F的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)為1 次或更多次，因此可確定這些像素為有缺陷像素。
此外，根據(jù)該表，在白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)為1次或更多次的有缺陷像素A、 C和F中，像素A和C的最小值標記被設定為0 (因此，像素A和C的像素值的最小值大于用于確定白色缺陷的類型的閾值)，因此像素A和C是永久性有缺陷像素。
另一方面，在白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)為1次或更多次的有缺陷像素 A、 C和F中，像素F的最小值標記被設定為1 (因此，像素F的像素值的最小值等于或低于用于確定白色缺陷的類型的閾值)，因此像素F是間歇性有缺陷像素。
黑色有缺陷像素的缺陷類型的確定可以與白色有缺陷像素的確定類似的方式實現(xiàn)。但是，在黑色有缺陷像素的缺陷類型的確定中，與白色有缺陷像素的缺陷類型的確定相反，缺陷類型是基于最大值確定的。
圖21示出圖18內(nèi)所示的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù) 據(jù)表的示例。
在圖21所示的示例中，每個有缺陷像素的有缺陷像素坐標和缺陷類型被描述為缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)。
圖22示出圖18內(nèi)所示的缺陷校正單元201的配置的示例。如圖22所示，缺陷校正單元201包括判斷單元261和校正單元
262。
前端單元6 (圖1)輸出的測試圖像數(shù)據(jù)被提供給判斷單元261。判斷單元261從圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素作為所關心的
像素，并通過參考缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表來確定
所關心的像素是否有缺陷。
在判斷單元261確定所關心的像素有缺陷時，判斷單元261通過
參考缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表進一步確定所關心的
有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。
在判斷單元261確定所關心的像素有缺陷的情況下，判斷單元 261向校正單元262提供校正命令信號以校正所關心的像素的像素值。
另一方面，在確定所關心的像素是間歇性有缺陷像素的情況下，判斷單元261通過將所關心的間歇性有缺陷像素的像素值與用于確定間歇性有缺陷像素的狀態(tài)的閾值進行比較，確定間歇性有缺陷像素當前是否處于有缺陷狀態(tài)，在該狀態(tài)下間歇性有缺陷像素具有異常像素值。
在判斷單元261確定所關心的像素處于有缺陷狀態(tài)的情況下，判斷單元261向校正單元262提供校正命令信號。
除了判斷單元261提供的校正命令信號之外，與提供給判斷單元 261相同的測試圖像數(shù)據(jù)也被從前端單元6提供給校正單元262。
每次校正單元262接收到從前端單元6依次提供的多個像素之一的像素值，校正單元262就確定是否已從判斷單元261接收到指示本像素是將被校正的像素的校正命令信號。如果確定沒有接收到校正命令信號并因此本像素不是將被校正的像素，則校正單元262直接輸出本像素的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。
另一方面，如果已經(jīng)從判斷單元261接收到校正命令信號并因此本像素是將被校正的像素，則校正單元262校正本像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。
被指定將被校正的所關心的像素的像素值的校正可以與圖13內(nèi) 所示的校正單元162類似的方式執(zhí)行。
接下來，下文將參照圖23所示的流程圖說明圖19內(nèi)所示的缺陷檢測單元203執(zhí)行的缺陷檢測過程。
圖23內(nèi)所示的缺陷檢測過程例如在圖l所示的數(shù)字靜態(tài)照相機l 被裝運之前在數(shù)字靜態(tài)照相機的生產(chǎn)線上執(zhí)行。
在步驟S71，缺陷檢測單元203中的白色缺陷檢測單元221執(zhí)行白色缺陷檢測過程以檢測白色有缺陷像素，并將指示針對測試圖像數(shù) 據(jù)的每個像素的關于該像素是無缺陷像素、永久性有缺陷像素還是間歇性有缺陷像素的確定的結果提供給有缺陷像素選擇單元223。過程然后前進到步驟S72。
在步驟S72，黑色缺陷檢測單元222執(zhí)行黑色缺陷檢測過程以檢測黑色有缺陷像素，并將指示針對測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素的關于該像素是無缺陷像素、永久性有缺陷像素還是間歇性有缺陷像素的確定的結果提供給有缺陷像素選擇單元223。過程然后前進到步驟S73。
在步驟S73，有缺陷像素選擇單元223根據(jù)從白色缺陷檢測單元 221和黑色缺陷檢測單元222告知的判斷結果從測試圖像數(shù)據(jù)的像素中選擇有缺陷像素。此外，有缺陷像素選擇單元223產(chǎn)生包含每個有缺陷像素的有缺陷像素坐標和缺陷類型的缺陷數(shù)據(jù)。過程然后轉(zhuǎn)到步驟S74。
在步驟S74，有缺陷像素選擇單元223將與有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)提供給缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202。缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202將接收到的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。此后，缺陷檢測過程結束。
接下來，下文將按照圖24內(nèi)所示的流程圖說明圖19內(nèi)所示的白色缺陷檢測單元221在圖23內(nèi)的步驟S71中執(zhí)行的白色缺陷檢測過程。
在白色缺陷檢測過程中的步驟S81，白色缺陷檢測單元221的幀存儲器235將其中存儲器的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)初始化為0。
在此白色缺陷檢測過程中，微型計算機ll (圖1)經(jīng)由定時發(fā)生器5控制圖像傳感器4以便進行預定次數(shù)的攝影。
結果，用于白色有缺陷像素的檢測的測試圖像數(shù)據(jù)由圖像傳感器 4產(chǎn)生，并被提供給白色缺陷檢測單元221的最小值檢測單元231,并且步驟S82由圖5內(nèi)所示的最小值檢測單元140以與圖16內(nèi)的步驟 S32類似的方式執(zhí)行。
每次測試圖像數(shù)據(jù)被圖像傳感器4拍攝并被提供給最小值檢測單元231，就執(zhí)行此步驟S82。如同圖5內(nèi)的最小值檢測單元140—樣，最小值檢測單元231檢測經(jīng)由預定次數(shù)的攝影操作觀察到的每個像素位置的多個像素值中的最小值。
過程然后從步驟S82前進到步驟S83。在步驟S83，白色缺陷檢測單元221中的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232的有缺陷像素檢測單元233 (圖 19)從測試圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素，并比較當前選擇的像素(下文被稱為所關心的像素)的像素值與用于檢測白色缺陷的閾值。如果所關心的像素具有等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值，則所關心的像素被確定為是白色有缺陷像素。更準確地說，有缺陷像素檢測單元233確定所關心的像素的像素值是否等于或大于用于檢測白色缺陷的閾值，并且如果是這樣，則有缺陷像素檢測單元233 確定所關心的像素是有缺陷像素。
有缺陷像素檢測單元233將指示被確定為是有缺陷像素的所關心像素的位置的坐標提供給加法器234。此后，過程從步驟S83前進到步驟S84。在步驟S84,加法器234訪問幀存儲器235并讀取在與從有缺陷像素檢測單元233提供的所關心像素的像素位置相對應的地址存儲的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，并且加法器234將白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù) 加1。加法器234然后用增加的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)代替在幀存儲器 235內(nèi)在對應于所關心的像素的位置的地址處存儲的當前數(shù)據(jù)。
過程從步驟S84前進到步驟S85。在步驟S85，白色缺陷檢測單元221確定攝影操作是否已經(jīng)執(zhí)行了預定的次數(shù)。
如果在步驟S85確定捕獲測試圖像數(shù)據(jù)的操作還未執(zhí)行預定次數(shù)，則圖像傳感器4再一次捕獲測試圖像數(shù)據(jù)，并將捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)提供給最小值檢測單元231和出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232的有缺陷像素檢測單元233。此后，過程返回步驟S82以重復步驟S82到步驟S85。
經(jīng)由步驟S82到S85的反復執(zhí)行，如上所述，最小值檢測單元 231從由圖像傳感器4執(zhí)行的預定次數(shù)的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)中檢測每個像素的最小像素值。
