專利名稱：：改進的頻率校正方法和裝置的制作方法改進的頻率校正方法和裝置方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及時鐘設(shè)計領(lǐng)域，特別是一種頻率校正方法和裝置。
背景技術(shù)：
：在時鐘芯片設(shè)計中，時鐘頻率的精度決定于使用的石英晶體的頻率精度。為了確保所有電子器件都能夠正?；蛲焦ぷ鳎陔娮与娐吩O(shè)計中提供精確的時鐘信號是非常重要的。所述時鐘信號一般可以由晶體振蕩器產(chǎn)生，其中所述晶體振蕩器是利用壓電材料的振蕩晶體的機械諧振來產(chǎn)生一定頻率電信號的電子電路。這個頻率通常用于計時，也可以用于為數(shù)字集成電路提供時鐘信號，還可以用于穩(wěn)定無線發(fā)射器/接收器的頻率。導致時鐘信號不同于設(shè)計的一個原因在于溫度，它可能影響壓電材料和晶體振蕩器的運作。隨著溫度的變化，晶體振蕩器輸出的頻率也會隨之變化，通常情況下，石英晶體的頻率對溫度一般呈現(xiàn)20ppmIOOppm的頻率穩(wěn)定度。在高精度應用如全球定位系統(tǒng)中，這樣的頻率精度是不能滿足要求的；或者在應用中通常需要用到芯片或器件的年誤差在5分鐘內(nèi)，其必須要求在IOppm的穩(wěn)定度以內(nèi)，普通的晶體振蕩器或分頻出來的頻率可能不能達到這個精度。因此有必要提出一種改進的技術(shù)方案來克服上述問題。
發(fā)明內(nèi)容本部分的目的在于概述本發(fā)明的實施例的一些方面以及簡要介紹一些較佳實施例。在本部分以及本申請的說明書摘要和發(fā)明名稱中可能會做些簡化或省略以避免使本部分、說明書摘要和發(fā)明名稱的目的模糊，而這種簡化或省略不能用于限制本發(fā)明的范圍。本發(fā)明的目的在于提供一種頻率校正方法和裝置，其可以根據(jù)具有頻率偏移的參考頻率信號得到準確的目標頻率信號。根據(jù)本發(fā)明的目的，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，本發(fā)明提供一種頻率校正方法，其包括:獲得參考頻率信號的實際頻率以及該實際頻率與其期望頻率的頻率偏移；根據(jù)目標頻率信號的頻率及所述參考頻率信號的期望頻率確定分頻比；根據(jù)所述頻率偏移確定所述分頻比的校正值以及校正余數(shù)；利用所述校正值校正所述分頻比得到校正分頻比；基于所述校正余數(shù)和一預定調(diào)整頻率信號的周期確定余數(shù)補償值；根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號，其中調(diào)整頻率信號的頻率大于所述參考頻率信號的頻率。進一步的，在所述分頻比上加上或減去所述校正值得到所述校正分頻比，根據(jù)所述校正余數(shù)所占的預定調(diào)整頻率信號的周期個數(shù)確定所述余數(shù)補償值。進一步的，根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的參考頻率信號的期望頻率的周期的個數(shù)確定所述校正值，根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的參考頻率信號的期望頻率的整數(shù)周期后的余數(shù)確定校正余數(shù)，ft為目標頻率信號的頻率。進一步的，所述根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號包括:從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，在第一計數(shù)值達到當前的校正分頻比時，重新從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，并開始對所述調(diào)整頻率信號的周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，在第二計數(shù)值達到當前的補償累計值時，所述目標頻率信號的信號翻轉(zhuǎn)以結(jié)束目標頻率信號的上一個半個周期，開始目標頻率信號的下一個半個周期，其中所述補償累計值的初始值等于初始的余數(shù)補償值，在結(jié)束上一個半個周期后，如果先前的補償累計值加上最新的余數(shù)補償值超過預定進位值，則用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和減去所述預定進位值得到的值作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比加1，否則，用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比。