專利名稱：增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種增強存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法。特別涉及增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法。主要應用于各種含有電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)的電視系統(tǒng)，并可擴展到所有使用EEPROM的電子系統(tǒng)中。
背景技術(shù)：
ESD就是“靜電釋放”的簡稱，即ElectroStatic Discharge。當今芯片多采用互補金屬氧化物半導體(CMOS)技術(shù)制造而成，其電路對靜電高壓相當敏感。當帶靜電的人或物觸及這些器件后，就會產(chǎn)生靜電釋放(ESD)。目前已經(jīng)有很多解決消除ESD的方法，例如正確接地、芯片運輸?shù)谋Ｗo、操作人員以及操作環(huán)境的靜電處理，器件本身的質(zhì)量提高等。當靜電高壓沖擊CMOS電路后，其內(nèi)部的氧化膜便會被擊穿或被破壞，這時電器件會當場損壞或者工作不正常。由于靜電釋放還會誘發(fā)CMOS電路內(nèi)部發(fā)生鎖定效應或叫寄生可控硅效應，其結(jié)果是CMOS內(nèi)部電流大增，內(nèi)部邏輯功能失靈，造成所謂的鎖定效應。一旦CMOS電路處于鎖定狀態(tài)，只要電源不切斷，電路會一直死鎖下去，時間一長就有可能燒壞電路或使電路性能下降。
EEPROM是電可擦除可編程只讀存儲器的英文縮寫。在平常情況下，電可擦除可編程只讀存儲器一樣是只讀的，需要寫入時，在指定的引腳加上一個高電壓即可寫入或擦除，而且其擦除的速度極快。在電視系統(tǒng)中，大多使用電可擦除可編程只讀存儲器作為可調(diào)整參數(shù)的存儲器。由于靜電釋放造成的電可擦除可編程只讀存儲器中數(shù)據(jù)發(fā)生邏輯錯誤，會造成電視畫面幾何扭曲、圖像異常。目前我們的解決方法是在電可擦除可編程只讀存儲器中人為設(shè)置一個地址存放一個常數(shù)，該常數(shù)范圍是0～255的整數(shù)。在主程序的開頭添加檢測這個數(shù)據(jù)的程序，并在程序中設(shè)置同樣數(shù)值的固定常數(shù)，若檢測電可擦除可編程只讀存儲器中該常數(shù)與主程序中的常數(shù)相等，則認為電可擦除可編程只讀存儲器中的數(shù)據(jù)正常，未發(fā)生數(shù)據(jù)錯誤。但是這種方法在數(shù)據(jù)大量發(fā)生錯誤的時候適用，若僅有一小部分數(shù)據(jù)變化，那么該常數(shù)不一定會發(fā)生變化，這樣就檢測不到錯誤信息。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服上述不足之處，提供一種增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法。
為實現(xiàn)上述目的本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是一種增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法，一種增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法，由電視系統(tǒng)中的主處理芯片(MICOM)和電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)組成，主處理芯片通過IIC總線與電可擦除可編程只讀存儲器通信；MICOM中包括中央處理器(CPU)、隨機存儲器(RAM)、只讀存儲器(ROM)，所有的程序代碼都存儲在只讀存儲器中，而這些程序中需要調(diào)用的工廠參數(shù)都存儲在電可擦除可編程只讀存儲器中；電可擦除可編程只讀存儲器的存儲單元按位置分為8個模塊(BANK)，每個模塊都是由眾多8位地址單元組成；在每次開機時，程序都會在主電源開啟以后，進行對CHECKSUM常數(shù)檢查的校驗動作；即檢查第一個模塊(BANK)中的CHECKSUM常數(shù)是否損壞，從而判斷電可擦除可編程只讀存儲器中的數(shù)據(jù)是否正常；其特征是在8個模塊中的每個模塊中都添加了CHECKSUM常數(shù)設(shè)置，每次開機自檢的時候就會依次對這8個CHECKSUM常數(shù)進行比較；即在每個模塊中都添加了CHECKSUM常數(shù)檢查，將原來的整體分成八個獨立的個體進行檢查；并同時添加對CHECKSUM 2-8的初值設(shè)定。