如果在步驟S85確定捕獲測試圖像數(shù)據(jù)的操作已經(jīng)執(zhí)行了預定的次數(shù)，即如果已從由圖像傳感器4執(zhí)行的預定次數(shù)的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)中檢測到每個像素的最小像素值，并且在多幀測試圖像數(shù)據(jù)上的每個像素位置計數(shù)的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)已被存儲在
幀存儲器235內(nèi)，則然后由最小值檢測單元231為多幀測試圖像數(shù)據(jù) 上的每個像素位置檢測到的最小像素值以及存儲在幀存儲器235內(nèi)的
白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)被提供給判斷單元236。
過程然后從步驟S85前進到步驟S86。在步驟S86,判斷單元236 從測試圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素作為所關心的像素，并確定所關心的像素的白色缺陷出現(xiàn)次數(shù)是否是O。
如果在步驟S86確定所關心的像素的白色缺陷出現(xiàn)次數(shù)為0，則過程前進到步驟S87。在步驟S87,判斷單元236通知有缺陷像素選擇單元223所關心的像素是無缺陷像素。
另一方面，如果在步驟S86確定所關心的像素的白色缺陷出現(xiàn)次數(shù)不等于0，即如果在所關心的像素處的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)為1或更大，過程前見到步驟S88。在步驟S88，判斷單元236確定在所關心的像素處的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)是否等于攝影操作的預定次數(shù)。
如果在步驟S88確定在所關心的像素處的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù) 等于攝影操作的預定次數(shù)，則過程前進到步驟S89。在步驟S89,判斷單元236通知有缺陷像素選擇單元223所關心的像素為永久性有缺陷像素。
另一方面，如果在步驟S88確定在所關心的像素處的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)不等于攝影操作的預定次數(shù)，則過程前進到步驟S90。在步驟S90,判斷單元236確定經(jīng)由預定次數(shù)的攝影操作捕獲的所關心像素處的像素值的最小值(下文被簡稱為所關心像素處的最小值)是否等于或小于用于確定白色缺陷的類型的閾值。
如果在步驟S90確定所關心像素處的最小值大于用于檢測白色缺陷的類型的閾值，則過程前進到步驟S89。在步驟S89，判斷單元 236通知有缺陷像素選擇單元223所關心的像素是永久性有缺陷像素。
另一方面，如果在步驟S90確定所關心像素處的最小值等于或小于用于檢測白色缺陷的類型的閾值，則過程前進到步驟S91。在步驟 S91，判斷單元236通知有缺陷像素選擇單元223所關心的像素是間歇性有缺陷像素。
接下來，下文將參照圖25內(nèi)所示的流程圖說明圖19內(nèi)所示的黑色缺陷檢測單元222在圖23中的步驟S72內(nèi)執(zhí)行的黑色缺陷檢測過程。
在黑色缺陷檢測過程的步驟S101,黑色缺陷檢測單元222的幀存儲器245將其中存儲的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)初始化為0。
在此黑色缺陷檢測過程中，微型計算機ll (圖1)經(jīng)由定時發(fā)生器5控制圖像傳感器4以便進行預定次數(shù)的攝影。
結果，用于黑色有缺陷像素的檢測的測試圖像數(shù)據(jù)由圖像傳感器 4產(chǎn)生，并被提供給黑色缺陷檢測單元222的最大值檢測單元241，并且步驟S102由圖5內(nèi)所示的最大值檢測單元130以與圖15內(nèi)的步驟 S22類似的方式執(zhí)行。
每次測試圖像數(shù)據(jù)被圖像傳感器4拍攝并被提供給最大值檢測單元241，就執(zhí)行此步驟S102。如同圖5內(nèi)的最大值檢測單元130 —樣，最大值檢測單元241檢測經(jīng)由預定次數(shù)的攝影操作觀察到的每個像素位置的多個像素值中的最大值。
過程然后從步驟S102前進到步驟S103。在步驟S103,黑色缺陷檢測單元222中的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242的有缺陷像素檢測單元243(圖 19)從測試圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素，并比較當前選擇的像素(下文被稱為所關心的像素)的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值。如果所關心的像素具有等于或小于用于檢測黑色缺陷的閾值的像素值，則所關心的像素被確定為是黑色有缺陷像素。更準確地說，有缺陷像素檢測單元243確定所關心像素的像素值是否等于或小于用于檢測黑色缺陷的閾值，并且如果是這樣，則有缺陷像素檢測單元243確定所關心的像素是有缺陷像素。
有缺陷像素檢測單元243將指示被確定為是有缺陷像素的所關心像素的位置的坐標提供給加法器244。此后，過程從步驟S103前進到步驟S104。在步驟S104，加法器244訪問幀存儲器245并讀取在對應于所關心像素的像素位置的地址處存儲的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，并且加法器244將黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)加1。加法器244然后用增加的
黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)代替在幀存儲器245內(nèi)在對應于所關心的像素的位置的地址處存儲的當前數(shù)據(jù)。
過程從步驟S104前進到步驟S105。在步驟S105，黑色缺陷檢測單元222確定攝影操作是否已經(jīng)執(zhí)行了預定的次數(shù)。
如果在步驟S105確定捕獲測試圖像數(shù)據(jù)的操作還未執(zhí)行預定次數(shù)，則圖像傳感器4再一次捕獲測試圖像數(shù)據(jù)，并將捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)提供給最大值檢測單元241和出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242的有缺陷像素檢測單元243。此后，過程返回步驟S102以重復步驟S102到步驟S105。
經(jīng)由步驟S102到S105的反復執(zhí)行，如上所述，最大值檢測單元 241從由圖像傳感器4執(zhí)行的預定次數(shù)的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)中檢測每個像素的最大像素值。
如果在步驟S105確定捕獲測試圖像數(shù)據(jù)的操作已經(jīng)執(zhí)行了預定的次數(shù)，即如果已從由圖像傳感器4執(zhí)行的預定次數(shù)的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)中檢測到每個像素的最大像素值，并且在多幀測試圖像數(shù)據(jù)上的每個像素位置計數(shù)的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)已被存儲在幀存儲器245內(nèi)，則然后由最大值檢測單元241為多幀測試圖像數(shù)據(jù) 上的每個像素位置檢測到的最大像素值以及存儲在幀存儲器245內(nèi)的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)被提供給判斷單元246。
過程然后從步驟S105前進到步驟S106。在步驟S106，判斷單元 246從測試圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素作為所關心的像素，并確定所關心的像素的黑色缺陷出現(xiàn)次數(shù)是否是O。
如果在步驟S106確定所關心的像素的黑色缺陷出現(xiàn)次數(shù)為0，則過程前進到步驟S107。在步驟S107，判斷單元246通知有缺陷像素選擇單元223所關心的像素是無缺陷像素。
另一方面，如果在步驟S106確定所關心的像素的黑色缺陷出現(xiàn) 次數(shù)不等于0，即如果在所關心的像素處的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)為1 或更大，過程前見到步驟S108。在步驟S108,判斷單元246確定在所關心的像素處的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)是否等于攝影操作的預定次數(shù)。
如果在步驟S108確定在所關心的像素處的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù) 等于攝影操作的預定次數(shù)，則過程前進到步驟S109。在步驟S109, 判斷單元246通知有缺陷像素選擇單元223所關心的像素為永久性有缺陷像素。