再更進一步的，在開始目標頻率信號的一個半個周期后重新根據(jù)所述參考頻率信號的當前實際頻率與其期望頻率的當前頻率偏移重新計算得到最新的校正分頻比和最新的余數(shù)補償值。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，本發(fā)明提供一種頻率校正裝置，其包括:溫度獲取模塊，獲取晶體振蕩器的溫度；頻率信號產(chǎn)生模塊，從所述晶體振蕩器中獲取參考頻率信號的實際頻率；頻率偏移生成模塊，根據(jù)所述溫度獲取所述參考頻率信號的實際頻率與其期望頻率的頻率偏移；和頻率校正模塊，根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號。進一步的，所述頻率校正模塊在所述分頻比上加上或減去所述校正值得到所述校正分頻比，所述頻率校正模塊根據(jù)所述校正余數(shù)所占的預定調(diào)整頻率信號的周期個數(shù)確定所述余數(shù)補償值。進一步的，所述頻率校正模塊根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的參考頻率信號的期望頻率的周期的個數(shù)確定所述校正值，根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的參考頻率信號的期望頻率的整數(shù)周期后的余數(shù)確定校正余數(shù)，ft為目標頻率信號的頻率。更進一步的，從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，在第一計數(shù)值達到當前的校正分頻比時，重新從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，并開始對所述調(diào)整頻率信號的周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，在第二計數(shù)值達到當前的補償累計值時，所述目標頻率信號的信號翻轉(zhuǎn)以結(jié)束目標頻率信號的上一個半個周期，開始目標頻率信號的下一個半個周期，其中所述補償累計值的初始值等于初始的余數(shù)補償值，在結(jié)束上一個半個周期后，如果先前的補償累計值加上最新的余數(shù)補償值超過預定進位值，則用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和減去所述預定進位值得到的值作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比加1，否則，用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比。再進一步的，在開始目標頻率信號的一個半個周期后重新根據(jù)所述參考頻率信號的當前實際頻率與其期望頻率的當前頻率偏移重新計算得到最新的校正分頻比和最新的余數(shù)補償值。與現(xiàn)有技術(shù)相比，在本發(fā)明提供的頻率校正方案中，根據(jù)參考頻率信號的實際頻率和期望頻率之間的偏移得到校正值和校正余數(shù)，利用所述校正值對所述分頻比進行校正，利用所述校正余數(shù)進行一定的分頻補償，這樣可以根據(jù)參考頻率信號得到更為準確的目標頻率信號。為了更清楚地說明本發(fā)明實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。其中:圖1為本發(fā)明中頻率校正方法在一個實施例中的流程圖2為晶體振蕩器的溫度頻率特性曲線在一個實施例中的示意圖3本發(fā)明中頻率校正方法在一個實施例中將一實際頻率信號分頻為目標頻率信號的示意圖；和圖4為本發(fā)明中頻率校正裝置在一個實施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實施方式本發(fā)明的詳細描述主要通過程序、步驟、邏輯塊、過程或其他象征性的描述來直接或間接地模擬本發(fā)明技術(shù)方案的運作。為透徹的理解本發(fā)明，在接下來的描述中陳述了很多特定細節(jié)。而在沒有這些特定細節(jié)時，本發(fā)明則可能仍可實現(xiàn)。