壓力編程集成電路的方法和系統(tǒng)的制作方法
【專利說明】壓力編程集成電路的方法和系統(tǒng)
【背景技術(shù)】
[0001] 工藝角可W在晶片之中變化（集成電路（1C)管巧從該晶片上被切割）、在從相同 的晶片上切割的1C管巧之中變化、和/或在1C管巧中的一個管巧內(nèi)變化。工藝角的變化 會對1C的時序和/或其他特性有不利的影響。
[0002] 在包括多個可辨別的1C塊的1C管巧中（例如，在片上系統(tǒng)（SOC)中），由其他1C 塊引起的隨機變化會對1C塊有不利的影響。
[0003] 可W向工藝角的變化和/或其他隨機變化的補償提供基于高產(chǎn)量制造（HNM)測試 的結(jié)果編程的管巧上可編程烙絲陣列。烙絲陣列使得用于尋址的附加引腳W及調(diào)節(jié)安全問 題的專用尋址方案成為必須。
[0004] 還可W向工藝角的變化和/或其他隨機變化的補償提供管巧上修正或校驗系統(tǒng)。
[0005] 經(jīng)編程的烙絲數(shù)據(jù)是不可用的，直到啟動序列開始之后為止。類似地，來自管巧上 修正或校驗系統(tǒng)的數(shù)據(jù)在上電之后的一段時間是不可用的。其中在激活或上電（即，在零 點）時要求工藝調(diào)節(jié)補償，1C管巧或1C塊可W被過度設(shè)計W避免工藝變化和/或其他隨 機變化的不利影響。
【附圖說明】
[0006] 出于說明的目的，本文所描述的一個或多個特征參照W下附圖中的一個或多個。 然而，關(guān)于W下附圖所描述的（一個或多個）特征并不限于在附圖中示出的示例。
[0007] 圖1是可應(yīng)力編程W在激活時輸出預(yù)先確定的值的集成電路（1C)塊的框圖。
[000引圖2是應(yīng)力編程系統(tǒng)的框圖，包括運用編程參數(shù)編程或配置1C塊W輸出預(yù)先確定 的值的編程模塊，和在編程參數(shù)被應(yīng)用時對第一 1C塊加壓的應(yīng)力控制模塊。
[0009] 圖3是包括可應(yīng)力編程的第一 1C塊和接收來自第一 1C塊的經(jīng)應(yīng)力編程的預(yù)先確 定的值的第二1C塊的1C系統(tǒng)的框圖。
[0010] 圖4是包括圖3所示的特征并且還包括默認配置寄存器的值的另一個1C系統(tǒng)的 框圖。
[0011] 圖5是評估1C系統(tǒng)的評估系統(tǒng)的框圖。
[0012] 圖6是包括可應(yīng)力編程的1C塊的另一個1C系統(tǒng)的框圖，可應(yīng)力編程的1C塊包括 緩沖電路和鎖存電路，并且1C塊可W被設(shè)計為全平衡電路。
[0013] 圖7是包括緩沖電路、鎖存電路、和重置電路的可應(yīng)力編程的1C塊的電路圖。
[0014] 圖8是緩沖電路、鎖存電路、和重置電路的另一個可應(yīng)力編程的1C塊的另一個電 路圖。
[0015] 圖9是1C系統(tǒng)和評估系統(tǒng)的框圖，其中1C系統(tǒng)包括圖6的可編程1C塊的多個實 例。
[0016] 圖10是圖9的1C系統(tǒng)W及應(yīng)力編程系統(tǒng)的框圖。
[0017] 圖11是選擇性地配置1C系統(tǒng)來評估、操作、和/或應(yīng)力編程1C系統(tǒng)的方法的流 程圖。
[0018] 圖12是編程并且評估第二IC塊來選擇編程第一IC塊所運用的編程參數(shù)的方法 的流程圖。
[0019] 圖13是應(yīng)力編程1C塊的方法的流程圖。
[0020] 圖14是被配置為評估并應(yīng)力編程1C系統(tǒng)的計算機系統(tǒng)的框圖。
[0021] 圖15是圖14的計算機系統(tǒng)的示例儲存/存儲特征的框圖。
[0022] 圖16是包括處理器和存儲器、通信系統(tǒng)、用戶界面系統(tǒng)、和可應(yīng)力編程的1C系統(tǒng) 的系統(tǒng)的框圖。
[0023] 在附圖中，參考標(biāo)號最左邊的（一個或多個）數(shù)字標(biāo)識該參考標(biāo)號第一次出現(xiàn)的 附圖。
【具體實施方式】
[0024] 數(shù)字電子電路利用多個離散狀態(tài)，每個離散狀態(tài)與模擬值（例如，電壓）相應(yīng)的 離散帶、范圍、或包絡(luò)相關(guān)聯(lián)。包絡(luò)內(nèi)的任意值表示關(guān)聯(lián)的狀態(tài)。對于（例如，由于制造公 差、信號衰減、或寄生噪聲所引起的）模擬值的相對較小的改變可W被信號狀態(tài)感應(yīng)電路 忽略，該信號狀態(tài)感應(yīng)電路提供在相應(yīng)的離散包絡(luò)內(nèi)保持的模擬值。