另一方面，如果在步驟S108確定在所關心的像素處的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)不等于攝影操作的預定次數(shù)，則過程前進到步驟S110。在步驟SllO，判斷單元246確定經(jīng)由預定次數(shù)的攝影操作捕獲的所關心像素處的像素值的最大值(下文被簡稱為所關心像素處的最大值)是否等于或大于用于確定黑色缺陷的類型的閾值。
用于確定黑色有缺陷像素的缺陷類型的閾值被預先設定為遠大于用于檢測黑色缺陷的閾值并因此可被認為是白色等級的值。
如果在步驟S110確定所關心像素處的最大值小于用于檢測黑色缺陷的類型的閾值，則過程前進到步驟S109。在步驟S109,判斷單元246通知有缺陷像素選擇單元223所關心的像素是永久性有缺陷像素。
另一方面，如果在步驟S110確定所關心像素處的最大值等于或大于用于檢測黑色缺陷的類型的閾值，則過程前進到步驟Slll。在步驟Slll,判斷單元246通知有缺陷像素選擇單元223所關心的像素是間歇性有缺陷像素。
接下來，下文將參照圖26內(nèi)所示的流程圖說明圖22內(nèi)所示的缺陷校正單元201執(zhí)行的缺陷校正過程。
如上所述，前端單元6 (圖1)輸出的圖像數(shù)據(jù)被提供給缺陷校正單元201內(nèi)的判斷單元261和校正單元262。
在步驟S131,判斷單元261從前端單元6提供的圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素作為所關心的像素，并參考缺陷數(shù)據(jù)表存儲器 202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表確定所關心的像素是否是永久性有缺陷像素。
如果在步驟S131確定所關心的像素是永久性有缺陷像素，則過程前進到步驟S132。在步驟S132,校正單元262校正所關心的像素
的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。
過程然后前進到步驟S135。
另一方面，如果在步驟S131確定所關心的像素不是永久性有缺陷像素，則過程前進到步驟S133。在步驟S133,判斷單元261通過參考缺陷數(shù)據(jù)表存儲器202內(nèi)存儲的缺陷數(shù)據(jù)表確定所關心的像素是否是間歇性有缺陷像素。
如果在步驟S133確定所關心的像素不是間歇性有缺陷像素，即如果所關心的像素是無缺陷像素，則校正單元262直接輸出所關心的像素的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。過程然后前進到步驟 S135。
在步驟S133中確定所關心的像素是間歇性有缺陷像素的情況下，過程前進到步驟S134。在步驟S134，判斷單元261通過將所關
的閾值進行比較，確定間歇性有:陷像素目前是否處于有缺陷狀態(tài)r
在關于被確定為是間歇性有缺陷像素的像素目前是否處于有缺陷狀態(tài)的判斷中，用于確定間歇性有缺陷像素的狀態(tài)的閾值可被設定
檢測黑色缺陷的變化閾值。如果被確定為是間歇性有缺陷像素的所關心像素的像素值等于或大于限定白色間歇性有缺陷缺陷是否處于有缺陷狀態(tài)的閾值，或者等于或小于限定黑色間歇性有缺陷缺陷是否處于有缺陷狀態(tài)的閾值，則間歇性有缺陷像素被確定為目前處于有缺陷狀態(tài)。
關于被確定為間歇性有缺陷像素的像素目前是否處于有缺陷狀現(xiàn)。
如果在步驟S134確定所關心的間歇性有缺陷像素目前不處于有缺陷狀態(tài)，即如果所關心的間歇性有缺陷像素目前表現(xiàn)為無缺陷像素，則校正單元262直接輸出所關心的像素的像素值作為被校正圖像數(shù)據(jù)
的像素值。過程然后前進到步驟S135。
另一方面，如果在步驟S134確定所關心的間歇性有缺陷像素目前處于有缺陷狀態(tài)，即如果所關心的間歇性有缺陷像素目前表現(xiàn)為有缺陷像素，則校正單元262校正所關心的像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。過程然后前進到步驟 S135。
在步驟S135，判斷單元261確定所關心的像素是否是位于測試圖像數(shù)據(jù)末端的像素，即測試圖像數(shù)據(jù)是否不再包含將被測試的像素。
如果在步驟S135確定測試圖像數(shù)據(jù)包含更多將被測試的像素，則然后判斷單元261從還未被測試的像素中選擇一個像素作為新的所關心的像素。過程流然后返回步驟S131以重復從步驟S131開始的過程。
另一方面，如果在步驟S135內(nèi)確定測試圖像數(shù)據(jù)不再包含將被測試的像素，則缺陷校正單元201結束缺陷校正過程。
如上所述，在圖18內(nèi)所示的缺陷處理單元51執(zhí)行的操作中，缺陷校正單元203通過檢測具有大于用于檢測白色缺陷的閾值的像素值的像素來檢測白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，并在經(jīng)由多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的多個幀上對測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的白色缺陷出現(xiàn)次數(shù) 計數(shù)。缺陷校正單元203還基于多個幀上觀察到的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的最小值是大于還是小于被設定為小于用于檢測白色有缺陷像素的閾值以便檢測白色有缺陷像素的類型的閾值，并且還基于在每個像素位置觀察到的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，確定每個檢測出的白
色有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。缺陷校正單元 203通過檢測具有小于用于檢測黑色缺陷的閾值的像素值的像素來檢測黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，并在經(jīng)由多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的多個幀上對測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的黑色缺陷出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)。缺陷校正單元203還基于在多個幀上觀察到的測試圖像的每個像素位置處的最大值大于還是小于設定為大于用于檢測黑色有缺陷像素的閾值以便檢測黑色有缺陷像素的類型的閾值，并且還基于在每個像素位置觀
察到的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，確定每個檢測到的黑色有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。缺陷數(shù)據(jù)中描述了檢測到的每個
有缺陷像素的類型。根據(jù)缺陷數(shù)據(jù)，缺陷校正單元201確定圖像數(shù)據(jù) 的每個像素是否有缺陷，并且還確定每個有缺陷像素的缺陷類型(永
久性缺陷類型或間歇性缺陷類型)。
在圖18所示的缺陷處理單元51中，缺陷校正單元201總是為永久性缺陷類型的有缺陷像素校正像素值。但是，對于間歇性有缺陷像素，缺陷校正單元201通過比較每個間歇性有缺陷像素的像素值與用
否處于有缺陷狀態(tài)，并且缺陷校正單元201只有在間歇性有缺陷像素處于有缺陷狀態(tài)時才校正像素值。因此，有缺陷像素被以非?？煽康?方式校正。
即，間歇性有缺陷像素可處于其中間歇性有缺陷像素表現(xiàn)為無缺陷像素的無缺陷狀態(tài)，和其中間歇性有缺陷像素表現(xiàn)為有缺陷像素的有缺陷狀態(tài)。當間歇性有缺陷像素不處于有缺陷狀態(tài)時，其的像素值并不異常。如果對不處于有缺陷狀態(tài)的間歇性有缺陷像素進行校正，結果是被校正的像素值可能異常。
為了避免出現(xiàn)數(shù)上述問題，檢查缺陷數(shù)據(jù)以確定每個有缺陷像素是永久性有缺陷類型還是間歇性有缺陷類型，并且總是對被確定為是永久性缺陷類型的像素進行像素值校正，同時只有當間歇性有缺陷像素處于有缺陷狀態(tài)時才對每個間歇性有缺陷像素進行校正，從而可防止處于無缺陷狀態(tài)的間歇性有缺陷像素被修改成不正確的值。
接下來，下文參照圖27內(nèi)所示的流程圖說明圖22內(nèi)所示的缺陷校正單元201執(zhí)行的缺陷校正過程的另一個示例。
如上所述，前端單元6 (圖1)示出的圖像數(shù)據(jù)被提供給缺陷校正單元201內(nèi)的判斷單元261和校正單元262。
判斷單元261從前端單元6提供的圖像數(shù)據(jù)中一個接一個地選擇像素作為所關心的刑訴，并且以與圖26內(nèi)示出的步驟S131到S134 類似的方式執(zhí)行步驟S141到S144。
更準確地說，如果所關心的像素是永久性有缺陷像素，則然后在
步驟S142，校正單元262校正所關心的像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。過程然后前進到步驟 S146。
另一方面，如果所關心的像素是間歇性有缺陷像素并且目前處于有缺陷狀態(tài)，則然后在步驟S144，校正單元262校正所關心的像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像的像素值。過程然后前進到步驟S146。
如果所關心的像素是間歇性有缺陷像素并且目前不處于有缺陷狀態(tài)，則然后在步驟S144,校正單元262直接輸出所關心的像素的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。過程然后前進到步驟S146。