所屬領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員使用此處的這些描述和陳述向所屬領(lǐng)域內(nèi)的其他技術(shù)人員有效的介紹他們的工作本質(zhì)。換句話說，為避免混淆本發(fā)明的目的，由于熟知的方法和程序已經(jīng)容易理解，因此它們并未被詳細描述。此處所稱的“一個實施例”或“實施例”是指可包含于本發(fā)明至少一個實現(xiàn)方式中的特定特征、結(jié)構(gòu)或特性。在本說明書中不同地方出現(xiàn)的“在一個實施例中”并非均指同一個實施例，也不是單獨的或選擇性的與其他實施例互相排斥的實施例。此外，表示一個或多個實施例的方法、流程圖或功能框圖中的模塊順序并非固定的指代任何特定順序，也不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。本發(fā)明提供一種頻率校正方法，其根據(jù)參考頻率信號的頻率偏移得到校正值和校正余數(shù)，利用所述校正值校正分頻比得到校正分頻比，之后利用校正分頻比對所述參考頻率信號進行分頻，隨后利用所述校正余數(shù)進行分頻補償，可以將任何參考頻率信號均分頻到所需的目標頻率信號。圖1為本發(fā)明中頻率校正方法100在一個實施例中的流程圖，所述頻率校正方法100包括:步驟110，獲取參考頻率信號的實際頻率以及該實際頻率與其期望頻率的頻率偏移。所述參考頻率信號可以由晶體振蕩器產(chǎn)生。由于所述晶體振蕩器的輸出頻率會受到溫度的影響而產(chǎn)生漂移，因此所述晶體振蕩器產(chǎn)生的參考頻率信號的實際頻率與其期望頻率通常會有一定的頻率偏移。舉例來說，一晶體振蕩器產(chǎn)生的參考頻率信號的期望頻率(或稱為理想頻率)為32768HZ，而實際由于溫度的影響，得到的實際頻率可能只有32760HZ或32770HZ，這樣就存在一定的頻率偏移。這里可以將頻率偏移用Appm來表示，這個Λppm與晶體振蕩器的溫度有關(guān)。通常情況下，生產(chǎn)出的晶體振蕩器根據(jù)內(nèi)部材料溫度因素的影響會有一個溫度頻率特性曲線示意圖，如圖2所示，根據(jù)該曲線可知晶體振蕩器在每個溫度下均對應不同的實際頻率，而這個實際頻率與需要得到的期望頻率之間的差值可以用Λppm來表示，圖2中在溫度為TO的情況下，實際頻率fO為32760，與期望頻率32.768kHZ之間的頻率偏移Appm為(32768-32760)/32768*106=244.1ppm,即也可以說溫度TO下每秒頻率偏移相差244.1us。可以預先根據(jù)所述溫度頻率特性曲線生成一個溫度頻率偏移查找表(lookuptable)，根據(jù)當前溫度可以在該查找表中查找到對應的頻率偏移。當然，也可以根據(jù)所述溫度頻率特性曲線形成一個溫度頻率偏移算法，根據(jù)當前溫度及所述溫度頻率偏移算法計算得到對應的頻率偏移。在一個實施例中，可以通過溫度感應器感應晶體振蕩器中的溫度，然后將所述溫度感應器獲取的溫度進行數(shù)模轉(zhuǎn)換以得到數(shù)字溫度，根據(jù)此數(shù)字溫度和提供的所述晶體振蕩器的溫度頻率特性曲線得知所述晶體振蕩器的輸出信號的實際頻率，并根據(jù)所述實際頻率進一步得知該溫度下需要校正的頻率偏移。當然，也可以直接根據(jù)數(shù)字溫度得到其對應的頻率偏移。步驟120，根據(jù)目標頻率信號的頻率及所述參考頻率信號的期望頻率確定分頻比。在一個實施例中，所述分頻比可以為所述參考頻率信號的期望頻率和所述目標頻率信號的頻率的比值的一半，假定所述參考頻率信號的期望頻率為fm，所述目標頻率信號的頻率為ft，則所述分頻比為fm/2ft。比如，期望頻率fm為32768HZ，想要得到的目標頻率信號的頻率ft為1HZ，則分頻比為16384，也就是214。又如期望頻率fm為32768HZ，而想要得到的目標頻率信號的頻率ft為2HZ，則分頻比為8192，也就是213。步驟130，根據(jù)所述頻率偏移確定分頻比的校正值以及校正余數(shù)。由于分頻比是根據(jù)期望頻率得到的，并且通常情況下，參考頻率信號的實際頻率與其期望頻率有一定的頻率偏差，所以需要根據(jù)頻率偏移獲得所述分頻比的校正值以及校正余數(shù)。由于所述分頻比為所述參考頻率信號的期望頻率和所述目標頻率信號的頻率的比值的一半，則可以根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的期望頻率的周期的個數(shù)確定所述校正值，可以根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的期望頻率的整數(shù)周期后的余數(shù)確定所述校正余數(shù)。