[0025] 二進制數(shù)字系統(tǒng)具有兩種許可的狀態(tài)，該兩種許可的狀態(tài)由相應(yīng)的電壓帶所表 示。第一電壓帶可W包括電壓參考（例如，地），在本文中由Vss表示。第二電壓帶可W包 括供應(yīng)電壓，在本文中由Vcc表示。第一電壓帶和第二電壓帶可W分別與邏輯狀態(tài)0和1 相關(guān)聯(lián)。
[0026] 如在本文中所使用的術(shù)語"互補邏輯狀態(tài)"指的是許可的或容許的狀態(tài)集。在二 進制數(shù)字系統(tǒng)中，互補邏輯狀態(tài)包括兩種邏輯狀態(tài)，該兩種邏輯狀態(tài)在本文中由邏輯狀態(tài)0 和1表示，并且在本文中指的是相反的邏輯狀態(tài)。
[0027] 如在本文中所使用的術(shù)語"互補輸出"指的是描述或主張相對于彼此的互補邏輯 狀態(tài)的輸出。在二進制數(shù)字系統(tǒng)中，互補輸出包括斷言相反的邏輯狀態(tài)的第一輸出和第二 輸出。
[002引如在本文中所使用的術(shù)語"互補節(jié)點"指的是呈現(xiàn)或主張相對于彼此的互補邏輯 狀態(tài)的節(jié)點。在二進制數(shù)字系統(tǒng)中，互補節(jié)點包括斷言相反的邏輯狀態(tài)的第一節(jié)點和第二 節(jié)點。
[0029] 如在本文中所使用的術(shù)語"互補路徑"指的是處理相對于彼此的互補邏輯狀態(tài)的 電路路徑。在二進制數(shù)字系統(tǒng)中，互補路徑包括處理相反的邏輯狀態(tài)的第一路徑和第二路 徑。
[0030] 圖1是的第一集成電路（1C)塊100的框圖，其可應(yīng)力編程來改變1C塊100的設(shè) 備和/或特性（特性）104,從而使得1C塊100在激活時在輸出102處主張的預(yù)先確定的 值。
[0031] 激活可W包括操作電壓的應(yīng)用、使能控制的主張、和/或重置控制的去主張或去 激活。在本文中與激活相關(guān)聯(lián)的時間被稱為零點，并且預(yù)先確定的值可W被稱為預(yù)先確定 的零點值。
[0032] 輸出102可W包括將預(yù)先確定的值作為預(yù)先確定的邏輯狀態(tài)或預(yù)先確定的字值 輸出的一個或多個位。
[0033] 第一IC塊100可W被設(shè)計和/或被制造用來在激活時在輸出102處主張隨機值。 在應(yīng)力編程之前，第一 1C塊100可W被稱為亞穩(wěn)態(tài)的1C塊，并且輸出102可W被稱為亞穩(wěn) 態(tài)的輸出。
[0034] 第一 1C塊100可W被設(shè)計和/或被制造成全平衡電路。例如，第一 1C塊100可 W包括被設(shè)計和/或被制造成具有類似或完全相同的特性的第一路徑和第二路徑。然而， 第一 1C塊100并不限于該些示例。第一 1C塊100可W被配置為在零點處提供可應(yīng)力編程 配置寄存器的值（例如，在零點處使能或支持工藝補償調(diào)節(jié)）的可編程配置寄存器。然而， 第一 1C塊100并不限于該些示例。
[0035] 第一 1C塊100可W如下文參考圖2所述的被應(yīng)力編程。
[0036] 圖2是應(yīng)力編程系統(tǒng)200的框圖，該應(yīng)力編程系統(tǒng)包括運用第一塊編程參數(shù)204 來編程或配置第一 1C塊100W使得第一塊100在輸出102處輸出預(yù)先確定的值的編程模 塊202。第一塊編程參數(shù)204可W包括將要被應(yīng)用于第一 1C塊100的（一個或多個）輸 入、和/或偏置或其他配置控制的數(shù)據(jù)。
[0037] 第一塊編程參數(shù)204可W是基于輸入編程參數(shù)206的，該輸入編程參數(shù)可W如下 文參考圖5所描述的被確定和/或被選擇。
[003引應(yīng)力編程系統(tǒng)200還可W包括在第一 1C塊被編程或被配置W輸出預(yù)先確定的值 時應(yīng)用和/或控制應(yīng)力條件的應(yīng)力控制模塊210。應(yīng)力條件可W包括電壓應(yīng)力、溫度應(yīng)力、 和/或其他（一個或多個）應(yīng)力條件。應(yīng)力控制模塊210可W被配置為運用（一個或多個） 應(yīng)力控制214來應(yīng)用和/或控制應(yīng)力條件。在圖2的示例中，（一個或多個）應(yīng)力控制214 被提供至系統(tǒng)212,該系統(tǒng)212可W包括例如電壓控制器、溫度控制器、和/或其他控制器。