如果所關心的像素是既不是永久性有缺陷像素也不是間歇性有缺陷像素的無缺陷像素，即如果在步驟S141確定所關心的像素不是永久性有缺陷像素且在步驟S143還確定所關心的像素不是間歇性有缺陷像素，則過程前進到步驟S145。在步驟S145，判斷單元261通過比較所關心的無缺陷像素的像素值與用于確定無缺陷像素的狀態(tài)的闊值來確定所關心的無缺陷像素目前是否處于有缺陷狀態(tài)。
在關于所關心的無缺陷像素目前是否處于有缺陷狀態(tài)的確定中，用于確定所關心的無缺陷像素的狀態(tài)的閾值可被設定為等于用于相對缺陷檢測方法的用于檢測白色缺陷的變化閾值或用于檢測黑色缺陷的變化閾值。如果所關心的無缺陷像素的像素值等于或大于被限定用于檢測無缺陷像素處于白色有缺陷狀態(tài)的閾值，或等于或小于被限定用于檢測無缺陷像素處于黑色有缺陷狀態(tài)的閾值，則所關心的無缺陷像素被確定為處于有缺陷狀態(tài)。
關于所關心的無缺陷像素目前是否處于有缺陷狀態(tài)的確定可根據(jù)所關心像素的像素值與用于確定無缺陷像素的狀態(tài)的變化閾值的比較結果以及根據(jù)與固定閾值的比較結果實現(xiàn)。
如果在步驟S145確定所關心的無缺陷像素目前不處于有缺陷狀態(tài)，則校正單元262直接輸出所關心像素的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。過程然后前進到步驟S146。
另一方面，如果在步驟S145確定所關心的無缺陷像素目前處于有缺陷狀態(tài)，則校正單元262校正所關心的像素的像素值，并輸出被校正的像素值作為被校正的圖像數(shù)據(jù)的像素值。過程然后前進到步驟 S146。
在步驟S146，判斷單元261確定所關心的像素是否是位于測試圖像數(shù)據(jù)末端的像素，即測試圖像數(shù)據(jù)是否不再包括將被測試的像素。
如果在步驟S146確定測試圖像數(shù)據(jù)包含更多將被測試的像素，則然后判斷單元261從還未被測試的像素中選擇一個像素作為新的所關心的像素。過程流然后返回步驟S141以重復從步驟S141開始的過程。
另一方面，如果在步驟S146內(nèi)確定測試圖像數(shù)據(jù)不再包含將被測試的像素，則缺陷校正單元201結束缺陷校正過程。
如上所述，缺陷校正單元201不僅針對間歇性有缺陷像素而且還針對無缺陷像素進行關于所關心的像素是否處于有缺陷狀態(tài)，并且如果所關心的像素被確定為目前處于有缺陷狀態(tài)，則校正所關心的像素的像素值。這使得可以更加可靠的方式校正有缺陷像素的像素值。
由于缺陷校正單元201根據(jù)缺陷數(shù)據(jù)表確定圖像數(shù)據(jù)的每個像素是否有缺陷，所以未作為有缺陷像素被記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的任何像素被確定為是無缺陷像素。在圖26的缺陷校正過程中，沒有對被根據(jù) 缺陷數(shù)據(jù)表確定為無缺陷的任何像素進行校正，即沒有對未被記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的任何像素進行校正。
但是，在缺陷數(shù)據(jù)被記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)之后，在被確定為無缺陷像素處可能會出現(xiàn)缺陷。當像素具有這種缺陷(下文，這種像素將被稱為稍后出現(xiàn)缺陷的像素)時，如果其缺陷等級高，則缺陷將會明顯。
為了避免出現(xiàn)這種問題，還以與如上文參照圖27說明的檢查間歇性有缺陷像素的方式類似的方式檢查無缺陷像素以確定它們是否處于有缺陷狀態(tài)。如果在以前被確定為是無缺陷的像素處檢測到缺陷稍
后出現(xiàn)，則此像素的像素值被校正。這使得還可處理缺陷稍后出現(xiàn)。
當執(zhí)行具有長時間詠光的攝影操作時，最初或稍后被確定為間歇性有缺陷像素的像素易于落入有缺陷狀態(tài)。鑒于此，當執(zhí)行具有短啄光時間的攝影操作時不會執(zhí)行用于間歇性有缺陷像素或稍后出現(xiàn)缺陷
的像素的校正(圖26內(nèi)的步驟S134或圖27內(nèi)的步驟S144或S145), 但是只有當執(zhí)行長曝光時間的攝影操作時才會執(zhí)行校正。這可導致最
正確地受到校正的可能性降低。
用于確定間歇性有缺陷像素是否處于有缺陷狀態(tài)的閾值可等于或不等于用于確定無缺陷像素是否處于有缺陷狀態(tài)的閾值。
間歇性有缺陷像素是在缺陷檢測過程中被確定為有缺陷像素的像素。另一方面，無缺陷像素是在缺陷檢測過程中沒有被檢測為是有缺陷像素的像素，但是在缺陷檢測過程之后它們可能或落入有缺陷狀態(tài)。因此，無缺陷像素處于有缺陷狀態(tài)的可能性低于間歇性有缺陷像素處于有缺陷狀態(tài)的肯能行。
鑒于上文，用于確定無缺陷像素是否處于有缺陷狀態(tài)的閾值可被設定為使得大部分無缺陷像素被確定為無缺陷的值，即該閾值可設定為嚴格的值。另一方面，用于確定間歇性有缺陷像素是否處于有缺陷
有:陷狀態(tài);值。 '' '
更準確地說，用于檢測處于有缺陷狀態(tài)的無缺陷像素的閾值可被
閱
定量的值，或者被設定為比用于檢測黑色缺陷的闊值小預定量的值。用于檢測處于有缺陷狀態(tài)的無缺陷像素的閾值可被設定為等于用于相對缺陷檢測方法的用于檢測白色缺陷的變化閾值的值(或比用于檢測白色缺陷的閾值小預定量)，或可被設定為用于檢測黑色缺陷的閾值 (或比用于檢測黑色缺陷的閾值大預定量)。
使用嚴格的值作為用于檢測處于有缺陷狀態(tài)的無缺陷像素的閾值可防止無缺陷像素被不正確地認為處于有缺陷狀態(tài)，從而防止處于
正常狀態(tài)的無缺陷像素的像素值被不正確地修改為異常值，這會導致通過數(shù)字靜態(tài)照相機拍攝的圖像的質(zhì)量降低。
在圖19所示的示例中，缺陷檢測單元203包括用于檢測白色有缺陷像素的白色缺陷檢測單元221和用于檢測黑色有缺陷像素的黑色缺陷檢測單元222?？蛇x擇地，缺陷檢測單元203可僅包括用于檢測白色有缺陷像素的白色缺陷檢測單元221或用于檢測黑色有缺陷像素的黑色缺陷檢測單元222。但是，在缺陷檢測單元203僅包括白色缺陷檢測單元221和黑色缺陷檢測單元222之一時，可僅檢測白色有缺陷像素或黑色有缺陷像素。
圖28示出圖3內(nèi)所示的缺陷處理單元51的配置的另一個示例。
在圖28中，與圖18內(nèi)的那些部件類似的部件用類似的標號指示，并且文中將省略對其的重復說明。
如圖28所示，缺陷處理單元51包括缺陷校正單元201，缺陷數(shù) 據(jù)表存儲器302和缺陷檢測單元303。
缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302以與圖4內(nèi)所示的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102 類似的方式配置，并且用于存儲其中描述了與缺陷檢測單元303檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)表。
如同圖4內(nèi)所示的缺陷檢測單元103 —樣，缺陷檢測單元303被供給將用于缺陷像素檢測過程的測試圖像數(shù)據(jù)。
缺陷檢測單元303如同圖4內(nèi)所示的缺陷檢測單元103 —樣或如同圖18內(nèi)所示的缺陷檢測單元203 —樣執(zhí)行缺陷檢測過程。更準確地說，缺陷檢測單元303使用被提供給缺陷檢測單元303的測試圖像數(shù) 據(jù)檢測有缺陷像素，并將與檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
下文將進一步詳細說明以上述方式配置的缺陷處理單元51執(zhí)行的缺陷檢測過程和缺陷校正過程。
如果用戶操作圖1內(nèi)所示的操作單元12以發(fā)出執(zhí)行缺陷檢測過程的命令，則對應于用戶執(zhí)行的操作從操作單元12發(fā)出缺陷檢測命令信號作為操作信號，并且該信號被提供給微型計算機ll。
如果微型計算機11從操作單元12接收到缺陷檢測命令信號，則將操作模式從正常模式切換到缺陷檢測模式，并經(jīng)由定時發(fā)生器5(圖 1)控制圖像傳感器4以便進行多次攝影。
由圖像傳感器4執(zhí)行的攝影操作獲得的多幀圖像數(shù)據(jù)或被校正的圖像數(shù)據(jù)作為測試圖像數(shù)據(jù)被提供給缺陷檢測單元303。
微型計算機11經(jīng)由微型計算機接口 33 (圖3)控制相機信號處理單元31內(nèi)的缺陷處理單元51的缺陷檢測單元303以執(zhí)行缺陷檢測過程。
因此，在微型計算機ll的控制下，缺陷檢測單元303如下所述地執(zhí)行缺陷檢測過程。如果缺陷檢測單元303從圖像傳感器接收到多幀測試圖像數(shù)據(jù)，缺陷檢測單元303檢測有缺陷像素，并將與檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
如果缺陷檢測單元303已經(jīng)將缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，則微型計算機11將操作模式從缺陷檢測模式切換到正常模式。
在缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表具有原有缺陷數(shù)據(jù)的情況下，缺陷檢測單元303產(chǎn)生的新缺陷數(shù)據(jù)將存儲在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，以便原有缺陷數(shù)據(jù)被新缺陷數(shù)據(jù)覆寫。
在以正常模式操作時，如果圖像傳感器4拍攝圖像并且結果圖像數(shù)據(jù)被提供給缺陷校正單元201,則缺陷校正單元201如上文參照圖 18說明地執(zhí)行缺陷校正過程。
圖29示出圖28內(nèi)所示的缺陷檢測單元303的配置的示例。