在一個實施例中，當所述參考頻率信號的期望頻率為32768HZ時，期望頻率的一個周期等同于30.5個ppm(或說期望頻率的一個周期的時長為30.5us)，所以在所述頻率偏移Λρρπ!為100(或說I秒相差I(lǐng)OOus)，目標頻率信號的頻率ft為IHZ時，其1/2所占期望頻率的周期的個數(shù)為1，余分數(shù)為19.5，即得到的校正值為1，校正余數(shù)為19.5。此時，假如目標頻率信號的頻率ft為2HZ時，頻率偏移的1/4所占期望頻率的周期的個數(shù)為0，余分數(shù)為25，即得到的整數(shù)校正值為0，余數(shù)校正值為25?？梢钥闯觯拔闹刑岬降钠谕l率的一個周期都是指其最小周期。步驟140，利用所述校正值校正所述分頻比以得到校正分頻比。在一個實施例中，在所述頻率偏移為正(即期望頻率大于實際頻率)時，將所述分頻比減所述校正值作為校正分頻比的整數(shù)，在所述頻率偏移為負(即期望頻率小于實際頻率)時，將所述分頻比加所述校正值作為校正分頻比。需要知道的是，正和負都是可以定義的，比如也可以將期望頻率大于實際頻率時的頻率偏移定位為負，此外，也可以將頻率偏移、整數(shù)校正值和余分數(shù)校正值本身定義上符號。在本文披露內(nèi)容的基礎(chǔ)上，所屬領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員還可以做其他任何顯而易見的改動。步驟150，基于所述校正余數(shù)和一預定調(diào)整頻率信號的周期(可以指半個周期、I個周期或多個周期)確定余數(shù)補償值。事實上，I個ppm的時間相當于lus?？梢钥闯?，由于所述校正余數(shù)一般為0.5us的倍數(shù)，所以一般會采用半個周期為0.5us的即頻率為IMHZ的頻率信號作為調(diào)整頻率信號，此時可以對所述調(diào)整頻率信號的半個周期的個數(shù)進行計數(shù)。當然也可以采用一個周期為0.5us的頻率為2MHZ的頻率信號作為所述調(diào)整頻率信號，此時也可以對所述調(diào)整頻率信號的I個或半個周期的個數(shù)進行計數(shù)。如果一個周期為0.25us的頻率為4MHZ的頻率信號作為所述調(diào)整頻率信號，那么也可以對所述調(diào)整頻率信號的I個或半個周期的個數(shù)進行計數(shù)。因此，根據(jù)所述校正余數(shù)所占的所述調(diào)整頻率信號的周期(用于計數(shù)的周期，比如半個周期，I個周期等)的個數(shù)確定所述余數(shù)補償值，比如若所述校正分頻比的余數(shù)為6.5us，調(diào)整頻率信號為1MHZ，計數(shù)的周期單位為半個周期(0.5us)，則所述余數(shù)補償值為13，如果調(diào)整頻率信號為2MHZ，計數(shù)的周期單位為半個周期(0.25us)，那么所述余數(shù)補償值就為26。很顯然，該調(diào)整頻率信號較所述參考頻率信號的頻率高，因此對于不夠一個參考頻率信號周期的偏移，將會基于該調(diào)整頻率信號進行補償，這樣可以產(chǎn)生準確的目標頻率信號。步驟160，根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號。從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，在第一計數(shù)值達到當前的校正分頻比時，重新從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，并開始對所述調(diào)整頻率信號的周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，在第二計數(shù)值達到當前的補償累計值時，所述目標頻率信號的信號翻轉(zhuǎn)(比如從高電平翻轉(zhuǎn)為低電平，或從低電平翻轉(zhuǎn)為高電平)以結(jié)束目標頻率信號的上一個半個周期，開始目標頻率信號的下一個半個周期。其中所述補償累計值的初始值等于初始的余數(shù)補償值，在結(jié)束上一個半個周期后，如果先前的補償累計值(產(chǎn)生上一個半個周期時用到的補償累計值)加上最新的余數(shù)補償值超過預定進位值，則用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和減去所述預定進位值得到的值作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比加1，否則，用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比。