[0039] 圖3是1C系統(tǒng)300的框圖，該1C系統(tǒng)包括在激活時向第二1C塊304提供可應(yīng)力 編程的預(yù)先確定的值的可應(yīng)力編程的第一 1C塊100。1C系統(tǒng)300可W在單個1C管巧或多 個1C管巧上被實施。
[0040] 例如，第二1C塊304可W包括補償電路，并且第一 1C塊100可W是可應(yīng)力編程的， W在第一 1C塊100激活時（例如，在重置控制去激活或去主張時）向第二1C塊304提供 預(yù)先確定的配置寄存器的值。
[0041] 圖4是包括上文參考圖3所描述的特征并且還包括默認配置寄存器的值404的1C 系統(tǒng)400的框圖。
[0042] 1C系統(tǒng)400可W是可配置的，比如運用開關(guān)406向第二1C塊304提供來自第一 1C塊100的輸出102的預(yù)先確定的值、或默認配置寄存器的值404。在默認情況下，1C系 統(tǒng)400可W被配置為向第二1C塊304提供來自輸出102的可應(yīng)力編程的預(yù)先確定的值。
[0043] 默認配置寄存器的值404可W表示基于設(shè)計的配置寄存器的值，該配置寄存器的 值適用于第二1C塊304而缺少對工藝角的變化和/或其他隨機變化的體現(xiàn)。反之，輸出 102處的預(yù)先確定的值可W是1C系統(tǒng)400的制造后的評估的，W補償工藝角的變化和/或 其他隨機變化。
[0044] 1C系統(tǒng)400的制造后的評估可W包括1C系統(tǒng)400的HCM測試，和/或結(jié)合1C系 統(tǒng)400的HCM測試被執(zhí)行。在1C系統(tǒng)400的評估結(jié)果指示默認配置寄存器的值404是足 夠的情況下，第一 1C塊100可W被置于未編程的狀態(tài)。其中第一 1C塊100在應(yīng)力編程作 為燒入程序的部分被執(zhí)行和/或結(jié)合燒入程序被執(zhí)行的過程中將要被應(yīng)力編程。
[0045] 圖5是用于評估IC系統(tǒng)的評估系統(tǒng)500的框圖。在圖5中，評估系統(tǒng)500被配置 為評估1C系統(tǒng)501，在此示出的1C系統(tǒng)501具有關(guān)于圖3在上文所描述的特征。
[0046] 評估系統(tǒng)500包括運用第二塊編程參數(shù)502來編程或配置第二1C塊304或它的 部分的編程模塊504。第二塊編程參數(shù)502可W包括在評估過程中被應(yīng)用到塊304的輸入 的邏輯狀態(tài)或字值。
[0047] 評估系統(tǒng)500還包括測量輸出308的參數(shù)的測量模塊508,W及關(guān)于參考標(biāo)準(zhǔn)514 評估相應(yīng)的參數(shù)測量512的評估器模塊510。參考標(biāo)準(zhǔn)514可W包括值和/或范圍或窗中 的一個或多個。
[0048] 編程模塊504可W被配置為在評估的過程中選擇、改變、和/或修改第二塊編程參 數(shù)502,直到參數(shù)測量512符合于（即，適合或滿足）參考標(biāo)準(zhǔn)514。
[0049] 在參數(shù)測量512滿足參考標(biāo)準(zhǔn)514時，相應(yīng)的第二塊編程參數(shù)502可W被選定用 作編程參數(shù)506。所選定的編程參數(shù)506可W表示將要被提供至第二1C塊304的期望的輸 入，并且預(yù)先確定的值在激活時被相應(yīng)地由第一 1C塊100輸出或主張。所選定的編程參數(shù) 506相當(dāng)于圖2中的輸入編程參數(shù)206。
[0050] 1C系統(tǒng)501可W包括內(nèi)部總線518、W及可通過內(nèi)部總線518編程的第二1C塊 304。1C系統(tǒng)501可W是可配置的，W在總線518被選定或被使能時通過內(nèi)部總線518向第 二1C塊304提供第二塊編程參數(shù)502,并且在總線518被選定或被使能時向第二1C塊304 提供來自第一 1C塊100的輸出102的預(yù)先確定的值?？偩€518的狀態(tài)可W在寄存器或其 他存儲器中被維持，其他存儲器可W包括易失性的或非易失性的存儲設(shè)備。