缺陷檢測單元303包括白色缺陷檢測單元321，黑色缺陷檢測單元322和有缺陷像素選擇單元323。
白色缺陷檢測單元321包括缺陷等級檢測單元331，最小值檢測單元334，出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器335和判斷單元336。白色缺陷檢測單元 321檢測白色有缺陷像素，并確定檢測到的白色有缺陷像素的缺陷等級。白色缺陷檢測單元321還確定檢測到的白色缺陷像素的缺陷類型，
測到的白色缺陷^象素是7JC久'性缺陷類型還
型。白色缺陷檢測單元321然后將指示關于所關心的像素是否是白色缺陷像素的確定結果的數(shù)據(jù)以及指示檢測到的白色有缺陷像素的缺陷類型的數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元323。
在白色缺陷檢測單元321中，缺陷等級檢測單元331、最小值檢測單元334和出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器335被供給經(jīng)由圖像傳感器4執(zhí)行多次的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)。
缺陷等級檢測單元331包括最大值檢測單元332和有缺陷像素檢測單元333，并且用于通過將在經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素處檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，來檢測白色有缺陷像素并確定檢測到的白色有缺陷像素的缺陷等級。指示檢測結果的數(shù)據(jù)被提供給判斷單元 336。
最大值檢測單元332以與圖5內(nèi)所示的最大值檢測單元130類似的方式配置，并且用于檢測在多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處獲得的像素值的最大值，并將指示檢測到的各個像素的最大像素值的最大值圖像數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素檢測單元333。
有缺陷像素檢測單元333以與圖5內(nèi)所示的有缺陷像素檢測單元 134類似的方式配置，并且用于以與圖5內(nèi)所示的有缺陷像素檢測單元134類似地方式，通過比較從最大值檢測單元332提供的最大值圖
缺陷像素。有缺陷像素檢測單元333還通過從每個白色有缺陷像素的
級，確定每個白色有缺陷像素的缺陷等級。指示檢測到的白色有缺陷像素及其缺陷等級的數(shù)據(jù)被從有缺陷像素檢測單元333提供給判斷單元336。
最小值檢測單元334以與圖19內(nèi)所示的最小值檢測單元231(并因此還與圖5內(nèi)所示的最小值檢測單元140)類似的方式配置，并且用于如同圖19內(nèi)所示的最小值檢測單元231—樣，檢測在多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置獲得的像素值的最小值，并將包含檢測到的各
個像素的最小像素值的最小值圖像數(shù)據(jù)提供給判斷單元336。
出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器335以與圖19內(nèi)所示的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232類似的方式配置，并且用于如同圖19內(nèi)所示的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232—樣，通過比較多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的像素值與用于檢測白色缺陷的閣值來檢測白色有缺陷像素，并分別針對多幀測試圖像數(shù)據(jù) 上的每個像素位置對白色有缺陷像素的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)。指示結果的數(shù)
據(jù)被提供給判斷單元336。
判斷單元336根據(jù)從缺陷等級檢測單元331 (更準確地說，有缺陷像素檢測單元333 )提供給的檢測結果識別白色有缺陷像素。此外，根據(jù)從最小值檢測單元334提供的最小值圖像數(shù)據(jù)，即指示在經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素處檢測到的最小像素值的數(shù)據(jù)，并還根據(jù)從出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器335提供的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，判斷單元336以與圖19內(nèi)所示的判斷單元236
間歇性缺陷類型。判斷單元336產(chǎn)生指示每個有缺陷像素的有缺陷像素坐標、缺陷等級和缺陷類型的缺陷數(shù)據(jù)，并將缺陷數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元323。
黑色缺陷檢測單元322包括缺陷等級檢測單元341，最大值檢測單元344，出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器345和判斷單元346。黑色缺陷檢測單元 322檢測黑色有缺陷像素，并確定檢測到的黑色有缺陷像素的缺陷等級。黑色缺陷檢測單元322還確定檢測到的黑色缺陷像素的缺陷類型，即確定檢測到的黑色缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。黑色缺陷檢測單元322然后將指示關于所關心的像素是否是黑色缺陷像素的確定結果的數(shù)據(jù)以及指示檢測到的黑色有缺陷像素的缺陷類型的數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元323。
在黑色缺陷檢測單元322中，缺陷等級檢測單元341、最大值檢測單元344和出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器345被供給經(jīng)由圖像傳感器4執(zhí)行多次的攝影操作獲得的多幀測試圖像數(shù)據(jù)。
缺陷等級檢測單元341包括最小值檢測單元342和有缺陷像素檢測單元343，并且用于通過將在經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，檢測黑色有缺陷像素并確定檢測到的黑色有缺陷像素的缺陷等級。檢測結果被提供給判斷單元346。
最小值檢測單元342以與圖5內(nèi)所示的最小值檢測單元140類似的方式配置，并且用于檢測在多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處獲得的像素值的最小值，并將指示檢測到的各個像素的最小像素值的最小值圖像數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素檢測單元343。
有缺陷像素檢測單元343以與圖5內(nèi)所示的有缺陷像素檢測單元 144類似的方式配置，并且用于以與圖5內(nèi)所示的有缺陷像素檢測單元144類似地方式，通過比較從最小值檢測單元342提供的最小值圖像數(shù)據(jù)的每個像素的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值來檢測黑色有缺陷像素。有缺陷像素檢測單元343還通過從每個黑色有缺陷像素的像素值中減去用于檢測黑色缺陷的閾值并使用減去結果作為缺陷等級，確定每個黑色有缺陷像素的缺陷等級。指示檢測到的黑色有缺陷像素及其缺陷等級的數(shù)據(jù)被從有缺陷像素檢測單元343提供給判斷單元346。
最大值檢測單元344以與圖19內(nèi)所示的最大值檢測單元241(并因此還與圖5內(nèi)所示的最大值檢測單元130)類似的方式配置，并且用于如同圖19內(nèi)所示的最大值檢測單元241 —樣，檢測在多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置獲得的像素值的最大值，并將包含檢測到的各個像素的最大像素值的最大值圖像數(shù)據(jù)提供給判斷單元346。
出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器345以與圖19內(nèi)所示的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242類似的方式配置，并且用于如同圖19內(nèi)所示的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器242—樣，通過比較多幀測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值來檢測黑色有缺陷像素，并分別針對多幀測試圖像數(shù)據(jù) 上的每個像素位置對黑色有缺陷像素的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)。指示結果的數(shù)
據(jù)被提供給判斷單元346。