由于頻率偏移隨著溫度變化而實時變化的，因而基于所述頻率偏移得到的校正分頻比和余數(shù)補償值也需要隨溫度變化而實時變化。在一個優(yōu)選的實施例中，可以每隔一段時間重新基于頻率偏移計算一次最新的校正分頻比和余數(shù)補償值，比如可以每隔目標頻率信號的半個周期就重新計算一次最新的校正分頻比和余數(shù)補償值。在一個實施例中，對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)中的周期為一個周期。對所述調(diào)整參考頻率信號的周期進行計數(shù)中的周期可以為指半個周期、I個周期或多個周期，這個在步驟150中已經(jīng)介紹過了。舉例來講，如圖3所示，其示出了本發(fā)明在一個實施例中將一參考頻率信號的實際頻率分頻為目標頻率信號的示意圖。假設(shè)所述期望頻率信號的頻率為32768，第一計數(shù)值的初始值為0，需要得到的目標頻率信號的頻率為1HZ，計算得到的最新的校正分頻比一直為16382，校正余數(shù)一直為6.5，采用的調(diào)整頻率信號的頻率為1MHZ，最新的余數(shù)補償值一直為13，所述預定進位值為30.5/0.5=61。第一計數(shù)值為O時開始所述目標頻率信號的半個周期，從O開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)，當所述第一計數(shù)值達到當前的校正分頻比16382(由于沒有進位，因此最新的校正分頻比就是當前的校正分頻比)后，再次從O開始開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，同時從O開始對所述調(diào)整頻率信號的半個周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，當?shù)诙嫈?shù)值達到當前的補償累計值13(首次計數(shù)時，當前的補償累計值等于初始的余數(shù)補償補償值13)時，所述目標頻率信號的電平翻轉(zhuǎn)，結(jié)束上一個半個周期，開始下一個半個周期。隨著所述第一計算值的計數(shù)，當所述第一計數(shù)值再次達到當前的校正分頻比16382(未進位)時，再次從O開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，同時再次從O開始對所述調(diào)整頻率信號的半個周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，當?shù)诙嫈?shù)值達到當前的補償累計值26(由于未達到預定進位值，此時的當前的補償累計值等于先前的補償累計值13加上最新的余數(shù)補償值13)時，所述目標頻率信號的電平翻轉(zhuǎn)，又結(jié)束所述目標頻率信號的半個周期，開始所述目標頻率信號的另一個半個周期。隨著所述第一計算值的計數(shù)，當所述第一計數(shù)值再次達到當前的校正分頻比16382(未進位)時，再次從O開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，同時再次從O開始對所述調(diào)整頻率信號的半個周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，當?shù)诙嫈?shù)值達到當前的補償累計值39(由于未達到預定進位值，此時的當前的補償累計值等于先前的補償累計值26加上最新的余數(shù)補償值13)時，所述目標頻率信號的電平翻轉(zhuǎn)，又結(jié)束所述目標頻率信號的半個周期，開始所述目標頻率信號的另一個半個周期。如圖3所示，在產(chǎn)生所述目標頻率信號的第5個半個周期時，先前的補償累計值52加上最新的余數(shù)補償值13大于所述預定進位值61，因此當所述第一計數(shù)值再次達到當前的校正分頻比16382+1(有進位)時，才再次從O開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，才再次從O開始對所述調(diào)整頻率信號的半個周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，當?shù)诙嫈?shù)值達到當前的補償累計值4(52+13-61=4)時，所述目標頻率信號的電平翻轉(zhuǎn)，結(jié)束所述目標頻頻率信號的半個周期。