所述具體算法是在電可擦除可編程只讀存儲器中增加EEP-Checksum地址的數(shù)量，在每個模塊中都設(shè)有一個CHECKSUM常數(shù)作為校驗數(shù)據(jù)；程序在主電源開啟后，在主程序運行中從EEP-Checksum1到EEP-Checksum8逐一進行校驗，一旦出現(xiàn)錯誤，便對電可擦除可編程只讀存儲器進行初始化的動作，這樣便可以有效地對僅只有一個模塊的數(shù)據(jù)遭到破壞的情況進行有效的對應。
本發(fā)明的有益效果是通過比較EEPROM中預先設(shè)定的CHECKSUM數(shù)據(jù)值與主程序中的設(shè)定的CHECKSUM常量，判斷EEPROM中數(shù)據(jù)是否有被ESD損壞。通過在EEPROM中每個BANK里都加入一個CHECKSUM數(shù)據(jù)，從而擴大對數(shù)據(jù)損壞的感知力，增強錯誤校驗能力。完善開機檢測EEPROM中存儲的數(shù)據(jù)錯誤的機制。該方法有效的解決了因靜電釋放造成存儲器中INITIAL DATA損壞而引起的電視圖像幾何扭曲，圖像異常等問題。


圖1是本發(fā)明電視系統(tǒng)主流程圖；圖2是現(xiàn)有解決方法示意圖；圖3是現(xiàn)有使用的checksum檢驗算法流程圖；圖4是本發(fā)明解決方法示意圖；圖5是本發(fā)明checksum檢驗算法流程圖。
具體實施例方式
以下結(jié)合附圖和較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提供的具體實施方式
詳述如下參見圖1，示出了本發(fā)明涉及的電視系統(tǒng)主流程圖，說明了電視機上電開機后的動作首先是初始化，然后是自檢，即為本發(fā)明的關(guān)鍵步驟，然后進入系統(tǒng)主循環(huán)。在自檢過程中如果發(fā)現(xiàn)電可擦除可編程只讀存儲器中數(shù)據(jù)錯誤，則從主程序中調(diào)入備用的數(shù)據(jù)，繼續(xù)系統(tǒng)初始化。
參見圖2，示意了電視系統(tǒng)中的主處理芯片(MICOM)和電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)之間的關(guān)系。主處理芯片通過IIC總線(菲利普公司開發(fā)的I2C數(shù)據(jù)總線結(jié)構(gòu))與電可擦除可編程只讀存儲器通信。MICOM中包括了中央處理器(CPU)，隨機存儲器(RAM)，只讀存儲器(ROM)，所有的程序代碼都存儲在只讀存儲器中，而這些程序中需要調(diào)用的工廠參數(shù)都存儲在電可擦除可編程只讀存儲器中。電可擦除可編程只讀存儲器的存儲單元從地理位置上分為8個模塊(BANK)，每個模塊都是由眾多8位地址單元組成。在每次開機時，程序都會在主電源開啟以后，進行對CHECKSUM常數(shù)檢查的校驗動作。這一動作的作用是檢查第一個BANK中的CHECKSUM常數(shù)是否損壞，從而判斷電可擦除可編程只讀存儲器中的數(shù)據(jù)是否正常。
參見圖3，示意了驗證動作的算法流程。程序從電可擦除可編程只讀存儲器的EEP-Checksum(主程序中定義的地址常量，表示CHECKSUM常數(shù)在電可擦除可編程只讀存儲器中的地址)地址中讀出數(shù)據(jù)，然后與主程序中定義的常量CHECKSUM-VALUE進行比較(正常情況下預置在EEP-Checksum地址中的數(shù)據(jù)常量與程序中的CHECKSUM-VALUE一致，這個常量是一個0～255的整數(shù))，如果二者相等，程序?qū)碾娍刹脸删幊讨蛔x存儲器中讀取數(shù)據(jù)，完成系統(tǒng)初始化工作；如果二者不相等，主程序則認為電可擦除可編程只讀存儲器中存儲的數(shù)據(jù)已經(jīng)遭到破壞，從而在程序代碼中將初始化數(shù)據(jù)再次寫入電可擦除可編程只讀存儲器，然后再從電可擦除可編程只讀存儲器中讀取數(shù)據(jù)。在出現(xiàn)第二種情況的時候，電可擦除可編程只讀存儲器中存儲的數(shù)據(jù)雖然與經(jīng)過工廠調(diào)整的數(shù)據(jù)不一致了，但是可以維持電視機基本的正常動作的狀態(tài)。
這種方法在電可擦除可編程只讀存儲器中所有的數(shù)據(jù)都遭到破壞的情況下適用，但是如果僅出現(xiàn)小規(guī)模的數(shù)據(jù)破壞(例如，僅模塊2中的數(shù)據(jù)破壞)，這種方法就不能很好的對應了，所以我們希望在主程序中增加Checksum常數(shù)的數(shù)量，以提高錯誤的檢出概率。