判斷單元346根據(jù)從缺陷等級檢測單元341 (更準確地說，有缺陷像素檢測單元343 )提供給的檢測結果識別黑色有缺陷像素。此后，根據(jù)從最大值檢測單元344提供的最大值圖像數(shù)據(jù)，即指示在經(jīng)由圖像傳感器4多次執(zhí)行的攝影操作捕獲的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素處檢測到的最大像素值的數(shù)據(jù)，并還根據(jù)從出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器345提供的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，判斷單元346以與圖19內(nèi)所示的判斷單元246 類似的方式確定被確定為是黑色有缺陷像素的每個像素的缺陷類型，即確定被確定為是黑色有缺陷像素的每個像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型。判斷單元346產(chǎn)生指示每個有缺陷像素的有缺陷像素坐標、缺陷等級和缺陷類型的缺陷數(shù)據(jù)，并將缺陷數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元323。
如上所述，有缺陷像素選擇單元323被從白色缺陷檢測單元321 和黑色缺陷檢測單元322供給指示各個有缺陷像素的有缺陷像素坐標、缺陷等級和缺陷類型的缺陷數(shù)據(jù)。
基于缺陷數(shù)據(jù)指示的缺陷等級，有缺陷像素選擇單元323選擇具有大缺陷等級的預定數(shù)量(N個)的有缺陷像素，并將與選擇的N個有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)提供給缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302。缺陷數(shù) 據(jù)表存儲器302將接收到的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
在從白色缺陷檢測單元321和黑色缺陷檢測單元322提供的缺陷數(shù)據(jù)或有缺陷像素的數(shù)量小于預定數(shù)量N的情況下，有缺陷像素選擇單元323以與圖5內(nèi)所示的有缺陷像素選擇單元123類似的方式選擇所有有缺陷像素并將所有有缺陷像素的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
數(shù)量N可例如基于缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302的存儲容量確定。圖30示出圖28內(nèi)所示的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302內(nèi)存儲的缺陷數(shù) 據(jù)表的示例。
在圖30所示的示例中，每個缺陷數(shù)據(jù)的有缺陷像素坐標、缺陷等級和缺陷類型均被描述為缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)。
下文參照圖31內(nèi)所示的流程圖說明如圖29內(nèi)所示的缺陷檢測單
元303執(zhí)行的缺陷檢測過程。
圖31內(nèi)所示的缺陷檢測過程例如在圖1內(nèi)所示的數(shù)字靜態(tài)照相機被裝運之前在數(shù)字靜態(tài)照相機的生產(chǎn)線上執(zhí)行。
在步驟S151，圖29內(nèi)所示的缺陷檢測單元303內(nèi)的白色缺陷檢測單元321執(zhí)行白色缺陷檢測過程以檢測白色有缺陷像素。與檢測到
323。過程然后前進到步驟S152。
在步驟S152,黑色缺陷檢測單元322執(zhí)行黑色缺陷檢測過程以檢測黑色有缺陷像素。與檢測到的黑色有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù) 被提供給有缺陷像素選擇單元323。過程然后前進到步驟S153。
在步驟S153，有缺陷像素選擇單元323根據(jù)從白色缺陷檢測單元321和黑色缺陷檢測單元322提供的缺陷數(shù)據(jù)選擇具有最大缺陷等級的N個有缺陷像素。過程然后前進到步驟S154。在步驟S154中，有缺陷像素選擇單元323將與選擇的具有最大像素等級的N個有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)提供給缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302。缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302將接收到的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。此后，缺陷檢測過程結束。
下文參照圖32內(nèi)所示的流程圖進一步說明由圖29內(nèi)所示的白色缺陷檢測單元321在圖31中的步驟S151內(nèi)執(zhí)行的白色缺陷檢測過程。
在此白色缺陷檢測過程中，微型計算機ll (圖1)經(jīng)由定時發(fā)生器5控制圖像傳感器4以便進行預定次數(shù)的攝影。結果，經(jīng)由多次執(zhí) 行的攝影操作產(chǎn)生多幀測試圖像數(shù)據(jù)，并且該測試圖像數(shù)據(jù)被提供給白色缺陷檢測單元321內(nèi)的缺陷等級檢測單元331、最小值檢測單元 334和出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器335。
在步驟S171，使用提供的多幀測試圖像數(shù)據(jù)，白色缺陷檢測單元321檢測白色有缺陷像素及其缺陷等級，最小值圖像數(shù)據(jù)(指示如在多個幀上觀察到的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的最小值)，以及在每個像素位置觀察到的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)。
更準確地說，在此步驟S171,白色缺陷檢測單元321的缺陷等
級檢測單元331的最大值檢測單元332以與圖5內(nèi)所示的最大值檢測單元130執(zhí)行的圖15內(nèi)所示的白色缺陷檢測過程類似的方式，從多幀測試圖像數(shù)據(jù)中確定最大值圖像數(shù)據(jù)，并且最大值檢測單元332將得到的最大值圖像數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素檢測單元333。
基于最大值圖像數(shù)據(jù)，有缺陷像素檢測單元333以與圖5內(nèi)所示的有缺陷像素檢測單元134執(zhí)行的圖15內(nèi)的白色缺陷檢測過程類似的方式檢測白色有缺陷像素及其缺陷等級。指示檢測到的白色有缺陷像素的坐標及其缺陷等級的數(shù)據(jù)被從有缺陷像素檢測單元333提供給判斷單元336。
此外，在步驟S171中，最小值檢測單元334以與由圖19內(nèi)所示的最小值檢測單元231執(zhí)行的圖24內(nèi)的白色缺陷檢測過程類似的方式從多幀測試圖像數(shù)據(jù)中確定最小值圖像數(shù)據(jù)，并將得到的最小值圖像數(shù)據(jù)提供給判斷單元236。
此外，在步驟S171,出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器335以與由圖19內(nèi)所示的出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232執(zhí)行的圖24內(nèi)的白色缺陷檢測過程類似的方式，從多幀測試圖像數(shù)據(jù)中確定白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，并且出現(xiàn)次數(shù)計數(shù) 器335將確定的結果提供給判斷單元336。
過程然后從步驟S171前進到步驟S172。在步驟S172，根據(jù)最小值檢測單元334提供的最小值圖像數(shù)據(jù)，即指示如在多個幀上觀察到的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的最小值的數(shù)據(jù)，并且還根據(jù)出現(xiàn) 次數(shù)計數(shù)器335提供的白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，判斷單元336以與由圖 19內(nèi)所示的判斷單元236執(zhí)行的圖24內(nèi)所示的白色缺陷檢測過程類似的方式確定各個檢測到的白色有缺陷像素的缺陷類型。過程然后前進到步驟S173。
在步驟S173，判斷單元236產(chǎn)生包括各個白色有缺陷像素的坐標、缺陷等級和缺陷類型的缺陷數(shù)據(jù)，并將缺陷數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元323。此后，白色缺陷檢測過程結束。
下文參照圖33所示的流程圖進一步詳細說明由圖29內(nèi)所示的黑色缺陷檢測單元322在圖31內(nèi)的步驟S152內(nèi)執(zhí)行的黑色缺陷檢測過程。
在此黑色缺陷檢測過程中，微型計算機ll (圖1)經(jīng)由定時發(fā)生
器5控制圖像傳感器4以便進行預定次數(shù)的攝影。結果，經(jīng)由多次執(zhí) 行的攝影操作產(chǎn)生多幀測試圖像數(shù)據(jù)，并且該測試圖像數(shù)據(jù)被提供給黑色缺陷檢測單元322內(nèi)的缺陷等級檢測單元341、最小值檢測單元 344和出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器345。
在步驟S181，黑色缺陷檢測單元322檢測黑色有缺陷像素及其缺陷等級，指示如在多個幀上觀察到的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的最大值的最大值圖像數(shù)據(jù)，以及在每個像素位置觀察到的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)。