不斷的重復上述步驟就可以連續(xù)的產(chǎn)生精確的目標頻率信號。需要注意的是:本頻率校正方法中對校正分頻比和余數(shù)補償值的計算均是在每半個目標頻率周期的開始后的一預定時刻進行的以得到最新的校正分頻比和余數(shù)補償值，換句話說，在第一計數(shù)值到一預定值時開始計算對應的校正分頻比和余數(shù)補償值。比如，所述預定時刻可以為每半個目標頻率周期開始計時后，對所述參考頻率信號的周期進行計數(shù)至2或3時開始對校正分頻比和余數(shù)補償值進行計算。也就是說，在第一計數(shù)值開始計數(shù)的起始點不久進行分頻比的計算。每次計算得到的最新的校正分頻比和最新的余數(shù)補償值可能相同，也可能不同。綜上所述，本發(fā)明根據(jù)參考頻率信號的實際頻率和期望頻率之間的偏移對分頻比進行校正，可以將任何參考頻率信號均分頻到所需的目標頻率信號。該方法適應范圍廣，實現(xiàn)方法簡單。本發(fā)明還提供一種頻率校正裝置，其根據(jù)參考頻率信號的頻率偏移得到校正值和校正余數(shù)，利用所述校正值校正分頻比得到校正分頻比，之后利用校正分頻比對所述參考頻率信號進行分頻，隨后利用所述校正余數(shù)進行分頻補償，可以將任何參考頻率信號均分頻到所需的目標頻率信號。圖4為本發(fā)明中頻率校正的裝置在一個實施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。所述溫度頻率校正的裝置400包括溫度獲取模塊410、頻率信號產(chǎn)生模塊420、頻率偏移生成模塊430和頻率校正模塊440。所述溫度獲取模塊410用于獲取晶體振蕩器中的溫度，如可以利用溫度感應器得到室內(nèi)溫度，并通過模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換電路或裝置將所述獲取的模擬溫度轉(zhuǎn)換成數(shù)字溫度。該步驟為所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員都能夠?qū)崿F(xiàn)的，這里就不再詳述。所述頻率信號產(chǎn)生模塊420從所述晶體振蕩器中獲取參考頻率信號的實際頻率。所述頻率偏移生成模塊430根據(jù)所述溫度獲取所述參考頻率信號的實際頻率與期望頻率之間的頻率偏移。所述參考頻率信號可以由晶體振蕩器產(chǎn)生。由于所述晶體振蕩器的輸出頻率會受到溫度的影響而產(chǎn)生漂移，因此所述晶體振蕩器產(chǎn)生的參考頻率信號的實際頻率與其期望頻率通常會有一定的頻率偏移。舉例來說，一晶體振蕩器產(chǎn)生的參考頻率信號的期望頻率(或稱為理想頻率)為32768HZ，而實際由于溫度的影響，得到的實際頻率可能只有32760HZ或32770HZ，這樣就存在一定的頻率偏移。這里可以將頻率偏移用Δppm來表示，這個Appm與晶體振蕩器的溫度有關(guān)。通常情況下，生產(chǎn)出的晶體振蕩器根據(jù)內(nèi)部材料溫度因素的影響會有一個溫度頻率特性曲線示意圖，如圖2所示，根據(jù)該曲線可知晶體振蕩器在每個溫度下均對應不同的實際頻率，而這個實際頻率與需要得到的期望頻率之間的差值可以用Λppm來表示，圖2中在溫度為TO的情況下，實際頻率fO為32760，與期望頻率32.768kHZ之間的頻率偏移Appm為(32768-32760)/32768*106=244.1ppm0可以預先根據(jù)所述溫度頻率特性曲線生成一個溫度頻率偏移查找表(lookuptable)，根據(jù)當前溫度可以在該查找表中查找到對應的頻率偏移。當然，也可以根據(jù)所述溫度頻率特性曲線形成一個溫度頻率偏移算法，根據(jù)當前溫度及所述溫度頻率偏移算法計算得到對應的頻率偏移。在一個實施例中，可以通過溫度感應器感應晶體振蕩器中的溫度，然后將所述溫度感應器獲取的溫度進行模數(shù)轉(zhuǎn)換以得到數(shù)字溫度，根據(jù)此數(shù)字溫度和提供的所述晶體振蕩器的溫度頻率特性曲線得知所述晶體振蕩器的輸出信號的實際頻率，并根據(jù)所述實際頻率進一步得知該溫度下需要校正的頻率偏移。當然，也可以直接根據(jù)數(shù)字溫度得到其對應的頻率偏移。所述頻率校正模塊440根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號。