參見圖4，是改進后的CHECKSUM常數(shù)設(shè)置，在8個模塊中的每個模塊中都添加了CHECKSUM常數(shù)，每次開機自檢的時候就會依次對這8個CHECKSUM常數(shù)進行比較，這樣就能大大提高系統(tǒng)對數(shù)據(jù)錯誤的感知能力。就是說以前是用一個CHECKSUM常數(shù)代表電可擦除可編程只讀存儲器中的所有存儲單元作為自檢的目標，現(xiàn)在在每個模塊中都添加了CHECKSUM常數(shù)檢查，將原來的整體分成八個獨立的個體進行檢查。當然，這樣做的同時在程序中也同時要添加對CHECKSUM2-8的初值設(shè)定。
參見圖5，示出了本發(fā)明的算法流程。在電可擦除可編程只讀存儲器中增加了EEP-Checksum地址的數(shù)量，在每個模塊中都放入一個CHECKSUM常數(shù)作為校驗數(shù)據(jù)。程序在主電源開啟后，在主程序運行中從EEP-Checksum1到EEP-Checksum8逐一進行校驗，一旦出現(xiàn)錯誤，便對電可擦除可編程只讀存儲器進行初始化的動作，這樣便可以有效地對僅只有一個模塊的數(shù)據(jù)遭到破壞的情況進行有效的對應。
本發(fā)明是一種改進的自檢方法，增強了自檢的可靠性，提高了數(shù)據(jù)錯誤的檢出率。
上述參照實施例對本發(fā)明增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法的詳細描述，是說明性的而不是限定性的；因此在不脫離本發(fā)明總體構(gòu)思下的變化和修改，應屬本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法，由電視系統(tǒng)中的主處理芯片(MICOM)和電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)組成，主處理芯片通過IIC總線與電可擦除可編程只讀存儲器通信；MICOM中包括中央處理器(CPU)、隨機存儲器(RAM)、只讀存儲器(ROM)，所有的程序代碼都存儲在只讀存儲器中，而這些程序中需要調(diào)用的工廠參數(shù)都存儲在電可擦除可編程只讀存儲器中；電可擦除可編程只讀存儲器的存儲單元按位置分為8個模塊(BANK)，每個模塊都是由眾多8位地址單元組成；在每次開機時，程序都會在主電源開啟以后，進行對CHECKSUM常數(shù)檢查的校驗動作；即檢查第一個模塊(BANK)中的CHECKSUM常數(shù)是否損壞，從而判斷電可擦除可編程只讀存儲器中的數(shù)據(jù)是否正常；其特征是在8個模塊中的每個模塊中都添加了CHECKSUM常數(shù)設(shè)置，每次開機自檢的時候就會依次對這8個CHECKSUM常數(shù)進行比較；即在每個模塊中都添加了CHECKSUM常數(shù)檢查，將原來的整體分成八個獨立的個體進行檢查；并同時添加對CHECKSUM 2-8的初值設(shè)定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法，其特征是所述具體算法是在電可擦除可編程只讀存儲器中增加EEP-Checksum地址的數(shù)量，在每個模塊中都設(shè)有一個CHECKSUM常數(shù)作為校驗數(shù)據(jù)；程序在主電源開啟后，在主程序運行中從EEP-Checksuml到EEP-Checksum8逐一進行校驗，一旦出現(xiàn)錯誤，便對電可擦除可編程只讀存儲器進行初始化的動作，這樣便可以有效地對僅只有一個模塊的數(shù)據(jù)遭到破壞的情況進行有效的對應。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種增強電可擦除可編程只讀存儲器數(shù)據(jù)錯誤校驗的方法，模擬電視信號接收機中，通常使用電可擦除可編程只讀存儲器來作為主要的數(shù)據(jù)存儲工具，存儲著各種工廠參數(shù)以及頻道信息。本發(fā)明通過比較EEPROM中預先設(shè)定的CHECKSUM數(shù)據(jù)值與主程序中的設(shè)定的CHECKSUM常量，判斷EEPROM中數(shù)據(jù)是否有被ESD損壞。特別是通過在EEPROM中每個BANK里都加入一個CHECKSUM數(shù)據(jù)，從而擴大對數(shù)據(jù)損壞的感知力，增強錯誤校驗能力。完善開機檢測EEPROM中存儲的數(shù)據(jù)錯誤的機制。通過該方法解決因靜電釋放造成存儲器中INITIAL DATA損壞而引起的電視圖像幾何扭曲，圖像異常等問題。
文檔編號H04N17/04GK1815631SQ20051001648
公開日2006年8月9日 申請日期2005年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月29日
發(fā)明者董博彥 申請人:天津三星電子顯示器有限公司