更準確地說，在此步驟S181，黑色缺陷檢測單元322內(nèi)的缺陷等級檢測單元341的最小值檢測單元342以與圖5內(nèi)所示的最小值檢測單元140執(zhí)行的圖16內(nèi)所示的黑色缺陷檢測過程類似的方式，從多幀測試圖像數(shù)據(jù)中確定最小值圖像數(shù)據(jù)，并且最小值檢測單元342將得到的最小值圖像數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素檢測單元343。
基于最小值圖像數(shù)據(jù)，有缺陷像素檢測單元343以與圖5內(nèi)所示的有缺陷像素檢測單元144執(zhí)行的圖16內(nèi)的黑色缺陷檢測過程類似的方式檢測黑色有缺陷像素及其缺陷等級。指示檢測到的黑色有缺陷像素的坐標及其缺陷等級的數(shù)據(jù)被從有缺陷像素檢測單元343提供給判斷單元346。
此外，在步驟S181中，最大值檢測單元344以與由圖19內(nèi)所示的最大值檢測單元241執(zhí)行的圖25內(nèi)的黑色缺陷檢測過程類似的方式從多幀測試圖像數(shù)據(jù)中確定最大值圖像數(shù)據(jù)，并將得到的最大值圖像數(shù)據(jù)提供給判斷單元346。
此外，在步驟S181，出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器345確定如經(jīng)由多幀測試圖像數(shù)據(jù)觀察到的在每個像素位置的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，并且出現(xiàn) 次數(shù)計數(shù)器345將確定的結果提供給判斷單元346。
過程然后從步驟S181前進到步驟S182。在步驟S182,根據(jù)最大值檢測單元344提供的最大值圖像數(shù)據(jù)，即指示如在多個幀上觀察到
的測試圖像數(shù)據(jù)的每個像素位置處的最大值的數(shù)據(jù)，并且還根據(jù)出現(xiàn)
次數(shù)計數(shù)器345提供的黑色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)，判斷單元346以與由圖 19內(nèi)所示的判斷單元236執(zhí)行的圖25內(nèi)所示的黑色缺陷檢測過程類似的方式確定各個檢測到的黑色有缺陷像素的缺陷類型。過程然后前進到步驟S183。
在步驟S183，判斷單元346產(chǎn)生包括各個黑色有缺陷像素的坐標、缺陷等級和缺陷類型的缺陷數(shù)據(jù)，并將缺陷數(shù)據(jù)提供給有缺陷像素選擇單元323。此后，黑色缺陷檢測過程結束。
因此，圖28內(nèi)所示的缺陷校正單元201以如圖26內(nèi)所示的方式或如圖27內(nèi)所示的方式執(zhí)行缺陷校正過程。
如上所述，在圖28內(nèi)所示的缺陷處理單元151執(zhí)行的操作中，缺陷檢測單元303如同圖4內(nèi)所示的缺陷檢測單元103 —樣檢測有缺陷像素及其缺陷等級，并且缺陷檢測單元303從最高的缺陷等級開始按缺陷等級的降序選擇N個有缺陷像素，并將選擇的N個有缺陷像素記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，從而使得可優(yōu)選地校正缺陷等級高的有缺陷像素的像素值。
另夕卜，由于只有具有高缺陷等級的N個有缺陷像素的缺陷數(shù)據(jù)被記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，所以可使用具有低存儲容量的低成本RAM作為用于存儲缺陷數(shù)據(jù)表的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302。換句話說，在用于存儲缺陷數(shù)據(jù)表的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器302的存儲容量受限的情況下，具有高缺陷等級的N個有缺陷像素被允許記錄在具有有限存儲容量的缺陷數(shù)據(jù)表存儲器102內(nèi)的缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)，從而使得可優(yōu)選地校正缺陷等級高的有缺陷像素的像素值。
在圖28內(nèi)所示的缺陷處理單元51中，缺陷檢測單元303以與圖 18內(nèi)所示的缺陷檢測單元203類似的方式，檢測各個有缺陷像素的缺陷類型并在缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)描述檢測到的缺陷類型。這使得可以非?？煽?的方式根據(jù)有缺陷像素的缺陷類型校正有缺陷像素，
在圖29所示的示例中，缺陷檢測單元303包括用于檢測白色有缺陷像素的白色缺陷檢測單元321和用于檢測黑色有缺陷像素的黑色缺陷檢測單元322。可選擇地，缺陷檢測單元303可僅包括用于檢測白色有缺陷像素的白色缺陷檢測單元321和用于檢測黑色有缺陷像素的黑色缺陷檢測單元322之一。但是，在缺陷檢測單元303僅包括白色缺陷檢測單元321和黑色缺陷檢測單元322之一時，可僅檢測白色有缺陷像素或黑色有缺陷像素。
缺陷處理單元51 (圖3)執(zhí)行的處理序列可用硬件或軟件執(zhí)行。在過程由軟件執(zhí)行的情況下，軟件程序安裝在通用計算機等上。
圖34示出執(zhí)行安裝在其中的程序以執(zhí)行上文所述的各種過程的計算機的配置的示例。
程序可被預先存儲在設置在計算機內(nèi)的用作存儲介質(zhì)的硬盤405 或ROM 403上。
可選擇地，程序可被臨時或永久地存儲(記錄)在可取出的存儲介質(zhì)411例如軟盤、CD-ROM (只讀光盤)、MO (磁光)盤、DVD (數(shù)字通用光盤)、磁盤或半導體存儲器上。這種可取出的存儲介質(zhì) 411可以所謂的軟件包的形式提供。
除了從可取出的存儲介質(zhì)411將程序安裝在計算機上之外，程序還可從下載網(wǎng)站經(jīng)由利用無線電傳輸?shù)臄?shù)字廣播衛(wèi)星或經(jīng)由利用有線通信的網(wǎng)絡例如LAN (局域網(wǎng))或互聯(lián)網(wǎng)被傳送到計算機。在此情況下，計算機使用通信單元408接收以上述方式傳輸?shù)某绦颍⒊绦?安裝在設置在計算機11內(nèi)的硬盤405內(nèi)。
計算機包括CPU (中央處理器)402。輸入/輸出接口 410經(jīng)由總線410連接到CPU 402。如果CPU 402經(jīng)由輸入/輸出接口 410接收用戶使用輸入單元407包括鍵盤、鼠標、麥克風等發(fā)出的命令，則CPU 402執(zhí)行ROM(只讀存儲器)403內(nèi)存儲的程序。可選擇地，CPU 402 可執(zhí)行被裝栽在RAM (隨機存取存儲器)404的程序，其中該程序可通過將硬盤405上存儲的程序傳遞到RAM 404內(nèi)，或傳送在已經(jīng)由通信單元408從衛(wèi)星或網(wǎng)絡接收到之后已經(jīng)安裝在硬盤405上的程序，或傳送在從裝栽在驅(qū)動器409上的可取出的記錄介質(zhì)411讀出之后已經(jīng)安裝在硬盤405上的程序，而被裝載在ROM 404內(nèi)。通過執(zhí)行此
程序，CPU402執(zhí)行上文參照流程圖或框圖說明的過程。CPU 402根據(jù)需要經(jīng)由輸入/輸出接口 410將處理結果輸出到輸出設備包括LCD (液晶顯示器)和/或揚聲器。處理的結果還被經(jīng)由通信單元408傳輸或存儲在硬盤405上。
在本發(fā)明中，將被計算機執(zhí)行以執(zhí)行各種處理的程序內(nèi)所述的處理步驟并不一定需要按根據(jù)流程圖內(nèi)所述的順序的時序執(zhí)行。相反，處理步驟可并行地或單獨地執(zhí)行(通過并行處理或?qū)ο筇幚?。
程序可被單個計算機執(zhí)行，或被多個計算機以分布的方式執(zhí)行。程序可被傳送到位于遠程位置的計算機并因此被執(zhí)行。
盡管在上述實施例中本發(fā)明應用于數(shù)字靜態(tài)照相機，但是本發(fā)明還可應用于適合于處理從圖像傳感器例如CCD或CMOS圖像傳感器輸出的圖像的多種圖像處理裝置例如攝像機。
盡管上文已經(jīng)參照特定實施例說明了本發(fā)明，但是本發(fā)明并不局限于上述的那些特定實施例，而是可存在多種變型。
例如，多個功能塊可集合成為單個功能塊，或者單個功能塊可被實現(xiàn)為提供在上述實施例中由多個單獨的功能塊提供的功能。更準確地說，用于確定最大值圖像數(shù)據(jù)的單個功能塊可實現(xiàn)為其用作最大值檢測單元332和最大值檢測單元344，并且用于確定最小值圖像數(shù)據(jù) 的單個功能塊可實現(xiàn)為其用作最小值檢測單元334和最小值檢測單元
342。
此外，用于臨時存儲數(shù)據(jù)的幀存儲器可被多種用途共用。例如，盡管在上文參照圖19說明的實施例中，缺陷檢測單元203內(nèi)的白色缺陷檢測單元221的最小值檢測單元231具有圖5內(nèi)示出的用于存儲最小值圖像數(shù)據(jù)的幀存儲器143,并且出現(xiàn)次數(shù)計數(shù)器232具有用于存儲白色缺陷的出現(xiàn)次數(shù)的幀存儲器235，但是這兩個幀存儲器143和 235的功能可使用單個幀存儲器實現(xiàn)。
在上述實施例中，假設缺陷檢測過程在數(shù)字靜態(tài)照相機被裝運之前在數(shù)字靜態(tài)照相機的生產(chǎn)線上執(zhí)行。缺陷檢測過程可在數(shù)字靜態(tài)照相機的用戶執(zhí)行具體操作時被執(zhí)行。文中應再次提到，根據(jù)設計要求以及其他因素可出現(xiàn)各種變型、組合、子組合和替代，只要它們都落入所附權利要求及其等同物的范圍內(nèi)。