具體的，所述頻率校正模塊440從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，在第一計數(shù)值達到當前的校正分頻比時，重新從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，并開始對所述調(diào)整頻率信號的周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，在第二計數(shù)值達到當前的補償累計值時，所述目標頻率信號的信號翻轉(zhuǎn)(比如從高電平翻轉(zhuǎn)為低電平，或從低電平翻轉(zhuǎn)為高電平)以結(jié)束目標頻率信號的上一個半個周期，開始目標頻率信號的下一個半個周期。其中所述補償累計值的初始值等于初始的余數(shù)補償值，在結(jié)束上一個半個周期后，如果先前的補償累計值(產(chǎn)生上一個半個周期時用到的補償累計值)加上最新的余數(shù)補償值超過預定進位值，則用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和減去所述預定進位值得到的值作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比加1，否則，用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比。在一個優(yōu)選的實施例中，在開始目標頻率信號的一個半個周期后重新根據(jù)所述參考頻率信號的當前實際頻率與其期望頻率的當前頻率偏移重新計算得到最新的校正分頻比和最新的余數(shù)補償值。具體的得到目標頻率信號的實例可以參考圖3以及上文相關(guān)描述，此處不再重復。上述說明已經(jīng)充分揭露了本發(fā)明的具體實施方式。需要指出的是，熟悉該領(lǐng)域的技術(shù)人員對本發(fā)明的具體實施方式所做的任何改動均不脫離本發(fā)明的權(quán)利要求書的范圍。相應地，本發(fā)明的權(quán)利要求的范圍也并不僅僅局限于前述具體實施方式。權(quán)利要求1.一種頻率校正方法，其特征在于，其包括:獲得參考頻率信號的實際頻率以及該實際頻率與其期望頻率的頻率偏移；根據(jù)目標頻率信號的頻率及所述參考頻率信號的期望頻率確定分頻比；根據(jù)所述頻率偏移確定所述分頻比的校正值以及校正余數(shù)；利用所述校正值校正所述分頻比得到校正分頻比；基于所述校正余數(shù)和一預定調(diào)整頻率信號的周期確定余數(shù)補償值；根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號，其中調(diào)整頻率信號的頻率大于所述參考頻率信號的頻率。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頻率校正方法，其特征在于:在所述分頻比上加上或減去所述校正值得到所述校正分頻比，根據(jù)所述校正余數(shù)所占的預定調(diào)整頻率信號的周期個數(shù)確定所述余數(shù)補償值。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頻率校正方法，其特征在于:根據(jù)所述頻率偏移的1/2匕所占的參考頻率信號的期望頻率的周期的個數(shù)確定所述校正值，根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的參考頻率信號的期望頻率的整數(shù)周期后的余數(shù)確定校正余數(shù)，ft為目標頻率信號的頻率。4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的頻率校正方法，其特征在于:根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號包括:從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，在第一計數(shù)值達到當前的校正分頻比時，重新從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，并開始對所述調(diào)整頻率信號的周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，在第二計數(shù)值達到當前的補償累計值時，所述目標頻率信號的信號翻轉(zhuǎn)以結(jié)束目標頻率信號的上一個半個周期，開始目標頻率信號的下一個半個周期，其中所述補償累計值的初始值等于初始的余數(shù)補償值，在結(jié