本發(fā)明涉及半導(dǎo)體,尤其涉及一種硅基oled強微腔陽極的制備方法。
背景技術(shù):
1、硅是一種重要的半導(dǎo)體集成電路材料,但由于硅是間接帶隙材料,發(fā)光效率低,為了在硅片上實現(xiàn)光電集成,在過去的幾十年,人們開展了大量硅基發(fā)光材料和器件的研究工作,如在硅襯底上集成發(fā)光材料,或者制作多孔硅等。近年來,在硅襯底上制作oleds(organic?light?emitting?diodes,有機發(fā)光二極管)為硅基光電集成開辟了一條新道路。而且,硅基oled可利用成熟的cmos技術(shù),可在單個芯片上集成密度高且復(fù)雜的電路,從而提供了單芯片顯示系統(tǒng)的解決方案。
2、目前硅基oled器件的陽極普遍采用厚度相同的的單層結(jié)構(gòu),制造工藝相對簡單,已經(jīng)無法滿足高亮度、高色域的要求,為了進(jìn)一步提升oled器件的效能和光色,會采用強微腔共振的器件結(jié)構(gòu),即r/g/b子像素陽極厚度各不相同,從而獲得不同的腔長,匹配rgb不同顏色的波長。傳統(tǒng)的微腔結(jié)構(gòu)制造流程復(fù)雜,涉及多次刻蝕,造成良率偏低,而且產(chǎn)能較低。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種硅基oled強微腔陽極的制備方法。本發(fā)明只用了一道干法刻蝕工藝,有效保護(hù)了透明電極層材料,減少了工藝流程,提高了良率和產(chǎn)能。
2、為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明提供以下技術(shù)方案:
3、本發(fā)明提供了一種硅基oled強微腔陽極的制備方法,所述硅基oled強微腔陽極包括硅基基板100和位于所述基板表面的n個像素區(qū),其中n≥1,所述像素區(qū)包括層疊設(shè)置的金屬電極層200和透明導(dǎo)電層,所述金屬電極層200與所述硅基基板100接觸,所述像素區(qū)包括間隔設(shè)置的第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū),所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層的厚度均不相同,所述透明導(dǎo)電層包括第一子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-1、第二子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-2和第三子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-3;
4、包括以下步驟:
5、在所述硅基基板100的表面進(jìn)行沉積,得到金屬電極沉積層200-1;
6、在所述金屬電極沉積層200-1的表面依次進(jìn)行第一透明導(dǎo)電層物質(zhì)沉積、第一涂布光刻膠和第一曝光顯影,保留所述第一子像素區(qū)上的光刻膠,然后依次進(jìn)行第二透明導(dǎo)電層物質(zhì)沉積、第二涂布光刻膠和第二曝光顯影,保留所述第二子像素區(qū)上的光刻膠,再依次進(jìn)行第三透明導(dǎo)電層物質(zhì)沉積、第三涂布光刻膠和第三曝光顯影,保留所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)上的光刻膠,利用干法刻蝕除去所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)之間的透明導(dǎo)電層物質(zhì)以及金屬電極沉積層200-1,形成所述金屬電極層200,然后去除所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)上的光刻膠,同時剝離光刻膠表面的透明導(dǎo)電層物質(zhì),得到所述硅基oled強微腔陽極。
7、優(yōu)選地,所述透明導(dǎo)電層的材質(zhì)為導(dǎo)電金屬氧化物。
8、優(yōu)選地,所述導(dǎo)電金屬氧化物包括氧化銦錫和/或氧化銦鋅。
9、優(yōu)選地,所述第一子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-1、第二子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-2和第三子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-3材質(zhì)相同。
10、優(yōu)選地,所述硅基基板100為裸硅襯底或含電路硅襯底。
11、優(yōu)選地,所述金屬電極層200的材質(zhì)包括al、ag、tin和ti中的一種或多種。
12、優(yōu)選地,所述金屬電極層200為單層薄膜或多層復(fù)合薄膜。
13、優(yōu)選地,所述第一涂布光刻膠、第二涂布光刻膠和第三涂布光刻膠均使用pr膠。
14、優(yōu)選地,去除所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)上的光刻膠的方法為濕法去膠。
15、本發(fā)明提供了一種硅基oled強微腔陽極的制備方法,所述硅基oled強微腔陽極包括硅基基板100和位于所述基板表面的n個像素區(qū),其中n≥1,所述像素區(qū)包括層疊設(shè)置的金屬電極層200和透明導(dǎo)電層,所述金屬電極層200與所述硅基基板100接觸,所述像素區(qū)包括間隔設(shè)置的第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū),所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層的厚度均不相同,所述透明導(dǎo)電層包括第一子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-1、第二子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-2和第三子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層3-3;包括以下步驟:在所述硅基基板100的表面進(jìn)行沉積,得到金屬電極沉積層200-1;在所述金屬電極沉積層200-1的表面依次進(jìn)行第一透明導(dǎo)電層物質(zhì)沉積、第一涂布光刻膠和第一曝光顯影,保留所述第一子像素區(qū)上的光刻膠,然后依次進(jìn)行第二透明導(dǎo)電層物質(zhì)沉積、第二涂布光刻膠和第二曝光顯影,保留所述第二子像素區(qū)上的光刻膠,再依次進(jìn)行第三透明導(dǎo)電層物質(zhì)沉積、第三涂布光刻膠和第三曝光顯影,保留所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)上的光刻膠,利用干法刻蝕除去所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)之間的透明導(dǎo)電層物質(zhì)以及金屬電極沉積層200-1,形成所述金屬電極層200,然后去除所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)上的光刻膠,同時剝離光刻膠表面的透明導(dǎo)電層物質(zhì),得到所述硅基oled強微腔陽極。
16、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果如下:
17、本發(fā)明提出了一種硅基oled強微腔陽極的制備方法,只用了一道干法刻蝕工藝,有效保護(hù)了透明電極層材料,減少了工藝流程,提高了良率和產(chǎn)能,降低了制備成本。
1.一種硅基oled強微腔陽極的制備方法,其特征在于,所述硅基oled強微腔陽極包括硅基基板(100)和位于所述基板表面的n個像素區(qū),其中n≥1,所述像素區(qū)包括層疊設(shè)置的金屬電極層(200)和透明導(dǎo)電層,所述金屬電極層(200)與所述硅基基板(100)接觸,所述像素區(qū)包括間隔設(shè)置的第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū),所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層的厚度均不相同,所述透明導(dǎo)電層包括第一子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層(3-1)、第二子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層(3-2)和第三子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層(3-3);
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述透明導(dǎo)電層的材質(zhì)為導(dǎo)電金屬氧化物。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述導(dǎo)電金屬氧化物包括氧化銦錫和/或氧化銦鋅。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的制備方法,其特征在于,所述第一子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層(3-1)、第二子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層(3-2)和第三子像素區(qū)的透明導(dǎo)電層(3-3)的材質(zhì)相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述硅基基板(100)為裸硅襯底或含電路硅襯底。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述金屬電極層(200)的材質(zhì)包括al、ag、tin和ti中的一種或多種。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或6所述的制備方法,其特征在于,所述金屬電極層(200)為單層薄膜或多層復(fù)合薄膜。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述第一涂布光刻膠、第二涂布光刻膠和第三涂布光刻膠均使用pr膠。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,去除所述第一子像素區(qū)、第二子像素區(qū)和第三子像素區(qū)上的光刻膠的方法為濕法去膠。