權利要求
1、一種適于處理從圖像感測部件輸出的圖像的圖像處理裝置，其包括用于檢測有缺陷像素的缺陷檢測部件；以及缺陷校正部件，用于根據(jù)其中登記了與缺陷檢測部件檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)表，校正從圖像感測部件輸出的圖像的像素的像素值，該缺陷檢測部件包括白色缺陷檢測部件和黑色缺陷檢測部件中的至少一個以及有缺陷像素選擇部件，白色缺陷檢測部件適于通過將在經(jīng)由圖像感測部件多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置處檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，黑色缺陷檢測部件適于通過將在所述多個圖像的每個像素位置處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，該有缺陷像素選擇部件用于基于缺陷等級選擇預定多個具有高缺陷程度的有缺陷像素，并將與所述預定多個選擇的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)登記在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。
2、根據(jù)權利要求1的圖像處理裝置，其中所述用于檢測白色缺陷的閾值是預先確定的固定閾值，或基于接近于其像素值與用于檢測值，并且所述用于檢測黑色缺陷的闊值是預先確定的固定閾值，或是基于接近于其像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較的像素的像素的像素值動態(tài)確定的可變閾值。
3、根據(jù)權利要求l的圖像處理裝置，其中所述白色缺陷檢測部件還適于對所述多個圖像上的每個像素位數(shù)，以及基于在所述多個圖像上的每個像素位置觀察到的最小像素值相對于小于用于檢測白色缺陷的閾值的預定閾值的相對大小，并基于白色缺陷的檢出次數(shù)，確定每個檢測到的有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型，所述黑色缺陷檢測部件還適于對所述多個圖像上的每個像素位置的像素值小于用于檢測黑色缺陷的閾值的黑色缺陷檢出次數(shù)進行計數(shù)，以及基于在所述多個圖像上的每個像素位置觀察到的最大像素值相對于大于用于檢測黑色缺陷的閾值的預定閾值的相對大小，并基于黑色缺陷的檢出次數(shù)，確定每個檢測到的有缺陷像素是永久性缺陷類型還是間歇性缺陷類型，且所述缺陷數(shù)據(jù)包括指示各個有缺陷像素的類型的數(shù)據(jù)。
4、根據(jù)權利要求3的圖像處理裝置，其中所述用于檢測白色缺陷的閾值是預先確定的固定閾值，或基于接素值動態(tài)確定的可變閾值，并且所述用于檢測黑色缺陷的閾值是預先確定的固定閾值，或是基于接近于其像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較的像素的像素的像素值動態(tài)確定的變化閾值。
5、根據(jù)權利要求3的圖像處理裝置，其中所述缺陷校正部件適于進行像素值校正，從而對于所述圖像感測部件輸出的圖像中的任何永久性缺陷類型的有缺陷像素，所述缺陷校正部件無條件地校正每個有缺陷像素的像素值，并且對于所述圖像感測部件輸出的圖像中的任何間歇性缺陷類型的有缺陷像素，所述缺陷校正部件通過比較每個間歇性有缺陷像素的像素值與用于確定間歇性有缺陷像素的狀態(tài)的閾值來確定每個間歇性有缺陷像素目前是否處于有缺陷狀態(tài)，并且當且僅當確定所述間歇性有缺陷像素處于有缺陷狀態(tài)時，所述缺陷校正部件才校正每個間歇性有缺陷像素的像素值。
6、根據(jù)權利要求5的圖像處理裝置，其中所述用于檢測間歇性素的閾值進行比較的;斤關心像素的像素"像素值4態(tài)確定的變化閾值。
7、根據(jù)權利要求5的圖像處理裝置，其中對于從圖像感測部件輸出的圖像的像素中的除了永久性有缺陷像素和間歇性有缺陷像素之外的任何無缺陷像素，所述缺陷校正部件通過比較每個無缺陷像素的前是否處于有缺陷狀態(tài)，并且當且僅當確定所關心無缺陷像素目前處于有缺陷狀態(tài)時，所述缺陷校正部件才校正每個無缺陷像素的像素值。
8、根據(jù)權利要求7的圖像處理裝置，其中所述用于確定無缺陷態(tài)"閾值^行比較的^關心無缺陷像素的;素的像素值動態(tài)確定的變化閾值。
9、根據(jù)權利要求7的圖像處理裝置，其中所述用于確定間歇性相同。
10、一種處理從圖像感測部件輸出的圖像的方法，其包括以下步檢測有缺陷像素；及根據(jù)其中登記了與在有缺陷像素檢測步驟內(nèi)檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)表，校正從圖像感測部件輸出的圖像的像素的像素值，該缺陷檢測步驟包括白色缺陷檢測步驟和黑色缺陷檢測步驟中的至少一個，白色缺陷檢測步驟包括通過將在經(jīng)由圖像感測部件多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置處檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，黑色缺陷檢測步驟包括通過將在所述多個圖像的每個像素位置處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，以及基于缺陷等級選擇預定多個具有高缺陷程度的有缺陷像素，并將與所述預定多個選擇的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù) 登記在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的步驟。
11 、一種可被計算機執(zhí)行以處理從圖像感測部件輸出的圖像的程序，該程序包括以下步驟檢測有缺陷像素；并根據(jù)其中登記了與在有缺陷像素檢測步驟內(nèi)檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)表，校正從圖像感測部件輸出的圖像的像素的像素值，該缺陷檢測步驟包括白色缺陷檢測步驟和黑色缺陷檢測步驟中的至少一個，白色缺陷檢測步驟包括通過將在經(jīng)由圖像感測部件多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置處檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，黑色缺陷檢測步驟包括通過將在所述多個圖像的每個像素位置處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，以及基于缺陷等級選擇預定多個具有高缺陷程度的有缺陷像素，并將與所述預定多個選擇的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)登記在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)的步驟。
12、一種適于處理從圖像傳感器輸出的圖像的圖像處理裝置，其包括適于檢測有缺陷像素的缺陷檢測單元；以及缺陷校正單元，適于根據(jù)其中登記了與缺陷檢測單元檢測到的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)的缺陷數(shù)據(jù)表，校正從圖像傳感器輸出的圖像的像素的像素值，該缺陷檢測單元包括白色缺陷檢測單元和黑色缺陷檢測單元中的至少一個，白色缺陷檢測單元適于通過將在經(jīng)由圖像傳感器多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置處檢測到的最大像素值與用于檢測白色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，黑色缺陷檢測單元適于通過將在所述多個圖像的每個像素位置處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色缺陷的閾值進行比較，檢測有缺陷像素和指示檢測到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等級，以及有缺陷像素選擇單元，該有缺陷像素選擇單元用于基于缺陷等級選擇預定多個具有高缺陷程度的有缺陷像素，并將與所述預定多個選擇的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)登記在缺陷數(shù)據(jù) 表內(nèi)。
全文摘要
提供了一種圖像處理裝置、圖像處理方法及程序。在圖像處理裝置中，缺陷檢測單元通過將在經(jīng)由圖像傳感器多次執(zhí)行的圖像拍攝操作捕獲的多個圖像的每個像素位置處檢測到的最大像素值與用于檢測白色有缺陷像素的閾值進行比較，和/或通過將在所述多個圖像的每個像素位置處檢測到的最小像素值與用于檢測黑色有缺陷像素的閾值進行比較，來檢測有缺陷像素及其缺陷等級。有缺陷像素選擇單元選擇預定多個具有高缺陷程度的有缺陷像素，并將與預定多個選擇的有缺陷像素相關聯(lián)的缺陷數(shù)據(jù)記錄在缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)。缺陷校正單元根據(jù)缺陷數(shù)據(jù)表內(nèi)登記的缺陷數(shù)據(jù)校正從圖像傳感器輸出的圖像的像素的像素值。
文檔編號H04N101/00GK101188678SQ20071019278
公開日2008年5月28日申請日期2007年11月20日優(yōu)先權日2006年11月20日
發(fā)明者青木純一申請人:索尼株式會社

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