)束上一個半個周期后，如果先前的補償累計值加上最新的余數(shù)補償值超過預定進位值，則用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和減去所述預定進位值得到的值作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比加1，否則，用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的頻率校正方法，其特征在于:在開始目標頻率信號的一個半個周期開始后重新根據(jù)所述參考頻率信號的當前實際頻率與其期望頻率的當前頻率偏移重新計算得到最新的校正分頻比和最新的余數(shù)補償值。6.一種頻率校正裝置，其特征在于，其包括:溫度獲取模塊，獲取晶體振蕩器的溫度；頻率信號產(chǎn)生模塊，從所述晶體振蕩器中獲取參考頻率信號的實際頻率；頻率偏移生成模塊，根據(jù)所述溫度獲取所述參考頻率信號的實際頻率與其期望頻率的頻率偏移；和頻率校正模塊，根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的頻率校正裝置，其特征在于:所述頻率校正模塊在所述分頻比上加上或減去所述校正值得到所述校正分頻比，所述頻率校正模塊根據(jù)所述校正余數(shù)所占的預定調(diào)整頻率信號的周期個數(shù)確定所述余數(shù)補償值。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的頻率校正裝置，其特征在于:所述頻率校正模塊根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的參考頻率信號的期望頻率的周期的個數(shù)確定所述校正值，根據(jù)所述頻率偏移的l/2ft所占的參考頻率信號的期望頻率的整數(shù)周期后的余數(shù)確定校正余數(shù)，ft為目標頻率信號的頻率。9.根據(jù)權(quán)利要求6-8任一所述的頻率校正裝置，其特征在于:從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，在第一計數(shù)值達到當前的校正分頻比時，重新從初始值開始對所述參考頻率信號的實際頻率的周期進行計數(shù)得到第一計數(shù)值，并開始對所述調(diào)整頻率信號的周期進行計數(shù)得到第二計數(shù)值，在第二計數(shù)值達到當前的補償累計值時，所述目標頻率信號的信號翻轉(zhuǎn)以結(jié)束目標頻率信號的上一個半個周期，開始目標頻率信號的下一個半個周期，其中所述補償累計值的初始值等于初始的余數(shù)補償值，在結(jié)束上一個半個周期后，如果先前的補償累計值加上最新的余數(shù)補償值超過預定進位值，則用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和減去所述預定進位值得到的值作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比加1，否則，用先前的補償累計值和最新的余數(shù)補償值的和作為當前的補償累計值，此時當前的校正分頻比等于計算得到的最新的校正分頻比。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的頻率校正裝置，其特征在于:在開始目標頻率信號的一個半個周期后重新根據(jù)所述參考頻率信號的當前實際頻率與其期望頻率的當前頻率偏移重新計算得到最新的校正分頻比和最新的余數(shù)補償值。全文摘要本發(fā)明提供一種頻率校正方法和裝置，所述頻率校正方法包括根據(jù)目標頻率信號的頻率及參考頻率信號的期望頻率確定分頻比；根據(jù)參考頻率信號的實際頻率與其期望頻率的頻率偏移確定所述分頻比的校正值以及校正余數(shù)；利用所述校正值校正所述分頻比得到校正分頻比；基于所述校正余數(shù)和一預定調(diào)整頻率信號的周期確定余數(shù)補償值；根據(jù)所述校正分頻比對所述參考頻率信號的實際頻率進行分頻，利用所述余數(shù)補償值和所述預定調(diào)整頻率信號對所述分頻進行補償?shù)玫侥繕祟l率信號。這樣，可以得到非常精確定的目標頻率信號。文檔編號H03L1/02GK103138749SQ201110377740公開日2013年6月5日申請日期2011年11月24日優(yōu)先權(quán)日2011年11月24日發(fā)明者馮向光,顧奇龍,饒芳敏申請人:無錫輻導微電子有限公司